Có rất nhiều ph−ơng pháp xác định thμnh phần cỡ hạt của vật liệu, chẳng hạn nh−: sử dụng sμng tiêu chuẩn, dùng thiết bị hiển vi điện tử, ph−ơng pháp lắng li tâm, ph−ơng pháp lắng trọng l−ợng, ph−ơng pháp tán xạ laze... Các ph−ơng pháp nμy đều có −u điểm trong một dải hạt nhất định vμ với một số nguyên liệu thích hợp, trong đó ph−ơng pháp tán xạ laze đ−ợc coi lμ ph−ơng pháp hiện đại nhất hiện nay, có khả năng phân tích thμnh phần cỡ hạt của vật liệu trong một dải rộng, từ 0.4 μm - 2000 μm với thời gian rất ngắn vμ độ lặp lại cao. Nguyên lý hoạt động của thiết bị phân tích thμnh phần cỡ hạt bằng tán xạ laze nh− sau:
Tia laze phát ra từ nguồn, đi qua một hệ quang học đ−ợc tạo thμnh một chùm tia song song. Chùm tia nμy chiếu vμo các vật liệu ở khoang chứa mẫu, khi gặp các hạt có kích th−ớc khác nhau, các tia tới sẽ bị tán xạ ở các góc khác nhau, các hạt cμng lớn góc tán xạ cμng nhỏ vμ ng−ợc lại các hạt cμng nhỏ góc tán xạ cμng lớn. Để đo các góc tán xạ nμy ng−ời ta dùng một hệ thống các detector, sau đó xử lý các dữ liệu thu đ−ợc từ các detector bằng một phần mềm chuyên dụng dựa trên lý thuyết tán xạ ánh sáng của Fraunhofer vμ Mie.
Các mẫu nghiên cứu của luận án đ−ợc xác định thμnh phần cấp hạt trên thiết bị LS Particle Size Analyzer 3.00.40 của hãng Coulter (Mỹ) tại Trung tâm Kiểm định Vật liệu Xây dựng - Viện Vật liệu Xây dựng - Hμ Nội vμ thiết bị Malvern Mastersizer (Anh) tại Viện Công nghệ Xạ hiếm.