IEC 62788 1 5 Edition 1 0 201 6 06 INTERNATIONAL STANDARD NORME INTERNATIONALE Measurement procedures for materials used in photovoltaic modules – Part 1 5 Encapsulants – Measurement of change in l in[.]
I E C 62788-1 -5 ® Edition 201 6-06 I N TE R N ATI ON AL STAN DAR D N OR M E I N TE R N ATI ON ALE colour i n si de M easu rem en t proced u res for m ateri al s u sed i n ph oto vol tai c m o d u l es – Part -5: En capsu l an ts – M easu rem en t of ch an g e i n l i n ear d i m en si o n s o f sh eet en capsu l ati on m ateri al resu l ti n g fro m appl i ed th erm al co n d i ti o n s Procéd u res d e m esu re d es m atéri au x u ti l i sés d an s l es m od u l es ph o to vol taïq u es – Parti e -5: E n capsu l an ts – M esu rag e d e l a vari ati on d es d i m en si on s l i n éai res d es m atéri au x d ' en capsu l ati on en cou ch es m i n ces résu l tan t d es co n d i ti on s IEC 62788-1 -5:201 6-06(en-fr) th erm i q u es appl i q u ées TH I S P U B L I C ATI O N I S C O P YR I G H T P R O TE C TE D C o p yri g h t © I E C , G e n e va , Sw i t z e rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Abo u t th e I E C The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes International Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i c a t i o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I EC C atal og u e - webstore i ec ch /catal o g u e E l ectro ped i a - www el ectro ped i a org The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing 20 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I EC pu bl i cati on s search - www i ec ch /search pu b I E C G l o ssary - s td i ec ch /g l ossary The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications 65 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I EC J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stp u bl i s h ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C Cu s to m er S ervi ce Cen tre - webstore i ec ch /csc If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A pro po s d e l ' I E C La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A pro po s d es p u bl i cati o n s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié Catal o g u e I E C - webstore i ec ch /catal o g u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad R ech erch e d e pu bl i cati o n s I EC - www i ec ch /search p u b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectro ped i a - www el ectro ped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient 20 000 termes et définitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes ộquivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l o ss re I EC - std i ec ch /g l o ss ary 65 000 entrées terminologiques électrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Dộfinitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I EC J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stp u bl i s h ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email Servi ce Cl i en ts - webstore i ec ch /csc Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I E C 62788-1 -5 ® Edition 201 6-06 I N TER N ATI ON AL STAN DAR D N OR M E I N TER N ATI ON ALE colour i n si de M easu rem en t proced u res fo r m ateri al s u sed i n ph otovo l tai c m o d u l es – Part -5: En capsu l an ts – M easu rem en t of ch an g e i n l i n ear d i m en si o n s of sh eet en capsu l ati o n m ateri al resu l ti n g from appl i ed th erm al d i ti o n s Procéd u res d e m esu re d es m atéri au x u ti l i sés d an s l es m od u l es ph otovo l taïq u es – Parti e -5: E n capsu l an ts – M esu rag e d e l a vari ati o n d es d i m en si o n s l i n éai res d es m atéri au x d ' en capsu l ati o n en co u ch es m i n ces résu l tan t d es co n d i ti o n s th erm i q u es appl i q u ées INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 27.1 60 ISBN 978-2-8322-3494-5 Warn i n g ! M ake su re th at you obtai n ed th i s pu bl i cati on from an au th ori zed d i stri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s assu rer q u e vou s avez o bten u cette pu bl i cati on vi a u n d i stri bu teu r ag réé ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission Marque déposée de la Commission Electrotechnique Internationale –2– I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 CONTENTS FOREWORD Scope N ormati ve references Principle Apparatu s Test speci mens Specimen preparation N u mber of speci mens Precondi tioni ng of specim ens Procedu re Calcu lation and expressi on of resul ts Test report An nex A (i nformative) I m plem en tation an d desig n of th e test 1 Bi bliog raph y Fi gu re – Schem atic iden tifying the location of specimens with in a sam ple set Fi gu re – Schem atic identifying the desi gnated measuremen t locati ons (AA’, BB’, CC’, DD’, EE’, aa’, bb’, cc’, dd’, and ee’) for each specim en I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 –3– I NTERNATI ONAL ELECTROTECHN I CAL COMMI SSI ON MEASUREMENT PROCEDURES FOR MATERIALS USED IN PHOTOVOLTAIC MODULES – Part -5: Encapsulants – Measurement of change in linear dimensions of sheet encapsulation material resulting from applied thermal conditions FOREWORD ) Th e I n tern ati on al El ectrotech n i cal Com m i ssi on (I EC) i s a worl d wi d e org an i zati on for stan dard i zati on com pri si n g al l n ati on al el ectrotech n i cal com m i ttees (I EC N ati on al Com m i ttees) Th e obj ect of I E C i s to prom ote i n tern ati on al co-operati on on al l q u esti on s cern i n g stan d ard i zati on i n th e el ectri cal an d el ectron i c fi el d s To th i s en d an d i n ad di ti on to oth er acti vi ti es, I EC pu bl i sh es I n tern ati on al Stan d ards, Tech n i cal Speci fi cati on s, Tech n i cal Reports, Pu bl i cl y Avai l abl e Speci fi cati on s (PAS) an d G u i d es (h ereafter referred to as “I EC Pu bl i cati on (s) ”) Th ei r preparati on i s en tru sted to tech n i cal com m i ttees; an y I EC N ati on al Com m i ttee i n terested i n th e su bj ect d eal t wi th m ay parti ci pate i n th i s preparatory work I n tern ati on al , g overn m en tal an d n on g overn m en tal org an i zati on s l i si n g wi th th e I EC al so parti ci pate i n th i s preparati on I EC col l aborates cl osel y wi th th e I n tern ati on al Org an i zati on for Stan d ard i zati on (I SO) i n accordan ce wi th d i ti on s d eterm i n ed by ag reem en t between th e two org an i zati on s 2) Th e form al d eci si on s or ag reem en ts of I EC on tech n i cal m atters express, as n earl y as possi bl e, an i n tern ati on al sen su s of opi n i on on th e rel evan t su bj ects si n ce each tech n i cal com m i ttee h as represen tati on from al l i n terested I EC N ati on al Com m i ttees 3) I EC Pu bl i cati on s h ave th e form of recom m en d ati on s for i n tern ati on al u se an d are accepted by I EC N ati on al Com m i ttees i n th at sen se Wh i l e al l reason abl e efforts are m ad e to en su re th at th e tech n i cal ten t of I EC Pu bl i cati on s i s accu rate, I EC can n ot be h el d respon si bl e for th e way i n wh i ch th ey are u sed or for an y m i si n terpretati on by an y en d u ser 4) I n ord er to prom ote i n tern ati on al u n i form i ty, I EC N ati on al Com m i ttees u n d ertake to appl y I EC Pu bl i cati on s tran sparen tl y to th e m axi m u m exten t possi bl e i n th ei r n ati on al an d reg i on al pu bl i cati on s An y d i verg en ce between an y I EC Pu bl i cati on an d th e correspon d i n g n ati on al or reg i on al pu bl i cati on sh al l be cl earl y i n di cated i n th e l atter 5) I EC i tsel f d oes n ot provi d e an y attestati on of form i ty I n d epen d en t certi fi cati on bod i es provi d e form i ty assessm en t servi ces an d , i n som e areas, access to I EC m arks of form i ty I EC i s n ot respon si bl e for an y servi ces carri ed ou t by i n d epen d en t certi fi cati on bodi es 6) Al l u sers sh ou l d en su re th at th ey h ave th e l atest edi ti on of th i s pu bl i cati on 7) N o l i abi l i ty sh al l attach to I E C or i ts di rectors, em pl oyees, servan ts or ag en ts i n cl u di n g i n d i vi du al experts an d m em bers of i ts tech n i cal com m i ttees an d I EC N ati on al Com m i ttees for an y person al i n j u ry, property d am ag e or oth er d am ag e of an y n atu re wh atsoever, wh eth er di rect or i n d i rect, or for costs (i n cl u d i n g l eg al fees) an d expen ses ari si n g ou t of th e pu bl i cati on , u se of, or rel i an ce u pon , th i s I EC Pu bl i cati on or an y oth er I EC Pu bl i cati on s 8) Atten ti on i s d rawn to th e N orm ati ve referen ces ci ted i n th i s pu bl i cati on U se of th e referen ced pu bl i cati on s i s i n di spen sabl e for th e correct appl i cati on of th i s pu bl i cati on 9) Atten ti on i s d rawn to th e possi bi l i ty th at som e of th e el em en ts of th i s I EC Pu bl i cati on m ay be th e su bj ect of paten t ri g h ts I EC sh al l n ot be h el d respon si bl e for i d en ti fyi n g an y or al l su ch paten t ri g h ts I n tern ati onal Standard I EC 62788-1 -5 has been prepared by I EC tech nical comm i ttee 82: Solar photovoltaic energ y systems The text of th is standard i s based on th e foll owi ng docu men ts: FDI S Report on voti n g 82/1 1 4/FDI S 82/1 34/RVD Fu ll informati on on the votin g for the approval of this standard can be fou nd in the report on votin g i ndicated i n the above table Th is pu blication has been drafted in accordance with th e I SO/I EC Di rectives, Part –4– I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 Measurement A l ist of al l parts in the I EC 62788 seri es, publ ished u nder the g eneral title , can be fou nd on the I EC website procedures for materials used in photovoltaic modules The com mittee h as decided that the conten ts of th is publ ication wil l remain u nchan g ed u n ti l th e stabili ty date indicated on th e I EC website u nder "http://webstore iec ch" in the data rel ated to the speci fic pu blication At th is date, the pu blication wil l be • recon firmed, • wi thdrawn , • replaced by a revised edition , or • amended IMPORTANT – The 'colour inside' logo on the cover page of this publication indicates that it contains colours which are considered to be useful for the correct understanding of its contents Users should therefore print this document using a colour printer I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 –5– MEASUREMENT PROCEDURES FOR MATERIALS USED IN PHOTOVOLTAIC MODULES – Part -5: Encapsulants – Measurement of change in linear dimensions of sheet encapsulation material resulting from applied thermal conditions Scope Th is part of I EC 62788 provi des a method for measurin g the m axi mu m represen tative ch ang e in l in ear dimensions of encapsu lation sheet material in an u nrestricted th ermal exposure as mi gh t or mig ht n ot be seen durin g photovoltaic (PV) m odu le fabricati on The stan dard does not take in to accou n t any resu lting stresses which m ay develop du e to restricted dimensi onal ch ang es or friction du ring modu le fabricati on Data obtai ned u sing this m eth od may be used by encapsu lation material man u factu rers for th e pu rpose of qu ali ty trol of th eir encapsu lation material as well as for reporti ng in product datasheets Data obtained u sing th is m ethod m ay be u sed by PV m odu l e man u factu rers for th e purpose of m aterial acceptance, process developmen t, desi gn anal ysis, or fail u re anal ysis Th is method may also be u sed to exami ne other materi als, su ch as backsh eets and fron tsheets as described in I EC 62788-2 Certai n details of th e test (includin g specim en size and su bstrate) are specified for that appl ication i n 62788-2 Normative references The following docu men ts, in wh ole or in part, are n orm ati vel y referenced in this docu m en t and are indispensabl e for i ts application For dated references, on ly the edition cited appli es For u ndated references, th e latest edition of th e referenced docu men t (inclu din g an y amendm ents) appl ies I EC 6021 6-4-1 , Electrical insulating materials – Thermal endurance properties – Part 4-1: Ageing ovens – Single-chamber ovens I SO/I EC 7025:2005, General requirements for the competence of testing and calibration laboratories I SO 291 :2008, Plastics – Standard atmospheres for conditioning and testing I SO 1 357-2:201 3, Plastics – Differential scanning calorimetry (DSC) – Part 2: Determination of glass transition temperature and glass transition step height I SO 1 357-3:201 , Plastics – Differential scanning calorimetry (DSC) – Part 3: Determination of temperature and enthalpy of melting and crystallization ASTM C778–06, Standard specification for standard sand Principle Encapsu lation material (in sheet form ) m ay ch an g e dimensions wh en processed durin g the fabrication of a PV m odu le The chang e in dimensions is typical ly caused by stresses form ed –6– I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 in the encapsu lan t during its fabricati on (e g , extrusi on) Su bsequ en t changes du ring modul e fabrication ( e.g , l am in ati on , i ncl u ding : heating , cool in g , and pressu rization) can cause stress within the modul e th at m ay resu l t i n deleteriou s phenom en on inclu din g : th e formation of bu bbles (voi ds) , m ovem ent or fractu re of internal com ponents, or del amin ation of the encapsu lati on at i ts interface(s) A standardized ch aracterizati on of the m aximu m ch ang e i n di mensions is defined in this procedu re The chang e in dimensi ons is characterized on san d to m in im ize friction (or adhesion ) to standardize th e resul t Th e stress an d strain gen erated during m odu le l am ination are complicated by addi ti onal factors not consi dered here Th e effects speci fic to th e processing (l am i nation) procedu re are n ot n ecessaril y addressed with th is procedure Apparatus The fol lowing equ ipmen t sh al l be u tilized to perform the test: a) A di e, scissors, or oth er cu tting device that may be used to accu rately cu t-to-size the samples of encapsu lati on materi al b) A soft-tipped marker or equ i valent device used to in dicate the specim en orientation relative to the encapsu lati on stock c) A cal ibrated l inear measu ri ng device wi th th e resol u ti on of at least ± 0, m m Examples i nclu de (bu t are not lim ited to) a vern ier call iper, ru ler, or calibrated camera Th e m easu remen t device used shou ld not cau se the sample to be distorted du ring the m easu remen t The measu rem ent devi ce sh al l allow an u ncertainty for the m easu red valu e of the ch ange in l inear dim ension of ± 0, % or less d) A cal ibrated th ickness m easu ring device with th e resolu ti on of at least ± 0, 01 m m Examples include a vernier cal liper or microm etre e) A n ew piece of alu mi ni u m foil (“h eavy du ty” foi l, wi th a th ickn ess of 20 µ m to 25 µ m ) at l east 300 mm i n leng th and 300 mm in width f) An r ci rcu latin g closed-loop troll ed oven with a mi ni mum size of 300 m m in len g th and 300 mm in width, capable of achievin g the m axi mu m processing tem peratu re for the encapsulan t u nder test The temperatu re wi thin the ch am ber of the oven shou ld not vary by more than ± 2, °C from the i n tended temperatu re An oven consisten t wi th I EC 6021 6-4-1 may be used g) “Graded” sand, as specified in ASTM C778, used to all ow free movem en t of th e sheet of th e encapsul ation material over th e su rface of the alu iu m foi l Test specimens 5.1 Specimen preparation From a received roll of encapsu lati on materi al wh ich has been veri fied to have been stored accordin g to suppli er recommendati ons and has n ot exceeded i ts expiration date, cu t squ are speci mens 00 mm × 00 m m in size Th e specim ens shall be obtained at l east 200 m m from th e ou tside edg es of the rol l A carefu l ly cu t (u n iform) edge th at m i ni mizes size variation (in leng th and width ) shal l be used The exact speci m en size may vary slightl y ( ± mm) from that in tended; however, al l speci mens shal l be smaller th an th e piece of alu m iniu m foil Some users m ay wish to apply th e test procedu re for oth er pu rposes, su ch as veri fyi ng the hom og enei ty of the material across the width of a rol l of encapsu lation I n such cases, material may be sam pled from other l ocations with in the roll The specimens sh all be h an dled wi th ou t su dden m ovement, i n a ri g id manner du rin g and after preparation to avoid u ndu e stretch i ng of the material The m ach ine direction (along the leng th of the rol l) an d transverse directi on (across th e width of the rol l) sh al l be m arked on each speci men I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 –7– Once cu t to size, any in terleaf, liner, or release fil m sh all be removed from the encapsu lation specimens The thickness of the encapsu lation test specim en shal l be measured after i ts preparation Th e th ickn ess shal l be taken as the mean of three valu es obtained at di fferen t locations on th e specimen, preferabl y away from the cu t edg es wh ich may have been deformed du ri ng cu tti ng U se of g loves is recom mended du ri ng specim en preparation to avoid tamin ating the specimens an d/or rol l of m aterial A consisten t th ickn ess measurem ent tech niqu e shou ld be used for the th ickn ess measuremen t, wh ich is applied only for reference in th is standard, because some encapsu lati on products are em bossed or surface textu red 5.2 Number of specimens A sam pl e set sh all be defi ned as three speci mens taken from a separate location along the lateral (transverse) directi on of the roll For th e pu rpose of datash eet reportin g , a mi ni mu m of sample sets shall be prepared, where a set sample consists of th ree specimens The sample sets sh all be obtain ed from at least two separate roll s of material , where the sam ple sets shall be taken from th e beg inn ing , m iddl e and end of each roll (for a total of specimens) Each sample set consists of a specimen obtained from the interior in addition to two specim ens obtained closer to th e edg es of the rol l , as shown in Fig u re Th e sampl e sets obtained from the “beg inn in g ” and “end” of th e roll sh al l be taken at least m from the en ds of the rol l Dimensions in metres M ach i n e extru si on di recti on En capsu l ati on speci m en ≥ 0, Tran sverse d i recti on ≥ 0, En capsu l ati on rol l ≥1 Cu t ed g e of rol l IEC N OTE On l y th e sam pl e set taken at th e beg i n n i n g of a rol l i s sh own Figure – Schematic identifying the location of specimens within a sample set I f th e datash eet valu e is also u sed as a basel ine for the pu rpose of qu ali ty trol , sampling considerati ons (an d the correspondin g nu mber of samples) sh ou ld incorporate: a time in terval between sam pling (to avoi d successi vel y manu factured rol ls) ; sam pli ng from mu lti ple producti on lin es (if appl icabl e) ; sample size (nu mber of rolls) al lowin g for analysis of statistical vari ation For the pu rpose of qu ali ty trol and manu facturing process control, di fferen t sampl ing qu an tities an d sampling sets may be chosen by the material or modu le m anu factu rer –8– 5.3 I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 Preconditioning of specimens The specimens sh all not be processed (such as a thermal cure) or precon di tioned prior to this test Rolls of materi al shou ld be stored and subsequ ently handled as recom men ded by their man u factu rer Th e specim ens shal l be main tained at l aboratory ditions (25 °C an d 50 % relati ve hu mi di ty as in I SO 291 ) before and after the test The specim ens shall be tested promptl y (with in h) after th eir preparati on To obtain representative resu lts, the tim e between the test an d sample preparati on sh ou ld be kept consistent Procedure The fol lowing procedure sh al l be performed for each specimen of the sample set: a) Adju st the oven temperatu re to the maxi mu m processin g temperatu re recom mended by th e encapsu lation m aterial manu factu rer (or the m aximu m processing tem perature used by th e m odu l e m anu factu rer) and allow the temperatu re of th e oven to stabilize at th e desig nated temperatu re for at least m i n I n th e case of m aterials that have a phase transition and a thermal facil itated cross-l inking reaction , the m aterial shal l be exam ined at a temperatu re intermediate to the phase transiti on an d the cross-l inking tem peratu re in order to determine th e maximu m sizech ang e Phase transitions shou ld be evalu ated as i n I SO 1 357-2 or I SO 1 357-3 For exam ple, pol y(eth yl ene-co-vin yl acetate) m ay be examin ed at approximately 00 °C wh ich is in termediate to its melt an d cu rin g temperatu res b) Pl ace a new piece of smooth , wri nkl e-free alu iu m foi l on a rack inside or on th e base of th e chamber of the oven A tray or m etal sheet m ay be placed on the rack i n the oven to su pport the alu m inium foil and facili tate speci men rem oval c) Pl ace a un i form ly thick layer of sand (approxi matel y m m to mm thick) on top of the alu m in iu m foi l and close the oven door Th e sand may be g raded by passi ng a strai gh tedg e (su ch as a bl ade, rig id applicator, ru ler, rol l er, or sim ilar object) over i ts su rface to im prove i ts u niformi ty of th ickn ess d) Al low the temperatu re of the sand to stabilize for at least in the oven The temperatu re of the sand su bstrate (at equ il ibriu m wi thin th e h eated oven) shou ld be verified for th e oven at least once prior to testing Tem perature may be veri fied at locations, inclu di ng the cen tre of the su bstrate, usi ng : a thermocou ple, in frared th erm om eter, in frared imag ing , or other su itable m ethods e) Accu rately m ark, m easu re, an d record the di mensions of the test specim en in the m ach in e directi on (MD) and transverse direction (TD) Five separate measuremen ts spaced even ly (20 mm nom i nal separation) sh all be performed along th e M D (from A to A’, B to B’, C to C’, D to D’, E to E’) and TD (a to a’, b to b’, c to c’, d to d’, e to e’) of the sam pl e Two of th e fi ve measu remen ts shall be perform ed at least m m from the corners of th e specimens, as sh own in Fig ure Al l measu remen ts shall be performed at l east m m with in the speci men peri ph ery The speci mens shal l be marked wi th a soft-tip m arker so th at the same measuremen t l ocations m ay be used before and after heat treatm en t – 14 – I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 SOMMAI RE AVAN T-PROPOS Domain e d'appl ication Références n orm atives Principe Appareillag e Éprou vettes Préparati on de l 'éprou vette N ombre d'éprou vettes Précondi tionn em en t des éprou vettes 20 Procédu re 20 Calcu l et expression des résu ltats 22 Rapport d’essai 23 An nexe A (informati ve) M ise en œuvre et conception de l'essai 25 Bi bliog raph ie 26 Fi gu re – Schém a indiqu an t l'emplacemen t des éprou vettes d'u n jeu d'échan tillons 20 Fi gu re – Schém a indiqu an t les emplacem en ts de m esure désig nés (AA’, BB’, CC’, DD’, EE’, aa’, bb’, cc’, dd’, et ee’) pou r chaque éprou vette 22 I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 – 15 – COMMI SSI ON ÉLECTROTECHNI QUE I NTERNATI ONALE PROCÉDURES DE MESURE DES MATÉRIAUX UTILISÉS DANS LES MODULES PHOTOVOLTAÏQUES – Partie -5: Encapsulants – Mesurage de la variation des dimensions linéaires des matériaux d'encapsulation en couches minces résultant des conditions thermiques appliquées AVANT-PROPOS ) La Com m i ssi on E l ectrotech n i q u e I n tern ati on al e (I EC) est u n e org an i sati on m on di al e d e n orm al i sati on com posée d e l 'en sem bl e d es com i tés él ectrotech n i qu es n ati on au x (Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC) L’ I EC a pou r obj et d e favori ser l a coopérati on i n tern ati on al e pou r tou tes l es q u esti on s d e n orm al i sati on d an s l es d om n es d e l 'él ectri ci té et d e l 'él ectron i q u e A cet effet, l ’ I EC – en tre au tres acti vi tés – pu bl i e d es N orm es i n tern ati on al es, d es Spéci fi cati on s tech n i q u es, d es Rapports tech n i q u es, d es Spéci fi cati on s accessi bl es au pu bl i c (PAS) et d es G u i d es (ci -après d én om m és "Pu bl i cati on (s) de l ’ I EC") Leu r él aborati on est fi ée d es com i tés d 'étu des, au x travau x d esq u el s tou t Com i té n ati on al i n téressé par l e su j et trai té peu t parti ci per Les org an i sati on s i n tern ati on al es, g ou vern em en tal es et n on g ou vern em en tal es, en l i son avec l ’ I EC, parti ci pen t ég al em en t au x travau x L’ I EC col l abore étroi tem en t avec l 'Org an i sati on I n tern ati on al e de N orm al i sati on (I SO) , sel on des di ti on s fi xées par accord en tre l es deu x org an i sati on s 2) Les déci si on s ou accords offi ci el s de l ’ I EC cern an t l es q u esti on s tech n i q u es représen ten t, d an s l a m esu re d u possi bl e, u n accord i n tern ati on al su r l es su j ets étu di és, étan t don n é q u e l es Com i tés n ati on au x de l ’ I EC i n téressés son t représen tés dan s ch aq u e com i té d’ étu des 3) Les Pu bl i cati on s d e l ’ I EC se présen ten t sou s l a form e d e recom m an d ati on s i n tern ati on al es et son t ag réées com m e tel l es par l es Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC Tou s l es efforts rai son n abl es son t en trepri s afi n q u e l ’ I EC s'assu re d e l 'exacti tu d e d u ten u tech n i qu e d e ses pu bl i cati on s; l ’ I EC n e peu t pas être ten u e respon sabl e d e l 'éven tu el l e m au vai se u ti l i sati on ou i n terprétati on q u i en est fai te par u n q u el q u e u ti l i sateu r fi n al 4) Dan s l e bu t d 'en cou rag er l 'u n i form i té i n tern ati on al e, l es Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC s'en g ag en t, d an s tou te l a m esu re possi bl e, appl i q u er d e faỗon tran sparen te l es Pu bl i cati on s d e l ’ I EC d an s l eu rs pu bl i cati on s n ati on al es et rég i on al es Tou tes di verg en ces en tre tou tes Pu bl i cati on s d e l ’ I EC et tou tes pu bl i cati on s n ati on al es ou rég i on al es correspon d an tes doi ven t être i n di q u ées en term es cl rs dan s ces dern i ères 5) L’ I EC el l e-m êm e n e fou rn i t au cu n e attestati on d e form i té Des org an i sm es d e certi fi cati on i n d épen d an ts fou rn i ssen t d es servi ces d 'éval u ati on d e form i té et, dan s certai n s secteu rs, accèd en t au x m arq u es d e form i té d e l ’ I EC L’ I EC n 'est respon sabl e d'au cu n d es servi ces effectu és par l es org an i sm es d e certi fi cati on i n d épen d an ts 6) Tou s l es u ti l i sateu rs d oi ven t s'assu rer q u 'i l s son t en possessi on d e l a dern i ère éd i ti on de cette pu bl i cati on 7) Au cu n e respon sabi l i té n e d oi t être i m pu tée l ’ I EC, ses ad m i n i strateu rs, em pl oyés, au xi l i res ou m an d atai res, y com pri s ses experts parti cu l i ers et l es m em bres de ses com i tés d 'étu d es et des Com i tés n ati on au x de l ’ I EC, pou r tou t préj u di ce cau sé en cas de dom m ag es corporel s et m atéri el s, ou d e tou t au tre d om m ag e de qu el q u e n atu re q u e ce soi t, d i recte ou i n di recte, ou pou r su pporter l es coû ts (y com pri s l es frai s d e j u sti ce) et l es d épen ses décou l an t d e l a pu bl i cati on ou d e l 'u ti l i sati on d e cette Pu bl i cati on d e l ’ I EC ou d e tou te au tre Pu bl i cati on d e l ’ I EC, ou au crédi t q u i l u i est accord é 8) L'atten ti on est atti rée su r l es référen ces n orm ati ves ci tées d an s cette pu bl i cati on L'u ti l i sati on d e pu bl i cati on s référen cées est obl i g atoi re pou r u n e appl i cati on correcte d e l a présen te pu bl i cati on 9) L’ atten ti on est atti rée su r l e fai t q u e certai n s d es él ém en ts d e l a présen te Pu bl i cati on d e l ’ I EC peu ven t fai re l ’ obj et d e d roi ts d e brevet L’ I EC n e sau rai t être ten u e pou r respon sabl e d e n e pas avoi r i den ti fi é d e tel s d roi ts d e brevets et d e n e pas avoi r si g n al é l eu r exi sten ce La N orm e in tern ati onale I EC 62788-1 -5 a été établ ie par le com i té d'études 82 de l'I EC: Systèmes de version photovoltaïqu e de l’énerg ie solaire – 16 – I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 Le texte de cette norme est issu des docu men ts su ivants: FDI S Rapport de vote 82/1 1 4/FDI S 82/1 34/RVD Le rapport de vote in di qu é dans le tableau ci-dessu s donne tou te in formation sur l e vote ayan t abou ti l ’approbation de cette norme Cette pu bl ication a été rédi g ée selon les Directives I SO/I EC, Partie U ne liste de tou tes les parties de l a séri e I EC 62788, publi ées sou s le ti tre g énéral Procédures de mesure des matériaux utilisés dans les modules photovoltaïques, peu t être consu ltée su r le site web de l 'I EC Le com i té a déci dé qu e le ten u de cette pu bl ication ne sera pas modi fié avan t la date de stabi l ité indiquée su r le si te web de l'I EC sou s "h ttp://webstore iec ch " dans les donn ées relati ves la pu bl ication recherchée A cette date, l a publication sera • recon du ite, • su pprimée, • remplacée par u ne édition révisée, ou • amendée IMPORTANT – Le logo "colour inside" qui se trouve sur la page de couverture de cette publication indique qu'elle contient des couleurs qui sont considérées comme utiles une bonne compréhension de son contenu Les utilisateurs devraient, par conséquent, imprimer cette publication en utilisant une imprimante couleur I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 – 17 – PROCÉDURES DE MESURE DES MATÉRIAUX UTILISÉS DANS LES MODULES PHOTOVOLTAÏQUES – Partie -5: Encapsulants – Mesurage de la variation des dimensions linéaires des matériaux d'encapsulation en couches minces résultant des conditions thermiques appliquées Domaine d'application La présente partie de l'I EC 62788 fou rn i t un e méthode de m esu re de la variation m aximale représen tative des dimensions linéaires des matériau x d'encapsu lation en cou ches minces dans le cas d'u ne exposition thermique non l imitée qu i pou rrait se produ i re au cou rs de l a fabrication de modu les ph otovoltaïqu es (PV) La n orm e ne prend pas en compte les éven tu el les contrain tes résu l tant de variati ons dim ensionnel les l im itées ou d'u n frottemen t au cou rs de l a fabrication des modu les Les don nées obtenu es avec cette méthode peu vent être u tilisées par les fabricants de matériau x d'encapsu lati on dans l e bu t d'assu rer l e contrôle de l a qu ali té de leu rs matériau x, et de les consig ner dans les fiches techniqu es de leurs produi ts Les données obten u es avec cette m éthode peu ven t être u til isées par l es fabrican ts de modu les photovol taïqu es des fi ns d'acceptation des m atériau x, d'élaboration de procédés, d'anal yse de concepti on ou d'an al yse de défail lances Cette méthode peu t au ssi être u til isée pou r l e trôle d'au tres m atériau x comm e ceu x u tilisés dans les faces arrière et les faces avant décri tes dans l 'I EC 62788-2 Certains détails de l 'essai (y com pris la taille de l'éprou vette et le su bstrat) son t spéci fiés pou r cette applicati on dans l'I EC 62788-2 Références normatives Les docu men ts su i van ts son t ci tés partie, dans le présen t docum en t références datées, seu le l’édi tion dern ière édi tion du docu men t amendements) en référence de m anière normati ve, en in tégral ité ou en et son t indispensabl es pou r son appl ication Pou r les ci tée s’appl ique Pour les références non datées, la de référence s’appl iqu e (y com pris les éventu els I EC 6021 6-4-1 , Electrical insulating materials – Thermal endurance properties – Part 4-1: Ageing ovens – Single-chamber ovens (disponible en ang lais seul emen t) I SO/I EC 7025:2005, Exigences générales concernant la compétence des laboratoires d'étalonnages et d'essais I SO 291 :2008, Plastiques – Atmosphères normales de conditionnement et d’essai I SO 1 357-2:201 3, Plastiques – Analyse calorimétrique différentielle (DSC) – Partie 2: Détermination de la température de transition vitreuse et de la hauteur de palier de transition vitreuse I SO 1 357-3:201 , Plastiques – Analyse calorimétrique différentielle (DSC) – Partie 3: Détermination de la température et de l'enthalpie de fusion et de cristallisation ASTM C778–06, Standard specification for standard sand (dispon ible en ang lais seu lemen t) – 18 – I EC 62788-1 -5:201 © I EC 201 Principe Les dim ensions des matéri au x d'encapsu lation (en cou ches minces) peu ven t vari er l ors de leu r traitement au cours de l a fabrication d'u n modu le photovoltaïqu e La vari ati on des di mensions est g énéralement du e au x train tes subies pas l 'encapsul an t pendan t sa fabrication (par exemple, au cou rs de l'extru sion) Les m odi fications ul téri eu res observées au cou rs de l a fabrication des m odul es (par exemple, pendan t la lam i nation, avec le chau ffag e, le refroidissemen t et la m ise sou s pressi on atmosphéri qu e) peu ven t g énérer des contraintes l'intérieur du m odu le pou van t engendrer des phénomèn es nu isibles comm e la formati on de bu lles (vides) , le déplacement ou la ru pture de composants i ntern es ou la dél amination de l'encapsu lation son ou ses in terfaces Cette procédure défini t u ne méth ode de caractérisation normalisée de l a variation di mensionnell e maxim ale Cette vari ati on di mensionnell e est évaluée sur du sable de man ière rédu i re l e pl us possible le frottement (ou l'adh érence) afin d'obten ir des résu l tats avec un e démarche normal isée Des facteu rs su pplémen taires qu i ne son t pas pris en compte ici renden t les trai n tes et les déformations produi tes au cou rs de la lam ination des modul es encore plus complexes Les effets spéci fiques l a procédure de traitem ent (lam ination) n e son t pas nécessairemen t traités par cette procédu re Appareillage Le matériel su i van t doi t être u ti lisé pour réaliser l'essai : a) U n e matrice, des ciseau x ou tou t au tre dispositi f perm ettant de couper avec exactitude les échantillons de matériau d'encapsu lati on au x di mensions sou h tées b) U n marqueu r pointe douce ou u n disposi ti f équ i valen t u til isé pou r indiqu er l'orien tation des éprou vettes par rapport au corps d'encapsu l ation c) U n dispositif de m esu re l inéaire étalonné avec u n e résolu tion d'au moins ± 0, m m On peu t donner comme exem ples de tels disposi ti fs (l iste non exh au sti ve) u n pied cou lisse, u ne règ le ou u ne cam éra étalonnée I l vien t qu e le dispositif de mesu re ne provoqu e pas de déformation de l 'échan ti llon pendan t l e m esu rage Le disposi ti f de mesu re doit au toriser u ne i ncertitu de de la valeur mesurée pou r la variati on des dimensions lin éaires de ± 0, % ou moins d) U n dispositi f de m esure de l 'épai sseu r étalon né avec u ne résol u tion d'au moins ± 0, 01 mm On peu t donn er com me exem pl es de tels disposi ti fs u n pied cou l isse ou u n micromètre e) U n e nou velle feui lle d'alu m in iu m (feu i ll e “résistante”, d'une épaisseu r de 20 µ m 25 µ m) d'u ne lon gu eur et d'u ne l argeur d'au m oins 300 m m f) U n e étu ve comm ande en bou cle fermée et circu l ation d'air don t l es di mensions m ini males (longu eur et larg eur) son t de 300 mm , capable d'atteindre la tem pératu re de trai temen t maximale pou r l 'encapsu lan t en essai I l vien t qu e la température in terne de la ch am bre de l 'étu ve ne varie pas de plu s de ± 2, °C par rapport la températu re prévu e U ne étu ve forme l'I EC 6021 6-4-1 peu t être u ti l isée g ) Du sable “normal isé de référence”, tel qu e spéci fi é dans l a norme ASTM C778, u ti l isé pou r perm ettre le li bre déplacemen t de la cou che de m atériau d'encapsu lation su r la su rface de la feui lle d'alu m in iu m Éprouvettes 5.1 Préparation de l'éprouvette Décou per des éprou vettes de form e carrée de 00 m m × 00 mm de côté dans u n rou leau de matériau d'encapsu lation disponible après avoir vérifié qu 'il a été stocké form émen t au x recom mandations du fourn isseu r et qu 'il n'a pas dépassé sa date limi te d'u tilisation Les éprou vettes doi ven t être décou pées au m oi ns 200 mm des bords extérieu rs du rou leau U n bord décou pé avec soi n (un i forme) rédu isan t l e plus possible l a variation dimensi onn el le (tan t en l ong ueu r qu 'en larg eu r) doi t être u tilisé La di mension exacte des éprou vettes peu t varier