Giản đồ nhiễu xạ tia X của mẫu bột nano TiO2 (hình 3.1) cho thấy các vạch nhiễu xạ tia X bị mở rộng so với nhiễu xạ tia X của TiO2 dạng khối, chứng tỏ kích thước của các hạt TiO2 nhỏ. Từ giản đồ nhiễu xạ tia X, căn cứ vào sự mở rộng vạch ta cũng có thể đánh giá kích thước các hạt TiO2 chế tạo được. Kích thước hạt D được xác định theo cơng thức Scherrer như sau:
(3.1)
Trong đó:
λ là bước sóng của tia X (trong phép đo chúng tơi sử dụng bức xạ Cu-Kα với bước sóng λ = 1,54056 Å),
β là độ rộng bán cực đại của vạch nhiễu xạ (tính ra radian) θ là góc nhiễu xạ.
Từ giản đồ nhiễu xạ tia X (hình 3.1) các đỉnh nhiễu xạ quan sát thấy rất rõ tại các góc 2θ là 25,28o ; 37,81o ; 48,1o. So sánh với các dữ liệu trong thẻ chuẩn của TiO2, Các đỉnh nhiễu xạ này lần lượt được xác định là tương ứng với các mặt phẳng mạng tinh thể (101), (004), (200), đây là các thông số đặc trưng của TiO2 pha anatase.
Như vậy, từ giản đồ nhiễu xạ tia X, có thể kết luận mẫu TiO2 chúng tôi chế tạo được có pha tinh thể anatase. Sự mở rộng các vạch nhiễu xạ chứng tỏ các mẫu chế tạo được có kích thước nhỏ.
3.1.2. Ảnh SEM
Để xác định kích thước của các mẫu nano và bằng chứng thực nghiệm về các nano Au-Ag bám trên Graphene, chúng tôi đã tiến hành chụp ảnh SEM các mẫu TiO2 và tổ hợp Graphene-Au-Ag trên hệ máy FE-SEM S4800 của hãng Hitachi đặt tại Phịng thí nghiệm trọng điểm - Viện Khoa học Vật liệu - Viện Hàn Lâm Khoa học và Công nghệ Việt Nam.
0,9 cos
D