Iec 61003 1 2016

I E C 61 003-1 ® Edition 3.0 201 6-06 I N TE R N ATI ON AL STAN DAR D N OR M E I N TE R N ATI ON ALE I n d u stri al -pro cess trol system s – I n stru m en ts wi th an al o g u e i n pu ts an d two or m u l ti -po si ti on ou tpu ts – Part : M eth od s fo r eval u ati n g perform an ce Systèm es d e com m an d e d e processu s i n d u stri el s – I n stru m en ts avec en trées an al og i q u es et so rti es d eu x ou pl u si eu rs po si ti on s – IEC 61 003-1 :201 6-06(en-fr) Parti e : M éth od es d ' éval u ati o n d es perform an ces TH I S P U B L I C ATI O N I S C O P YR I G H T P R O TE C TE D C o p yri g h t © I E C , G e n e va , Sw i t z e rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Abo u t th e I E C The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes International Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i c a t i o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I EC C atal og u e - webstore i ec ch /catal o g u e E l ectro ped i a - www el ectro ped i a org The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing 20 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I EC pu bl i cati on s search - www i ec ch /search pu b I E C G l o ssary - s td i ec ch /g l ossary The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications 65 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I EC J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stp u bl i s h ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C Cu s to m er S ervi ce Cen tre - webstore i ec ch /csc If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A pro po s d e l ' I E C La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A pro po s d es p u bl i cati o n s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié Catal o g u e I E C - webstore i ec ch /catal o g u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad R ech erch e d e pu bl i cati o n s I EC - www i ec ch /search p u b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectro ped i a - www el ectro ped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient 20 000 termes et dộfinitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes équivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l o ss re I EC - std i ec ch /g l o ss ary 65 000 entrées terminologiques électrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Définitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I EC J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stp u bl i s h ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email Servi ce Cl i en ts - webstore i ec ch /csc Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I EC 61 003-1 ® Edition 3.0 201 6-06 I N TER N ATI ON AL STAN DAR D N OR M E I N TER N ATI ON ALE I n d u stri al -pro cess co n trol system s – I n stru m en ts wi th an al o g u e i n pu ts an d twoor m u l ti -po si ti on ou tpu ts – Part : M eth od s fo r eval u ati n g perform an ce Systèm es d e com m an d e d e processu s i n d u stri el s – I n stru m en ts avec en trées an al og i q u es et so rti es d eu x o u pl u si eu rs posi ti on s – Parti e : M éth o d es d ' éval u ati on d es perfo rm an ces INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 25.040.40; 35.240.50 ISBN 978-2-8322-3406-8 Warn i n g ! M ake su re th at you obtai n ed th i s pu bl i cati on from an au th ori zed d i stri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s assu rer q u e vou s avez o bten u cette pu bl i cati on vi a u n d i stri bu teu r ag réé ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission Marque déposée de la Commission Electrotechnique Internationale –2– I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 CONTENTS FOREWORD I N TRODU CTI ON Scope N ormati ve references Terms an d defin i tions General condi tions for tests Docum en tary in formation General reference docu men ts Collect data El ectrical safety I nstal lation 4 Su pply di ti ons General testi ng procedu res and precau tions Ch ecki ng of cal ibrati on made prior to delivery Set poin t Di fferen tial g ap 1 Test m ethods and procedu res 1 Tests un der reference di tions 1 Swi tch ing accu racy related factors 1 M ean switchi ng poin t Set point Tests for the effects of infl uence qu antities Am bien t temperature 2 H u m idi ty Vi brations Sh ock, drop and topple M ou n ti ng positi on 6 Over-rang e Ou tpu t load effects Su ppl y voltag e an d frequ ency variations Sh ort-term su pply voltag e in terru pti ons Fast transi ent/burst im mu nity requ irem en ts 1 Su ppl y pressu re variations 2 Comm on mode in terference N ormal mode interference (series m ode) Earthi ng M ag netic field effects 6 El ectromagnetic field 6 El ectrostatic disch arg e (ESD) 6 Effect of open-circu ited an d short-circu i ted inpu t 6 Effect of open-circu ited an d short-circu i ted ou tpu t 6 20 Effect of process mediu m tem perature 6 21 Atm osph eric pressu re effects 22 Start-u p drift 23 Accelerated operational life test Other tests C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 –3– Transien t response of a two-posi tion ou tpu t 6 I n dicati on of th e measured valu e 3 Adju stable differen tial g ap Dielectric streng th I nsul ati on resistance M u lti-posi tion ou tpu t Action Test Ch aracteristics of the m ul ti -posi tion ou tpu t 2 M u tu al in flu ence of pairs of swi tching poin ts Determ in ation of swi tch in g range General observations Protective fin ish es Tools and equi pm en t 9 Test report and su mm ary of tests 20 Partial eval u ation 23 Bi bliog raph y 24 Fi gu re – Action of two-position ou tpu t Fi gu re – Action of three-posi tion ou tpu t Table – An example of a report (1 of 4) 20 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –4– I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 I NTERNATI ONAL ELECTROTECHN I CAL COMMI SSI ON I N D U S T R I A L - P R O C E S S C O N T R O L S Y S T E M S – I N S T R U M E N T S W I TH A N A L O G U E I N P U TS A N D T W O - O R M U L T I - P O S I T I O N O U T P U T S – P a rt : M et h o d s fo r eval u ati n g p erfo rm a n ce FOREWORD ) Th e I n tern ati on al El ectrotech n i cal Com m i ssi on (I EC) i s a worl d wi d e org an i zati on for stan dard i zati on com pri si n g al l n ati on al el ectrotech n i cal com m i ttees (I EC N ati on al Com m i ttees) Th e obj ect of I EC i s to prom ote i n tern ati on al co-operati on on al l q u esti on s cern i n g stan dard i zati on i n th e el ectri cal an d el ectron i c fi el ds To th i s en d an d i n ad di ti on to oth er acti vi ti es, I EC pu bl i sh es I n tern ati on al Stan d ards, Tech n i cal Speci fi cati on s, Tech n i cal Reports, Pu bl i cl y Avai l abl e Speci fi cati on s (PAS) an d G u i d es (h ereafter referred to as “I EC Pu bl i cati on (s) ”) Th ei r preparati on i s en tru sted to tech n i cal com m i ttees; an y I EC N ati on al Com m i ttee i n terested i n th e su bj ect d eal t wi th m ay parti ci pate i n th i s preparatory work I n tern ati on al , g overn m en tal an d n on g overn m en tal org an i zati on s l i si n g wi th th e I EC al so parti ci pate i n th i s preparati on I EC col l aborates cl osel y wi th th e I n tern ati on al Org an i zati on for Stan d ard i zati on (I SO) i n accordan ce wi th d i ti on s d eterm i n ed by ag reem en t between th e two org an i zati on s 2) Th e form al deci si on s or ag reem en ts of I EC on tech n i cal m atters express, as n earl y as possi bl e, an i n tern ati on al sen su s of opi n i on on th e rel evan t su bj ects si n ce each tech n i cal com m i ttee h as represen tati on from al l i n terested I EC N ati on al Com m i ttees 3) I EC Pu bl i cati on s h ave th e form of recom m en d ati on s for i n tern ati on al u se an d are accepted by I EC N ati on al Com m i ttees i n th at sen se Wh i l e al l reason abl e efforts are m ad e to en su re th at th e tech n i cal ten t of I EC Pu bl i cati on s i s accu rate, I EC can n ot be h el d respon si bl e for th e way i n wh i ch th ey are u sed or for an y m i si n terpretati on by an y en d u ser 4) I n ord er to prom ote i n tern ati on al u n i form i ty, I EC N ati on al Com m i ttees u n d ertake to appl y I EC Pu bl i cati on s tran sparen tl y to th e m axi m u m exten t possi bl e i n th ei r n ati on al an d reg i on al pu bl i cati on s An y di verg en ce between an y I EC Pu bl i cati on an d th e correspon d i n g n ati on al or reg i on al pu bl i cati on sh al l be cl earl y i n di cated i n th e l atter 5) I EC i tsel f d oes n ot provi d e an y attestati on of form i ty I n d epen d en t certi fi cati on bodi es provi d e form i ty assessm en t servi ces an d , i n som e areas, access to I EC m arks of form i ty I EC i s n ot respon si bl e for an y servi ces carri ed ou t by i n d epen d en t certi fi cati on bodi es 6) Al l u sers sh ou l d en su re th at th ey h ave th e l atest edi ti on of th i s pu bl i cati on 7) N o l i abi l i ty sh al l attach to I EC or i ts di rectors, em pl oyees, servan ts or ag en ts i n cl u di n g i n d i vi du al experts an d m em bers of i ts tech n i cal com m i ttees an d I EC N ati on al Com m i ttees for an y person al i n j u ry, property d am ag e or oth er d am ag e of an y n atu re wh atsoever, wh eth er di rect or i n d i rect, or for costs (i n cl u d i n g l eg al fees) an d expen ses ari si n g ou t of th e pu bl i cati on , u se of, or rel i an ce u pon , th i s I EC Pu bl i cati on or an y oth er I EC Pu bl i cati on s 8) Atten ti on i s d rawn to th e N orm ati ve referen ces ci ted i n th i s pu bl i cati on U se of th e referen ced pu bl i cati on s i s i n di spen sabl e for th e correct appl i cati on of th i s pu bl i cati on 9) Atten ti on i s d rawn to th e possi bi l i ty th at som e of th e el em en ts of th i s I EC Pu bl i cati on m ay be th e su bj ect of paten t ri g h ts I EC sh al l n ot be h el d respon si bl e for i d en ti fyi n g an y or al l su ch paten t ri g h ts I n tern ati onal Standard I EC 61 003-1 has been prepared by subcom mittee SC 65B: Measuremen t and trol devices, of I EC tech nical comm i ttee TC 65: I n dustrial-process measuremen t, trol an d au tom ation Th is thi rd edi tion cancel s an d replaces the second edi tion pu blished in 2004 Th is edi tion constitu tes a techn ical revi sion Th is edi tion inclu des th e fol lowin g sig ni fican t tech nical chang es with respect to the previou s edition : a) u se of th e term “two-positi on ou tpu t” instead of “two-state instru men t” (see 2) ; b) use of th e term “differential g ap” instead of “switch in g di fferential” (see 4) ; c) use of “fast transient/bu rst i mm un ity requ iremen ts” instead of “power su ppl y transient overvol tages”, and revisi on of the test m ethod (see 0) ; Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 –5– d) del etion of 2 “comm on mode in terference” and “normal mode in terference (series m ode) ”tests of th e previ ou s edition ; e) u se of the term “electrom ag netic fiel d” instead of “radiated electrom ag netic in terference”, th e test m eth od remain ed the same (see 6) ; f) u se of the term “dielectric streng th” instead of “isolation test”, and revisi on of th e reference (see 4) ; g ) deleti on of Su bcl au ses “8 Desig n featu res”, “1 Rou ti ne m ain tenance an d adju stm en t” and “1 Repair” of the previous edition The text of th is standard is based on th e followi ng docu ments: FDI S Report on voti n g 65B/1 040/FDI S 65B/1 050/RVD Fu ll informati on on the votin g for the approval of this standard can be fou nd in the report on votin g i ndicated i n the above table Th is pu blication has been drafted in accordance wi th the I SO/I EC Directi ves, Part A l ist of al l parts of th e I EC 61 003 series, pu bl ish ed u nder th e g eneral titl e Industrial-process control systems – Instruments with analogue inputs and two or multi-position outputs, can be found on th e I EC websi te The com mi ttee h as decided that th e ten ts of th is pu blicati on wi l l rem ain unchan ged u ntil th e stabil ity date in dicated on th e I EC websi te u nder "h ttp://webstore iec ch " in the data related to the specific pu bl ication At th is date, the publ ication will be • recon firmed, • wi thdrawn , • replaced by a revised edi ti on, or • amended Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –6– I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 I NTRODUCTI ON The methods of eval u ation specifi ed in th is part of I EC 61 003 are in tended for u se by man u facturers to determi ne th e performance of th ei r produ cts an d by users, or indepen den t testing establish men ts, to verify the m an u factu rer's perform ance specifications The test di tions in th is stan dard, for example th e rang e of ambien t temperatu res and power su pply, represen t th ose, wh ich comm on l y arise in use The tests speci fied in this standard are n ot necessaril y su ffici en t for i nstru men ts specificall y desi gned for u nu su all y arduou s du ties Conversely, a restricted series of tests m ay be su i table for instrum ents desi gned to perform within a more l im ited rang e of condi tions I t wi ll be appreciated th at the cl osest comm un ication shou ld be main tai ned between the eval uating body an d th e manu facturer N ote sh ou ld be taken of the manu factu rer's specifications for the instru m en t, wh en th e test prog ram is being decided, and the man u facturer shou ld be i n vited to commen t on both the test prog ram and the resu l ts H is comm en ts on the resu l ts shou ld be included in an y report produced by th e testing organizati on Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 –7– I N D U S T R I A L - P R O C E S S C O N T R O L S Y S T E M S – I N S T R U M E N T S W I TH A N A L O G U E I N P U TS A N D T W O - O R M U L T I - P O S I T I O N O U T P U T S – Part : M et h o d s fo r eval u ati n g p erfo rm a n ce Scope Th is part of I EC 61 003 is applicabl e to pn eum ati c and electric in du strial-process instruments or trol device using m easu red valu es that are tin uou s sig nals either a mechan ical (posi ti on , force, etc ) or a standard electric sig nal These instru men ts or process control systems modu les may be used as trol lers or as switches for alarm and oth er similar pu rposes El ectronic produ ct safety i ssu es m ay i m pact on ly a few products covered by this docu men t Consequ ently th is docu men t does not address such safety issu es Th is standard is in tended to specify u niform termin olog i es an d testing m ethods for performance eval uation of in dustrial-process instru men ts or process control systems m odu les with analog ue measu red valu es an d two- or m u lti-position ou tpu ts Considerati ons other than the perform ances are l isted in Clau se N o rm a ti ve refe ren ces The following docu men ts, in wh ole or in part, are n orm ati vel y referenced in this docu m en t and are indispensabl e for i ts application For dated references, on ly the edi tion cited appl i es For u ndated references, th e latest edition of th e referenced docu men t (inclu din g an y amendm ents) appl ies I EC 60050 (al l parts) , International ) Electrotechnical Vocabulary (availabl e at I EC 60050-300, International Electrotechnical Vocabulary – Electrical and electronic measurements and measuring instruments (comprisin g Parts 31 , 31 2, 31 an d 31 4) I EC 60050-351 , International Electrotechnical Vocabulary – Part 351: Control technology I EC 61 298-1 :2008, Process measurement and control devices – General methods and procedures for evaluating performance – Part : General considerations I EC 61 298-2:2008, Process measurement and control devices – General methods and procedures for evaluating performance – Part 2: Tests under reference conditions I EC 61 298-3:2008, Process measurement and control devices – General methods and procedures for evaluating performance – Part 3: Tests for the effects of influence quantities I EC 61 298-4, Process measurement and control devices – General methods and procedures for evaluating performance – Part 4: Evaluation report content Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –8– I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 Terms and definitions For the purposes of thi s docu ment, the terms an d definitions g iven in I EC 60050-300, I EC 60050-351 , I EC 61 298-2 and the following apply 3.1 switching point xi measu red valu e (with the in pu t m oving ei ther u pscale or downscale) , at wh ich the ou tpu t ( y ) chang es from one position to another 3.2 two-position output ou tpu t variable which may assu me on e of two discrete valu es EXAM PLE Acti on i l l u strated i n Fi g u re , wh ere x i s th e val u e of th e i n pu t vari abl e an d Th e two-posi ti on ou tpu t, h avi n g on e pai r of swi tch i n g poi n ts x1 an d x2 ( x2 y i s th e val u e of th e ou tpu t si g n al g reater th an x1 ) h as th e rel ati on sh i ps:  y1 , x < x1 y=  y , x > x2 For x1 < x < x2 , y It is y1 i f th e l ast swi tch i n g poi n t crossed by x was x1 It is y2 i f th e l ast swi tch i n g poi n t crossed by x was x2 m ay be ei th er y1 or y2 y y y Xs d x x m x x IEC Figure – Action of two-position output 3.3 multi-position output ou tpu t variable which may assu me an y of a set of discrete val u es EXAM PLE A m u l ti -posi ti on ou tpu t h as n possi bl e ou tpu t val u es an d n -1 pai rs of swi tch i n g poi n ts, (see Fi g u re 2, a th reeposi ti on ou tpu t) E ach pai r of swi tch i n g poi n ts m ay be i n vesti g ated by th e proced u re g i ven for th e two-posi ti on ou tpu t Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 38 – I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 Si, pendan t l e balayage, u ne commu tation se produ i t, l'essai doit être répété avec u ne plu s g rande di fférence en tre la valeu r d'en trée mesurée et le poin t de com mu tati on (à H z) jusqu 'à ce qu 'il n'y ait plu s de commu tation induite par les vibrations La différence l a plu s g rande et la fréqu ence l aqu elle l a derni ère comm u tation s'est produi te doivent être consig nées b) Épreu ve d'en du rance par balayag e L'instru men t doi t être sou m is au x vibrations pendan t 30 m in dans chacu n des trois plans m u tu el lemen t perpen dicu laires, don t u n doi t être le sens vertical Dans ch aque plan , l 'essai doit être réal isé la fréquence qu i a donn é l ieu la réson ance m écani que la pl us i mportan te pendant la recherch e in i tiale de réson ances, ou , si au cu ne résonance n'a été détectée, la fréqu ence de vibrations doi t être balayée de mani ère tin ue dans tou te la plag e de fréqu ences prise en compte c) Recherche fin al e de réson ances de l'I EC 61 298-3:2008 Les fréqu ences de réson ance et l es fréquences donn ant l ieu des variati ons sign i ficati ves des poin ts de com mu tation trou vées dans l a recherch e in i tial e de résonances et la recherche fin ale de résonances doivent être comparées Des différences peu ven t être provoquées par u ne déformation non élastique qu i peu t du ire la formati on de fissu res dans la constru ction m écani qu e d) M esu re finale de l 'I EC 61 298-3:2008 La condi tion mécan iqu e satisfaisan te de l 'instru men t doi t être véri fi ée la fi n de l 'essai Tou te variation des poin ts de comm u tation doit être consig née Si l'instru men t possède u ne valeu r de consign e mécaniqu e, déterm in er si la vibrati on a déplacé la valeu r de consig ne 6.2.4 Chocs, chutes et renversement Cet essai doi t être réalisé selon les méthodes et procédu res indiquées l'Article de l'I EC 61 298-3:2008, ainsi qu e l es élém ents indi qu és ci -dessou s Avant l'essai, u ne mesure de référence des poin ts de com mu tation doi t être enreg istrée Après l'essai, tou te variation des poin ts de comm u tation doit être en reg istrée 6.2.5 Position de montage La descri ption g énéral e des essais se réfère l'Article de l'I EC 61 298-3:2008 La variation des poi n ts de com mu tation provoquée par des i nclinaisons de ±1 0° par rapport l a posi tion de référence de l 'instru men t doit être déterminée 6.2.6 Dépassement de calibre Cet essai doit être réalisé selon les méthodes et procédu res indiqu ées l 'Article de l 'I EC 61 298-3:2008, ainsi qu e les élém en ts indi qu és ci -dessou s Dans l es ditions de référence, avec u ne valeu r de consi gn e 50 % (si possible) , rég ler le sig n al de l a valeur m esu rée 50 % de su rcharge (c'est-à-dire u ne valeu r ég ale 50 % des valeurs supéri eu res de la plag e) pen dan t mi n Le si gn al de la valeur m esu rée doit ensu ite être rég lé 50 % de l'étendu e et, après m in, l a variation des poin ts de commu tation doi t être m esurée Pour les instrum en ts u ti lisan t des sign au x zéro décal é (par exemple, 0, bar , bar, m A 20 m A) , l'essai doit être répété en rég lant les si g nau x de la valeu r m esu rée (l e zéro réel et n on les val eu rs inféri eu res de la plag e) 6.2.7 Effets de la charge de sortie L'effet de la ch arg e, m odi fié su r l'instru ment en poi nt de comm u tation , est déterminé en m odi fian t la valeu r de la source d'énerg ie (tensi on , pression, etc ) et en m odifiant la charg e Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 – 39 – de l 'instru men t dans des li mi tes adm issibles Les combin aisons de valeurs qu i occasionnent l a plu s g rande charg e et la plu s peti te charge pou r l e com mu tateu r doi ven t être sélecti onnées 6.2.8 Vari ati on s d e l a ten si on e t d e l a f ré q u e n c e d ' a l i m e n t a t i o n Cet essai doit être réali sé sur des i nstru men ts avec un e alim en tation électriqu e pou r des foncti ons internes L'effet sur les points de commu tation des variations de l'al imen tation électri qu e, indi qu é en de l'I EC 61 298-3:2008, doi t être mesuré, l 'impédance de ch arg e étan t telle qu e spéci fiée en de l'I EC 61 298-1 :2008 6.2.9 I n terru p t i o n s d e l a ten s i o n d ' a l i m en tat i o n d e co u rt e d u rée L'essai doi t être réalisé selon le de l 'I EC 61 298-3:2008, avec les procédu res su pplémen taires su i van tes La valeu r de consi gne est rég lée u ne val eur spécifi ée en a) en L'essai doi t être réalisé en m ettant la sortie sou s tension et répété en m ettant l a sorti e hors tensi on Tou t foncti on nemen t in tempestif tel qu'u n rebondissemen t de tact doit être consig né Pour évalu er la reprodu ctibili té de ces résu ltats, cet essai doi t être répété fois, l 'in tervalle de tem ps entre deu x essais étan t au m oins égal fois la durée de l'interruption 2.1 E x i g e n c e s r e l a t i v e s l ' i m m u n i t é a u x t r a n s i t o i r e s r a p i d e s /e n s a l v e s Cet essai doit être réal isé sel on les méthodes et procédu res i ndiqu ées en de l'I EC 61 298-3:2008, ainsi qu e l es élém en ts indi qu és ci -dessous Avant l 'essai, u ne m esu re de référence des poi nts de com mu tation doi t être enreg istrée U tiliser les m êmes condi ti ons d'en trée qu 'en a) du Après l'essai , tou te variation des poin ts de commu tation doit être consig née 2.1 Va ri at i o n s d e l a pre ss i o n d ' a l i m e n t at i o n L'effet su r les poi n ts de commu tation doi t être déterm in é lorsqu e les essais, selon de l 'I EC 61 298-3:2008, son t réalisés Si les li m ites spéci fiées par le fabrican t sont i nférieures au x valeu rs d'essais préféren tielles i ndiqu ées ci-dessu s, cela doit être consig né avec l es résu l tats d'essais 6.2.1 I n fl u en ce en m od e com m u n Exi g ences su pprim ées _ La présen te parti e d e l 'I EC 61 003 est u n e n orm e i n tern ati on al e an ci en n e; el l e est ci tée d an s d e n om breu x d ocu m en ts Afi n d e n e pas m od i fi er ces d ocu m en ts, l a n u m érotati on d es parag raph es d e l a présen te parti e de l 'I EC 61 003 reste i n ch an g ée, bi en q u e certai n s parag raph es (l es 2 et 3) n e s'appl i q u en t pl u s Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 40 – 2.1 I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 I n fl u e n c e en m o d e n o rm a l ( m o d e s éri e) Exi gences su pprim ées 6.2.1 M i s e l a terre Cet essai doi t être réalisé sel on les m éthodes et procédu res i ndiqu ées en 3 de l 'I EC 61 298-3:2008, ainsi qu e l es élémen ts in di qu és ci -dessou s Cet essai n'est appl icabl e qu 'au x instru ments don t l es en trées et les sorti es él ectriqu es son t isolées de la terre L'essai doi t être réal isé en mesuran t la variati on de posi tion en régi me permanent des poin ts de com mu tation provoqu ée par la mise la terre su ccessive de chaqu e borne d'en trée et de sortie Tou te variation transi toire doi t être consig née 2.1 I n fl u en ce d u ch am p m ag n éti q u e L'essai doi t être réal isé en m esu ran t l a vari ati on de position en rég ime permanen t des poi n ts de comm u tation provoquée par les ch am ps m ag n étiques appliqu és spéci fi és l'Articl e de l'I EC 61 298-3:2008 2.1 C h a m p é l ec t ro m a g n ét i q u e Cet essai doit être réali sé selon l es méthodes et procédu res indiquées l 'Article de l 'I EC 61 298-3:2008, ainsi qu e les élém en ts in diqu és ci -dessou s Les variations de posi tion en rég ime perm anen t des poin ts de comm u tation tel les qu e: a) u ne variati on mesurable constan te, b) u ne variati on aléatoire, n on reprodu ctible, et éven tu ellement davan tag e classée com me u n effet transitoire su rven an t pendant l'application du champ électrom agnétiqu e et com me u n champ permanent ou sem i-permanen t après l'application du champ électromag nétique, doi ven t être m esu rées et consig nées Tou te détérioration su r l'i nstru men t, résu l tant de l 'applicati on du champ électromag néti que, doi t être consign ée 6.2.1 D é c h arg es é l ect ro s tat i q u e s (D E S ) Cet essai doi t être réalisé selon les méthodes et procédures indiqu ées l'Article de l 'I EC 61 298-3:2008, ainsi qu e l es élémen ts in di qu és ci -dessou s Les en reg istremen ts peuven t mon trer, par exemple: a) l 'influ ence de la DES su r les poin ts de commu tation : ) comm e un effet mesu rable constan t, 2) comm e u n effet al éatoire, non reprodu ctible, et éven tu ellemen t davan tage classé comm e u n effet transitoire su rvenan t pendan t l 'appl ication de l a DES et comme u n cham p permanent ou semi-perman ent durable après l'application de la DES; b) tou te détériorati on su r l 'instrum en t résu ltan t de l 'applicati on de la DES Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 – 41 – 6.2.1 Effets de l'ouverture ou de la mise en court-circuit de l'entrée Cet essai doit être réali sé selon les méthodes et procédu res indiqu ées l 'Article de l 'I EC 61 298-3:2008 Les variati ons des poi nts de com mutation pendan t l'essai et les u l ti mes vari ations de posi tion en rég ime permanen t doiven t être enreg istrées 6.2.1 Effets de l'ouverture ou de la mise en court-circuit de la sortie Cet essai doit être réalisé selon les méthodes et procédures indiqu ées l'Article de l 'I EC 61 298-3:2008 Les variati ons des poi nts de com mutation pendan t l'essai et l es u ltimes variati ons de position en régi me permanen t doivent être enreg istrées 6.2.20 Effet de la température moyenne de processus Cet essai doi t être réalisé sel on les m éthodes et procédu res i ndiqu ées en 20 de l 'I EC 61 298-3:2008 Les vari ations de posi tion en rég im e permanen t des poin ts de comm u tation , résu ltan t de variati ons de température du flu ide en qu atre interval les ég au x, doi ven t être mesu rées et consig nées 6.2.21 Effets de la pression atmosphérique Cet essai doi t être réalisé selon l es méthodes et procédures indiquées l'Article 21 de l 'I EC 61 298-3:2008 Les variations des poin ts de com mu tati on pendan t l 'essai doi vent être mesu rées et consig nées 6.2.22 Dérive au démarrage La descri ption g énérale des essais se réfère au de l'I EC 61 298-2:2008 L'instru men t doit être main tenu pendan t au moins h en m ettan t l'alim entation hors tension et en n 'appliqu an t pas le sig n al d'en trée En rég lan t la valeu r de consig ne w en vi ron 50 % (si possible) , l 'alim en tation doi t ensu ite être m ise sou s tension (et la valeu r d'en trée m esu rée) Le poin t de comm u tation doi t être consi gné au bou t de et au bou t de h 6.2.23 Essai accéléré de durée de vie fonctionnelle Cet essai doit être réalisé selon les méthodes et procédures indiqu ées l'Article 23 de l 'I EC 61 298-3:2008, ainsi qu e les élém en ts in di qu és ci -dessou s L'instru men t doit être connecté comme pou r un fonctionnemen t n orm al U n sig n al d'en trée cycli qu e d'un e ampli tu de crête crête su ffisante pou r m ettre en œu vre successi vem ent les poi n ts de comm u tation doi t être appl iqu é La fréqu ence doit être tel le qu 'u ne commu tation appropriée se produ ise La sortie doi t être charg ée jusqu 'à la pu issance assig née m aximale spéci fiée par le fabricant Sau f accord traire avec le fabricant, l'instru m en t doit être sou mis 00 000 cycles de sig n au x d'entrée Après l'essai , tou te vari ation des poi nts de commu tation doi t être mesu rée Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 42 – I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 S'i l y a li eu , l a résistance de tact doi t être mesu rée avan t et après l 'essai 6.3 6.3.1 Au tres es s s R é po n s e tra n si t o i re d ' u n e so rt i e d eu x p o s i t i o n s Lorsqu e la valeu r mesu rée traverse u n poin t de com mu tation , il se peu t qu e la variati on correspondan te de la sortie soi t retardée Ce retard est déterm iné par la m esu re de la réponse u n échelon L'amplitude de la variation de l a valeur mesu rée doit être ch oisie de faỗon s'assu rer qu e la comm u tation intervient avec ch aqu e variation, c'est-à-dire qu e la valeur de la variation doit être plu s g rande que l a di fférence de comm u tation Différen tes variati ons de la valeu r m esu rée peu vent donner des résu l tats di fféren ts, donnan t ainsi un e i ndication de n on-linéarité Avec certains instru men ts (par exem pl e, des instrumen ts fonctionnan t par l iaisons m écaniqu es, etc ) u ne comm u tation m ul tiple peu t in terven ir avec certain es réponses u n échelon Ceci peu t se produ ire su rtou t l orsqu e la valeu r fi nale mesu rée n e s'écarte qu e l ég èremen t du poin t de comm u tation correspondan t Pou r effectu er l a m esure, au g men ter rapidem en t la valeu r mesu rée partir de % de sa plag e ju squ 'à des valeu rs qu i débu tent au -dessou s de x2 et au g men ten t prog ressivemen t d'u n essai l 'au tre Si u ne commu tation mu l tiple est observée, l e n om bre et la séquence de la com mu tation observée, ainsi qu e l a valeur de consig ne et la valeu r mesu rée laquel le ils se produ isen t doiven t être indiqués Ch aqu e écart de l a sortie par rapport u ne fonction échelon pu re doi t être consig n é Cet essai doi t être réalisé pou r ch aqu e poin t de comm u tation au x charg es m aximales spéci fiées 3.2 I n d i c a t i o n d e l a va l e u r m e s u ré e Si l 'i nstru ment compren d u ne indication de la valeu r m esurée, la précision de son in dication doit être déterm inée en cinq points peu près ég alement espacés su r la plag e, en rég lan t le poin t de com mu tation u ne valeu r l'extérieur de la plag e, si possible Tou te in teraction en tre l e disposi ti f d'ajustag e ou l 'i ndicateu r du poin t de comm u tation et l 'in dicateu r de la valeu r m esu rée doit être étu di ée particul ièrement lorsqu e la valeu r m esu rée est voisin e du poin t de comm u tation En rég lan t la valeu r mesu rée pou r donn er u ne lectu re de 50 % su r l'indicateur, le poi n t de commu tation doit être régl é de 40 % (au m in im u m) 50 % (au m aximu m ) de l'étendu e de mesure au -dessou s et au -dessu s du rég lag e de la val eu r mesu rée L'effet sur l'indicati on de l a valeur mesu rée doi t être observé dans les di tions su i van tes: a) tou te l'al im entation h ors tensi on, b) tou te l'al im entation sous tensi on , c) dans la mesu re du possible, seu les les alim entations qu i n e serven t pas directem en t g énérer le sig nal de sortie, y , son t m ises sous tension Enreg istrer la variation de l'i ndication de la valeu r m esu rée Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 6.3.3 – 43 – Recouvrement réglable Lorsque le recou vremen t est rég lable, son ampl itu de doi t être déterm inée l a valeur m aximale et m inimale d'échell e ou , en l'absence d'échelle, la val eu r m aximale et mi nimale de l a plag e efficace de régl ag e Lorsqu e la valeu r de consig ne est rég labl e, cet essai doi t être réal isé en rég lant l a valeur de consi gne m i-échel le La précision de l'éven tuel réglage du recou vrement doi t être déterminée I l est recomman dé de répéter les mesu res au x valeu rs extrêmes de la plag e de rég lag e pou r éval u er la reproductibil i té des poin ts de com mu tation 6.3.4 Rigidité diélectrique Cet essai doi t être réal isé selon les méthodes et procédures in diqu ées au 3 de l 'I EC 61 298-2:2008, ainsi qu e l es in formations su pplémentaires ci-dessous L'essai doi t être réal isé avec un e tension d'essai de forme d'on de pratiqu em en t sinu soïdale, sa fréquence étan t ég ale cell e de l 'al im entation u ti lisée par l'instrum ent La tension d'essai doit être appliqu ée en tre deu x bornes d'alim en tation (qu i doiven t être raccordées les u nes au x au tres) et la terre Les born es restan tes doivent être conn ectées les u nes au x au tres et reliées la terre La tension vide de l'apparei l d'essai doi t être d'abord réglée l a tensi on d'essai zéro pu is raccordée l'instru men t en essai Le transformateu r u tilisé pou r cet essai doit posséder u ne capaci té d'au moins 500 VA La tension d'essai doit être prog ressivement aug mentée jusqu'à la valeur déterm inée formémen t au x critères spéci fiés au 3 de l'I EC 61 298-2:2008, de mani ère ce qu 'au cu ne su rtension transitoire sensible n e se produ ise La tension d'essai doit être m ain tenue sa valeur m aximale pendant m in El le doi t être ensu i te prog ressi vemen t ramenée zéro 6.3.5 Résistance d'isolement Cet essai doi t être réal isé selon l es méthodes et procédu res in di qu ées au de l 'I EC 61 298-2:2008, ainsi qu e les élém en ts in di qu és ci -dessou s La résistance d'isolemen t, entre chaqu e borne d'alimentation et la terre, doi t être m esu rée Sau f si le fabrican t spéci fi e u ne valeu r pl u s faible, cette m esu re doit être effectu ée avec u ne tension tinu e de 500 V Dans les cas où les bornes de sortie de l'instru men t sont isolées de la terre, l a résistance d'isolemen t par rapport la terre doi t être m esu rée la tension m aximale spécifiée par le fabricant 7.1 Sortie plusieurs positions Action La Fig u re représente l 'action d'un e sorti e simple plu sieurs positions, en l'occu rrence u ne sorti e trois positions Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 44 – I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 Essai C a rac té ri s t i q u es d e l a s o rti e p l u s i eu rs p o s i ti o n s Les essais son t réal isés su r chaqu e paire de poin ts de commu tation com me i ls le son t pour la pai re de poin ts de comm u tation d'u n e sortie deu x posi tions Pou r chaqu e paire de poi n ts de comm u tation , son t détermi nées l es valeurs équ ivalen tes x1 et x2 , partir desquel les sont calcu lés Xs d , xm et, le cas échéan t, xm – w 2 I n fl u e n c e m u tu e l l e d es p a i res d e p o i n ts d e c o m m u t at i o n Avec des pai res de points de comm utation in dépendamm en t rég lables, l'in flu ence du rég lag e de la positi on de chaque paire rég lable de poin ts de comm u tation sur l a posi tion des au tres pai res est détermin ée Rég l er u ne paire de poin ts de commu tation 50 % de sa plage de rég lag e Faire vari er l e rég lag e du poi n t de com mu tation pour chacune des au tres paires et m esurer les poin ts de comm u tation de la premi ère paire ch aqu e variation La plu s g rande in flu ence observée au cou rs de cette procédu re doi t être in di quée pour chaqu e paire de poin ts de commu tation , en mêm e tem ps qu e la plag e de rég lage I l est recomm an dé de répéter les m esu res la valeu r extrême de la plage de rég lage pour ch acun e des paires de poin ts de com mu tati on examinées D éterm i n at i o n d e l ' éten d u e d e co m m u tati o n Dans les instru men ts où les paires de poi n ts de comm u tation sont rég labl es sol idairemen t, cel les-ci doiven t être aju stées sur au moi ns trois valeu rs (valeu r l a plu s peti te, la plu s g ran de et u ne valeu r m oyenne) de l eu r plag e de rég lage Pou r chacu n de ces rég lag es, l'éten due de comm u tation et/ou l'éten due de commu tati on partielle doi ven t être détermi nées 8 O b s e rva t i o n s g én é l es Fi n i t i o n s d e p ro tec t i o n I l vien t d'énu mérer les fin i tions de protection su r l es parties externes spécifiées par le fabrican t, accompagn ées des commentai res correspondan ts Ou ti l s et éq u i pem en ts I l vi en t d'énu m érer les ou tils et équ ipem ents essen tiels l 'installation , l 'en treti en et la réparation R a p p o rt d ' e s s a i e t rés u m é d e s e s s a i s U n rapport d'essai complet de l'évalu ati on doit être établi conformémen t l'I EC 61 298-4 après réalisation de tous les essais L'ensem bl e de la docu men tation in i tiale relati ve au x m esu res effectuées pendan t les essais doi t être conservé par le laboratoi re d'essai pen dan t au moins deu x ans après émission du rapport Le Tableau donn e u n exemple de résu m é des essais et i ndiqu e les résu ltats et les in formations consign er Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 Ta b l ea u – 45 – – E xem p l e d e rap p o rt (1 de 4) M éth od e N° R é féren ce Dési g n ati on I n form ati o n s co n si g n er d 'essai I m préci si on d es poi n ts d e com m u tati on I EC 61 2982: 2008 % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée La val eu r d es poi n ts x1 et x2 et l eu r m oyen n e d oi ven t être si g n ées Le recou vrem en t i n di vi d u el ｜x1 pou r ch aq u e cycl e – x ｜ d o i t ê tre c o n s i g n é Les écarts posi ti fs et n ég ati fs l es pl u s g ran ds d e tou te val eu r m esu rée d e x1 et x , d e tou t cycl e, parti r de l a val eu r de si g n e w pou r l es en trées croi ssan tes et d écroi ssan tes d oi ven t être si g n és en tan t q u 'i m préci si on d e poi n t d e com m u tati on N on reprod u cti bi l i té d es poi n ts d e com m u tati on I EC 61 2982: 2008 I m préci si on du recou vrem en t I EC 61 2982: 2008 % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Con si g n ati on des pl ag es parm i tou tes l es val eu rs x1 et parm i tou tes l es val eu rs x2 La pl u s g ran de val eu r de l a pl ag e en tre x et x2 doi t être si g n ée com m e n on -reprodu cti bi l i té La di fféren ce en tre l a val eu r m oyen n e d e x1 parti r d e l a val eu r m oyen n e d e x2 , d oi t être si g n ée com m e Xsd Les écarts posi ti fs et n ég ati fs l es pl u s g ran ds d e tou te val eu r m esu rée d es recou vrem en ts i n d i vi d u el s – cal cu l ée d an s ch acu n d es ci n q cycl es – parti r d e l a val eu r de Xsd , d oi ven t être si g n és en tan t q u 'i m préci si on d e recou vrem en t N on reprod u cti bi l i té du recou vrem en t Poi n t d e com m u tati on m oyen Val eu r d e si g n e rég l abl e et m esu rabl e ou i n di q u ée Val eu r d e si g n e rég l abl e m s n on i n d i q u ée Val eu r d e si g n e n on rég l abl e 3 Tem pératu re am bi an te I EC 61 2982: 2008 I EC 61 2982: 2008 et I EC 61 2982: 2008 et I EC 61 2982: 2008 et I EC 61 2983: 2008 Arti cl e H u m i d i té 2 I EC 61 2983: 2008 Arti cl e % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée La val eu r m axi m al e d es di fféren ces, parm i tou tes l es val eu rs d es recou vrem en ts i n di vi d u el s n otées en n ° d u présen t Tabl eau , d oi t être si g n ée com m e étan t cel l e d e n on -reprod u cti bi l i té du recou vrem en t % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée La moyenne des valeurs moyennes de x1 et x2 (voir 6.1 1 ) doit être consignée comme étant le point de commutation moyen xm % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les écarts positifs et négatifs les plus grands de toute valeur mesurée de xm partir de la valeur de consigne idéale pour chaque cycle et pour chaque valeur de consigne doivent être consignés comme imprécision du réglage de la valeur de consigne % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les valeurs de x1 x2 Xsd , et leurs facteurs liés la précision et les valeurs de xm , doivent être consignés % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les valeurs de x1 x2 Xsd et leurs facteurs liés la précision et les valeurs de xm , doivent être consignés % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les vari ati on s d es poi n ts d e com m u tati on ch aq u e essai d oi ven t être si g n ées % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les vari ati on s d es poi n ts d e com m u tati on pen d an t l es essai s d oi ven t être si g n ées Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn , , et et , Les résu l tats de l 'exam en vi su el réal i sé après l 'essai , pou r véri fi er l es effets de tou rn em en t, d 'accu m u l ati on d e d en sati on , d e d étéri orati on d e com posan ts, doi ven t être si g n és C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 46 – Tableau N° Désignation 1 Vi brati on s Méthode d'essai (2 de 4) Référence I E C 61 2983: 2008 Arti cl e I n form ati on s si g n er Fréq u en ces: Hz Di fféren ces en tre l a val eu r d 'en trée m esu rée et l e poi n t d e com m u tati on : % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Ch ocs, ch u tes et ren versem en t I EC 61 2983: 2008 Arti cl e Posi ti on d e m on tag e I EC 61 2983: 2008 Dépassem en t de 6 cal i bre I EC 61 2983: 2008 Arti cl e Arti cl e I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 Pen d an t l es troi s étapes di sti n ctes d e cet essai , l es val eu rs su i van tes doi ven t être si g n ées: a) Rech erch e i n i ti al e d e réson an ces Pen d an t l e bal ayag e d e fréq u en ces, l es fréq u en ces d on n an t l i eu d es vari ati on s si g n i fi cati ves des poi n ts d e com m u tati on ou u n fon cti on n em en t i n tem pesti f tel q u 'u n rebon d i ssem en t d e tact d oi ven t être si g n ées Si , pen d an t l e bal ayag e, u n e com m u tati on se prod u i t, l a pl u s g ran d e d i fféren ce en tre l a val eu r d 'en trée m esu rée et l e poi n t d e com m u tati on , l aq u el l e l a d ern i ère com m u tati on s'est prod u i te doi t être si g n ée (voi r en a) ) b) Épreu ve d 'en d u ran ce par bal ayag e La fréq u en ce q u i a d on n é l i eu l a réson an ce m écan i q u e l a pl u s g ran d e pen d an t l a rech erch e i n i ti al e d e réson an ces d oi t être si g n ée, ou si au cu n e réson an ce n 'a été d étectée, cette i n form ati on d oi t être si g n ée c) Rech erch e fi n al e de réson an ces Les fréq u en ces d e réson an ce et l es fréq u en ces d on n an t l i eu d es vari ati on s si g n i fi cati ves des poi n ts d e com m u tati on , trou vées d an s l a rech erch e i n i ti al e d e réson an ces et l a rech erch e fi n al e d e réson an ces, d oi ven t être com parées et n otées d ) M esu re fi n al e La di ti on m écan i q u e sati sfai san te d e l 'i n stru m en t d oi t être véri fi ée l a fi n d e l 'essai et si g n ée Tou te vari ati on d es poi n ts d e com m u tati on d oi t être si g n ée Si l 'i n stru m en t possèd e u n e val eu r d e si g n e m écan i q u e, d éterm i n er si l a vi brati on a d épl acé l a val eu r d e si g n e et si g n er cette i n form ati on % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Avan t l 'essai , u n e m esu re d e référen ce d es poi n ts d e com m u tati on doi t être en reg i strée % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée La vari ati on d es poi n ts d e com m u tati on d oi t être en reg i strée % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les vari ati on s d es poi n ts d e com m u tati on d oi ven t être si g n ées Effets d e l a ch arg e d e sorti e Après l 'essai , tou te vari ati on d es poi n ts d e com m u tati on d oi t être en reg i strée L'effet d e l a ch arg e su r l 'i n stru m en t doi t être si g n é Vari ati on s d e l a ten si on et d e l a fréq u en ce d 'al i m en tati on I EC 61 2983: 2008 I n terru pti on s de l a ten si on d 'al i m en tati on d e cou rte d u rée Exi g en ces rel ati ves l 'i m m u n i té au x tran si toi res rapi d es/en sal ves 1 % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée L'effet su r l es poi n ts d e com m u tati on , m esu ré pen d an t l 'essai , d oi t être si g n é I EC 61 2983: 2008 L'effet d es i n terru pti on s d e l a ten si on d 'al i m en tati on de cou rte d u rée su r l 'i n stru m en t d oi t être si g n é Tou t fon cti on n em en t i n tem pesti f tel q u 'u n rebon di ssem en t d e tact d oi t être si g n é I EC 61 2983: 2008 % d 'éten d u e Tou te vari ati on d es poi n ts de com m u tati on doi t être n om i n al e d e si g n ée val eu r m esu rée Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 – 47 – Tableau N° Désignation Méthode d'essai Vari ati on s d e l a pressi on d 'al i m en tati on 1 20 M i se l a terre (3 de 4) Référence I E C 61 2983: 2008 I E C 61 2983: 2008 3 I n form ati on s si g n er % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée L'effet su r l es poi n ts d e com m u tati on d oi t être si g n é % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée L'essai d oi t être réal i sé en m esu ran t l a vari ati on d e posi ti on en rég i m e perm an en t d es poi n ts d e com m u tati on provoq u ée par l a m i se l a terre su ccessi ve d e ch aq u e born e d'en trée et d e sorti e Si l es l i m i tes spéci fi ées par l e fabri can t son t i n féri eu res au x val eu rs d 'essai s préféren ti el l es, i l vi en t de si g n er cette i n form ati on avec l es résu l tats d 'essai s Tou te vari ati on tran si toi re d oi t être si g n ée 21 I n fl u en ce du ch am p m ag n éti q u e I EC 61 2983: 2008 22 Ch am p él ectrom ag n éti que 6 I E C 61 2983: 2008 Arti cl e Arti cl e % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée La vari ati on d e posi ti on m esu rée en rég i m e perm an en t d es poi n ts d e com m u tati on , provoq u ée par l es ch am ps m ag n éti q u es appl i q u és, d oi t être si g n ée % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les vari ati on s d e posi ti on en rég i m e perm an en t d es poi n ts d e com m u tati on tel l es q u e: – u n e vari ati on m esu rabl e stan te, – u n e vari ati on al éatoi re, n on reprod u cti bl e, et éven tu el l em en t d avan tag e cl assée com m e u n effet tran si toi re su rven an t pen d an t l 'appl i cati on d u ch am p él ectrom ag n éti q u e et com m e u n ch am p perm an en t ou sem i -perm an en t après l 'appl i cati on du ch am p él ectrom ag n éti q u e, d oi ven t être m esu rées et si g n ées Tou te d étéri orati on su r l 'i n stru m en t, résu l tan t d e l 'appl i cati on d u ch am p él ectrom ag n éti q u e, doi t être si g n ée 23 Déch arg es él ectrostati q u es Les en reg i strem en ts peu ven t m on trer, par exem pl e a) l 'i n fl u en ce de l a DE S su r l es poi n ts d e com m u tati on : ) com m e u n effet m esu rabl e stan t, 2) com m e u n effet al éatoi re, n on reprod u cti bl e, et éven tu el l em en t d avan tag e cl assé com m e u n effet tran si toi re su rven an t pen d an t l 'appl i cati on d e l a DES et com m e u n ch am p perm an en t ou sem i perm an en t d u rabl e après l 'appl i cati on de l a DES; b) tou te d étéri orati on su r l 'i n stru m en t résu l tan t d e l 'appl i cati on d e l a DES I EC 61 2983: 2008 Arti cl e 24 Effets d e l 'ou vertu re ou de l a m i se en cou rtci rcu i t d e l 'en trée I EC 61 2983: 2008 25 Effets d e l 'ou vertu re ou de l a m i se en cou rtci rcu i t d e l a sorti e I EC 61 2983: 2008 26 Effet d e l a tem pératu re m oyen n e d e processu s 20 I EC 61 2983: 2008 27 Effets d e l a pressi on atm osph éri q u e 21 28 Déri ve au d ém arrag e 22 Arti cl e Arti cl e 20 I EC 61 2983: 2008 Arti cl e 21 % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les vari ati on s d es poi n ts d e com m u tati on pen d an t l 'essai et l es u l ti m es vari ati on s d e posi ti on en rég i m e perm an en t d oi ven t être en reg i strées % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les vari ati on s d es poi n ts d e com m u tati on pen d an t l 'essai et l es u l ti m es vari ati on s d e posi ti on en rég i m e perm an en t d oi ven t être en reg i strées % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les vari ati on s d e posi ti on en rég i m e perm an en t d es poi n ts d e com m u tati on , résu l tan t d e vari ati on s d e tem pératu re d u fl u i de, doi ven t être m esu rées et si g n ées % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les vari ati on s d es poi n ts d e com m u tati on pen d an t l 'essai d oi ven t être m esu rées et si g n ées % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Le poi n t d e com m u tati on d oi t être si g n é m i n et h après l a m i se sou s ten si on Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 48 – Tableau N° Désignation 29 Essai accél éré d e d u rée d e vi e fon cti on n el l e Méthode d'essai 23 (4 de 4) Référence I E C 61 2983: 2008 Arti cl e 23 I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 I n form ati on s si g n er % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée 30 Répon se tran si toi re d 'u n e sorti e d eu x posi ti on s Après l 'essai , tou te vari ati on des poi n ts d e com m u tati on doi t être m esu rée S'i l y a l i eu , l a rési stan ce d e tact d oi t être m esu rée avan t et après l 'essai Si u n e com m u tati on m u l ti pl e est observée, l e n om bre et l a séq u en ce d e l a com m u tati on observée, n si q u e l a val eu r de si g n e et l a val eu r m esu rée l aq u el l e i l s se prod u i sen t d oi ven t être i n di q u és Ch aq u e écart de l a sorti e par rapport u n e fon cti on éch el on pu re doi t être si g n é 31 I n d i cati on d e l a val eu r m esu rée % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée Les vari ati on s d e l a val eu r m esu rée i n d i qu ée d oi ven t être si g n ées 32 Recou vrem en t rég l abl e 3 % d 'éten d u e n om i n al e d e val eu r m esu rée L'éten d u e d e com m u tati on et/ou l 'éten d u e d e com m u tati on parti el l e d oi ven t être si g n ées 33 Ri g i di té d i él ectri q u e I E C 61 2982: 2008 34 Rési stan ce d 'i sol em en t I E C 61 2982: 2008 Con si g n er tou t cl aq u ag e ou contournement su rven an t pen dan t l es essai s 3 La rési stan ce d'i sol em en t m esu rée en tre ch aq u e born e d 'al i m en tati on et l a terre d oi t être si g n ée Évaluation partielle Lorsqu 'u ne éval u ation complète conforme la présen te norme n 'est pas exi gée, les essais qu i son t exig és doi ven t être réal isés et les résu l tats doiven t être consig nés formém ent au x parag raphes applicables de l a présente norme I l vi ent qu e le prog ram me d'essai fasse l'objet d'u n accord en tre le fabrican t et l'ach eteu r ou l'organ ism e d'essai , en fonction de l a natu re et de l'importance de l 'équi pemen t trai té Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 61 003-1 :201 © I EC 201 – 49 – Bibliographie I EC 61 326-1 :201 2, Matériel électrique de mesure, de commande et de laboratoire – Exigences relatives la CEM – Partie : Exigences générales _ Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn