Tài liệu tham khảo |
Loại |
Chi tiết |
[1] Đào Khắc An (2009), Công nghệ micro và nano điện tử, Nhà xuất bản Giáo dục Việt Nam, Hà Nội |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Công nghệ micro và nano điện tử |
Tác giả: |
Đào Khắc An |
Nhà XB: |
Nhà xuất bảnGiáo dục Việt Nam |
Năm: |
2009 |
|
[2] Vũ Bá Dũng (2011), Nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và sai hỏng điểm trong silic, Luận án Tiến sỹ Vật lý, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên, Hà Nội |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và saihỏng điểm trong silic |
Tác giả: |
Vũ Bá Dũng |
Năm: |
2011 |
|
[3] hạm Thị Minh Hạnh (2006), Nghiên cứu các tính chất nhiệt động và môđun đàn hồi của tinh thể và hợp chất bán dẫn bằng phương pháp mômen, Luận án Tiến sỹ Vật lý, Trường Đại học Sư phạm Hà Nội, Hà Nội |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Nghiên cứu các tính chất nhiệt động vàmôđun đàn hồi của tinh thể và hợp chất bán dẫn bằng phương phápmômen |
Tác giả: |
hạm Thị Minh Hạnh |
Năm: |
2006 |
|
[4] han Thị Thanh Hồng (2013), Nghiên cứu sự tự khuếch tán và khuếch tán của tạp chất trong bán dẫn bằng phương pháp thống kê mômen, Luận án Tiến sĩ Vật lý, Trường Đại học Sư phạm Hà Nội, Hà Nội |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Nghiên cứu sự tự khuếch tán và khuếchtán của tạp chất trong bán dẫn bằng phương pháp thống kêmômen |
Tác giả: |
han Thị Thanh Hồng |
Năm: |
2013 |
|
[5] hùng Hồ và han Quốc hô (2001), Giáo trình Vật lý bán dẫn, Nhà xuất bản Khoa học và Kỹ thuật, Hà Nội |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Giáo trình Vật lý bán dẫn |
Tác giả: |
hùng Hồ và han Quốc hô |
Nhà XB: |
Nhàxuất bản Khoa học và Kỹ thuật |
Năm: |
2001 |
|
[6] Vũ Văn Hùng (1990), Phương pháp mômen trong việc nghiên cứu tính chất nhiệt động của tinh thể lập phương diện tâm và lập phương tâm khối, Luận án hó Tiến sỹ khoa học Toán lý, Đại học Tổng hợp Hà Nội, Hà Nội |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Phương pháp mômen trong việc nghiên cứu tínhchất nhiệt động của tinh thể lập phương diện tâm và lập phươngtâm khối |
Tác giả: |
Vũ Văn Hùng |
Năm: |
1990 |
|
[7] Aziz M.J. (1998), Pressure and Stress Efects on self – diffusion in silicon. Phys. Rev. B 40(15), pp10643 - 10646 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Pressure and Stress Efects on self – diffusion insilicon |
Tác giả: |
Aziz M.J |
Năm: |
1998 |
|
[8] Kejian Ding and Hans C. Andersen (1986), Molecular-dynamics simulaton of amorphous germanium, Phys. Rev. B 34(10), p.6987 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Molecular-dynamicssimulaton of amorphous germanium, Phys. Rev. B |
Tác giả: |
Kejian Ding and Hans C. Andersen |
Năm: |
1986 |
|
[9] Tang M., Colombo L., Shu J., anh Diaz de la Rubia T. (1997), Intrinsic point defects in crystalline silicon: Tight-binding molecular dynamics studies of self-diffusion, interstitial-vacancy recombinaton, and formation volumes, Phys. Rev. B55(21), pp.14279-14289 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Intrinsicpoint defects in crystalline silicon: Tight-binding molecular dynamicsstudies of self-diffusion, interstitial-vacancy recombinaton, andformation volumes, Phys. Rev. B |
Tác giả: |
Tang M., Colombo L., Shu J., anh Diaz de la Rubia T |
Năm: |
1997 |
|