Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống
1
/ 73 trang
THÔNG TIN TÀI LIỆU
Thông tin cơ bản
Định dạng
Số trang
73
Dung lượng
2,38 MB
Nội dung
vi MỤC LỤC TRANG i ii iii iv vi viii MỞ ĐU 1 1. 1 2. Tình hình 2 3 4 4 4 4 7. 5 5 Chng 1.TỔNG QUAN 6 6 1.2 7 7 1.4 8 9 10 vii Chng 2.C SỞ Lụ THUYẾT 17 2.1 17 2.2 18 2.3 21 2.4 24 2.5 28 Chng 3.XÂY DNG MỌ HÌNH BÀI TOÁN 32 32 34 34 Chng 4. KHO SÁT HÀM HẤP THU TỔNG QUÁT 40 40 4.2 Tr 0 42 4.3 46 4.4 49 KẾT LUẬN VÀ KIẾN NGHỊ 54 TÀI LIU THAM KHO 55 PHỤ LỤC 57 viii DANH SÁCH CÁC CH VIẾT TẮT : . SWL : . 2 : . d (hkl) : (hkl). n : . h : . V : . (P) : (Q) : . : . o : . : . o : tia t. : . : . : -inclination. a : . b : . : . AB : . ix BC : . R : . r : . dr : . : . d : . L : . x DANH SÁCH CÁC HÌNH HÌNH TRANG Hình 1.1: X 8 Hình 1.2: 8 Hình 1.3 9 Hình 1.4 10 Hình 1.5: 11 Hình 1.6 o 12 Hình 1.7: 13 Hình 1.8 14 Hình 1.9 0 15 Hình 2.1: 19 Hình 2.2: 20 Hình 2.3: 20 Hình 2.4: 22 Hình 2.5: 25 Hình 2.6: 26 Hình 2.7: 29 Hình 2.8: o 29 Hình 2.9: 30 Hình 2.10: o 31 Hình 3.1: 32 Hình 3.2: 33 Hình 3.3: 34 Hình 3.4: 35 Hình 3.5: 35 Hình 3.6: 36 xi Hình 3.7: 38 Hình 4.1: 42 Hình 4.2: 43 Hình 4.3: 0 45 Hình 4.4: 0 46 Hình 4.5: 48 Hình 4.6: góc = 30 0 49 Hình 4.7: 50 Hình 4.8: 51 Hình 4.9: 52 Hình 4.10: 53 Hình 4.11: 54 Trang 1 MỞ ĐU 1. Đặt vn đề ng sun ti trong chi tit, phát sinh trong quá trình gia công nhit, gia c quá trình luyn thép, là nguyên nhân gây bin dng hoc phá hy chi tinh ng sung trong quá trình x lý và ci thiu kin làm vic ca chi tit. ng ng sut không phá hc nghiên cu và ng dng ngày càng nhiu x c s dng ph bin vm rõ rnh chính xác ng su dàng t ng hóa. u x X quang, ng sut nh t v nh cng nhiu x. nh cng nhiu x thì vic tính toán ng ca h s LPA (yu t Lotentz, yu t phân cc và yu t hp th) i vi chi tit phi chính xác. Yu t Lorenzt và yu t phân cu phép binn v i yu t hp th. Vì vy vic nghiên cu yu t hp th này có vai trò quan tri vng sut dùng nhiu x X quang.u tìm ra công thc tính h s hp th bng -inclination) c ng ng sut bng nhiu x còn s d 0 -inclination) c 0 . na, vinh ng sut trên mt din tích b mt mu s gii hn din tích chiu x u này s nhiu x gim, khi chiu x trên mt din tích gii hn v n tích chiu x này phn. T u x --inclination) dn ng hp tính toán là gii hn và không gii hn din tích chiu x. Vì tác Trang 2 ng ca h s n giá tr ng sut ph thuc vào b rng nhiu x, nên ng ca h s LPA cc kim tra trên các vt mu có b rng nhiu x khác nhau. Chiu sâu nhiu x c kim tra và so sánh vi nhi Din tích chiu x ci nh (1mm 2 100mm 2 ) nên khi nhiu x lên mu phng hoc mu có bán kính cong ln thì xem phn tip xúc gia tia X và mt phng. a mu gim thì s tip xúc gia tia X và m cong này ca mu s ng trc tip ti giá tr hp thu tia X ca mu. Tuy nhiên, trong các máy nhiu x hin nay ch áp dng công thc hp thu trên b mt phng tính toán cho nhing hp u này dn ti kt qu khi nhiu x lên m vic nh hàm hp thu tng quát có th áp dng cho c mt phng và mt cong là v cp thit hin nay. 2. Tình hình nghiên cu trong vƠ ngoƠi nc 2.1 Nghiên cu c - Cullity nhiu x b hp th trên b mt phng. T công thc ca Cullity, Koistinen tìm ra công thc hàm hp th tia X trên mt mt phng vu . Các nghiên c ra mi góp phnh chính xác các yu t nhiu x tia X. - p thu trên b mt tr và b mt cu vi din tích chiu x b gii hn. Trong nghiên cu này, Taizo ch xét các phân t nhiu x t b mt vt mu ti mt lp vt liu có chiu sâu th 0 0 ). Tuy nhiên, tia X không phi dng li ti chiu sâu thm 0 (ching tia X) mà còn tip tc xuyên qua.Vì th nu ch dng li ti chiu sâu thm 0 khi nghiên cu nhiu x s dn ti sai sót trong giá tr tng. Trang 3 - Thu hàm hp thu trên b mt phng cho các và khi gii hn và không gii hn din tích nhiu x. mt nghiên cu hoàn thi cho các nghiên cu, tính toán sau này. 2.2 Nghiên cu c - Lê Minh T nh hàm hp th trên b mt hình tr b u c nh góc ti và o mà không khng ch tit din tia X. Trong nghiên cu này, tác gi cp ti chiu dài tr và không th hin giá tr chiu dài xuyên thu c th. - Nguyn Th Hu hàm hu không gii hn din tích tia X trên b mt Ellipsoid.Nghiên cu c hàm hp thu trên b mt tng quát, có th áp dng trên các b mt khác nhau bng . Tuy nhiên, ch Hng vc mt áp dng c th nào. - Nguy i nghiên cu hàm hp thu trên vt li ng, dng mt phng, b, .Tác gi n dng nhiu gi thuyt i tia X áp dng cho vt liu Texture và tin hành mô phng hp khác nhau. Nghiên c m i, áp du x X quang cho vt li nh ng su Vit Nam, nhu cu tính toán ng sut , trong u v tính ng sut dùng nhiu x X quang vn còn nhiu thiu nh. Xut phát t , tác gi ch tài: Xác đnh hàm hp thu tng quát dùng nhiu x X quang cho bề mặt Ellipsoid sử dng phng pháp đo ”, vi mong mun góp phn xây dng và phát tric nghiên cu ng suu x X quang. Trang 4 3. Mc đích ca đề tài nh ng ca biên dng vt mu ti giá tr hp thu khi nhiu x X nh công thc hp thu tng quát áp dng cho c mt phng và mt cong. 4. ụ nghĩa ca đề tài 4c c hàm hp th tng quát áp dng cho c mt phng và mt cong. Qua n ch sai s khi tính toán cho các b mt khác nhau. 4.2 c tin Hoàn thinh h s hp th còn thiu. T kt qu t c, tin hành ng dng vào trong các máy nhiu x hin nay. 5. Đối tng và khách thể nghiên cu - ng nghiên cu: s hp th tia X khi nhiu x X quangca vt mu có biên dng Ellipsoid. - Khách th nghiên cc tính nhiu x X quang; cu trúc, biên dng vt mu; c 6. Nhim v ca đề tài và gii hn đề tài Nghiên cc tính ca tia X, s ng ca biên dng vt mu n s hp th nh hàm hp thu ca b mt Ellipsoid khi nhiu x X quang, s d. Bii công th áp dng cho b mt phng và b mt cong. B mt Ellipsoid nghiên c c gii hn v c R 1 =R 2 =R a , R 3 =R b . S do , c 0 . Tia X s dng c tính Cr s hp th µ = 873.3 cm -1 . [...]... Phương pháp đo kiểu (Side – inclination method) 2.5.1 Phương pháp đo kiểu Đây là phương pháp có mặt phẳng đo ng suất (mặt phẳng x c định b i phương vuông góc c a mẫu đo với hướng đo ng suất) trùng với mặt phẳng nhiễu x (là mặt phẳng ch a tia X tơi va tia X nhiễu xa ̣ Ψ, trong phương pháp đo kiểu được chia làm hai phương pháp: Phương pháp đo kiểu cố định góc Phương pháp đo kiểu cố định. .. đồ nhiễu x [8] Trang 28 Hình 2.7 :Phương pháp đo kiểu cố định góc 2.5.1.2 Phương pháp đo kiểu cố định góc o Hình 2.8: Phương pháp đo kiểu cố định góc o Trong phương pháp đo kiểu cố định o đầu tiên ta gá mẫu đo lên máy đo nhiễu x và điều chỉnh cho mặt phẳng đo ng suất trùng với mặt phẳng ch a tia X tới và tia X nhiễu x Sau đó ta cố định tia X tới một góc o với phương vuông góc với mẫu đo. .. phương pháp này được chia làm hai phương pháp: Phương pháp đo kiểu cố định góc Phương pháp đo kiểu cố định góc o 2.5.2.1 Phương pháp đo kiểu Trong phương pháp đo kiểu cố định góc cố định , ta gá mẫu lên máy đo nhiễu x và điều chỉnh sao cho mặt phẳng ch a tia X tới và tia X nhiễu x vuông góc với hướng cần đo ng suất, sau đó lần lượt cho hai tia X tới và tia X nhiễu x quay đều về hai phía (hình... bằng nhau với mặt phẳng đo ng suất, khi đó máy đo sẽ ghi nhận tín hiệu từ tia nhiễu x [8] Hình 2.9 :Phương pháp đo kiểu cố định 2.5.2.2 Phương pháp đo kiểu cố định góc 0 Trong phương pháp này ta gá mẫu đo lên mâm gá c a máy đo nhiễu x , sao cho mặt phẳng ch a tia X tơi va tia X nhiễu xa ̣ vuông góc v ới hướng đo nhiễu x Phương c a tia X tới được cố định một góc0 với mặt phẳng đo ng suất và lần... và cho tia X nhiễu x quay đều về một phía (hình 2.9Ψ, khi đó những phân tố nào có phương pháp tuyến trùng với đư ng phân giác c a tia X tới và tia X nhiễu x thì sẽ bị nhiễu x t i góc nhiễu xa ̣ 2.[8] Trang 29 2.5.2 Phương pháp đo kiểu Phương pháp đo kiểu là phương pháp đo mà mặt phẳng nhiễu x vuông góc với mặt phẳng đo ng suất và nghiêng một góc φ so với phương vuông góc với mẫu đo Trong phương pháp. .. nguyên tử phía dưới lớp bề mặt với một chiều sâu đáng kể 2.4 Các y u tố nh h ng đ n c ng đ nhi u x LPA (Lorenz, h số phân cực, hàm h p th ) Việc x c định chính x c vị trí đỉnh nhiễu x là điều kiện tiên quyết để x c định ng suất dư, vì khi thực hiện nhiễu x ng với một mặt phẳng nguyên tử hkl (mặt ph n x ) và một góc nhiễu x β sẻ cho một đư ng nhiễu x nhất định và đỉnh nhiễu x là vị trí có cư ng độ I... khuyết tật mối hàn ng dụng c a tia X 1.6 Các nghiên c u hàm h p thu tr c đơy Hệ số hấp thụ khi nhiễu x lên bề mặt phẳng được Cullity tìm ra khi tiến hành nhiễu x tia X lên một mẫu phẳng Hệ số hấp thụ này phụ thu c vào chiều dài c a tia tới và tia nhiễu x đi qua trên bề mặt vật mẫu.[6] đây tia X có bề rộng là 1cm, sẽ chiếu lên một mặt phẳng vật mẫu, khi đo bên trong c a vật mẫu sẽ nhiễu x t i một nguyên... kiểu cố định góc o 2.5.1.1 Phương pháp đo kiểu cố định góc Tia tới và tia nhiễu x luôn t o với phương vuông góc c a mặt phẳng nhiễu x một góc bằng nhau Phương vuông góc c a mặt phẳng nhiễu x được cố định với phương vuông góc c a mẫu một góc không đổi trong suốt quá trình đo Trong quá trình đo, tia X tới và tia X nhiễu x ch y đều về hai phía (hình 2.8Ψ, lúc này máy đo sẽ có chế độ nhận tín hiệu... phân tử bị nhiễu x và đi ra ngoài dV : thể tích phân tô bị nhiễu x đây ta có : L 1 sin Suy ra dID = AB x sin BC abIo -(1/sin + 1/sin) e dx sin x sin (1.2) (1.3) Đây là công th c cư ng độ nhiễu x bị hấp thụ trên bề mặt phẳng mà Cullity đã ch ng minh Từ công th c (1.3)Koistinentìm ra công th c hàm hấp thu tia X lên một mặt phẳng với phương pháp đo kiểu cố định góc áp dụng cho vật liệu... thực hiện nhiễu x cho vật mẫu (là vật nhiễu x tr ng thái tự nhiên không tồn t i ng suất) với thiết bị có cùng công suất, bước sóng chùm tia tới, mặt phẳng nhiễu x có chỉ số Millier h,k,l, và cùng góc nhiễu x β sẽ thu được đư ng nhiễu x có đỉnh nhiễu x C ng với điều kiện như trên chúng ta thực hiện nhiễu x trên mẫu cần đo ng suất và c ng thu được đư ng nhiễu x tương tự tuy nhiên đỉnh nhiễu x sẻ bị lệch . sut dùng nhiu x X quang vn còn nhiu thiu nh. Xut phát t , tác gi ch tài: X c đnh hàm hp thu tng quát dùng nhiu x X quang cho bề mặt Ellipsoid sử. hp thu khi nhiu x X nh công thc hp thu tng quát áp dng cho c mt phng và mt cong. 4. ụ nghĩa ca đề tài 4c c hàm hp th tng quát áp dng cho. nhiu gi thuyt i tia X áp dng cho vt liu Texture và tin hành mô phng hp khác nhau. Nghiên c m i, áp du x X quang cho vt