18
2.3.3.Xác định các đặc trƣng của vật liệu
2.3.3.1. Phương pháp nhiễu xạ tia X (XRD)
Giản đồ nhiễu xạ tia X đƣợc đo bằng máy Siemens D5000 tại phòng nhiễu xạ tia X - Viện Khoa học vật liệu - Viện Khoa học và Công nghệ Việt Nam. Chế độ đo: bức xạ Cu – K, bƣớc sóng = 1,5406 A0, điện áp 40 Kv, cƣờng độ dòng điện 30mA, nhiệt độ 250C, góc quét 2θ = 10 - 700, tốc độ quét 0,7 0/s. Mẫu đo ở dạng bột.
2.3.3.2. Phương pháp phổ hồng ngoại (FTIR)
Mẫu đƣợc chụp phổ hồng ngoại bằng máy Impact 410-Nicolet (Mỹ) tại Viện Hóa học - Viện Khoa học và Công nghệ Việt Nam . Mẫu đƣơ ̣c ép thành viên với KBr theo tỷ lê ̣ (1: 400), đƣợc đo trong khoảng bƣớc sóng tƣ̀ 400 – 4000 cm-1.
2.3.3.3. Phương pháp hiển vi điện tử quét (SEM)
Ảnh vi cấu trúc và hình thái học của vật liệu đã tổng hợp đƣợc chụp trên thiết bị hiển vi điện tử quét phân giải cao Hitachi S- 4800 (Nhật Bản), tại phòng thí nghiệm trọng điểm, Viện Khoa học vật liệu, Viện Khoa học và Công nghệ Việt Nam.
2.3.3.4. Phương pháp phân tích nhiệt (TA)
Xác định giản đồ phân tích nhiệt trên hệ thiết bị phân tích nhiệt máy DTG- 60H Shimadzu.4 tại ĐH Sƣ phạm Hà Nội. Tốc độ tăng nhiệt 100C / phút. Gia nhiệt từ 250C - 8000C. Mẫu đo ở dạng bột.
2.3.3.5. Phương pháp xác định thành phần các nguyên tố (EDX)
Thành phần các nguyên tố đƣợc xác định bằng phƣơng pháp EDX trên thiết bị JEOL JJM 6496-JED 230 tại Viện Khoa học vật liệu, Viện Khoa học và Công nghệ Việt Nam.