I E C 60 4-3 ® Edition 4.0 201 6-07 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE F i xed capaci tors for u s e i n el ectron i c eq u i pm en t – Part 3: S ecti on al s peci fi cati on – S u rface m ou n t fi xed tan tal u m el ectrol yti c capaci tors wi th s ol i d (M n O ) el ectrol yte C on d en s ateu rs fi xes u ti l i s és d an s l es éq u i pem en ts él ectron i q u es – Parti e 3: Spéci fi cati on i n term éd i re – C on d en s ateu rs fi xes él ectrol yti q u es IEC 60384-3:201 6-07(en-fr) au tan tal e pou r m on tag e en s u rface, él ectrol yte s ol i d e (M n O ) Copyright International Electrotechnical Commission TH I S P U B L I C ATI O N I S C O P YRI G H T P RO TE C T E D C o p yri g h t © I E C , G e n e va , S w i tze rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Abou t th e I E C The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes International Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i c a ti o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I E C C atal og u e - webs tore i ec ch /catal og u e E l ectroped i a - www el ectroped i a org The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing 20 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I E C pu bl i cati on s s earch - www i ec ch /s earch pu b I E C G l os s ary - s td i ec ch /g l os s ary The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications 65 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I E C J u st P u bl i s h ed - webs tore i ec ch /j u s u bl i s h ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C C u s to m er S ervi ce C en tre - webs tore i ec ch /cs c If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A propos d e l ' I E C La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A propos d es p u bl i cati on s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié C atal og u e I E C - webs tore i ec ch /catal og u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad Rech erch e d e pu bl i cati o n s I E C - www i ec ch /s earch p u b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectroped i a - www el ectroped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient 20 000 termes et dộfinitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes équivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l os s re I E C - s td i ec ch /g l os s ary 65 000 entrộes terminologiques ộlectrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Définitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I E C J u st P u bl i s h ed - webs tore i ec ch /j u s u bl i s h ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email Copyright International Electrotechnical Commission S ervi ce C l i en ts - webs tore i ec ch /cs c Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I E C 60 4-3 ® Edition 4.0 201 6-07 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE F i xed cap aci tors for u s e i n el ectron i c eq u i pm en t – Part 3: S ecti on al s peci fi cati on – S u rface m ou n t fi xed tan tal u m el ectrol yti c capaci tors wi th s ol i d (M n O ) el ectrol yte C on d en s ateu rs fi xes u ti l i s és d an s l es éq u i pem en ts él ectron i q u es – P arti e : S péci fi cati on i n term éd i re – C on d en s ateu rs fi xes él ectrol yti q u es au tan tal e pou r m on tag e en s u rface, él ectrol yte s ol i d e (M n O ) INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 31 060.30 ISBN 978-2-8322-3508-9 Warn i n g ! M ake s u re th at you ob tai n ed th i s pu bl i cati on from an au th ori zed d i s tri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s as s u rer q u e vou s avez o bten u cette pu bl i cati on vi a u n d i s tri b u teu r ag réé ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical MarqueCommission déposée de la Commission Electrotechnique Internationale –2– I EC 60384-3: 201 © I EC 201 CONTENTS FOREWORD General 1 Scope Object Normative references I nformation to be given in a detail specification 4.1 General 4.2 Outline drawing and dimensions 4.3 Mounting 4.4 Ratings and characteristics 4.5 Marking Terms and definitions Marking 6.1 General 6.2 I nformation for marking 6.3 Marking on capacitors 6.4 Marking on packaging Preferred ratings and characteristics Preferred characteristics 2 Preferred values of ratings 2.1 Nominal capacitance ( CN ) 2.2 Tolerance on nominal capacitance 1 2.3 Rated voltage ( UR ) 1 2.4 Category voltage ( UC ) 1 2.5 Surge voltage ( URS or UCS ) 1 2.6 Rated temperature 1 Quality assessment procedures Primary stage of manufacture Structurally similar components 3 Certified test records of released lots Qualification approval procedures 4.1 General 4.2 Qualification approval on the basis of the fixed sample size procedure 4.3 Tests 3 Quality conformance inspection 20 5.1 Formation of inspection lots 20 5.2 Test schedule 20 5.3 Delayed delivery 20 5.4 Assessment levels 20 Test and measurement procedures 21 Drying 22 Measuring conditions 22 Mounting 22 3.1 General 22 3.2 I nitial inspection 22 3.3 Final inspections 22 Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-3: 201 © I EC 201 –3– Visual examination and check of dimensions 22 4 4.1 General 22 4.2 Visual examination and check of dimensions 22 4.3 Requirements 22 Electrical tests 22 5.1 Leakage current 22 5.2 Capacitance 23 5.3 Tangent of loss angle (tan δ ) 23 5.4 I mpedance (if required) 23 5.5 Equivalent series resistance (ESR) (if required) 24 Resistance to soldering heat 24 6.1 General 24 6.2 Test conditions 24 6.3 Recovery 24 6.4 Final inspections and requirements 25 Solderability 25 7.1 General 25 7.2 Test conditions 25 7.3 Final inspections and requirements 25 Shear test 25 8.1 General 25 8.2 Final inspections and requirements 25 Substrate bending test 25 9.1 General 25 9.2 Final inspections and requirements 25 Rapid change of temperature 25 0.1 General 25 0.2 I nitial inspection 25 0.3 Test conditions 25 0.4 Recovery 26 0.5 Final inspections and requirements 26 1 Climatic sequence (if required) 26 1 General 26 1 I nitial inspections 26 1 Dry heat 26 1 Damp heat, cyclic, test Db, first cycle 26 1 Cold 26 1 Damp heat, cyclic, test Db, remaining cycles 26 1 Recovery 26 1 Final inspections and requirements 26 Damp heat, steady state (if required) 26 2.1 General 26 2.2 I nitial inspections 27 2.3 Test conditions 27 2.4 Recovery 27 2.5 Final inspections and requirements 27 Characteristics at high and low temperature 27 3.1 General 27 3.2 I nspections and requirements 27 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –4– I EC 60384-3: 201 © I EC 201 4 Surge voltage 27 4.1 General 27 4.2 I nitial inspections 27 4.3 Test conditions 27 4.4 Recovery 28 4.5 Final inspections and requirements 28 Endurance 28 5.1 General 28 5.2 I nitial inspections 28 5.3 Test conditions 28 5.4 Recovery 28 5.5 Final inspections and requirements 29 Reverse voltage (if required) 29 6.1 I nitial inspections 29 6.2 Test conditions 29 6.3 Recovery 29 6.4 Final inspections and requirements 29 Component solvent resistance (if required) 29 Solvent resistance of the marking (if required) 29 H igh surge current (if required) 29 Bibliography 30 Table Table Table Table Table Table Table – Letter code and digit – Category voltages and surge voltages 1 – Sampling plan for qualification approval, assessment level EZ – Test schedule for qualification approval – Lot-by-lot inspection 21 – Periodic inspection 21 – Test temperatures 28 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-3: 201 © I EC 201 –5– I NTERNATIONAL ELECTROTECHNI CAL COMMI SSI ON F I XE D C AP AC I T O RS F O R U S E I N E L E C T RO N I C E Q U I P M E N T – P a rt : S e c ti o n a l s p e c i fi c a t i o n – S u rfa c e m o u n t fi x e d t a n t a l u m e l e c t ro l y t i c c a p a c i t o rs wi th s o l i d ( M n O ) e l e c t ro l y t e FOREWORD ) The I nternati onal El ectrotechnical Commi ssi on (I EC) is a worl d wid e org anizati on for stand ard izati on comprisi ng all nati onal electrotech nical committees (I EC N ational Comm ittees) Th e object of I EC i s to promote i nternati on al co-operati on on al l q u esti ons cernin g standard izati on i n the el ectrical and el ectronic fi el ds To this end an d in ad di ti on to other acti vi ti es, I EC pu blish es I nternati onal Stan d ards, Technical Speci fi cati ons, Technical Reports, Pu blicl y Avail abl e Specificati ons (PAS) and Gui d es (hereafter referred to as “I EC Pu blicati on(s)”) Th ei r preparati on is entru sted to tech nical committees; an y I EC N ati onal Committee i nterested i n the subject d eal t with may parti ci pate i n thi s preparatory work I ntern ati onal, g overn mental and non governm ental organizations l iaisi ng wi th the I EC al so participate i n this preparati on I EC coll aborates cl osel y wi th the I nternational Organizati on for Stand ard izati on (I SO) in accordan ce wi th cond i ti ons d etermin ed by agreement between th e two org anizati ons 2) Th e form al decision s or agreem ents of I EC on tech ni cal matters express, as nearl y as possibl e, an i nternati onal consensus of opi ni on on the rel evan t su bjects si nce each technical committee has representati on from all i nterested I EC N ati onal Commi ttees 3) I EC Pu blications have th e form of recommend ati ons for internati onal u se and are accepted by I EC N ati onal Comm ittees i n th at sense While all reasonabl e efforts are mad e to ensu re that the technical content of I EC Pu blicati ons is accu rate, I EC cann ot be hel d responsi bl e for the way in wh i ch they are used or for an y misin terpretati on by any end u ser 4) I n ord er to promote i nternational u ni formi ty, I EC N ati onal Commi ttees u nd ertake to appl y I EC Publicati on s transparen tl y to the maximum exten t possi bl e i n thei r nati onal and reg i onal pu blicati ons An y di verg ence between an y I EC Pu bl icati on and the correspond i ng nati onal or region al publi cation shal l be cl earl y i ndi cated in the l atter 5) I EC i tsel f d oes not provi d e any attestation of conform ity I nd epend ent certi ficati on bodies provi d e conformity assessment services and , in some areas, access to I EC marks of conformi ty I EC i s not responsi bl e for an y services carried ou t by i nd epend en t certi fication bodi es 6) All users sh ould ensu re that they h ave the l atest edi ti on of this pu blicati on 7) N o li abili ty shal l attach to I EC or i ts di rectors, employees, servants or agents incl u di n g ind ivi du al experts and members of i ts technical commi ttees and I EC N ati onal Comm ittees for any personal i nju ry, property d amage or other d amage of any n atu re whatsoever, whether di rect or ind i rect, or for costs (i nclud i n g legal fees) an d expenses arising out of the pu bli cati on, use of, or rel ian ce u pon, thi s I EC Pu bl ication or an y other I EC Pu blicati ons 8) Attention is d rawn to the N ormative references ci ted i n this pu bl icati on U se of the referenced pu blicati ons is i ndi spensabl e for the correct appli cati on of this publicati on 9) Attention is d rawn to th e possibili ty that some of the el em ents of thi s I EC Pu bl icati on may be the su bj ect of patent ri ghts I EC sh al l not be held responsi bl e for i d en ti fyi ng any or all su ch patent ri ghts I nternational Standard IEC 60384-3 has been prepared by I EC technical committee 40: Capacitors and resistors for electronic equipment This fourth edition cancels and replaces the third edition published in 2006 and constitutes a technical revision This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) Revision of the structure in accordance with ISO/I EC Directives, Part 2: 201 (sixth edition) to the extent practicable, and harmonization between other similar kinds of documents b) I n addition, Clause and all the tables have been reviewed in order to prevent duplications and contradictions The text of this standard is based on the following documents: Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –6– I EC 60384-3: 201 © I EC 201 FDI S Report on voti ng 40/2464/FDI S 40/2470/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table This publication has been drafted in accordance with the ISO/I EC Directives, Part The list of all the parts of the I EC 60384 series, under the general title Fixed capacitors for use in electronic equipment, can be found on the I EC website The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until the stability date indicated on the I EC website under "http: //webstore iec ch" in the data related to the specific publication At this date, the publication will be • • • • reconfirmed, withdrawn, replaced by a revised edition, or amended Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-3: 201 © I EC 201 –7– F I XE D C AP AC I T O RS F O R U S E I N E L E C T RO N I C E Q U I P M E N T – P a rt : S e c ti o n a l s p e c i fi c a t i o n – S u rfa c e m o u n t fi x e d t a n t a l u m e l e c t ro l y t i c c a p a c i t o rs wi th s o l i d ( M n O 1 ) e l e c t ro l y t e G e n e l Scope This part of I EC 60384 applies to fixed tantalum electrolytic surface mount capacitors with solid (MnO ) electrolyte primarily intended for d.c applications for use in electronic equipment These capacitors are primarily intended for use in electronic equipment to be mounted directly on substrates for hybrid circuits or to printed boards Capacitors for special-purpose applications may need additional requirements The following two styles are considered: – Style : Capacitors protected with external materials; – Style 2: Capacitors unprotected with external materials O b j ect The object of this standard is to prescribe preferred ratings and characteristics and to select from I EC 60384-1 :201 the appropriate quality assessment procedures, tests and measuring methods and to give general performance requirements for this type of capacitor Test severities and requirements prescribed in detail specifications referring to this sectional specification should be of equal or higher performance level, because lower performance levels are not permitted N o rm a t i v e re fe re n c e s The following documents, in whole or in part, are normatively referenced in this document and are indispensable for its application For dated references, only the edition cited applies For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies I EC 60062, Marking codes for resistors and capacitors I EC 60063, Preferred number series for resistors and capacitors I EC 60068-1 : 201 3, Environmental testing – Part 1: General and guidance I EC 60384-1 : 201 6, Fixed capacitors for use in electronic equipment – Part 1: Generic specification I EC 6041 7, Graphical symbols for use on equipment I EC 61 93-2: 2007, Quality assessment system – Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection of electronic components and packages I SO 3, Preferred numbers – Series of preferred numbers Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –8– I n fo rm a t i o n t o b e g i v e n i n I EC 60384-3: 201 © I EC 201 a d e t a i l s p e c i fi c a t i o n G e n e l Detail specifications shall be derived from the blank detail specification Detail specifications shall not specify requirements inferior to those of the generic, sectional or blank detail specification When more severe requirements are included, they shall be listed in of the detail specification and indicated in the test schedules, for example, by an asterisk The information given in may, for convenience, be presented in tabular form The following information shall be given in each detail specification and the values quoted shall preferably be selected from those given in the appropriate clause of this sectional specification O u t l i n e d w i n g a n d d i m e n s i o n s There shall be an illustration of the capacitors as an aid to easy recognition and for comparison of the capacitors with others Dimensions and their associated tolerances, which affect interchangeability and mounting, shall be given in the detail specification All dimensions shall preferably be stated in millimetres; however, when the original dimensions are given in inches, the converted metric dimensions in millimetres shall be added The numerical values on the body shall be given as follows: – general: width, length and height The numerical values on the terminals shall be given as follows: – terminals: width, length and spacing When a number of case sizes are covered by a detail specification, the dimensions and their associated tolerances shall be placed in a table below the drawing When the configuration is other than described above, the detail specification shall state such dimensional information as will adequately describe the capacitor M ou n ti n g The method of mounting for tests and measurements are given in The detail specification shall specify the methods of mounting for normal use 4 R a t i n g s a n d c h a c t e ri s t i c s 4 G e n e l The ratings and characteristics shall be given in accordance with the relevant clauses of this specification, including the items as specified below 4 N o m i n a l c a p a c i t a n c e n g e See 2.2.1 When products approved to the detail specification have different nominal capacitance ranges, the following statement should be added: Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 48 – I EC 60384-3: 201 © I EC 201 Tableau (4 de 5) N u méro d’article et essai a D ou Condi ti ons d’ essai a et mesu res N Db Grou pe 3.3 D En d u rance Rétabl issement 5 Contrôl es fi nau x Examen vi suel Voi r 4 Voi r Voi r 2 Tangente d e l’ an gl e d e perte I mpéd ance d Voi r Capaci té Tangen te d e l’ ang l e d e perte Etape : tem pératu re m ini mal e de catégorie Capaci té Exigences de performances a Voi r Voi r Cou rant de fui te Capaci té Résistance série éq u ival ente d Grou pe 4 Caractéristi q u es h au te et basse tem pératu re Etape : 20 °C Cou rant de fui te N ombre de spécimens ( n ) et nombre admissi bl e d’ éléments non conformes ( c ) Voi r Tabl eau Au cu n d ommage visi bl e M arq u age lisible ≤ fois l a li mi te i ni ti al e Se reporter la spéci ficati on particuli ère ≤ , foi s l a li mi te i ni ti al e Voi r Se reporter la spéci ficati on particuli ère Se reporter la spéci ficati on particuli ère Voir 5 D Voi r Tabl eau Voi r 29 d e l 'I EC 60384-1 : 201 Voi r ≤ au pl us grand parmi 0, 02 CN UR ou µ A (à 20 ºC ± ºC) e Voi r 2 Voi r Voir 2 Se reporter la spéci ficati on particuli ère Se reporter la spéci ficati on particuli ère Tan gente d e l’ angle d e perte Etape : 20 °C Cou ran t de fui te Voir Capaci té Voi r 2 Tangen te d e l’ ang l e d e perte Etape : 85 °C Cou ran t de fu ite Voi r Voi r ≤ au pl us grand parmi 0, ou µ A Capaci té Voi r 2 Tang ente d e l’ angl e d e perte Etape : 25 °C d Cou rant de fui te Voi r Se reporter la spéci ficati on particuli ère Se reporter la spéci ficati on particuli ère Voi r ≤ au pl us grand parmi 0, 25 UR ou 2, µ A Capaci té Voi r 2 Tangen te d e l’ an gl e d e perte Voi r Se reporter la spéci ficati on particu lière Se reporter la spéci ficati on particu lière Voir Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission ≤ au pl u s grand parmi 0, 02 CN UR ou µ A (à 20 ºC ± ºC) e | ∆ C/ C| ≤ % de la val eu r mesu rée l’ étape ≤ limi te in iti al e CN UR CN C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-3: 201 © I EC 201 – 49 – Tableau (5 de 5) N u méro d’ articl e et essai a Grou pe (sui te) D ou NDb Condi ti ons d’ essai a et mesures D N ombre de spéci mens ( n ) et nombre admissi ble d’él éments non conformes ( c ) Exigences de performances a Voi r Tabl eau Etape : 20 °C Cou ran t de fu ite Voir ≤ au pl us grand parmi 0, 02 CN UR ou µ A (à 20 ºC ± ºC) e Capaci té Voi r 2 | ∆ C/ C| ≤ % de l a val eu r mesu rée l’ étape Tangen te d e l’ ang l e d e perte Voi r ≤ li mi te in iti al e Grou pe 3.5A D Voi r Tabl eau 4 Su rtensi on Voi r 4 4 Rétabl issem ent Voi r 4 4 Contrôl es fin au x Examen vi su el Voi r 4 Au cu n d ommage visi bl e M arq u age lisible Cou ran t d e fu i te Voi r ≤ au pl us grand parmi 0, 02 C N UR ou µ A (à 20 ºC ± ºC) e Capaci té Voi r 2 ∆ C/ C ≤ % d e l a val eu r Tangen te d e l’ ang l e d e perte Voi r ≤ li mi te in iti al e Grou pe 3.5B Tensi on i nverse d Rétabl issement D mesu rée en 3 Voi r Tabl eau Voi r Voi r 6 Contrôl e fi nal Examen vi suel Voi r 4 Au cun d ommage visi bl e M arq u ag e lisible Cou rant de fui te Voi r ≤ au pl us g rand parmi 0, 02 C N UR ou µ A (à 20 ºC ± ºC) e Capaci té Voi r 2 ∆ C/ C ≤ % d e l a val eu r Tangen te d e l’ ang l e d e perte Voi r Se reporter la spéci ficati on particuli ère mesu rée en 3 a Les nu m éros des paragraphes d es essais et d es exi gences d e performances font référence l’Articl e b Dans ce tabl eau , D signi fi e d estru cti f, N D sign i fi e non destructi f c N e s’ appli q u e pas au x cond en sateu rs pou r montage en surface, q ui , conform ément leu r spécificati on particuli ère, d oivent seu lement être montés sur d es substrats en al u mi ne d Si nécessai re e CN est l a capaci té n omi nal e en microfarads; UR est l a ten sion assi gn ée en vol ts Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 50 – 3.5 Contrôle de conformité de la qualité 3.5.1 Formation des lots de contrôle 3.5.1 I EC 60384-3: 201 © I EC 201 Contrơle des Groupes A et B Ces essais doivent être effectués lot par lot Un fabricant peut répartir la production actuelle en lots de contrôle soumis aux moyens de protection suivants: a) le lot de contrôle doit être constitué de condensateurs de modèles associables (voir 2) b) l’échantillon soumis un essai doit être représentatif des valeurs et des dimensions présentes dans le lot de contrôle: – par rapport leur nombre; – avec un minimum de cinq valeurs c) si l’échantillon contient moins de cinq valeurs, le prélèvement des échantillons doit faire l’objet d’un accord entre le fabricant et l’organisme national de surveillance 3.5.1 Contrôle du Groupe C Ces essais doivent être effectués périodiquement Les échantillons doivent être représentatifs de la production actuelle pour les périodes spécifiées et doivent être divisés en tailles petites, moyennes et grandes Pour couvrir la gamme d’homologation sur n’importe quelle période, l'essai une tension doit être effectué dans chaque groupe de tailles Pour les périodes suivantes, les essais doivent porter sur d’autres tailles et tensions assignées en production pour couvrir toute la gamme 3.5.2 Programme d’essai Le programme pour les essais lot par lot et pour les essais périodiques pour le contrôle de conformité de la qualité est indiqué dans la spécification particulière-cadre 3.5.3 Livraison retardée Si, conformément aux procédures de l'IEC 60384-1 : 201 6, Q 7, il convient d'effectuer un autre contrôle, la brasabilité, la capacité et le courant de fuite doivent être contrôlés comme cela est spécifié dans le contrôle des Groupes A et B 3.5.4 Niveaux d’assurance Les niveaux d’assurance donnés dans la spécification particulière-cadre doivent de préférence être sélectionnés depuis le Tableau et le Tableau Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-3: 201 © I EC 201 – 51 – Tabl eau – C o n t rô l e l o t p a r l o t S o u s -g ro u p e d e c o n t rô l e EZ a b IL A0 B1 c b 00 % A1 c S-3 S-3 d a Le conten u du sous-grou pe d e trôl e est d écrit dans l a spécificati on particuli ère-cadre b I L est l e niveau d e contrôl e n est l e n ombre d'échantillons c est l e n ombre ad missi bl e d’ éléments non conformes c Après le retrai t d es él éments non formes par u n essai 00 % pendant le processu s d e fabrication, l e contrôle par échantill onnag e doi t être effectu é afi n d e contrôl er l e niveau d e q ualité après contrôl e par él éments non conformes par mil li on ( × -6 ) Le ni veau d’ échanti ll onn age doi t être d éfi ni par le fabrican t, d e préférence sel on l’ Annexe A de l 'I EC 61 93-2: 2007 Dans l e cas où u n échantill on com porte u n ou pl usi eu rs éléments non conformes, le l ot d oit être rej eté, mais l a totali té d e l 'échan till on d oi t être contrôlée et tou s l es él ém ents non conformes d oivent être comptés pou r calcu ler les val eu rs d u niveau d e q u ali té Les val eu rs du niveau d e q ualité après contrôl e par él ém ents non conformes par mil li on ( × -6 ) d oivent être calcul ées en accum u l ant l es d onn ées d e contrôle sel on l a méthod e d on née en d e l 'I EC 61 93-2: 2007 d N om bre soumettre u n essai: le n ombre d 'échantil l ons d oi t être d éterm iné conformément d e l 'I EC 61 93-2: 2007 – C o n t rô l e p é ri o d i q u e S o u s -g ro u p e d e c o n t rô l e EZ a p b n b C1 12 C2 12 78 c b 0 c C3 C3 18 C3 C3 3 24 C3 15 C3 5A 12 C3 5B 12 a Le contenu d u sous-grou pe d e contrôle est d écrit l’ Articl e d e l a spéci fi cati on particuli ère-cadre b p n c c est l a péri odicité en mois est l e nombre d'échantill ons est l e nombre ad missi bl e d ’ élémen ts non conform es Les val eu rs de ces mesu res servent d e mesu res i ni ti al es pou r l es essais d u Grou pe P ro c é d u re s d ’ e s s a i e t d e m e s u re N OTE Cet article compl ète l es i nformati ons d e l 'Arti cl e d e l 'I EC 60384-1 : 201 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission b d Tabl eau n C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 52 – 4.1 I EC 60384-3: 201 © I EC 201 Séchage Les conditions sont données en 4.3 de l'I EC 60384-1 : 201 4.2 Conditions de mesure La condition de mesure est la suivantes: • Humidité relative: 25 % 75 % 4.3 Montage 4.3.1 Généralités Voir 33 de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants 4.3.2 Contrôle initial La capacité doit être mesurée conformément au 4.3.3 Contrôles finaux Les condensateurs doivent être soumis un examen visuel et les caractéristiques électriques mesurées comme indiqué dans le Tableau 4.4 Examen visuel et contrôle des dimensions 4.4.1 Généralités Voir 4 de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants 4.4.2 Examen visuel et contrôle des dimensions L’équipement utilisé pour l’examen visuel doit être approprié avec un grossissement d’environ × et un éclairage approprié au spécimen soumis l’essai et le niveau de qualité exigé Il convient que l’opérateur dispose d’équipements pour l’éclairage incident ou transmis ainsi que d’équipements de mesure appropriés Les condensateurs doivent être soumis un examen pour vérifier que les matériaux, la conception, la construction et les dimensions physiques sont appropriés 4.4.3 Exigences Voir Tableau L'exécution doit être conforme aux exigences applicables données dans la spécification particulière 4.5 Essais électriques 4.5.1 4.5.1 Courant de fuite Généralités Voir de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-3: 201 © I EC 201 – 53 – C o n d i t i o n s d e m e s u re La tension assignée doit être appliquée aux bornes du condensateur et de sa résistance de protection placée en série avec le condensateur pour limiter le courant de charge La valeur de la résistance de protection doit être égale 000 Ω E xi g e n ce s Voir Tableau 4 5 C a p a ci té G é n é l i t é s Voir de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants C o n d i t i o n s d e m e s u re Sauf indication contraire dans les spécifications particulières, la capacité doit être mesurée une fréquence de 00 Hz ou de 20 Hz La tension alternative de crête réellement appliquée aux bornes des sorties du condensateur ne doit pas dépasser 0,5 V (en valeur efficace) Une tension de polarisation continue de 0,7 V , V peut être appliquée pendant la mesure, afin d’éviter l'application d'une tension négative sur le condensateur par la tension alternative appliquée L’imprécision des instruments de mesure ne doit pas dépasser ±2 % de la limite indiquée dans la spécification particulière, qu’il s'agisse d’une valeur absolue ou d’une variation de capacité E xi g e n ce s Voir Tableau 4 5 T a n g e n t e d e l ’ a n g l e d e p e rt e ( t a n δ) G é n é l i t é s Voir de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants C o n d i t i o n s d e m e s u re La mesure doit être effectuée en respectant les conditions de 5.2.2 L’imprécision de l’équipement de mesure ne doit pas dépasser % en valeur absolue 3 E xi g e n ce s Voir Tableau 4 4 I m péd an ce (si nécessaire) G é n é l i t é s Voir de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 54 – 4.5.4.2 I EC 60384-3: 201 © I EC 201 Conditions de mesure Sauf indication contraire dans les spécifications particulières, les conditions d’essai sont les suivantes: – Température: 20 °C ± °C; – Tension appliquée: valeur alternative de crête ≤ 0,5 V (en valeur efficace); – La fréquence de mesure doit être choisie parmi une des valeurs suivantes: 00 Hz, 20 Hz, kHz, kHz, 00 kHz et MHz, et elle doit être celle qui est la plus susceptible de donner la valeur d'impédance la plus faible La tolérance sur toutes les fréquences dans le cadre des mesures ne doit pas dépasser 20 % La valeur de la fréquence de mesure doit être prescrite dans la spécification particulière 4.5.4.3 Exigences Voir Tableau 4.5.5 Résistance série équivalente (RSE) (si nécessaire) 4.5.5.1 Généralités Voir 8.2 de l'I EC 60384-1 :201 6, avec les détails suivants 4.5.5.2 Conditions de mesure Sauf indication contraire dans les spécifications particulières, les conditions d’essai sont les suivantes: – Température: 20 °C ± °C; – Tension appliquée: valeur alternative de crête ≤ 0,5 V (en valeur efficace); – La fréquence de mesure doit être choisie parmi une des valeurs suivantes: 00 Hz, 20 Hz, kHz, kHz, 00 kHz et MHz, et elle doit être celle qui est la plus susceptible de donner la résistance série équivalente la plus faible La tolérance sur toutes les fréquences dans le cadre des mesures ne doit pas dépasser 20 % La valeur de la fréquence de mesure doit être prescrite dans la spécification particulière 4.5.5.3 Exigences Voir Tableau 4.6 4.6.1 Résistance la chaleur du brasage Généralités Voir 4 de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants 4.6.2 Conditions d’essai La spécification particulière doit prescrire la méthode d’essai et les conditions d’essai a) Méthode du bain de brasure: – attitude d'immersion; – température du bain de brasure et temps d'immersion b) Méthode de refusion: – profil de température de refusion 4.6.3 Rétablissement La période de rétablissement doit être de h h Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-3: 201 © I EC 201 4.6.4 – 55 – Exigences et contrôles finaux Après rétablissement, les condensateurs doivent être soumis un examen visuel sous un éclairage normal et avec un grossissement d’environ × et les caractéristiques électriques doivent être mesurées comme indiqué dans le Tableau 4.7 4.7.1 Brasabilité Généralités Voir de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants 4.7.2 Conditions d’essai Voir de l'I EC 60384-1 : 201 4.7.3 Exigences et contrôles finaux Voir Tableau avec les détails suivants Le condensateur doit alors être soumis un examen visuel sous un éclairage normal et avec un grossissement d’environ × 4.8 4.8.1 Essai de cisaillement Généralités Voir 34 de l'I EC 60384-1 : 201 4.8.2 Exigences et contrôles finaux Voir Tableau 4.9 4.9.1 Essai de courbure du substrat Généralités Voir 35 de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants 4.9.2 Exigences et contrôles finaux Voir Tableau 4.1 Variation rapide de température 4.1 0.1 Généralités Voir de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants 4.1 0.2 Contrôle initial Pas nécessaire (voir Groupe 3) 4.1 0.3 Conditions d’essai Les conditions d’essai sont les suivantes: – TA = température minimale de catégorie; – TB = température maximale de catégorie; Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 56 – I EC 60384-3: 201 © I EC 201 – tes condensateurs doivent être soumis cycles d'essais; – la durée d’exposition chaque limite de température doit être de 30 4.1 0.4 Rétablissement La période de rétablissement doit être comprise entre h et h 4.1 0.5 Exigences et contrôles finaux Voir Tableau 4.1 Séquence climatique (si nécessaire) 4.1 1 Généralités Si nécessaire pour le modèle de condensateurs uniquement, voir 21 de l'I EC 603841 : 201 6, avec les détails suivants 4.1 Contrôles initiaux Pas nécessaire (voir Groupe 3) 4.1 Chaleur sèche Voir 21 de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants: – Température: – Durée: 16 h 4.1 température maximale de catégorie; Chaleur humide, cyclique, essai Db, premier cycle Voir 21 de l'I EC 60384-1 : 201 4.1 Froid Voir 21 de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants: – Température: – Durée: h 4.1 température minimale de catégorie; Chaleur humide, cyclique, essai Db, cycles restants Voir 21 de l'I EC 60384-1 : 201 4.1 Rétablissement La période de rétablissement doit être comprise entre h et h 4.1 Exigences et contrôles finaux Voir Tableau 4.1 Chaleur humide, essai continu (si nécessaire) 4.1 2.1 Généralités Si nécessaire pour le modèle de condensateurs uniquement, voir 22 de l'I EC 603841 : 201 6, avec les détails suivants Les condensateurs doivent être montés conformément 4.3 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-3: 201 © I EC 201 4.1 2.2 – 57 – Contrôles initiaux Pas nécessaire (voir Groupe 3) 4.1 2.3 Conditions d’essai Les exigences sont les suivantes: – – – – Durée: 21 jours; Température: + 40 ° C ± ° C; Humidité relative: (93 ± 3) %; Tension appliquée: aucune tension ne doit être appliquée 4.1 2.4 Rétablissement La période de rétablissement doit être comprise entre h et h 4.1 2.5 Exigences et contrôles finaux Voir Tableau 4.1 Caractéristiques haute et basse températures 4.1 3.1 Généralités Voir 29 de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants: Les condensateurs doivent être montés conformément 4.1 3.2 Contrôles et exigences Les condensateurs doivent être mesurés chaque échelon de température et doivent satisfaire aux exigences du Tableau 4.1 Surtension 4.1 4.1 Généralités Voir 26 de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants 4.1 4.2 Contrôles initiaux Pas nécessaire (voir Groupe 3) 4.1 4.3 Conditions d’essai Les condensateurs doivent être soumis 000 cycles, chacun étant constitué d’une charge, telle que décrite ci-dessous, suivie d’une période de décharge de et 30 s, avec un condensateur débranché et pouvant se décharger de manière interne Une tension, égale la surtension spécifiée, doit être appliquée pendant 30 s aux bornes d’une résistance de protection de valeur telle que la résistance totale en série avec le condensateur et la source de tension soit égale 000 Ω ± 00 Ω L’essai doit être effectué aux températures données dans le Tableau Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 58 – I EC 60384-3: 201 © I EC 201 Tableau – Températures d’essai Température maximale de catégori e Températu re d’ essai ≤ 85 °C Tou s l es spécimens l a températu re maxi mal e de catégori e > 85 °C 50 % d es spécim ens 85 °C et l es 50 % restants l a températu re maxi male d e catég orie Chaque cycle de surtension doit être effectué de telle sorte que le condensateur ait été déchargé dans la résistance d’environ 000 Ω la fin des 30 s d’application L’essai doit se terminer sur la partie décharge du cycle 4.1 4.4 Rétablissement La période de rétablissement doit être de h h 4.1 4.5 Exigences et contrôles finaux Voir Tableau 4.1 Endurance 4.1 5.1 Généralités Voir 23 de l'I EC 60384-1 : 201 6, avec les détails suivants: Les condensateurs doivent être montés conformément 4.3 4.1 5.2 Contrôles initiaux Pas nécessaire (voir Groupe 3) 4.1 5.3 Conditions d’essai Les conditions d’essai sont les suivantes: – Durée: 000 h; – Température: température maximale de catégorie; – Tension appliquée: tension de catégorie, sauf indication contraire dans la spécification particulière N OTE Lorsq ue l a tensi on d e catégorie et/ou les températu res d e catég ori e sont di fférentes d e l a tensi on assignée et/ou d es tem pératu res assign ées, l’échantill on sou mi s l’essai est di visé en d eu x parti es et il est sou mis l a ten si on assig née et la tension d e catégori e et l a températu re assi gnée et l a températu re de catég orie, respectivement La tension d’essai doit être appliquée progressivement (pas moins de et pas plus de min) soit en faisant lentement crtre la tension, soit en utilisant une résistance qui doit être court-circuitée avant L’impédance de la source de tension vue depuis les sorties de chaque condensateur ne doit pas dépasser Ω Des batteries de stockage ou une alimentation électronique, capables de délivrer au moins A lorsqu’un condensateur est mis en court-circuit, doivent être utilisées 4.1 5.4 Rétablissement La période de rétablissement doit être comprise entre h et h Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-3: 201 © I EC 201 4.1 5.5 – 59 – Exigences et contrôles finaux Voir Tableau 4.1 Tension inverse (si nécessaire) 4.1 6.1 Contrôles initiaux Pas nécessaire (voir Groupe 3) 4.1 6.2 Conditions d’essai Les conditions d’essai sont les suivantes: Lors des essais des condensateurs, la condition a) doit être appliquée avant la condition b) a) Condition: ) Température d’essai: température maximale de catégorie; 2) Tension appliquée: plus petite parmi V (tension continue) et % de la tension assignée, en polarité inverse; 3) Durée: 25 h b) Condition: ) Température d’essai: température maximale de catégorie; 2) Tension appliquée: tension continue égale la tension de catégorie dans le sens de la polarité directe; 3) Durée: 25 h 4.1 6.3 Rétablissement La période de rétablissement doit être indiquée dans la spécification particulière 4.1 6.4 Exigences et contrôles finaux Voir Tableau 4.1 Résistance au solvant des composants (si nécessaire) Voir 31 de l'I EC 60384-1 : 201 4.1 Résistance au solvant du marquage (si nécessaire) Voir 32 de l'I EC 60384-1 : 201 La période de rétablissement ne doit pas être applicable, sauf indication contraire dans la spécification particulière 4.1 Surintensité élevée (si nécessaire) Voir 39 de l'I EC 60384-1 : 201 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 60 – I EC 60384-3: 201 © I EC 201 Bibliographie I EC 60068-2-58:201 5, d'e ssa i de la Essa is d’e n viro n n e m e n t – Pa rtie 2-58: Essa is – Essa i Td: Mé th ode s souda b ilité , ré sista n ce de la mé ta llisa tion la disso lution ch a le ur de b sa ge de s co mp o sa n ts p o ur m on ta ge e n surfa ce (CMS) _ Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission e t ré sista n ce la C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn