Nếu mẫu đủ mỏng để chùm tia X xuyên qua người ta chụp theo sơđồ truyền và và ảnh nhiễu xạ nhận được gọi là ảnh Laue truyền qua, gọi tắt là ảnh Laue.
29
HDKH: TS. Trần Quang Trung
Trong phương pháp này phim đặt sau tinh thểđể chụp tia X truyền qua mẫu. Khi đó góc 2φ < 900, giao tuyến giữa mặt phẳng phim và mặt nón là các hình elip nên các vết nhiễu xạ nằm trên một đường ellip. (hình 2.15)
Hình 2.15Sơđồ tạo ảnh và cách bố trí chụp ảnh Laue truyền qua
2.3.2.2.Phương pháp Laue phản xạ
Nếu mẫu dày chụp theo sơ đồ phản xạ và ảnh nhiễu xạ Laue được gọi là ảnh Laue ngược hay còn gọi là epigram.
Trong phương pháp này phim đặt giữa nguồn tia X và mẫu, khi đó góc 2φ > 900, giao tuyến giữa mặt phẳng phim và mặt nón là các hình hyperbol nên các vết nhiễu xạ nằm trên một đường hyperpol.(hình 2.16).
30
HDKH: TS. Trần Quang Trung
Bên dưới là hình Laue phản xạ và truyền qua của mẫu tinh thể nhôm mỏng.
Hình 2.17 Các vết nhiễu xạ Laue (a) truyền qua và (b) phản xạ của một tinh thể
Al (lập phương)
Ảnh Laue có những đặc điểm sau:
• Mỗi vết chấm của ảnh nhiễu xạ ứng với một họ mặt mạng của tinh thể và pháp tuyến của mặt mạng đó là phân giác ngoài cuả góc giữa tia tới và tia nhiễu xạ.
• Với ảnh Laue không xác định được kích thước ô mạng vì không rõ bước sóng của tia nhiễu xạ. Những tinh thể cùng ô mạng và có cấu trúc đồng dạng nhưng thông số khác nhau sẽ cho những ảnh Laue giống nhau.
• Ảnh Laue cho ta biết vị trí tương đối của các mặt mạng chứ không cho biết khoảng cách giữa các mặt mạng.
• Cường độ các vết Laue phụ thuộc nhiều yếu tố phức tạp và chưa biết rõ. Hình dạng các vết phụ thuộc dạng hình học của tia tới và của tinh thể. Sự có mặt các vết và vị trí của chúng là những thông tin quan trọng nhất về mẫu. • Ảnh Laue cho biết các yếu tốđối xứng, qua đó ta biết tinh thể thuộc hệ nào;
cho biết các vết tắt hệ thống, do đó cho biết nhóm không gian.
• Ngoài ra phương pháp này thường được dùng để tìm vị trí trong không g ian của các trục một tinh thể, ngay cả tinh thể không có dạng hình học bên ngoài xác định(ví dụ một mẫu vỡ).
• Người ta dùng ảnh Laue để khảo sát tính đồng nhất cấu trúc của một khối kết tinh bất kỳ, đặc biệt của một khối kim loại: trong những điều kiện thực
31
HDKH: TS. Trần Quang Trung
nghiệm không đổi, số vết khảo sát được tỷ lệ với số đơn tinh thể và kích thước trung bình các vết tỷ lệ nghịch với sốđó.
• Muốn biết chỉ số các vết Laue người ta dùng phép chiếu gnô- mon đối với một tinh thể bất kì được định hướng đặc biệt. Còn phép chiếu nổi thường được dùng đối với các tinh thể có ô mạng đơn giản (lập phương và sáu phương) và định hướng bất kì.