Phương pháp nhiễu xạ ơnghen (XR D– Powder X-rays Diffraction)

Một phần của tài liệu Nghiên cứu xúc tác platin, vàng mang trên vật liệu mao quản trung bình MCM-41, SBA-15 trong phản ứng oxi hóa glucozơ (Trang 56)

Pt(OH)4 +6 HClH 2PtCl6 + 4 H2 O

2.2.1. Phương pháp nhiễu xạ ơnghen (XR D– Powder X-rays Diffraction)

XRD là một phương pháp được sử dụng rộng rãi trong khoa học vật liệu để xác định tinh thể và tính chất cấu trúc và phát hiện ra sự khiếm khuyết tinh thể. Thậm chí vật liệu mao quản trung bình trật tự là vật liệu vô định hình, nhưng do cấu trúc mao quản đồng đều có độ trật tự cao nên v n có thể sử dụng nhiễu xạ tia X. Do có đường kính mao quản rộng nên góc quét ở vùng góc hẹp 0o< 2 < 5o.

Nguyên tắc:

Theo lý thuyết cấu tạo tinh thể, mạng tinh thể được xây dựng từ các nguyên tử hay ion phân bố đều đặn trong không gian theo một quy luật xác định. Mỗi mặt mạng như một lớp phản xạ các tia X khi chúng chiếu vào các mặt này. Chùm tia X tới bề mặt tinh thể và đi sâu vào bên trong mạng lưới thì mạng lưới đóng vai

48

trò như một cách tử nhiễu xạ đặc biệt. Các nguyên tử, ion bị kích thích bởi chùm tia X sẽ thành các tâm phát ra các tia phản xạ.

Hình 2.5 : Nguyên lí cấu tạo của máy nhi u xạ tia

Hình 2.6 : Sơ đồ tia tới và tia phản xạ trên tinh thể.

Các nguyên tử, ion này được phân bố trên các mặt song song, hiệu quang trình của hai tia phản xạ bất kỳ trên hai mặt phẳng song song cạnh nhau được tính theo công thức:

49

Khi các tia này giao thoa với nhau ta sẽ thu được các cực đại nhiễu xạ, lúc đó bước sóng  của tia X phải thoả mãn :

 = 2.dhkl.sinθhkl = n Trong đó: : Hiệu quang trình của hai tia phản xạ

θhkl: Góc giữa chùm tia X và mặt phẳng phản xạ dhkl: Khoảng cách giữa hai mặt phản xạ

h,k,l: Chỉ số Miller

n: Các số nguyên 0, 1, 2… chỉ các bậc phản xạ Đây chính là hệ thức Vulf-Bragg, là phương trình cơ bản dùng để nghiên cứu cấu trúc mạng tinh thể. Khi biết các giá trị góc quét , θhkl ta có thể xác định được d. So sánh giá trị của d với d chuẩn, sẽ xác định được thành phần, cấu trúc mạng tinh thể của chất cần nghiên cứu (vì mỗi chất có các giá trị d đặc trưng riêng). Vì thế phương pháp nhiễu xạ tia X được sử dụng rộng rãi trong nghiên cứu cấu trúc tinh thể của vật liệu.

Các pic ở vùng 2θ thấp được định danh theo chỉ số Mille là (100), (110), (200). ic (100) đặc trưng cho mao quản trung bình, pic (110) và (200) đặc trưng cho mức độ trật tự của vật liệu.

Với hệ có cấu trúc mao quản lục lăng:

50

d100 là khoảng cách của hai lớp mao quản song song. Khoảng cách 2 tâm mao quản hay tế bào mạng là:

a0 =

3

2d100

Độ dày thành mao quản là: tW = a0 – Dpore

Đối với các mạng tinh thể khác nhau thì không phải bất cứ mặt nào cũng thấy sự phản xạ. Đối với dạng lập sáu phương xếp chặt thì phản xạ xuất hiện đối với h+2k=3N với l chẵn, h+2k=3N1 với l lẻ hoặc h+2k=3N1 với l chẵn nhưng với h+ 2k=3N và l lẻ thì phản xạ không xuất hiện .

Thông số tế bào mạng a của cấu trúc tinh thế thu được bằng các phương trình phụ thuộc sau theo từng loại nhóm không gian :

a= Qhkl.dhkl Với nhóm không gian lục lăng 6mm SBA-15:

Qhkl =   2222 2 2 3 4 c l a hk k h   

Đối với dạng lục lăng thì a = dhkl

32 2

hương pháp này đã cung cấp các thông tin rõ ràng vể các phân tử có tỉ lệ thành phần khối lượng trong hợp chất đủ lớn. Tuy nhiên đối với các hạt có tỉ lệ thành phần khối lượng 5% hoặc vô định hình thì không thể phát hiện được. Do đó không bao giờ chắc chắn rằng không có pha lạ khi sử dụng phương pháp XRD. Mặc khác, bề mặt – nơi tập trung hoạt tính xúc tác cũng không nhận biết qua nhiễu xạ tia X.

Thực nghiệm:

hổ XRD đựơc ghi trên máy VNU - SIMENS - 5005, với ống phát tia X bằng đồng với bước sóng Kα = 1,5406 Å, góc quét 2θ tương ứng với mỗi chất, tốc độ quét 0,20/s tại khoa Vật lý của trường Đại học Khoa học Tự nhiên Hà Nội.

51

Một phần của tài liệu Nghiên cứu xúc tác platin, vàng mang trên vật liệu mao quản trung bình MCM-41, SBA-15 trong phản ứng oxi hóa glucozơ (Trang 56)

Tải bản đầy đủ (PDF)

(177 trang)