Kính hiển vi điện tử quét SEM

Một phần của tài liệu (LUẬN văn THẠC sĩ) tối ưu tính chất sắt điện của màng mỏng PZT được xử lý nhiệt và kết tinh trong môi trường ozone (Trang 50 - 51)

2.3. Thiết bị khảo sát các tính chất màng mỏng

2.3.2.1. Kính hiển vi điện tử quét SEM

Hình 2.12 là ảnh kính hiển vi điện tử quét SEM thuộc bộ môn vật lý chất rắn, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên, Đại học Quốc gia Hà Nội.

Hình 2.12: Hình ảnh chụp kính hiển vi điện tử quét SEM.

Kính hiển vi điện tử quét là một loại kính hiển vi điện tử có thể tạo ra ảnh với độ phân giải cao của bề mặt vật mẫu bằng cách sử dụng chùm điện tử (electron) hẹp quét trên bề mặt vật mẫu. Việc tạo ra ảnh được thực hiện qua việc ghi nhận và phân tích bức xạ phát ra từ tương tác chùm điện tử với bề mặt của vật mẫu.

Hình 2.13 là sơ đồ nguyên lý hoạt động và sự tạo ảnh trong SEM.

Luận văn Thạc sĩ Nguyễn Văn Lợi

Chùm điện tử được phát ra từ súng phóng điện tử, sau đó được tăng tốc từ 10 Kv đến 50 Kv thành chùm điện tử hẹp (cỡ vài trăm Å đến và trăm nm) nhờ hệ thống thấu kính từ, sau đó qt trên bề mặt mẫu bằng các cuộn quét tĩnh điện.

Độ phân giải của SEM được xác định từ kích thước chùm điện tử hội tụ, mà kích thước của chùm điện tử này bị hạn chế bởi quang sai, chính vì thế mà SEM khơng thể đạt được độ phân giải tốt như (TEM). Ngồi ra độ phân giải của SEM cịn phụ thuộc vào tương tác giữa vật liệu tại bề mặt mẫu và điện tử. Khi điện tử tương tác với bề mặt vật mẫu, sẽ có các bức xạ phát ra, sự tạo ảnh trong SEM và các phân tích được thực hiện thơng qua việc phân tích các bực xạ này.

Các bức xạ chủ yếu:

Điện tử thứ cấp (secondary electrons): Đây là chế độ ghi ảnh thơng dụng nhất của kính hiển vi điện tử quét SEM, chùm điện tử thứ cấp có năng lượng thấp (thường nhỏ hơn 50 eV) được ghi nhận bằng ống nhân quang nhấp nháy. Vì chúng có năng lượng thấp nên chủ yếu là các điện tử phát ra từ bề mặt mẫu với độ sâu vài nanomet, do vậy chúng tạo ra ảnh hai chiều của bề mặt mẫu.

Điện tử tán xạ ngược (Backscattered electrons): Điện tử tán xạ ngược là chùm điện tử ban đầu khi tương tác với bề mặt mẫu bị bật ngược trở lại, do đó chúng thường có năng lượng cao. Sự tán xạ này phụ thuộc rất nhiều vào thành phần hóa học của bề mặt mẫu, do đó ảnh của điện tử tán xạ ngược rất hữu ích cho việc phân tích độ tương phản thành phần hóa học. Ngồi ra, điện tử tán xạ ngược có thể dùng để ghi nhận ảnh nhiễu xạ điện tử tán xạ ngược giúp cho việc xác định cấu trúc tinh thể. Ngoài ra điện tử tán xạ ngược phụ thuộc vào các liên kết điện tại bề mặt mẫu nên có thể đem lại thơng tin về các đơmen sắt điện.

Một phần của tài liệu (LUẬN văn THẠC sĩ) tối ưu tính chất sắt điện của màng mỏng PZT được xử lý nhiệt và kết tinh trong môi trường ozone (Trang 50 - 51)

Tải bản đầy đủ (PDF)

(83 trang)