- Một vài đánh giá quan trọng của lý thuyết điện ảnh hưởng đến kết dính nội được tăng.
- Sự cải thiện về sự kết dính của các tấm kim loại mỏng đạt được kỷ lục nếu vật liệu nền cách điện phụ thuộc vào sự phĩng điện phát sáng ở áp suất thấp trước khi phủ.
- Stođart cho rằng khơng cĩ sự tích điện mặt của vật liệu nền bị thay đổi.
- Cơ chế dán và tầm quan trọng tương đối của sự ảnh hưởng tĩnh điện phần nào cịn mơ hồ.
- Wake cho rằng trong khi bản chất mang điện tích trong polyme khơng rõ ràng thì nĩ cho thấy rằng phụ gia và tạp chất cĩ thể ảnh hưởng rất nhiều đến khả năng tạo lớp điện tích kép của chúng.
- Skinner đã tính tốn độ bền kéo của mối nối kim koại/polyme, đối với mật độ điện tích giới hạn 1017, 1019 và 1021 electron/m3 tương ứng với giá trị độ bền mối nối 0,4 KPa, 40 KPa và 4 MPa.
- Tuy nhiên kết quả đo được từ thí nghiệm cho thấy rằng mật độ điện tích cực đại địi hỏi 1019 e/cm3 nhưng độ bền là 0,7 MPa.
- Robert đã nghiên cưu sự kết dính của cao su đã lưu hĩa với thủy tinh, thủy tinh nhơm hĩa và nền thép và đo được trực tiếp mật độ điện tích bề mặt.
- Ơng ta kết luận rằng mật độ điện tích bề mặt được biểu kiến khi cao su bị tách ra khỏi bề mặt và chúng đủ để hấp dẫn bụi, làm giảm sự kết dính nếu sự tiếp xúc sau đĩ lại được thực hiện.
- Tuy nhiên sự chi phối của chúng đối với kết dính nội thường < 10%. Ví dụ: Đối với bề mặt tiếp xúc thủy tinh /cao su thiên nhiên sự chi phối của lớp điện tích kép là 10-5 mJ/m2.
- Von Harrach và Chapman đã đo mật độ điện tích trên một nền cách điện thủy tinh phủ lớp vàng, bạc hoặc đồng dưới mơi trường chân khơng từ đĩ cho thấy sự ảnh hưởng của lực tĩnh điện đến cơng kết dính.
- Bảng 3.3 giá trị tính tốn so với cơng kết dính nhiệt động Wa cho thấy chỉ sự hấp dẫn bề mặt của lực Vandecvan và năng lượng bề mặt kéo đo được khi tách màng kim loại.
- Sự ảnh hưởng của lực tĩnh điện bé hơn nhiều so với lực tương tác Vandecvan
3.2.3.5. Kết luận
- Trong một số trường hợp lớp tĩnh điện kép rất rõ rệt. Ví dụ: trong trường hợp vàng mạ Zirconi (Zr) trên nền kết tinh sunfit cadimi.
- Lực kết dính đo được bởi phương pháp ly tâm khi độ rọi vào hệ keo thay đổi. Điều này thay đổi tính chất điện của nền quang dẫn CdS và do vậy lực lớp tĩnh điện kép ở các bề mặt tiếp xúc cĩ thể được bỏ qua những ảnh hưởng khác cĩ nghĩa là lực Vandecvan khơng cĩ hiệu quả kết quả thí nghiệm về số liệu phù hợp với quy mơ tiếp xúc kim loại /bán dẫn.
- Tuy nhiên đối với nền/keo tiêu biểu bất cứ lớp điện tích kép được sinh ra khơng ảnh hưởng đáng kể đến kết dính nội.
- Hơn nữa bất cứ hiện tượng điện nào quan sát được trong quá trình phá hủy mối nối cĩ thể xuất hiện do sự hư hỏng hơn là gây nên sự kết dính giữa các vật liệu.