6. Ý nghĩa khoa học và thực tiễn của đề tài
3.1.3. Giản đồ nhiễu xạ ti aX của các mẫu cellulose chiết được
Các giản đồ XRD của các mẫu cellulose được thể hiện trên Hình 3.2.
Hình 3.2. Giản đồ XRD của các mẫu cellulose chiết được: CE-0, CE-1, CE-2 Nhiễu xạ tia X được sử dụng để xác định độ tinh thể của cellulose. Độ tinh thể là yếu tố chính ảnh hưởng đến quá trình thủy phân các liên kết glycosid trong vùng kết tinh của cấu trúc cellulose [89]. Chỉ số độ tinh thể (CrI,%) được tính theo phương trình sau [30]: CrI =(I200−Iam)
I200 . 100 (3.1)
Ở đây I200 là cường độ pic của mặt tinh thể 200 (2 = 22,2°) và Iam là cường độ pic của phần vô định hình (2 = 18,7°).
Qua quan sát ta thấy các mẫu CE-0, CE-1, CE-2 trên Hình 3.2 đều xuất hiện các pic tại 2 = 14,8°, 16,0°, 22,2°, 34° điển hình của tinh thể cellulose I (cellulose tự nhiên). Những pic nhiễu xạ này tương ứng với các mặt nhiễu xạ 110, 101, 002 và 040 [50], [65]. Pic nhiễu xạ hình vai tại 16,0° và pic rất yếu tại 34,0° xác nhận sự vắng mặt gần như hoàn toàn của lignin và hemicellulose trong các cellulose chiết được [40], [150]. Các cellulose chiết được có độ tinh thể cao, thể hiện qua các giá trị chỉ số độ tinh thể (CrI) thu được ở Bảng 3.2. Kết quả này cũng phù hợp với kết quả phân tích thành phần hoá học của các mẫu này.
Bảng 3.2. Chỉ số độ tinh thể của các mẫu cellulose
Mẫu I200 (a.u) Iam(a.u) CrI (%)
CE-0 245,44 104,28 57,51
CE-1 376,28 168,31 55,27
CE-2 144,79 59,69 58,77
Tiểu kết: Mẫu CE-2 có độ tinh thể cao nhất trong ba mẫu và kết quả này
cũng phù hợp với phân tích thành phần hoá học của các mẫu CE ở trên. Kết quả này cho thấy hiệu quả của quả trình chiết đã chọn.