I E C 60 4-2 ® Edition 2.0 201 5-07 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE F i xed capaci tors for u s e i n el ectron i c eq u i pm en t – P art 4: S e cti on al s pe ci fi cati on – F i xed tan tal u m e l ectrol yti c s u rface m ou n t capaci tors wi th d u cti ve pol ym er s ol i d el e ctrol yte C on d en s ate u rs fi xes u ti l i s és d an s l e s éq u i pe m e n ts él ectron i q u es – P arti e 4: S péci fi cati on i n term é d i re – C on d en s ateu rs fi xes él ectrol yti q u es au IEC 60384-24:201 5-07(en-fr) tan tal e pou r m on tag e en s u rface é l ectrol yte s ol i d e e n pol ym è re d u cteu r Copyright International Electrotechnical Commission T H I S P U B L I C AT I O N I S C O P YRI G H T P RO T E C T E D C o p yri g h t © I E C , G e n e v a , S wi tz e rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about I EC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local I EC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Ab ou t th e I E C The I nternational Electrotechnical Commission (I EC) is the leading global organization that prepares and publishes I nternational Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i ca ti o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I E C Catal og u e - webstore i ec ch /catal og u e The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad I E C pu bl i cati on s s earch - www i ec ch /search pu b The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications E l ectroped i a - www el ectroped i a org The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 30 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I E C G l os sary - s td i ec ch /g l oss ary More than 60 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i sh ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C C u stom er S ervi ce C en tre - webstore i ec ch /csc If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A propos d e l 'I E C La Commission Electrotechnique I nternationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A propos d es pu bl i cati on s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié Catal og u e I E C - webstore i ec ch /catal og u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad Rech erch e d e pu bl i cati on s I E C - www i ec ch /search pu b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectroped i a - www el ectroped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient plus de 30 000 termes et définitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes ộquivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l oss re I E C - s td i ec ch /g l ossary Plus de 60 000 entrộes terminologiques ộlectrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Définitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i s h ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email Copyright International Electrotechnical Commission S ervi ce Cl i en ts - webstore i ec ch /csc Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I E C 60 4-2 ® Edition 2.0 201 5-07 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE F i xed capaci tors for u s e i n el ectron i c e q u i pm e n t – P art 4: S ecti on al s pe ci fi cati on – F i xed tan tal u m e l ectrol yti c s u rface m ou n t capaci tors wi th d u cti ve pol ym er s ol i d el e ctrol yte C on d en s ateu rs fi xes u ti l i s é s d an s l e s éq u i pe m e n ts él e ctron i q u e s – P arti e 4: S pé ci fi cati on i n term é d i re – C on d en s ateu rs fi xes él ectrol yti q u es au tan tal e pou r m on tag e en s u rface él ectrol yte s ol i d e en pol ym è re d u cteu r INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 31 060.40; 31 060.50 ISBN 978-2-8322-2791 -6 Warn i n g ! M ake s u re th at you obtai n ed th i s pu bl i ca ti on from an au th ori zed d i s tri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s ass u rer q u e vou s avez obten u cette pu bl i cati on vi a u n d i stri b u teu r ag ré é ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical MarqueCommission déposée de la Commission Electrotechnique Internationale –2– I EC 60384-24:201 I EC 201 CONTENTS FOREWORD General 1 Scope Object Norm ative references I nform ation to be given in a detail specification General Outline drawing and dimensions Mounting 4 Ratings and characteristics Marking Terms and definitions Marking General I nform ation for m arking Marking on capacitors Marking on packaging Preferred ratings and characteristics Preferred characteristics 2 Preferred values of ratings 2 Nominal capacitance ( CN ) 2 Tolerance on nom inal capacitance 2 Rated voltage ( UR ) 2 Category voltage ( UC ) 2 Surge voltage ( URS or UCS ) 2 Rated temperature Quality assessment procedures 1 Primary stage of m anufacture 1 Structurally sim ilar com ponents 1 3 Certified test records of released lots 1 Qualification approval procedures 1 General 1 Qualification approval on the basis of the fixed sam ple size procedure 1 Tests Quality conformance inspections Form ation of inspection lots Test schedule 20 Delayed delivery 20 Assessm ent levels 20 Test and m easurement procedures 21 Preliminary drying 21 Measuring conditions 21 Mounting 21 4 Visual exam ination and check of dimensions 21 4 General 21 4 Visual examination and check of dim ensions 21 Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-24:201 I EC 201 –3– Requirem ents 21 4 Electrical tests 22 Leakage current 22 Capacitance 22 Tangent of loss angle (tan δ ) 22 Equivalent series resistance (if required) 23 Resistance to soldering heat 23 General 23 I nitial inspections 23 Test conditions 23 Recovery 23 Final inspections and requirements 23 Solderability 23 General 23 Final inspections and requirements 23 Shear test 23 Substrate bending test (if required) 24 General 24 I nitial inspections 24 Test conditions 24 Final inspections and requirements 24 Rapid change of tem perature 24 1 General 24 I nitial inspections 24 Test conditions 24 4 Recovery 24 Final inspections and requirements 24 1 Climatic sequence 24 1 General 24 1 I nitial inspections 24 1 Dry heat 25 1 Damp heat, cyclic, test Db, first cycle 25 1 Cold 25 1 Damp heat, cyclic, test Db, rem aining cycles 25 1 Recovery 25 1 Final inspections and requirem ents 25 Damp heat, stead y state 25 General 25 2 I nitial inspections 25 Test conditions 25 4 Recovery 25 Final inspections and requirem ents 25 Characteristics at high and low tem perature 26 General 26 I nitial inspections and requirements 26 4 Surge voltage 26 4 General 26 4 I nitial inspections 26 4 Test conditions 26 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –4– I EC 60384-24:201 I EC 201 Recovery 26 4 4 Final inspections and requirements 26 Endurance 26 General 26 I nitial inspections 27 Test conditions 27 Recovery 27 5 Final inspections and requirem ents 27 Component solvent resistance (if required) 27 Solvent resistance of marking (if required) 27 High surge current (if required) 27 Storage at high tem perature 27 General 27 I nitial inspections 27 Test conditions 27 Recovery 27 Final inspections and requirem ents 28 Bibliograph y 29 Table Table Table Table Table Table – Category and surge voltages 1 – Category and surge voltages 1 – Sampling plan for qualification approval, assessm ent level EZ – Test schedule for qualification approval (1 of 6) – Lot-by-lot inspection 20 – Periodic inspection 21 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-24:201 I EC 201 –5– INTERNATI ONAL ELECTROTECHNI CAL COMMISSI ON F I XE D C AP AC I T O RS F O R U S E I N E L E C T RO N I C E Q U I P M E N T – P a rt : S e c ti o n a l s p e c i fi c a ti o n – F i x e d ta n ta l u m e l e c tro l yt i c s u rfa c e m o u n t c a p a c i t o rs w i th c o n d u c ti ve p o l ym e r s o l i d e l e c t ro l yt e FOREWORD ) The I nternati on al Electrotechni cal Comm ission (I EC) is a worl d wid e organization for stan dardization com prisin g all n ation al el ectrotechnical comm ittees (I EC National Comm ittees) The object of I EC is to prom ote internati onal co-operation on all questions concerni ng stand ardi zati on in the el ectrical an d electronic fields To this end and in additi on to other acti vities, I EC publish es I nternational Stan dards, Techn ical Specifications, Technical Reports, Publicl y Avail abl e Specificati ons (PAS) an d Gu ides (h ereafter referred to as “I EC Publication(s)”) Thei r preparation is entrusted to technical comm ittees; any I EC National Comm ittee interested in the subj ect dealt with m ay partici pate in this preparatory work I nternational, governm ental an d n on governm ental organ izations l iaising with th e I EC also participate i n this preparation I EC collaborates closel y with the I ntern ational Organi zation for Stand ardization (I SO) in accordance with ditions determ ined by agreem ent between th e two organi zati ons 2) The form al decisions or ag reem ents of I EC on tech nical m atters express, as n early as possible, an i nternati onal consensus of opi nion on the rel evant subjects since each technical com m ittee has representati on from all interested I EC N ational Com m ittees 3) I EC Publications have the form of recomm endations for intern ational use an d are accepted by I EC National Com m ittees in that sense While all reasonable efforts are m ade to ensure that the tech nical content of I EC Publications is accu rate, I EC cann ot be h eld responsi ble for th e way in which th ey are used or for an y m isinterpretation by an y en d u ser 4) I n order to prom ote intern ational u niform ity, I EC National Com m ittees und ertake to apply I EC Publ ications transparentl y to the m axim um extent possible i n their national an d regi on al publicati ons Any d ivergence between an y I EC Publication and the correspondi ng national or regi on al publicati on sh all be clearl y in dicated in the latter 5) I EC itself d oes n ot provi de an y attestation of conform ity I n depend ent certificati on bodies provi de conform ity assessm ent services and, in som e areas, access to I EC m arks of conform ity I EC is not responsi ble for any services carri ed out by ind ependent certification bodi es 6) All users shou ld ensure that th ey h ave the l atest editi on of thi s publicati on 7) No liability shall attach to I EC or its directors, em ployees, servants or ag ents inclu din g in divi du al experts an d m em bers of its tech nical com m ittees and I EC Nati onal Com m ittees for any person al i nju ry, property d am age or other dam age of any n ature whatsoever, whether di rect or indirect, or for costs (includ i ng leg al fees) and expenses arisi ng out of the publ ication, use of, or relian ce upon, this I EC Publicati on or any other I EC Publications 8) Attention is drawn to th e N orm ative references cited in th is publ ication Use of the referenced publ ications is indispensable for the correct applicati on of this publication 9) Attention is drawn to the possibility that som e of the elem ents of this I EC Publication m ay be the su bject of patent rig hts I EC shall not be held responsibl e for identifyi ng any or all such patent ri ghts I nternational Standard I EC 60384-24 has been prepared by I EC technical comm ittee 40: Capacitors and resistors for electronic equipm ent This second edition cancels and replaces the first edition published in 2006 and constitutes a technical revision This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) Revision of the structure in accordance with I SO/I EC Directives, Part 2: 201 (sixth edition) to the extent practicable, and harmonization between other similar kinds of documents b) I n addition, Clause and all the tables have been reviewed in order to prevent duplications and contradictions Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –6– I EC 60384-24:201 I EC 201 The text of this standard is based on the following documents: FDI S Report on votin g 40/2382/FDI S 40/2395/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table This publication has been drafted in accordance with the I SO/I EC Directives, Part The list of all parts of the I EC 60384 series, under the general title Fixed capacitors for use in electronic equipment, can be found on the I EC website The committee has decided that the contents of this publication will rem ain unchanged until the stability date indicated on the I EC website under "http: //webstore.iec ch" in the data related to the specific publication At this date, the publication will be • • • • reconfirmed, withdrawn, replaced by a revised edition, or amended Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-24:201 I EC 201 –7– F I XE D C AP AC I T O RS F O R U S E I N E L E C T RO N I C E Q U I P M E N T – P a rt : S e c ti o n a l s p e c i fi c a ti o n – F i x e d ta n ta l u m e l e c tro l yt i c s u rfa c e m o u n t c a p a c i t o rs w i th c o n d u c ti ve p o l ym e r s o l i d e l e c t ro l yt e G e n e l 1 S co p e This part of I EC 60384 applies to fixed tantalum electrolytic surface m ount capacitors with conductive pol ym er solid electrol yte primaril y intended for d c applications for use in electronic equipment Fixed tantalum electrol ytic surface m ount capacitors with solid (M nO ) electrol yte are not included but are covered by I EC 60384-3 These capacitors are primaril y intended for use in electronic equipment to be mounted directl y on substrates for h ybrid circuits or to printed boards Capacitors for special-purpose applications m ay need additional requirements O b j ect The obj ect of this standard is to prescribe preferred ratings and characteristics and to select from I EC 60384-1 the appropriate quality assessm ent procedures, tests and measuring methods and to give general perform ance requirements for this type of capacitor Test severities and requirem ents prescribed in detail specifications referring to this sectional specification shall be of equal or higher perform ance level, because lower perform ance levels are not perm itted N o rm a t i v e re fe re n c e s The following documents, in whole or in part, are norm ativel y referenced in this document and are indispensable for its application For dated references, onl y the edition cited applies For undated references, the latest edition of the referenced document (including an y am endm ents) applies IEC 60063, Preferred number series for resistors and capacitors IEC 60068-1 : 201 3, Environmental testing – Part : General and guidance IEC 60384-1 : 2008, Fixed capacitors for use in electronic equipment – Part : Generic specification − IEC 61 93-2: 2007, Quality assessment systems Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection of electronic components and packages I SO 3, Preferred numbers – Series of preferred numbers I n fo rm a t i o n to b e g i ven in a d etai l s p e c i fi c a t i o n G e n e l Detail specifications shall be derived from the blank detail specification Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –8– I EC 60384-24:201 I EC 201 Detail specifications shall not specify requirem ents inferior to those of the generic, sectional or blank detail specification When m ore severe requirem ents are included, they shall be listed in of the detail specification and indicated in the test schedules, for example, by an asterisk The inform ation given in may, for convenience, be presented in tabular form The following information shall be given in each detail specification and the values quoted shall preferabl y be selected from those given in the appropriate clause of this sectional specification Ou tli n e d rawin g an d d i m en sion s There shall be an illustration of the capacitors as an aid to easy recognition and for com parison of the capacitors with others Dimensions and their associated tolerances, which affect interchangeability and mounting, shall be given in the detail specification All dimensions shall preferabl y be stated in millim etres; however, wh en the origin al dim ensions are given in inches, the converted m etric dim ensions in m illimetres shall be added The num erical values of the bod y shall be given as follows: – for general: the width, length and height The num erical values of the term inals shall be given as follows: – for term inals: the width, length and spacing When the configuration is other than described above, the detail specification shall state such dim ensional inform ation as will adequatel y describe the capacitor M ou n ti n g The method of m ounting for tests and m easurements are given in The detail specification shall specify the methods of m ounting for normal use 4 Rati n g s an d ch aracteri stics 4.1 Gen eral The ratings and characteristics shall be given in accordance with the relevant clauses of this specification, together with the following 4.2 N om in al capacitan ce ran g e See 2 When products approved to the detail specification have different nominal capacitance ranges, the following statem ent should be added: “The nominal capacitance range available in each voltage range is given in the register of approvals, available for exam ple on the I ECQ on-line certificate system website www iecq.org” 4 Parti cu l ar ch aracteri sti cs Additional characteristics may be listed when they are considered necessary to specify adequatel y the component for design and application purposes Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 46 – Tableau Numéro de paragraph e et essai a , élémen ts d’inspection GROUPE 3.2 Chal eur hum ide, essai continu 2 I nspections initial es Capacité 4 Reprise I nspections finales Exam en visu el D ou ND b D Voir Voir 4 Voir 2 Tang ente de l’an gle d e perte GROUPE 3.3 Caractéristi ques hautes et basses tem pératu res Palier : 20 °C Cou rant de fuite Capacité Tang ente de l’an gle d e perte Palier 2: -55 ° C (tem pérature de catégorie inférieu re) Capacité Voir Capacité Palier 5: tem pératu re d e catégorie supérieu re Cou rant de fuite (avec UR ) Capacité Tang ente de l’angle d e perte Palier 6: 20 °C Cou rant de fuite D Aucun dom m age visibl e Marq uag e lisibl e Se reporter l a spécification particulière − 20 % < | ∆ C/C| < + 40 % de la val eu r m esurée en 2 Se reporter l a spécification particulière Voir I EC 60384-1 : 2008, 29 Voir Voir 2 Voir Voir 2 Voir Voir Voir 2 Voir Voir Voir 2 Voir Voir 2 Voir Voir Capacité Voir 2 Tang ente de l’angle d e perte Voir Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission Exigences de performance a Voir 4 Capacité Tang ente de l’an gle d e perte Palier 4: 85 °C Cou rant de fuite Nombre d’éprouvettes ( n ) et nombre admissible d’éléments non conformes ( c ) Voir Tableau Voir 2 Voir Capacité I EC 201 (4 sur 6) Conditions d’ essai a et mesurages Cou rant de fuite Tang ente de l’an gle d e perte Palier 3: 20 °C Cou rant de fuite I EC 60384-24: 201 Se reporter l a spécification particulière Se reporter l a spécification particulière Se reporter l a spécification particulière | ∆ C/C| ≤ % de l a valeu r m esurée au pali er Se reporter l a spécification particulière Se reporter l a spécification particulière Se reporter l a spécification particulière Se reporter l a spécification particulière Se reporter l a spécification particulière Se reporter l a spécification particulière Se reporter l a spécification particulière | ∆ C/C| ≤ % de l a valeu r m esurée au pali er Se reporter l a spécification particulière C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-24:201 I EC 201 – 47 – Tableau Numéro de paragraph e et essai a , élémen ts d’inspection D ou ND b 4 Surtensi on 4 I nspections initi ales Capacité 4 Reprise 4 I nspections fin ales Cou rant de fuite D (5 sur 6) Conditions d’ essai a et mesurages Voir 4 Voir Voir 2 Tang ente de l’ ang le de perte GROUPE 3.4 Endu rance I nspections initi al es Capacité Reprise 5 I nspections fin ales Exam en visu el Exigences de performance a Voir 2 Voir 4 Capacité Voir D Voir Voir Tableau Se reporter l a spécification particulière | ∆ C/C| ≤ % d e la valeur m esurée en 4 Se reporter l a spécification particulière Voir 2 Voir Voir 4 Cou rant de fuite Capacité Voir Voir 2 Tang ente de l’ ang le de perte Résistance-séri e équi valente e Voir Voir Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission Nombre d’éprouvettes ( n ) et nombre admissible d’éléments non conformes ( c ) Voir Tableau Aucun dom m age visibl e Marq uag e lisibl e ≤ fois la valeur en | ∆ C/C| ≤ 20 % d e la valeur m esurée en ≤ , fois la valeur en Se reporter l a spécification particulière C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 48 – Tabl e au N u m é ro d e p a g p h e e t ess a , m e s u g e s ou ND d ’ i n s p e c ti o n I EC 201 (6 sur 6) C o n d i ti o n s d ’ e s s a i D é l é m e n ts I EC 60384-24: 201 a et N o m b re d ’ é p ro u v e t t e b s ( n) E xi g e n c e s d e p e rfo rm a n c e a et n o m b re ad m i ssi bl e d ’ él ém en ts n on c o n fo rm e s ( G RO U P E D Stockage h aute tem pératu re I nspections initi ales Capacité Reprise I nspections fin ales Exam en visu el a Voir c) Voir Tableau Voir 2 Voir Voir 4 Cou rant de fuite Voir Capacité Voir 2 Aucun dom m age visibl e Marquage lisibl e ≤ fois la val eur en | ∆ C/C ≤ % d e la val eu r m esurée en Voir | Voir Tang ente de l’ ang le de perte Les num éros d e paragraphe d es exi gences d ’essai et d e perform ance font référence l’Arti cle b Dans ce tableau: D = d estructif, ND = non d estructif c Cet essai peut être effectu é su r des densateu rs pour m ontage en surface m ontés sur un substrat d CN = capacité nom inale en m icrofarad; UR = tension assign ée en vol t e Si nécessaire C o n t rô l e s d e c o n fo rm i t é d e l a q u a l i t é 5 F o rm a t i o n d e s l o ts d ’ i n s p e cti o n I n s p e c t i o n s d e s G ro u p e s A e t B Ces essais doivent être effectués sur la base d’essais lot par lot Un fabricant peut répartir la production actuelle en lots d’inspection soumis aux moyens de protection suivants: a) Le lot d’inspection doit être constitué de condensateurs de structure sim ilaire (voir 3.2) b) L’échantillon soum is essai doit être représentatif des valeurs (tension assignée et capacité nom inale) et des dim ensions présentes dans le lot d’inspection : – par rapport leur nom bre; – avec un minimum de cinq valeurs c) Si l’échantillon comprend m oins de cinq valeurs, le prélèvement des échantillons doit faire l’obj et d’un accord entre le fabricant et l’organism e de certification I n s p e cti on s d u G ro u p e C Ces essais doivent être effectués périodiquem ent Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-24:201 I EC 201 – 49 – Les échantillons doivent être représentatifs de la production actuelle pour les périodes spécifiées et doivent être divisés en fonction des caractéristiques assignées de haute, moyenne et basse tension Pour couvrir la plage d’homologations sur n’importe quelle période, une dimension de btier doit être soum ise l’essai dans chaque groupe de tensions Pour les périodes suivantes, les essais doivent porter sur d’autres dim ensions de btiers et/ou caractéristiques assignées de tension en production pour couvrir toute la plage P ro g m m e d ’ e s s a i Le programme d’essai pour les essais lot par lot et pour les essais périodiques pour le contrôle de conform ité de la qualité est présenté dans la spécification particulière cadre L i v i s o n d i ffé ré e Si, conform ément aux procédures de Q.1 de l’I EC 60384-1 :2008, il convient de procéder une nouvelle inspection, la capacité, la tangente de l’angle de perte, le courant de fuite et la brasabilité doivent être contrôlés comme cela est spécifié dans les inspections des Groupes A et B N i v e a u x d ' a s s u n c e Les niveaux d’assurance indiqués dans la spécification particulière cadre doivent de préférence être choisis partir des Tableau et Tableau Tabl eau S o u s - g ro u p e d ’ i n s p e c ti o n IL a – I n s p e cti on b A0 A2 B1 b n b c b 00% c A1 a l ot par l ot S-3 d S-3 d S-3 d Le contenu du sous-groupe d’inspection est décrit dans l’Article de la spécification particulière cadre I L = niveau d’i nspection n = effectif d’échanti ll on c = nom bre adm issibl e d’élém ents non conform es c Après le retrait des éléments non conformes avec les essais 00 % au cours du procédé de fabrication, l’inspection par échantillonnage doit être réalisée afin de contrôler le niveau de qualité après inspection par éléments non conformes par million (×1 -6 ) Le niveau d’échantillonnage doit être établi par le fabricant, de préférence selon l’Annexe A de l’IEC 61 93-2:2007 Dans le cas où un échantillon comporte un ou plusieurs éléments non conformes, ce lot doit être rejeté, mais la totalité de l’échantillon doit être contrôlée et tous les éléments non conformes doivent être pris en compte pour le calcul des valeurs de niveau de qualité Les valeurs du niveau de qualité après inspection par éléments non conformes par million (×1 -6 ) doivent être calculées en cumulant les données d’inspection selon la méthode présentée au 6.2 de l’IEC 61 93-2:2007 d Nombre soumettre essai: L’effectif d’échantillon doit être déterminé conformément au 4.3.2 de l’IEC 61 93-2:2007 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 50 – Tabl eau – I n s p e cti on p é ri o d i q u e S o u s - g ro u p e d ’ i n s p e c ti o n I EC 201 I EC 60384-24: 201 EZ a p b n b c b C1 A 12 C1 B 12 C1 24 C2 24 C3 36 C4 12 C5 12 a Le contenu du sous-groupe d ’i nspection est décrit d ans l’Arti cle de l a spécification particu lière cad re b p n c = péri odicité en m ois = effectif d’échantillon = nom bre adm issible d’élém ents non conform es P ro c é d u re s d ' e s s a i e t d e m e s u re Cet article com plète les informations données dans l’Article de l’I EC 60384-1 : 2008 P ré s é c h a g e Voir de l’I EC 60384-1 :2008 C o n d i t i o n s d e m e s u re Voir de l’I EC 60384-1 : 2008 M o n tag e Voir 33 de l’I EC 60384-1 : 2008 4 4 E xa m e n v i s u e l e t c o n t rô l e d e s d i m e n s i o n s G é n é l i t é s Voir 4 de l’I EC 60384-1 :2008 avec les détails suivants 4 E xa m e n v i s u e l e t c o n t rô l e d e s d i m e n s i o n s L’équipement utilisé pour l’exam en visuel doit être approprié avec un grossissement d’environ × 0, un éclairage approprié de l’éprouvette en essai et le niveau de qualité exigé I l convient que l’opérateur dispose d’équipements adaptés pour l’éclairage incident ou transmis ainsi que d’équipements de mesure appropriés Les condensateurs doivent être examinés pour vérifier que les m atériaux, le design, la fabrication et les dim ensions ph ysiques sont appropriées 4 E xi g e n c e s La qualité d'exécution doit être conforme aux exigences applicables données dans la spécification particulière Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-24:201 4.5 I EC 201 – 51 – Essais électriqu es 4.5.1 4.5.1 Courant de fuite Généralités Voir de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants 4.5.1 Condition de mesure La tension assignée doit être appliquée aux bornes du condensateur et de sa résistance de protection placée en série avec le condensateur pour limiter le courant de charge La valeur de la résistance de protection doit être 000 4.5.1 Ω Exigences Voir le Tableau 4.5.2 4.5.2.1 Capacité Généralités Voir de l’I EC 60384-1 :2008 avec les détails suivants 4.5.2.2 Conditions de mesu re Sauf indication contraire dans les spécifications particulières, la capacité doit être m esurée une fréquence de 00 H z ou 20 H z La tension alternative de crête réellement appliquée aux connexions de sortie du condensateur ne doit pas dépasser la valeur efficace de 0, V Une tension de polarisation continue de 0, V ,0 V peut être appliquée pendant le mesurage pour éviter une application de tension négative sur le condensateur par la tension alternative appliquée L’inexactitude des instrum ents de m esure ne doit pas dépasser % de la limite indiquée dans la spécification particulière, qu’il s'agisse d’une valeur absolue ou d’une variation de capacité 4.5.2.3 Exigences Voir le Tableau 4.5.3 4.5.3.1 Tangente de l’angle de perte (tan δ ) Généralités Voir de l’I EC 60384-1 :2008 avec les détails suivants 4.5.3.2 Conditions de mesu re Le m esurage doit respecter les conditions de 5.2 L’inexactitude de l’équipem ent de mesure ne doit pas dépasser 0, 01 en valeur absolue 4.5.3.3 Exigences Voir le Tableau Copyright International Electrotechnical Commission Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 52 – I EC 60384-24: 201 I EC 201 R é s i s t a n c e - s é ri e é q u i v a l e n t e ( s i n é c e s s a i re ) G é n é l i t é s Voir de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants C o n d i ti o n d e m e s u re Sauf indication contraire dans les spécifications particulières, les conditions d’essai sont les suivantes: – Tem pérature: – Tension appliquée: – fréquence de tension: 20 °C ± °C; valeur de crête en courant alternatif ≤ 0, V (eff.); 00 kH z; L’erreur de m esure ne doit pas dépasser la valeur exigée de % ou 0,02 plus élevée Ω , selon la valeur la E xi g e n c e s Voir le Tableau 4 6 R é s i s t a n c e l a c h a l e u r d e b s a g e G é n é l i t é s Voir 4 de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants I n s p e cti o n s i n i ti al e s Voir le Tableau 4 C o n d i ti o n s d ’ e s s a i La méthode d’essai doit être la m éthode de refusion et le profil de la tem pérature de refusion doit être précisé dans la spécification particulière R e p ri s e La période de reprise doit être de 24 h ± h I n s p e c t i o n s fi n a l e s e t e xi g e n c e s Après reprise, les condensateurs doivent être exam inés visuellement sous un éclairage norm al avec un grossissem ent d’environ × et selon les caractéristiques électriques mesurées du Tableau 4 7 B s a b i l i t é G é n é l i t é s Voir de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants I n s p e c t i o n s fi n a l e s e t e xi g e n c e s Voir le Tableau Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-24:201 E ss I EC 201 – 53 – d e ci s l l em en t Voir 34 de l’I EC 60384-1 : 2008 E ss d e pl i ag e d u s u b s t t ( s i n é c e s s a i re ) G é n é l i t é s Voir 35 de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants I n s p e cti o n s i n i ti al e s Voir le Tableau 4 C o n d i ti o n s d ’ e s s a i La déviation D et le nombre de pliages doivent être précisés dans la spécification particul ière I n s p e c t i o n s fi n a l e s e t e x i g e n c e s Voir le Tableau 4 V a ri a t i o n s p i d e s d e t e m p é t u re G é n é l i t é s Voir de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants: Les condensateurs doivent être m ontés conformément au 4 I n s p e cti o n s i n i ti al e s Voir le Tableau 4 C o n d i ti o n s d ' e s s a i Les conditions d’essai sont les suivantes: – – – – TA = température de catégorie inférieure; TB = température de catégorie supérieure; les condensateurs doivent être soumis l’essai pendant cycles; la durée d’exposition chaque limite de température doit être de 30 m in R e p ri s e La période de reprise doit être comprise entre h et h I n s p e c t i o n s fi n a l e s e t e xi g e n c e s Voir le Tableau 4 1 1 S é q u e n ce cl i m ati q u e G é n é l i t é s Voir 21 de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 54 – 1 I EC 60384-24: 201 I n s p e cti o n s i n i ti al e s Voir le Tableau 4 1 C h a l eu r s è ch e Voir 21 de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants: – Tem pérature: – Durée: 1 tem pérature de catégorie supérieure; h Ch al eu r h u m i d e, c yc l i q u e , es s Db, p re m i e r c y c l e Voir 21 de l’I EC 60384-1 : 2008 1 F ro i d Voir 21 de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants: – Température: – Durée: 1 tem pérature de catégorie inférieure; h Ch al eu r h u m i d e, c yc l i q u e , es s Db, c y c l e s re s t a n t s Voir 21 de l’I EC 60384-1 : 2008 1 R e p ri s e La période de reprise doit être comprise entre h et h 1 I n s p e c t i o n s fi n a l e s e t e x i g e n c e s Voir le Tableau 4 Ch al eu r h u m i d e, essai ti n u G é n é l i t é s Voir 22 de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants: Les condensateurs doivent être m ontés conform ém ent au 4 I n s p e ct i o n s i n i ti al e s Voir le Tableau 4 C o n d i ti o n s d ' e s s a i Les conditions d’essai sont les suivantes: – – – – Température: Humidité relative: Tension appliquée: Durée: 40 °C ± °C; (93 ± 3) %; aucune tension ne doit être appliquée; 21 jours R e p ri s e La période de reprise doit être comprise entre h et h Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission I EC 201 C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-24:201 I EC 201 – 55 – I n s p e c t i o n s fi n a l e s e t e x i g e n c e s Voir le Tableau 4 C a c t é ri s t i q u e s h a u t e s e t b a s s e s t e m p é t u re s G é n é l i t é s Voir 29 de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants: Les condensateurs doivent être m ontés conform ém ent au 4 I n s p e ct i o n s i n i ti al e s e t e xi g e n ce s Les condensateurs doivent être m esurés chaque palier de tem pérature et doivent satisfaire aux exigences du Tableau 4 4 S u rt e n s i o n G é n é l i t é s Voir 26 de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants 4 I n s p e cti o n s i n i ti al e s Voir le Tableau 4 C o n d i ti o n s d ’ e s s a i Les conditions d’essai sont les suivantes: – Nombre de cycles: – Tem pérature: – Tension: – Résistance de protection: 000; °C la température de catégorie su périeure avec les exigences applicables données dans la spécification particulière; , UR ou , UC ; 000 Ω ou une valeur calculée par la Formule (1 ); RC = 0, s ± 0, 05 s où R est la valeur de la résistance de charge C est la valeur de la capacité nominale – Durée de la charge: – Durée vide: 4 30 s; 30 s Re p ri s e La période de reprise doit être com prise entre h et h 4 I n s p e c t i o n s fi n a l e s e t e xi g e n c e s Voir le Tableau Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission (1 ) C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 56 – 5 I EC 60384-24: 201 I EC 201 E n d u n c e G é n é l i t é s Voir 23 de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants: Les condensateurs doivent être m ontés conform ém ent au 4 I n s p e ct i o n s i n i ti al e s Voir le Tableau 4 C o n d i ti o n s d ’ e s s a i Les conditions d’essai sont les suivantes: – Tension appliquée: tension de catégorie, sauf indication contraire dans la spécification particulière; température de catégorie supérieure; 000 h – Température: – Durée: NOTE Lorsqu e la tension d e catégorie est différente de l a tension assig née, l’ échantillon soum is l’essai est divisé en d eu x parti es et il est soum is la tem pérature assig née et la tension d e catégori e, respectivem ent R e p ri s e La période de reprise doit être comprise entre h et h 5 I n s p e c t i o n s fi n a l e s e t e xi g e n c e s Voir le Tableau 4 Ré s i s t a n c e d u co m p o s an t au x s o l va n ts ( s i n é c e s s a i re ) Voir 31 de l’I EC 60384-1 : 2008 Ré s i s t a n c e d u m a rq u a g e a u x s o l v a n t s ( s i n é c e s s a i re ) Voir 32 de l’I EC 60384-1 : 2008 S u ri n t e n s i t é s ( s i n é c e s s a i re ) Voir 39 de l’I EC 60384-1 : 2008 9 S t o c ka g e h a u t e t e m p é t u re G é n é l i t é s Voir 25 de l’I EC 60384-1 : 2008 avec les détails suivants I n s p e cti o n s i n i ti al e s Voir le Tableau 4 C o n d i ti o n s d ’ e s s a i Les conditions d’essai sont les suivantes: – Température: – Durée: Copyright International Electrotechnical Commission température de catégorie supérieure; 96 h ± h Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 60384-24:201 I EC 201 – 57 – R e p ri s e La période minimale de reprise doit être de h I n s p e c t i o n s fi n a l e s e t e xi g e n c e s Voir le Tableau Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 58 – I EC 60384-24: 201 I EC 201 Bibliographie I EC 60068-2-58: 2004, Essais d'environnement – Partie 2-58: Essais – Essai Td: Méthodes d’essai de la soudabilité, résistance de la métallisation la dissolution et résistance la chaleur de brasage des composants pour montage en surface (CMS) I EC 60384-3, Condensateurs fixes utilisés dans les équipements électroniques – Partie 3: Spécification intermédiaire: Condensateurs fixes électrolytiques au tantale pour montage en surface, électrolyte solide au dioxyde de manganèse _ Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn