Hệ thiết bị Wenner được đánh giá là hệ thiết bị mạnh, được nhóm nghiên cứu của trường đại học Birmingham (Griffiths và Turnbull, 1985; Griffiths, Turnbull và Olayinka, 1990) sử dụng đầu tiên, nhiều cuộc khảo sát trước đây đã sử dụng thiết bị
này. Thiết bị Wenner thông thường là Wenner-alpha, với bốn điện cực, có ba khả
năng hoán vị vị trí của các điện cực (Carpenter và Habberjam, 1956).
Trong hình 3.6a, các đường đẳng trị của hàm độ nhạy đối với thiết bị
Wenner-alpha hầu như phân bố nằm ngang bên dưới tâm thiết bị, do tính chất này nên thiết bị Wenner tương đối nhạy đối với sự thay đổi điện trở suất của môi trường theo phương thẳng đứng, nhưng ít nhạy đối sự thay đổi điện trở suất theo phương ngang. Do vậy, thiết bị Wenner phát hiện khá tốt các cấu trúc phân lớp ngang, nhưng kém hiệu quảđối với các cấu trúc hẹp, thẳng đứng. So với các thiết bị khác,
Trong bảng 2.1, chiều sâu khảo sát trung bình của thiết bị Wenner-alpha là khoảng 0,5 lần khoảng cách tối đa của các điện cực “a”. Mặc khác, cường độ tín hiệu là nghịch đảo của tham số hình học sử dụng để tính giá trị điện trở suất biểu kiến cho thiết bị, mà tham số hình học của thiết bị Wenner là 2πa, tham số này tương đối nhỏ so với các thiết bị khác. Do đó, thiết bị Wenner có cường độ tín hiệu mạnh nhất so với các thiết bị khác, đây là điểm thuận lợi cho việc khảo sát trong vùng có nhiễu mạnh. Tuy nhiên, một trong những bất lợi của thiết bị này trong thăm dò 2D là mức
độ bao phủ theo tuyến đo tương đối nhỏ khi tăng khoảng cách thiết bị, điều này sẽ
gây trở ngại khi sử dụng hệ thống đo đạt có sốđiện cực ít.
Hình 3.6:Các mặt cắt độ nhạy 2D của thiết bị Wenner, cho các cấu hình thiết bị: Wenner alpha, Wenner beta và Wenner gamma.
Điểm chú ý ở đây là từ mặt cắt độ nhạy cho thấy giữa các điện cực C1 và P1
cũng như C2 và P2, hàm độ nhạy có giá trị âm lớn ở gần bề mặt. Điều này có nghĩa là nếu có một vật nhỏ có điện trở suất cao hơn nền môi trường đặt ởđới âm này thì giá trị điện trở suất biểu kiến đo được sẽ giảm, hiện tượng này được gọi là sự
nghịch đảo bất thường (Anomaly inversion).Trong khi đó, nếu một vật có điện trở
suất cao nằm giữa các điện cực P1 vàP2 nơi độ nhạy có giá trị dương lớn thì giá trị điện trở suất biểu kiến đo được sẽ tăng. Đó chính là cơ sở của phương pháp bù Wenner được đề suất bởi Barker (1992) nhằm loại trừảnh hưởng của bất đồng nhất ngang trong khảo sát đo sâu điện trở suất.
Có hai loại khác của thiết bị Wenner là Wenner-beta và Wenner-gamma. Thiết bị Wenner-beta thật ra là một trường hợp đặc biệt của thiết bị lưỡng cực khi khoảng cách giữa các điện cực bằng nhau. Thiết bị Wenner-gamma có sự sắp sếp các điện cực tương đối bất thường, trong đó điện cực dòng và điện cực thế xen kẽ
nhau. Mặt cắt độ nhạy theo Hình 12c, cho thấy vùng sâu nhất được vẽ bởi thiết bị
này ở bên dưới ngoài hai điện cực C1 và C2, không phải nằm ở tâm của hệ thiết bị.