Hình 3.1. Phổ XRD của các mẫu
Để xác định cấu trúc và thành phần pha, các mẫu được tiến hành phân tích XRD. Các kết quả được thể hiện trên Hình 3.1. Đối với các mẫu perovskite được tổng hợp bằng phương pháp sol-gel (Hình 3.1.a)) kết quả cho thấy rằng: Mẫu SrTiO3 các peak nhiễu xạ ở góc 2θ lần lượt là 22.76°, 32.38°, 39.94°, 46.46°, 52.4°, 57.74°, 67.78°, 72.5°, 77.12° tương ứng với các mặt phẳng tinh thể (100), (110), (111), (200), (210), (210), (211), (220), (300), (310). Các vị trí đỉnh quan sát được và hình ảnh nhiễu xạ khớp với tiêu chuẩn nhiễu xạ JCPDS (số 01-084-0443) của hợp chất SrTiO3, chỉ ra cấu trúc dạng perovskite dạng lập phương [40]. Mẫu MgTiO3 có 5 đỉnh nhiễu xạ mạnh nhất ở góc 2θ lần lượt là 32.89°, 35.50°, 40.64°, 49.16° và 53.65° tương ứng với các mặt phẳng (104), (110), (113), (024) và (116) khớp với tiêu chuẩn nhiễu xạ JCPDS (số 06-0494) [41]. Đối với mẫu BaTiO3 có dạng nhiễu xạ tia X phù hợp với tiêu chuẩn JCPDS (số 892475) cho thấy rằng sự hình thành pha lập phương của mẫu. Các đỉnh nhiễu xạ ở góc 2θ lần lượt là 22.20°, 32.17°, 38.89°, 45.59° 50.81°, 56.12°, 65.77°, 70.32°, 74.78°, 79.01° tương ứng với các mặt phẳng (100), (110), (111), (200), (210), (211), (220), (300), (310), (311) trong đó cường độ đỉnh cao nhất (110) được tìm thấy ở 2θ = 32.17°. Với các điểm nhiễu xạ ở trên xác nhận sự hình thành cấu trúc dạng perovskite của mẫu BaTiO3 [42]. Kết quả cho thấy vật liệu dang perovskite đã được tổng hợp thành công cho độ kết tinh tốt.
Với phương pháp tổng hợp đồng kết tủa cho mẫu CuO-ZnO (Hình 3.1.b))
có các peak đặc trưng cho hai pha đồng oxit và kẽm oxit thể hiện rõ tại các đỉnh nhiễu xạ ở 32.8o (110), 35.5o (002), 38.8o (200), 48.7o (-202), 48.7o (020), 52.3o (020) và 58.5o (202) đặc trung cho CuO. Và cấu trúc ZnO wurtzite được xác nhận
44
ở các góc 2theta 31,74o (100), 34.34o (002), 47.56° (102), 56.54o (110) [43]. Ngoài ra không có sự xuất hiện của các chất khác trong mẫu được tổng hợp