Có thể minh hoạ hiệu ứng thời gian chết dễ dàng bằng một hệ đếm đơn giản gồm một đầu dò, một mạch hình thành xung vuông có độ rộng cố định τ và một mạch đếm tổng. Độ rộng xung ra của đầu dò và thời gian phân giải của mạch đếm tổng được giả thuyết là ngắn hơn τrất nhiều. Xung ở lối ra của đầu dò được minh hoạ trong hình 4.28a và xung ra ở mạch hình thành xung được minh hoạ trong hình 4.28b. Các xung xuất hiện trong khoảng thời gian tồn tại của xung vuông do xung trước đó tạo ra sẽ không được mạch đếm ghi nhận. Sự mất xung này được gọi là mất xung do thời gian chết.
Hình 4.28. Minh hoạ sự mất xung do thời gian chết. (a) lối ra của đầu dò; (b) lối ra của hình thành xung (xung vuông độ rộng τ); (c) lối ra của khuếch đại phổ với hằng số thờigian lớn.
Tốc độ thực n0ở lối ra của đầu dò và tốc độ đếm n thu được bởi mạch đếm liên hệ với nhau theo công thức:
n0= n/(1 -nτ). (4.52)
Trong trường hợp thời gian chết không mở rộng (các sự kiện xuất hiện trong khoảng thời gian chết không làm mở rộng khoảng thời gian này), với tốc độ đếm ghi được n = 10000 s-1và τ = 5 μs, n được nhân với hệ số hiệu chỉnh C = 1/(1-nτ) = 1.05 để thu được tốc độ đếm thật n0.
Trong hệ phổ kế phôtôn, thời gian chết lớn nhất xảy ra trong khối biến đổi tương tự số (ADC). Trong thời gian “bận” xử lí một xung, ADC sẽ không nhận thêm một xung nào nữa. Các ADC Wilkinson, thời gian chết phụ thuộc vào biên độ của xung phân được phân tích và có thể lên đến 100 μs, trong khi các ADC xấp xỉ gần đúng liên tiếp có thời gian chết là một hằng số cỡ micro giây. Công thức (4.52) chỉ có tác dụng hiệu chỉnh thời gian chết cho các ADC xấp xỉ gần đúng liên tiếp và không sử dụng được cho các ADC Wilkinson vì thời chết của nó không ổnđịnh.
Các phép đo thường ghi lại khoảng thời gian đo đã trôi qua Tc và thời gian sống (live time) Tllà thời gian mà thiết bị sẵng sàng để tiếp nhận các xung. Thời gian sống và thời gian đo liên hệ với nhau theo biểu thức:
∑+ + = i i l c T T (4.53)
trong đó tổng được lấy trên các thời gian chết riêng lẻ τi cho tất cả các xung ghi nhận được. Bằng việc sử dụng thời gian sống như là khoảng thời gian đo, người sử dụng đã được giải phóng khỏi việc hiệu chỉnh thời gian chết. Tuy nhiên nếu chồng chập xung xảy ra mạnh, các hiệu chỉnh riêng cho tốc độ đếm sẽ được áp dụng và được trình bày trong phần tiếp theo.
Với mỗi phép đo, ADC đưa ra tỉ lệ thời gian chết trung bình (Tc – Tl)/Tc. Nếu tốc độ đếm biến đổi đáng kể trong lúc đo như trường hợp các đồng vị sống ngắn phân rã trong khi đo hoặc thăng giáng của các chùm khi nghiên cứu trên máy gia tốc, cách lấy tỉ lệ phần trăm trung bình thời gian chết để hiệu chỉnh sẽ không chính xác và dẫn đến sai số lớn.
Khi đo mẫu có thành phần sống ngắn có hoạt độ lớn có T1/2<< Tc và một đồng vị sống dài hoạt độ yếu có T1/2> Tc, thời gian chết khi bắt đầu đo sẽ lớn hơn rất nhiều so với ở cuối quá trình, các xung có nguồn gốc từ đồng vị sống ngắn được thiết bị phân tích nhiều hơn và đóng góp chính vào thời gian chết trung bình. Quá trình mất các xung tương đối của hai thành phần khi đo sẽ khác nhau, nên không chỉ có tốc độ phát mà ngay cả các tỉ lệ tốc độ phát sẽ bị sai lệch khi áp dụng hiệu chỉnh trung bìnhở cuối quá trìnhđo.
Ngoài thời gian chết do ADC, các nguồn thời gian chết khác cũng có thể xuất hiện trong phổ phôtôn. Ví dụ, một số đầu dò Si(Li) trang bị các tiền khuyếch đại phản hồi quang học, điện áp ra tăng theomỗi xung và được xoávề không khi vượt quá mức. Một tín hiệu cấm thường cấm thiết bị phân tích biên độ xung trong pha reset vì vậy không có xung nào được xử lí. Nếu đồng hồ đo thời gian sống của thiết bị không dừng trong pha reset thì cần có hiệuchỉnh thời gian chết bổ sung.
Hệ số khuyếch đại của khuyếch đại phổ cũng làm thay đổi thời gian chết khi sử dụng với các ADC không chuẩn. Với các phép đo tốc độ phát cần phải hiệu chỉnh thời gian chết do khuyếch đại tạo ra.