Phổ huỳnh quang đo trên máy FL 3-22 Jobin – Yvon – Spec., USA (Trung tâm Khoa học Vật liệu Khoa Vật lý, Trƣờng Đại học Khoa học Tự nhiên, ĐHQGHN).
Trong phƣơng pháp phân tích phổ quang phát quang PL (photoluminescence), bƣớc sóng của bức xạ tới đƣợc cố định, và cƣờng độ PL trong một vùng bƣớc sóng
Luận án Tiến sĩ Vật lý
---
phát xạ đặc trƣng đƣợc khảo sát. Ngƣợc lại, trong phổ kích thích PL, bƣớc sóng của bức xạ tới đƣợc biến đổi, và bƣớc sóng của phổ kế phân tích đƣợc cố định. Các phép đo PL khác nhau có thể có liên quan tới các chuyển tiếp điện tử trong mẫu, và vì vậy chúng cung cấp thông tin về cấu trúc vùng điện tử (độ rộng vùng cấm), các mức tạp chất, thời gian sống hạt tải, các cơ chế tái hợp, chất lƣợng của các lớp và các bề mặt phân cách bán dẫn, độ hỗn độn tồn tại trong vật liệu và các đặc trƣng của các giếng lƣợng tử. Một trong các ứng dụng quan trọng của PL là nhận biết các tạp chất và các tâm sai hỏng trong bán dẫn. Các ứng dụng chủ yếu khác là phân tích các mức tạp chất trong các bán dẫn khác nhau, kiểm tra sai hỏng và thụ động hóa bề mặt, nghiên cứu các tính chất khác nhau của các cấu trúc thấp chiều.
Từ năng lƣợng đỉnh của phổ PL, ngƣời ta có thể nhận đƣợc thông tin về độ rộng vùng cấm và các mức năng lƣợng điện tử, thành phần hợp chất, các năng lƣợng liên kết của hợp chất và các exiton, sức căng bên trong và độ rộng giếng lƣợng tử. Độ rộng đỉnh của phổ PL có thể đƣợc sử dụng để xác định nồng độ tạp chất, độ gồ gề mặt phân cách trong các giếng lƣợng tử và phẩm chất cấu trúc. Cƣờng độ đỉnh có thể đƣợc sử dụng trong phân tích về nồng độ tạp chất hay khuyết tật, sự thụ động hóa, sai hỏng bề mặt và hiệu suất bức xạ [194].