CHỤP ẢNH BỨC XẠ DÙNG CHO MỐI HÀN Phương pháp chụp ảnh bức xạ được dùng để xác định khuyết tật bên trong của nhiều loại vật liệu có cấu trúc khác nhau. Phương pháp chụp ảnh bức xạ sử dụng nguyên lý truyền qua và sự hấp thụ khác nhau đối với những năng lượng khác nhau của vật liệu để kiểm tra các khuyết tật bên trong đối tượng
CHỤP ẢNH BỨC XẠ DÙNG CHO MỐI HÀN 5.1 PHƯƠNG PHÁP KIỂM TRA BẰNG CHỤP ẢNH BỨC XẠ Phương pháp chụp ảnh bức xạ được dùng để xác định khuyết tật bên trong của nhiều loại vật liệu có cấu trúc khác nhau. Phương pháp chụp ảnh bức xạ sử dụng nguyên lý truyền qua và sự hấp thụ khác nhau đối với những năng lượng khác nhau của vật liệu để kiểm tra các khuyết tật bên trong đối tượng. Một chùm tia bức xạ tới sau khi đi qua các bề dày khác nhau của mẫu vật thì sự biến thiên hay thay đổi cường độ của chùm bức xạ qua vật liệu sẽ được ghi lại trên phim. Sau các quá trình tráng rửa phim ta nhận được ảnh chụp bức xạ của mẫu vật, từ đó có thể giải đoán để phân tích các khuyết tật hoặc sự hư hỏng nằm bên trong mẫu hay không. 5.2 PHÂN LOẠI CÁC PHƯƠNG PHÁP CHỤP ẢNH BỨC XẠ I. Các tính chất cơ bản của tia X và tia Gamma 1. Sự ra đời, bản chất của bức xạ tia X và tia Gamma Năm 1895 Roentgen đã phát hiện ra bức xạ tia X trong lúc ông đang nghiên cứu hiện tượng phóng điện qua không khí. Trong một thời gian thí nghiệm trên những loại tia mới và bí ẩn này thì Roentgen đã chụp được một bức ảnh bóng của các vật thể khác nhau gồm có hộp đựng các quả cầu và một khẩu súng ngắn nhìn thấy được r rng. Những bức ảnh bĩng nàyđãđánh dấu sự ra đời của phương pháp chụp ảnh bức xạ. Trong khoảng một năm sau khi Roentgen đã phát hiện ra bức xạ tia X thì phương pháp chụp ảnh bức xạ được áp dụng để kiểm tra các mối hàn. Năm 1913 Collidge đã thiết kế một ống phát bức xạ tia X mới. Thiết bị này có khả năng phát bức xạ tia X có năng lượng cao hơn và có khả năng xuyên sâu hơn. Năm 1917 phòng thí nghiệm chụp ảnh bức xạ bằng tia X đã được thiết lập tại Royal Arsenal ở Woolwich. Bước phát triển quan trọng kế tiếp là vào năm 1930 khi hải quân Mỹ đồng ý dùng phương pháp chụp ảnh bức xạ để kiểm tra các mối hàn của nồi hơi. Trong khoảng một vài năm sau đó bước phát triển này đi đến sự chấp nhận rộng rãi là dùng phương pháp chụp ảnh bức xạ để kiểm tra các mối hàn trong bình áp lực và bức xạ tia X đã tạo ra một sự phát triển bền vững như là một công cụ dùng để kiểm tra các mối hàn và vật đúc. Quá trình này đã đặt ra một cơ sở cho sự phát triển liên tục của kỹ thuật kiểm tra bằng chụp ảnh bức xạ. Bản chất của bức xạ tia X: Bức xạ tia X là dạng bức xạ điện từ giống như ánh sáng. Giữa bức xạ tia X và ánh sáng bình thường chỉ khác nhau về bước sóng. Bước sóng của bức xạ tia X nhỏ hơn vài ngàn lần so với bước sóng của ánh sáng bình thường. Trong kiểm tra vật liệu bằng chụp ảnh bức xạ thường sử dụng bức xạ tia X có bước sóng nằm trong khoảng 10 -4 0 A đến 10 0 A trong đó 1 0 A = 10 -8 cm. Bức xạ gamma là một loại bức xạ sóng điện từ giống như bức xạ tia X nhưng chúng thường có bước sóng ngắn hơn và có khả năng xuyên sâu hơn bức xạ tia X được phát ra từ các máy phát bức xạ tia X mà được sử dụng rộng rãi trong chụp ảnh bức xạ công nghiệp. Một số bức xạ gamma có khả năng xuyên qua một lớp chì có bề dày đến 10cm. Bức xạ gamma được phát ra từ bên trong hạt nhân của nguyên tử, khác với bức xạ tia X được phát ra ở bên ngoài hạt nhân. Bước sóng của bức xạ sóng điện từ được tính theo mét, centimet, millimet, micromet, nanomet và angstron trong đó 1 0 A = 10 -8 cm. Hình 2.1 biểu diễn vị trí của bức xạ tia X và tia gamma trong phổ bức xạ sóng điện từ. 2. Phổ bức xạ tia X và tia Gamma Một yếu tố cơ bản là bức xạ tia X được phát ra khi các electron bị hãm lại. Khi các electron di chuyển với vận tốc cao đến gần hạt nhân (hạt nhân mang điện tích dương), chúng chịu một lực hút và chuyển động chậm lại. Trong quá trình chuyển động chậm hoặc bị hãm lại này thì các electron này mất đi một phần động năng ban đầu của chúng và động năng mất đi đó được phát ra dưới dạng bức xạ tia X. Vì vậy, chúng ta có thể nói rằng bức xạ tia X được phát ra là một quá trình tiếp theo sau quá trình làm lệch hướng chuyển động của các electron ở cathode bởi một trường lực mạnh nằm xung quanh hạt nhân của các phần tử bia. Đôi khi các electron bị hãm lại đột ngột thì toàn bộ động năng của chúng được chuyển thành năng lượng bức xạ tia X lớn nhất cùng với bước sóng nhỏ nhất. Nhưng trong thực tế toàn bộ phổ của bức xạ có dải bước sóng dài hơn hoặc dải tần số thấp hơn được phát ra bởi các electron mà các electron này chỉ mất đi một phần năng lượng của chúng trong một lần tương tác với hạt nhân và chịu nhiều va chạm với các nguyên tử bia trước khi chúng dừng lại. Như vậy, phổ bức xạ tia X là một dạng phổ liên tục với một bước sóng nhỏ nhất λ min có giá trị xác định. Ta có E = h.f trong đó h là hằng số Plank và f là tần số. Năng lượng của một electron có điện tích là (e) đi vào một hiệu điện thế VÀlà e.VÀvà sự hấp thụ hoàn toàn (hoặc dừng lại hoàn toàn) thì năng lượng này xuất hiện như một lượng tử tia X có năng lượng h.f = h.c/λ = e.VÀmà ta có λ min = h.c/e.VÀ= 12.4/V. Trong đó c là vận tốc của ánh sáng và VÀlà hiệu điện thế được áp vào ống phát bức xạ tia X. Khác với phổ bức xạ tia X là phổ liên tục thì phổ bức xạ gamma là phổ gián đoạn, ngưỡng giá trị của bước sóng trong thực tế phụ thuộc vào sự phát xạ của hạt nhân nghĩa là nguồn phóng Các đỉnh của bức xạ tia X đặc trưng Cöôøng ñoä Tần số xạ. Các đồng vị phóng xạ có thể phát ra bức xạ có một hoặc nhiều bước sóng. Ví dụ Caesium – 137 chỉ phát ra bức xạ gamma có một bước sóng, Cobalt – 60 phát ra bức xạ gamma có hai bước sóng và Iridium – 192 phát ra bức xạ gamma có năm bước sóng trội. Tất cả các nguồn phóng xạ phát bức xạ gamma có dạng phổ vạch (phổ gián đoạn) khác với phổ bức xạ tia X là phổ liên tục, hình: Hình 2.4: Phổ vạch của nguồn phóng xạ gamma. 3. Tính chất của bức xạ tia X và tia Gamma Bức xạ tia X và bức xạ tia gamma có cùng một bản chất đó là bức xạ sóng điện từ, những tính chất giống nhau của bức xạ tia X và tia gamma được trình bày tóm tắt dưới đây : (i) Không thể nhìn thấy được chúng. (ii) Không thể cảm nhận được chúng bằng các giác quan của con người. (iii) Chúng làm cho các chất phát huỳnh quang. Các chất phát huỳnh quang đó là kẽm sulfide, canxi tungstate, kim cương, barium platinocyanide, naphátalene, anthracene, stillbene, thallium được kích hoạt natri iodide. (iv) Chúng truyền với một vận tốc bằng với vận tốc ánh sáng nghĩa là 3 × 10 10 cm/s. (v) Chúng gây nguy hại cho tế bào sống. (vi) Chúng gây ra sự ion hoá, chúng có thể tách các electron ra khỏi các nguyên tử khí để tạo ra các ion dương và ion âm. Cường độ (vii) Chúng truyền theo một đường thẳng, là dạng bức xạ sóng điện từ nên bức xạ tia X hoặc tia gamma cũng có thể bị phản xạ, khúc xạ và nhiễu xạ. (viii) Chúng tuân theo định luật tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách mà theo định luật này thì cường độ bức xạ tia X hoặc tia gamma tại một điểm bất kỳ nào đó tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách từ nguồn đến điểm đó. Theo toán học thì I ∼ 1/r 2 trong đó I là cường độ bức xạ tại điểm cách nguồn phóng xạ một khoảng cách r. (ix) Chúng có thể đi xuyên qua những vật liệu mà ánh sáng không thể đi xuyên qua được. Độ xuyên sâu phụ thuộc vào năng lượng của bức xạ, mật độ, bề dày của vật liệu. Một chùm bức xạ tia X hoặc tia gamma đơn năng tuân theo định luật hấp thụ, I = I 0 e (- µ x) Trong đó: I 0 = Cường độ của bức xạ tia X hoặc tia gamma tới. I = Cường độ của bức xạ tia X hoặc tia gamma truyền qua vật liệu có bề dày là x và có hệ số hấp thụ là µ. (x) Chúng tác động lên lớp nhũ tương phim ảnh và làm đen phim ảnh. (xi) Trong khi truyền qua vật liệu chúng bị hấp thụ hoặc bị tán xạ. Những tính chất (vii), (viii), (ix), (x), (xi) là những tính chất thường được sử dụng trong chụp ảnh bức xạ công nghiệp. 4. Định luật tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách Cường độ bức xạ đi đến một điểm nào đó phụ thuộc vào khoảng cách từ nguồn phóng xạ đến điểm đó. Cường độ bức xạ biến thiên theo tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách này. Định luật này được minh họa trong hình 2.5. Trong ví dụ này ta giả sử rằng nguồn phát ra bức xạ có cường độ không đổi mà khi bức xạ đi qua khe hở B toả ra một diện tích là 4cm 2 đi đến bề mặt ghi nhận C1 cách nguồn 12cm nếu bề mặt ghi nhận được dịch chuyển đến vị trí cách nguồn phóng xạ là 24cm tại C2 thì chùm bức xạ tia X tỏa ra một diện tích bằng 16cm 2 . Diện tích này lớn bằng bốn lần diện tích tại C1. Do đó, ta có bức xạ trên 1cm 2 ở bề mặt ghi nhận tại điểm C2 chỉ bằng 1/4 bức xạ trên 1cm 2 ở bề mặt ghi nhận tại điểm C1. Quá trình này được biết là định luật tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách của bức xạ. Trong thực tế, định luật tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách có một tầm quan trọng trong quá trình thực hiện chụp ảnh bức xa. Phim phải ghi nhận được một suất liều chiếu hoặc liều chiếu nhất định để tạo ra một ảnh chụp bức xạ trên phim có một độ đen mong muốn. Nếu do một số lý do nào đó mà khoảng cách từ nguồn đến phim có một sự thay đổi thì liều chiếu cũng bị thay đổi theo định luật tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách. Do vậy, liều chiếu có thể thích hợp tại C1 thì phải tăng lên bốn lần để tạo ra một ảnh chụp bức xạ trên phim tại C2 có độ đen bằng với độ đen bằng với ảnh chụp bức xạ trên phim được chụp tại C1. Hình 2.5. Biểu đồ minh họa định luật tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách. Trong thực tế điều này có thể thực hiện được bằng cách tăng thời gian chiếu hoặc cường độ bức xạ lên vì liều chiếu trong chụp ảnh bức xạ là tích số giữa cường độ bức xạ và thời gian chiếu. A B C 1 C 2 r 1 r 2 Định luật tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách có thể biểu diễn bằng công thức toán học như sau : Trong đó : r 1 và r 2 tương ứng với khoảng cách từ nguồn đến C1 và C2. Vì I 1 ∼ 1/E 1 và I 2 ∼ 1/E 2 nên E 2 /E 1 = (r 2 ) 2 /(r 1 ) 2 . Trong đó : E 1 là liều chiếu tại C1. E 2 là liều chiếu tại C2. Định luật tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách cũng có thể được trình bày theo cách khác nhằm giúp cho việc an toàn và bảo vệ chống bức xạ khi làm việc trong vùng có phóng xạ. Định luật tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách theo dạng này được biểu diễn theo công thức D 1 /D 2 = (r 2 ) 2 /(r 1 ) 2 . Trong đó, D 1 và D 2 suất liều chiếu tại khoảng cách r 1 và r 2 tính từ nguồn phóng xạ. D 1 và D 2 có cùng một đơn vị và r 1 và r 2 cũng có cùng một đơn vị. Điều này có nghĩa là sự nguy hiểm của phóng xạ (suất liều chiếu) sẽ giảm xuống rất nhanh khi ta đứng ở một khoảng cách xa nguồn phóng xạ. Ví dụ như suất liều chiếu đối với một nguồn phóng xạ ở khoảng cách 10m tính từ nguồn sẽ còn lại bằng (1/100 = 1/10 2 ) suất liều chiếu cũng của nguồn phóng xạ đó tại khoảng cách 1m tính từ nguồn. Đây là một cách thực hiện đơn giản nhất để đảm bảo có thể giữ cho một người làm việc với các nguồn phóng xạ hở nhận một liều chiếu thấp. II. Hiện tượng bức xạ 1. Sự phân rã bức xạ Hoạt độ phóng xạ của bất kỳ một chất phóng xạ nào phụ thuộc vào độ tập trung của các nguyên tử phóng xạ có trong chất phóng xạ. Sự phân rã phóng xạ theo quá trình này tuân theo định luật hàm số mũ được gọi là định luật phân rã phóng xạ. Định luật này có thể được I 1 (cường độ bức xạ tại C1) I 2 (cường độ bức xạ tại C2) (r 2 ) 2 (r 1 ) 2 biểu diễn theo toán học là : N = N 0 × e - µ .t trong đó N 0 là số nguyên tử phóng xạ ban đầu (ở thời điểm t = 0), N là số nguyên tử phóng xạ còn lại sau một khoảng thời gian là t và λ được gọi là hằng số phân rã phóng xạ và là một đặc trưng của chất phóng xạ. Các chất phóng xạ có giá trị λ càng lớn thì phân rã càng nhanh và ngược lại. Trong những ứng dụng thực tế thì sự phân rã của một chất phóng xạ thường được phát biểu theo thuật ngữ là chu kỳ bán rã của nó được ký hiệu là T 1/2 . Chu kỳ bán rã được định nghĩa là thời gian cần thiết để cho số nguyên tử phóng xạ ban đầu giảm xuống còn một nửa. Theo một cách trình bày đơn giản là sau một chu kỳ bán rã thì số nguyên tử phóng xạ hay hoạt độ phóng xạ ban đầu (lúc t = 0) giảm xuống hai lần. Chu kỳ bán rã là một đặc trưng của một đồng vị phóng xạ (nghĩa là sau một chu kỳ bán rã thì số nguyên tử phóng xạ hoặc hoạt độ phóng xạ giảm xuống hai lần so với số nguyên tử phóng xạ hoặc hoạt độ phóng xạ ban đầu (tại thời điểm t = 0). Chu kỳ bán rã là một đặc trưng riêng của một đồng vị phóng xạ, các đồng vị phóng xạ khác nhau có chu kỳ bán rã khác nhau (sự khác nhau chủ yếu của các đồng vị phóng xạ là sự khác nhau về chu kỳ bán rã). Có các đồng vị phóng xạ có chu kỳ bán rã chỉ một phần nào đó của giây ngược lại có các đồng vị phóng xạ có chu kỳ bán rã lên đến hàng triệu năm (chu kỳ bán rã của các đồng vị phóng xạ biến thiên từ một phần nào đó của giây lên đến hàng triệu năm). Trong chụp ảnh bức xạ chúng ta sử dụng những đồng vị phóng xạ có chu kỳ bán rã khoảng vài ngày đến vài năm. Những đồng vị phóng xạ có chu kỳ bán rã càng ngắn thì số nguyên tử phóng xạ và hoạt độ phóng xạ và hoạt độ phóng xạ phân rã càng nhanh. Thay N = N 0 /2 và t = T/2 vào phương trình phân rã thì nó có thể được chuyển đổi thành : 2/1 T. 00 eN2/N λ− ×= với T 1/2 = 0.63/λ. Theo lý thuyết thì phương trình phân rã chỉ ra rằng để một chất phóng xạ phân rã hoàn toàn thì cần phải có một thời gian vô hạn. Khi vẽ phương trình phân rã lên một đồ thị thì trên đồ thị sẽ cho ta một đường cong được gọi là đường cong phân rã như được biểu diễn trong hình 2. Cường độ bức xạ và hoạt độ bức xạ riêng Cường độ bức xạ được định nghĩa là số tia bức xạ đi đến tương tác trên một đơn vị diện tích vuông góc với hướng truyền của chùm tia trong một giây. Bức xạ phát ra từ một nguồn phóng xạ cho trước được đo theo đơn vị Roentgen trên giờ ở một khoảng cách là một mét tính từ nguồn. Giá trị này được gọi là giá trị RHM của nguồn (bức xạ phát ra, công suất phát bức xạ, suất liều chiếu hay suất liều phát). Bản thân Roentgen được định nghĩa là lượng bức xạ tia X hoặc tia gamma đi qua một centimet khối không khí khô ở điều kiện tiêu chuẩn (NTP) (1cm 3 không khí khô có khối lượng 0.00129g) tạo ra một lượng ion tương đương với một đơn vị điện tích e.s.u mỗi dấu. Roentgen cũng tương đương với một vật liệu bị chiếu xạ hấp thụ một năng lượng 87.7 erg/g. Mỗi nguồn phóng xạ có một giá trị RHM trên Curie riêng. Số roentgen trên giờ tại khoảng cách một mét tính từ một nguồn phát bức xạ gamma có hoạt độ 1mCi được gọi là hệ số K (hằng số gamma) của một quá trình phát bức xạ gamma riêng biệt. Cường độ bức xạ tuân theo định luật tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách nghĩa là khi khoảng cách tính từ nguồn phóng xạ được tăng gấp đôi thì cường độ bức xạ tại khoảng cách đó sẽ bị giảm xuống bốn lần. Hoạt độ phóng xạ riêng của một nguồn phóng xạ thường được đo theo đơn vị là số Curie trong một gam và hoạt độ phóng xạ riêng đóng một vai trò quan trọng trong chụp ảnh bức xạ. Một nguồn phóng xạ có hoạt động riêng càng cao nghĩa là có thể tạo ra một nguồn có cường độ cho trước theo một kích thước vật lý nhỏ, điều này có một tầm quan trọng lớn đối với quan điểm về độ xác định ảnh chụp bức xạ. Cũng với một nguồn được chế tạo với kích thước nhỏ thì có độ tự hấp thụ nhỏ hơn và vì thế có suất liều chiếu hiệu dụng lớn hơn. Hoạt độ phóng xạ riêng phụ thuộc vào lò phản ứng hạt nhân và thời gian mà chất bị chiếu xạ cũng như các đặc tính của chất bị chiếu xạ như là khối lượng nguyên tử (số khối) và tiết diện kích hoạt. Một số nguyên tố có thể được kích hoạt để cho một hoạt độ riêng rất cao ngược lại cũng có một số nguyên tố khác không có khả năng đạt đến những giá trị hoạt độ riêng cao với một thông lượng neutron thích hợp. Hỡnh 2.6. S phõn gió phúng x ca mt cht phúng x cú chu k bỏn ró 24h ng cong phõn ró in hỡnh ca ngun Ir 192 c biu din trong hỡnh 2.7 v 2.8 cũn ng cong phõn ró ca ngun Co 60 v cỏc ng v phúng x quan tõm khỏc cú th v c d dng nu bit c chu k bỏn ró ca chỳng (hỡnh 2.9) III. Quỏ trỡnh tng tỏc ca bc x vi vt cht Khi mt chựm bc x tia X hoc tia gamma i qua vt cht thỡ cú mt s tia c truyn qua, mt s tia b hp th v mt s tia b tỏn x theo nhiu hng khỏc nhau. S hiu bit v nhng hin tng ny l rt quan trng cho mt nhõn viờn chp nh bc x v nhng khớa cnh khỏc nhau ca nú c trỡnh by di õy : 1. Hin tng hp th Mt chựm bc x tia X hoc tia gamma khi i qua vt cht thỡ cng ca chỳng b suy gim. Hin tng ny c gi l s hp th bc x tia X hoc tia gamma trong vt cht. Lng bc x b suy gim ph thuc vo cht lng ca chựm bc x, vt liu, mt ca mu vt v b dy ca mu vt m chựm tia bc x i qua. Tớnh cht ny ca bc x tia X Phaõn raừ phoựng xaù, mR/h 200mR/h 100mR/h 50mR/h 25mR/h 3.12mR/h 1.56mR/h Trong 7 chu k bỏn ró thỡ hot ca cht phúng x ó b phõn ró xung cũn nh hn 1% 24h 24h 24h 24h 24h24h 24h 1 2 3 4 5 6 7 Ngaứy [...]... THUẬT CHỤP ẢNH BứC Xạ KIỂM TRA CÁC MỐI HÀN Trong kỹ thuật chụp ảnh bức xạ để kiểm tra các mối hàn thì cách bố trí phim, mối hàn và nguồn phát bức xạ là rất quan trọng và cần phải ghi nhớ sau đây chúng ta xét ba dạng mối hàn chính như sau : • Các mối hàn nối • Các mối hàn vòng chu vi • Các mối hàn ống nhánh I Các mối hàn nối Đối với các mối hàn dạng này thì người ta thường dùng kỹ thuật chụp ảnh bức xạ. .. Nguồn Mối hàn Mối hàn Phim Phim (a) (b) Phim (c) Hình 7.1 chụp ảnh bức xạ kiểm tra các mối hàn nối Trong trường hợp các tấm phẳng được hàn nối lại với nhau thì cách bố trí thực hiện kiểm tra bằng chụp ảnh bức xạ rất đơn giản như được biểu diễn trong hình 7.1a Trong trường hợp chụp ảnh bức xạ kiểm tra các mối hàn nối trong các ống thì phim được đặt ở mặt mối hàn trong ống (nếu được) và nguồn phát bức xạ. .. bức xạ phát ra từ một nguồn phóng xạ gamma khơng thể thay đổi được, để có các năng lượng bức xạ phát ra khác nhau thì chỉ có cách sử dụng các nguồn phóng xạ gamma khác nhau (iii) Kích thước nguồn Kích thước nguồn cần phải nhỏ để làm giảm bóng mờ (Unsharápness – Ug) của ảnh chụp bức xạ trên phim đến mức nhỏ nhất, do đó sẽ làm tăng chất lượng ảnh chụp bức xạ Trong kỹ thuật chụp ảnh bức xạ kiểm tra các mối. .. với một bề mặt nào đó của mối hàn và nguồn phát bức xạ được đặt ở phía bề mặt còn lại của mối hàn, tại một khoảng cách nào đó tính từ mối hàn Phải xác định vị trí đặt nguồn phát bức xạ và phim một cách cẩn thận vì thơng thường cùng một lúc ta khơng thể nhìn thấy được cả hai phía mối hàn sau đây là một vài cách bố trí nguồn – phim thích hợp để chụp ảnh bức xạ kiểm tra các mối hàn trong những mẫu vật có... hạt có ảnh hưởng tới độ xác định chi tiết hình ảnh Đối với các loại phim có cùng độ tương phản thì phim có kích thước hạt nhỏ hơn sẽ có khả năng phân giải chi tiết hơn loại phim có kích thước hạt lớn hơn III Độ đen của phim chụp ảnh bức xạ Một cách định lượng, mật độ quang học của ảnh chụp bức xạ được định nghĩa như là mức độ làm đen một ảnh chụp bức xạ sau khi xử lý tráng rửa phim Ảnh chụp bức xạ càng... cả phim và nguồn phát bức xạ đều khơng thể đặt được ở phía bên trong ống thì cả phim và nguồn phát bức xạ đều được đặt ở phía bên ngồi ống ở hai phía đối diện nhau (hình 7.1c) II Các mối hàn vòng (chu vi) trong các ống 1 Vị trí đặt nguồn phát bức xạ và phim các mối hàn vòng thường có trong các ống cũng như trong các mẫu vật có dạng hình cầu để chụp ảnh bức xạ kiểm tra các mối hàn vòng trong ống thì... tốt nhất là khơng dùng một IQI nào, nhưng nếu cần thiết, kỹ thuật chụp ảnh bức xạ phải được kiểm tra trên một mơ hình mơ phỏng có cùng bề dày và cùng kích thước hình học (ii) Tốt nhất là phải đặt IQI nằm gần với vùng được quan tâm, với bậc mỏng hơn (loại IQI bậc/lỗ) hoặc dây mảnh nhất (loại IQI dây) nằm cách xa trục chùm tia bức xạ nhất (iii) Trong kỹ thuật chụp ảnh bức xạ kiểm tra mối hàn thì IQI dạng... X và tia Gamma 1 Ghi nhận bức xạ bằng phim Bức xạ tia X và γ gây ra những thay đổi quang hố trong lớp nhũ tương chụp ảnh của film tạo ra những thay đổi về mật độ quang học (độ đen) của film Độ đen của film phụ thuộc vào số lượng và chất lượng của chùm bức xạ đến tương tác với film Khi bức xạ đến tương tác với lớp nhũ tương của film sẽ hình thành 1 ảnh ẩn Lớp nhũ tương chụp ảnh của film có chứa những... tố bị chiếu xạ t là thời gian chiếu xạ T1/2 là chu kỳ bán rã Caesium – 137 được chiết tách từ các sản phẩm phân hạch nhiên liệu uranium trong lò phản ứng hạt nhân 3 Đầu bọc đồng vị bức xạ Nguồn phóng xạ được dùng trong chụp ảnh bức xạ rất nhỏ và thường được bọc trong một lớp vỏ kim loại bảo vệ kín Hình 3.9 biểu diễn một nguồn điển hình Hầu hết các đồng vị được sử dụng trong chụp ảnh bức xạ có dạng... phim được sử dụng, độ đen của hình ảnh nhận được Nếu ta khơng thể tính hoặc tìm ra độ nhạy của q trình phát hiện khuyết tật Do đó, ta cần có một số thơng tin về nó Thật may thay, độ nhạy của ảnh chụp bức xạ chính là độ nhạy của q trình phát hiện khuyết tật và hiện nay có nhiều cách thích hợp có thể dùng để đo nó II Độ nhạy của chụp ảnh bức xạ Độ nhạy của một ảnh chụp bức xạ là một chỉ thị gián tiếp chỉ . này có nghĩa là sự nguy hiểm của phóng xạ (suất liều chiếu) sẽ giảm xuống rất nhanh khi ta đứng ở một khoảng cách xa nguồn phóng xạ. Ví dụ như suất liều chiếu đối với một nguồn phóng xạ ở khoảng. nghịch với bình phương khoảng cách có một tầm quan trọng trong quá trình thực hiện chụp ảnh bức xa. Phim phải ghi nhận được một suất liều chiếu hoặc liều chiếu nhất định để tạo ra một ảnh chụp. trình làm lệch hướng chuyển động của các electron ở cathode bởi một trường lực mạnh nằm xung quanh hạt nhân của các phần tử bia. Đôi khi các electron bị hãm lại đột ngột thì toàn bộ động năng