Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống
1
/ 23 trang
THÔNG TIN TÀI LIỆU
Thông tin cơ bản
Định dạng
Số trang
23
Dung lượng
0,93 MB
Nội dung
1
Chế tạo,nghiêncứutínhchấtcủamàngmỏng,
vật liệucấutrúcnanotrêncơsởoxitkẽmphatạp
và khảnăngứngdụng
Nguyễn Việt Tuyên
Trường Đại học Khoa học Tự nhiên; Khoa Vật lý
Chuyên ngành: Vật lý Chất rắn; Mã số: 62 44 07 01
Người hướng dẫn: PGS.TS. Tạ Đình Cảnh
PGS.TS. Ngô Thu Hương
Năm bảo vệ: 2011
Abstract. Chương 1. Tổng quan về vậtliệu bán dẫn ZnO. Chương 2. Một số phương pháp
chế tạo màng, vậtliệunano ZnO và các kỹ thuật thực nghiệm. Chương 3. Chế tạo màng
mỏng ZnO phatạpchất bằng phương pháp phún xạ r.f. magnetron. Chương 4. Chế tạo một
số cấutrúcnano ZnO và ZnO phatạp chất. Chương 5. Một vài khảnăngứngdụngcủa
màng mỏng vàvậtliệucấutrúcnanotrêncơsở ZnO
Keywords. Vậtliệu bán dẫn; Kẽm oxit; VậtliệuNano
Content.
A. MỞ ĐẦU
Các cấutrúcnanocủakẽmoxit (ZnO) đã thu hút được sự quan tâm to lớn trong những năm gần
đây vì nó có nhiều tínhchất lý thú khiến cho vậtliệu này có thể được ứngdụng trong nhiều lĩnh vực công
nghệ. Thực tế ZnO là một vậtliệu rất cuốn hút do có nhiều đặc tính quí báu như: độ rộng vùng cấm lớn,
năng lượng liên kết exciton lớn, độ bền hóa học cao, tương thích sinh học, áp điện, các hiệu ứng quang phi
tuyến. Hơn nữa, khi chuyển từ dạng khối sang dạng cấutrúc nano, sự lôi cuốn củavậtliệu này còn tăng cao
hơn nữa do ngoài những tínhchất riêng củavậtliệu ZnO nó còn có những tínhchấtcủa các cấutrúc thấp
chiều.
Tìm ra qui trình tổng hợp vậtliệumàng ZnO và các cấutrúcnanocủa ZnO bằng các phương pháp
tương đối đơn giản, phù hợp với điều kiện phòng thí nghiệm ở Việt Nam là những nhiệm vụ nghiêncứu
chủ yếu của cuốn luận án này. Cũng vì lý do đó luận án có nhan đề là: “Chế tạo,nghiêncứutínhchấtcủa
màng mỏng,vậtliệucấutrúcnanotrêncơsở ZnO phatạp và khảnăngứng dụng”
Mục đích của luận án:
Tìm ra qui trình công nghệ để chế tạo bia vàmàng ZnO phatạp bằng phương pháp phún xạ catốt,
cũng như một sốcấutrúcnano bằng phương pháp vận chuyển pha hơi và phương pháp hóa.
Nghiên cứu, khảo sát một sốtínhchấtvật lý và tìm ra hướng ứngdụngcủa các mẫu đã chế tạo.
Phương pháp nghiên cứu:
Là phương pháp thực nghiệm, sử dụng phương pháp phún xạ catốt trên thiết bị Univex-450
Leybold để chế tạo màng ZnO pha tạp, phương pháp bốc bay nhiệt và phương pháp hóa để chế tạo các cấu
trúc nano ZnO pha tạp.
2
Kết quả chính của luận án
Đã chế tạo thành công màng ZnO bằng phương pháp phún xạ r.f. magnetron cũng như các cấutrúc
nano dạng hạt, dây, thanh và đĩa nanocủa ZnO phương pháp vật lý và hóa học khá đơn giản.
Các màng đã chế tạo được có cả 2 loại độ dẫn loại n và loại p, đây cũng là vấn đề đang được quan
tâm nghiêncứucótính thời sự cao vì độ dẫn loại p trong ZnO được công bố là rất khó chế tạo. Các màng
ZnO dẫn loại n được chế tạo bằng cách phatạp In cho màngcó độ truyền qua cao, điện trở suất nhỏ (~ 10
-4
cm) tương đương với các công bố tốt nhất về độ dẫn của ZnO. Trong khi đó, độ dẫn loại p trong màng
ZnO, dù được công bố là rất khó chếtạo, cũng đã đạt được bằng cách chế tạo mẫu ZnO phatạp Phốtpho
đồng thời sử dụng khí N
2
làm môi trường tạo mẫu.
Một kết quả nổi bật khác của luận án là việc chế tạo thành công các hạt nano ZnO bằng phương
pháp vi sóng. Các hạt thu được có kích thước nhỏ (<10 nm) và phân bố kích thước đồng đều. Ngoài ra, các
cấu trúc dây nanovà đặc biệt là đĩa nano dạng lục giác của ZnO cũng đã được chế tạo thành công bằng
phương pháp bốc bay nhiệt đơn giản.
Bố cục của luận án:
Danh mục các ký hiệu và các chữ viết tắt
Danh mục các bảng
Danh mục các hình vẽ, đồ thị
Mở đầu
Chương 1. Tổng quan về vậtliệu bán dẫn ZnO
Chương 2. Một số phương pháp khảo sát tínhchấtcủamàngvà các cấutrúcnano ZnO
Chương 3. Chế tạo vàtínhchấtmàng ZnO và ZnO phatạpchất
Chương 4. Chế tạo một sốcấutrúcnano ZnO và ZnO phatạpchất
Chương 5. Một vài khảnăngứngdụngcủamàng mỏng vàvậtliệucấutrúcnanotrêncơsởoxitkẽm
Kết luận chung
Danh mục các công trình khoa học của tác giả liên quan đến luận án.
Tài liệu tham khảo
3
B. NỘI DUNG
Chương 1. Tổng quan về vậtliệu bán dẫn ZnO
1.1. Tínhchấtcủa ZnO và các cấutrúcnanocủa nó
ZnO là một vậtliệu cuốn hút do có nhiều đặc tính rất quí báu như: vùng cấm thẳng, độ rộng vùng
cấm lớn E
g
=3,37 eV, năng lượng liên kết exciton lớn 60 meV, độ bền hóa học cao, tương thích sinh học, áp
điện, các hiệu ứng quang phi tuyến. Hơn nữa, khi chuyển từ dạng khối sang dạng cấutrúc nano, sự lôi cuốn
của vậtliệu này còn tăng cao hơn nữa do ngoài những tínhchất riêng củavậtliệu ZnO còn có những tính
chất của các cấutrúc thấp chiều. So với vậtliệu dạng khối các cấutrúcnanocủa ZnO dù ở dạng 0D, 1D
hay 2D và các tổ hợp của chúng cũng đều cho thấy có những tínhchất vượt trội so với ZnO dạng khối như:
độ bền cơ lớn hơn, tính dẫn điện tốt hơn, cường độ huỳnh quang lớn hơn và bước sóng phát xạ có thể được
điều khiển dễ dàng hơn…
Với khảnăngứngdụng to lớn nên ZnO là một vậtliệu được nghiêncứu sâu rộng từ lâu tưởng như
đề tài này đã được khai thác cạn kiệt bởi các nhóm nghiêncứutrên thế giới cũng như trong nước, tuy nhiên
trên thực tế vẫn còn nhiều hướng nghiêncứu mới, mở ra triển vọng mới và cả những thách thức mới đòi
hỏi cần tập trung nghiêncứu thêm, đó là tạo ra độ dẫn điện loại n và loại p của ZnO hay nghiêncứuchế tạo
và khảo sát các cấutrúcnanocủa ZnO và ZnO pha tạp.
1.2. Tình hình nghiêncứuvậtliệu ZnO hiện nay và những hướng nghiêncứu còn cókhảnăng phát
triển
ZnO có tiềm năngứngdụng lớn đối với nhiều thiết bị quang học vùng bước sóng ngắn. Để làm
được điều đó thì cả độ dẫn loại n và loại p trong ZnO là không thể thiếu được. Với ZnO để thu được tính
dẫn loại n tương đối dễ dàng bằng cách tạo mẫu với nhiều sai hỏng như kẽm điền kẽ hoặc phatạp Al, Ga,
In Tuy nhiên, ZnO biểu lộ những rào cản đáng kể đối với sự hình thành các mức acceptor nông.
Nếu các cấutrúcnano 1 chiều đã được nghiêncứu rộng rãi về cả cách chế tạo vàtínhchất thì
những cấutrúc còn lại như cấutrúcnano dạng đĩa, tấm hoặc các cấutrúc hạt nanocủa ZnO vẫn còn là một
lĩnh vực ít được công bố hơn, nhưng điều đó không có nghĩa đây là những hướng nghiêncứu không có
tiềm năng. Khả năngứngdụng của những vậtliệu này không hề thua kémcấutrúc một chiều thậm chí còn
đa dạng hơn nữa. Nghiêncứuchế tạo vậtliệu ZnO cócấutrúc Q0D, Q2D vànghiêncứutínhchấtcủa
chúng vẫn còn là một hướng nghiêncứu mở rất đáng tập trung.
Chương 2. Một số phương pháp chế tạo màng, vậtliệunano ZnO và các kỹ thuật thực nghiệm
2.1. Các phương pháp tạo mẫu
2.1.1. Phương pháp phún xạ r.f. magnetron
Cơ sởvật lý của các phương pháp phún xạ dựa trên hiện tượng va chạm của các hạt cónăng lượng
cao (các iôn khí trơ như Ar, Xe, He, ) với các nguyên tử vậtliệutrên bia gốm, và làm bật các nguyên tử
này. Quá trình phún xạ thực chất là một quá trình chuyển hóa xung lượng. Khi các ion bắn phá bề mặt của
bia, tương tác giữa các iôn khí với nguyên tử của bia coi như quá trình va chạm. Thông thường, các nguyên
tử bị phún xạ khi đến đế mẫu, năng lượng còn khoảng 1 2 eV, cao hơn năng lượng của quá trình bốc bay
khoảng hai bậc. Năng lượng này đủ lớn giúp cho các nguyên tử lắng đọng sẽ tự động sắp xếp và bám vào
đế mẫu chắc hơn.
2.1.2. Phương pháp bốc bay nhiệt đơn giản có sử dụng khí mang
Để tạo ra các cấutrúcnanocủavật liệu, người ta có thể đi theo con đường top-down (chia nhỏ khối
4
vật liệutinh thể dạng khối thành các phần rất nhỏ) hoặc bottom-up (tạo ra vậtliệunano từ các phân tử hoặc
nguyên tử riêng rẽ). Thực tế, người ta thường chọn phương thức thứ hai vì giá thành hạ hơn. Bản chấtcủa
việc hình thành các cấutrúcnano theo phương pháp bottom - up chính là quá trình tinh thể hóa thông qua
hai bước cơ bản: tạo mầm và phát triển. Khi nồng độ của các khối vậtchất (nguyên tử, ion hoặc phân tử) đủ
cao, chúng sẽ liên tục kết hợp lại thành mầm. Sau đó các mầm này sẽ đóng vai trò làm hạt nhân cho các
quá trình phát triển tiếp theo để hình thành các cấutrúc lớn hơn. Trong trường hợp vậtliệunano ZnO,
phương pháp hiện nay được áp dụng nhiều nhất là phương pháp nhiệt cacbon, sử dụng bột ZnO được trộn
với bột C để làm vậtliệu nguồn. Ưu điểm của phương pháp này là sự xuất hiện của C làm giảm đáng kể
nhiệt độ phân hủy của ZnO. Bằng quá trình khử C, đầu tiên hơi ZnO
1-x
được tạo ra bằng phản ứng khử ZnO
của C, sau đó hơi này sẽ được chuyển đến vùng phát triển trong buồng phản ứng, đó là vùng có nhiệt độ
nhỏ hơn nhiệt độ nguồn và cuối cùng các sản phẩm nano ZnO
1-x
sẽ được oxy hóa thành ZnO.
2.1.3. Phương pháp vi sóng
Vi sóng là dạng năng lượng của điện từ trường với tần số trong khoảng 300MHz đến 300GHz. Tần
số thường được sử dụng là vào khoảng 2,45 GHz. Tương tác giữa vậtliệuvà trường vi sóng là dựa vào 2 cơ
chế: tương tác lưỡng cực và độ dẫn ion. Cả 2 cơchế đều yêu cầu các thành phần củavậtliệu nguồn phải
được liên kết tương đối chặtchẽ với sự dao động rất nhanh của vectơ cường độ điện trường trong trường vi
sóng. Tương tác lưỡng cực xuất hiện với các phân tử phân cực. Các đầu của lưỡng cực của một phân tử sẽ
có xu hướng tái định hướng với nhau và dao động cùng với sự dao động của điện trường. Nhiệt do đó được
tạo ra do sự va chạm giữa các phân tử và do ma sát. Chính do quá trình này, các phân tử trong vậtliệu được
trộn đều tạo nên tínhchất đồng nhất của sản phẩm. So với phương pháp gia nhiệt truyền thống phương
pháp vi sóng có rất nhiều ưu điểm như: trực tiếp làm nóng vậtliệu ở bên trong dung dịch, gradient nhiệt
đồng đều, các xung nhiệt được bật tắt tức thì, thời gian phản ứng ngắn nên hạt tạo ra nhỏ và đồng đều.
2.2. Một số phương pháp khảo sát tínhchấtcủavậtliệu ZnO
Các mẫu sau khi chế tạo được khảo sát bằng một số hệ đo như: nhiễu xạ tia X, hiển vi điện tử
(SEM , TEM, EDS, SAED), từ kế mẫu rung, hệ khảo sát tínhchất điện bằng phương pháp van der Pauw, hệ
đo hấp thụ truyền qua, huỳnh quang
Chương 3. Chế tạo màng mỏng ZnO phatạpchất bằng phương pháp phún xạ r.f. magnetron vàtính
chất của chúng
3.1 Chế tạo màng mỏng ZnO phatạpchất Indi (In)
Chúng tôi tiến hành chế tạo màng mỏng ZnO phatạp In từ bia ZnO phatạp 2% In
2
O
3
về khối
lượng và khảo sát ảnh hưởng của nhiệt độ đế tới tínhchấtcủa các màng thu được bằng phương pháp phún
xạ r.f. magnetron.
30
33
36
39
f
e
d
c
b
a
(100)
(002)
(101)
C-êng ®é (®.v.t.y)
2
(
®é
)
5
Hình 3.2. Phổ nhiễu xạ tia X củamàng ZnO:In ở các nhiệt độ đế khác nhau: (a) 50
o
C; (b) 100
o
C; (c)
150
o
C; (d) 200
o
C; (e) 250
o
C; (f) 300
o
C.
50 100 150 200 250 300
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
0
2
4
6
8
0.30
0.35
0.40
0.45
0.50
0
4
8
12
16
20
24
§iÖn trë suÊt
(10
-4
Ohm cm)
NhiÖt ®é ®Õ (
o
C)
§iÖn trë suÊt
Nång ®é h¹t t¶i
Nång ®é h¹t t¶i (10
20
cm
-3
)
FWHM
FWHM (®é)
§é linh ®éng Hall
§é linh ®éng Hall (cm
2
/Vs)
Hình 3. 4. Tínhchất điện củamàng ZnO:In theo nhiệt độ đế
Kích thước tinh thể tính bằng công thức Scherrer là 18, 22, 24, 25, 26, 28 nm đối với 6 mẫu đã chếtạo,
cho thấy sự kết tinhcủamàng được cải thiện khi nhiệt độ tăng từ 50 300
o
C.
Điện trở suất củamàng thấp nhất 4,5.10
-4
cm khi nhiệt độ đế là 150
o
C, xấp xỉ giá trị điện trở suất
trong những công bố tốt nhất về độ dẫn của ZnO loại n, khi đó nồng độ hạt tải trong mẫu là lớn nhất. Sự
thay đổi của độ linh động Hall là tương đối nhỏ.
300 400 500 600 700 800 900
0
20
40
60
80
100
5
6
4
3
2
1
®é truyÒn qua (%)
B-íc sãng (nm)
2.5 3.0 3.5 4.0
(h)
2
N¨ng l-îng (eV)
6
5
4
3
2
1
(a) (b)
Hình 3.5. (a) Phổ truyền qua củamàng ZnO:In trong vùng ánh sáng nhìn thấy (b) Độ rộng vùng cấm củamàng
ZnO:In được chế tạo ở các nhiệt độ đế khác nhau: (1) 50
o
C; (2) 100
o
C; (3) 150
o
C; (4) 200
o
C; (5) 250
o
C; (6)
300
o
C
Ta thấy rằng độ truyền qua trung bình trong vùng nhìn thấy (400-900nm) là trên 85%. Sự thay đổi
của bờ hấp thụ phù hợp với qui luật dịch chuyển Burstein-Moss.
3.2. Chế tạo màng mỏng ZnO phatạpchất Phốtpho (P)
Sự thay thế của P ở vị trí của Zn có thể đưa đến trạng thái donor chẳng hạn như trạng thái ôxy hóa
thông thường +3 của P ở vị trí Zn
2+
. Cũng có thể quá trình bù trừ do những sai hỏng loại n có nguồn gốc từ
P
3+
, P
5+
, hoặc P
3-
. Việc phatạp P sẽ đưa đến việc tăng cường tính dẫn loại n trong các màng ZnO:P đã được
chế tạo, cho thấy sự hình thành của các trạng thái donor nông.
Các phép đo hiệu ứng Hall theo cấu hình 4 mũi dò van der Pauw cho thấy khi tăng nhiệt độ đế thì
điện trở suất của các màng cũng tăng lên, đó là do có sự suy giảm nồng độ hạt tải trong khi độ linh động
6
Hall thay đổi rất ít.
250 300 350 400
20
30
40
50
60
3
6
9
12
15
18
14
16
18
20
§iÖn trë suÊt
(cm)
NhiÖt ®é ®Õ (
o
C)
§iÖn trë suÊt
Nång ®é h¹t t¶i
Nång ®é h¹t t¶i
(10
15
cm
-3
)
§é linh ®éng Hall
§é linh ®éng Hall
(cm
2
/V.s)
Hình 3.10. Điện trở suất, nồng độ hạt tải và độ linh động Hall của các mẫu màng ZnO:P
0.02
được chế tạo ở công
suất phún xạ 200W khi nhiệt độ đế thay đổi
3.3. Màng ZnO phatạp Phốtpho chế tạo trong môi trường khí Nitơ (N
2
)
Việc đưa N
2
vào trong môi trường chế tạo màng sẽ có tác dụng tích cực để cải thiện tínhchấttinh
thể củamàng ZnO:P. Áp suất riêng phần tối ưu của khí N
2
là từ 20-40%, các màng ZnO:P tương ứngcó giá
trị FWHM nhỏ hơn vàcótính dẫn loại p tốt hơn
Điều đáng chú ý nhất là các mẫu được phún xạ với áp suất riêng phần của N
2
là 20% và 40% thể
hiện tính dẫn loại p, (điều này có thể là do N đã kết hợp vào trong màng ZnO, đóng vai trò làm acceptor),
và các màng được tạo ra khí áp suất riêng phần của N
2
lớn hơn 40% thì cótính dẫn loại n.
0 20 40 60 80 100
0.32
0.36
0.40
0.44
0.48
20 30 40 50
(002)
100% N
2
80% N
2
60% N
2
40% N
2
20% N
2
C-êng ®é (®.v.t.®.)
2 Theta
FWHM (®é)
¸p suÊt riªng phÇn cña khÝ N
2
(%)
Hình 3.11. FWHM của đỉnh (002) củamàng ZnO:P:N khi áp suất riêng phần của khí N
2
thay đổi
Tính chất điện củamàng tốt nhất, như nồng độ hạt tải là n = 6,03.10
16
cm
-3
, điện trở suất là =
31cm và độ linh động Hall = 25cm
2
/V.s, đạt được khi áp suất riêng phần của khí N
2
là 40%.
Chương 4. Chế tạo một sốcấutrúcnano ZnO và ZnO phatạp chất vàtínhchấtcủa chúng
4.1. Chế tạo hạt nano ZnO và ZnO phatạpchất bằng phương pháp vi sóng
Ảnh hưởng củadung môi lên tínhchấtcấutrúccủa hạt nano
Ảnh TEM của các hạt nano ZnO chế tạo trong các dung môi khác nhau (nước cất, cồn tuyệt đối,
propanol 2) cho thấy propanol 2 là dung môi phù hợp nhất để chế tạo các hạt nano ZnO có dạng gần giống
hình cầu với kích thước nhỏ và đồng đều với kích thước khoảng 10-15 nm.
7
(a) (b)
(c)
Hình 4.3. Ảnh TEM của các hạt nano ZnO chế tạo trong các dung môi khác nhau: (a) nước cất; (b) cồn
tuyệt đối; (c) propanol 2
(a) (b) (c)
Hình 4. 9. Ảnh TEM của thanh nano ZnO với giá trị R (tỉ lệ Zn
2+
/PVP) khác nhau: (a) R = 0,6; (b) R = 0,9;
(c) R = 1,2
Khảo sát ảnh hưởng của một sốchất hoạt hóa lên hình dạng và kích thước của các hạt nano ZnO cho
thấy PVP là một chất hoạt hóa có tác dụng làm giảm kích thước hạt nano, sự giảm kích thước hạt tỉ lệ với
nồng độ PVP sử dụng. Kích thước của các hạt nano ZnO nhỏ nhất có thể tạo ra là khoảng 4-10 nm.
Phổ huỳnh quang của hạt nano ZnO không bọc bằng PVP và bọc PVP với lượng khác nhau rõ ràng
chỉ ra vai trò của PVP trong việc làm giảm các sai hỏng và mức bẫy.
350 400 450 500 550 600
360 380 400 420
c
d
b
C-êng ®é (®.v.t.y.)
B-íc sãng (nm)
a
c
d
b
B-íc sãng (nm)
a
Hình 4.17. Phổ huỳnh quang của
hạt nano ZnO (a) không bọc và bọc
PVP với tỉ lệ khác nhau R= 1,2 (b),
0,9 (c), (d) 0,6
-15 -10 -5 0 5 10 15
-20
-10
0
10
20
d
c
b
d) ZnO:Ni
c) ZnO:Co
b) ZnO:Mn
a) không u
M (10
-3
emu/g
)
H (kOe)
a
Hình 4.18. Đường từ trễ của hạt
nano ZnO trước và sau khi ủ
nhiệt ở 600
o
C trong không khí,
trong 3h: (a) Hạt không ủ nhiệt;
(b) 5% Mn; (c) 5% Co (d)5%Ni
Sau khi ủ các mẫu trong không khí ở 600
o
C, các mẫu ZnO phatạp kim loại chuyển tiếp bắt đầu thể
hiện tínhchất sắt từ. Đối với mẫu ZnO:Mn, đường từ trễ vẫn còn thể hiện tínhchất thuận từ, tuy nhiên đoạn
gần gốc tọa độ đã có phần như bị lệch xoắn. Như vậy, các hạt nano ZnO:Mn thể hiện cả tính thuận từ và sắt
từ, ở từ trường lớn tính thuận từ lấn át tínhchất sắt từ nên đường M-H có dạng đoạn thẳng, và không có giá
trị từ độ bão hòa.
4.2. Chế tạo dây nano ZnO bằng phương pháp bốc bay nhiệt đơn giản
Bằng phương pháp bốc bay nhiệt đơn giản sử dụng khí mang là Ar, chúng tôi thu được một sốcấutrúc
nano khác nhau như dây, thanh và đĩa nano.
8
Kết quả khảo sát ảnh hưởng của một số yếu tố như, nhiệt độ đế, độ dày lớp màng vàng xúc tác… đến
hình thái và kích thước của dây nano cho thấy nhiệt độ thích hợp nhất là 500-650
o
C và độ dày lớp màng
vàng xúc tác vào khoảng 25 nm. Cơchế hình thành các dây nano ZnO là cơchế VLS với chất xúc tác là
vàng.
Hình 4. 23. Ảnh SEM của dây nano ZnO chế tạo trong môi trường khí Ar
Phổ huỳnh quang của các mẫu dây có đường kính khác nhau cho thấy đường kính của dây càng nhỏ, tỷ
số bề mặt-thể tích càng tăng, số lượng các sai hỏng và trạng thái bề mặt tăng, dẫn đến sự tăng nổi trội của
cường độ của dải bức xạ 483 nm trong các dây nanocó đường kính 60 nm.
360 400 440 480 520 560
0
50
100
150
200
250
300
b
c
a
383 nm
483 nm
C-êng ®é
(x10
4
cps)
B-íc sãng (nm)
Hình 4.29 . Phổ huỳnh quang ở nhiệt độ phòng của các dây nano ZnO có đường kính khác nhau: (a) 60
nm; (b) 120 nm; (c) 200 nm
4.4. Chế tạo mẫu đĩa nano ZnO phatạp In
Hình 4.30. chỉ ra phổ nhiễu xạ tia X của các mẫu với các hàm lượng tạpchất In khác nhau với nhiệt độ
đế là 500
o
C. Phổ nhiễu xạ của mẫu chứa ít In (Hình 4.30a) cho thấy mẫu là đơn pha ZnO cócấutrúc lục
giác dạng wurtzite. Điều này chứng tỏ In chỉ thay thế một phần kẽm trong mạng lục giác. Khi tăng hàm
lượng In, trong mẫu đã xuất hiện thêm các pha mới, đó là các pha In
2
O
3
và Zn
3
In
2
O
6
, nhưng không thấy
xuất hiện phacủa kim loại Zn và In
20 30 40 50 60
a
b
c
d
e
f
In
2
O
3
ZnO
In
2
O
3
ZnO
ZnO
In
2
O
3
ZnO
Zn
3
In
2
O
6
In
2
O
3
Zn
3
In
2
O
6
In
2
O
3
C-êng ®é (®vt®)
(®é)
Hình 4.30. Giản đồ nhiễu xạ tia X củacấutrúcnano ZnO phatạp In với tỉ lệ mol ZnO:Zn:C:In (a)
5:2:1:0,2; (b) 5:2:1:0,3; (c) 5:2:1:0,6; (d) 5:2:1:0,8; (e) 5:2:1:1; (f) 5:2:1:1,2
9
Hình 4.31. Ảnh SEM củacấutrúcnano ZnO:In với các hàm lượng In khác nhau
Hình dạng của sản phẩm thu được phụ thuộc vào lượng In trong nguồn. Với tỉ lệ In phù hợp ta thu được
cấu trúc đĩa đơn tinh thể.
Hình 4. 42. (a) Ảnh TEM của một đĩa
nano; (b) giản đồ nhiễu xạ electron SAED của đĩa nano ZnO; (c) ảnh TEM phân giải cao của đĩa nano
ZnO chụp theo phương vuông góc bề mặt đĩa
2.8 3.0 3.2 3.4 3.6 3.8
C-êng ®é huúnh quang (®vt®)
N¨ng l-îng (eV)
BF-1LO
BF
D
o
X
x 700
x 190
x 38
x 13
x 6
x 2.6
x 1.3
14.5 K
37.1 K
61.6 K
96.5 K
140.5 K
190.8 K
250.4 K
300.0 K
Hình 4. 45. Phổ huỳnh quang của các đĩa nano ZnO:In được đo ở các nhiệt độ trong khoảng từ 14 K đến 300 K
Tính chất huỳnh quang nhiệt độ thấp của các đĩa nano đã được khảo sát kĩ lưỡng để làm sáng tỏ nguồn
gốc của các đỉnh phát xạ vùng UV. Phổ huỳnh quang trong vùng UV thể hiện một vạch rộng ở khoảng
3,056 eV (kí hiệu là vạch IV) và 3 vạch hẹp (vạch III, II, I) ở 3,225 eV, 3,310 eV, 3,365 eV. Các đỉnh này đã
được tách riêng và fit bằng hàm Gauss để tìm vị trí đỉnh và cường độ tích phân của từng đỉnh. Giá trị thực
nghiệm của vạch I khá khớp với công thức Varshini nên có thể qui cho exciton liên kết donor trung hòa (kí
hiệu bởi D
o
X). Vạch II được qui cho sự tái hợp của các hạt tải liên kết trêntạpchất với hạt tải tự do trong
vùng được phép (BF), vạch III có thể là vạch lặp lại phonon của vạch II (BF-LO).
Hình 4.48. trình bày phổ kích thích huỳnh quang của các đĩa nano ZnO:In với bước sóng bức xạ
510 nm đo tại các nhiệt độ khác nhau. Trong phổ tại 14 K quan sát thấy ba đỉnh tại 3,444 eV, 3,394 eV và
3,332 eV. Khi nhiệt độ tăng, các đỉnh năng lượng thấp tắt trước, đồng thời các đỉnh đều dịch chuyển về
phía năng lượng thấp. Căn cứ vào vị trí của các đỉnh có thể cho rằng: đỉnh 3,444 eV là do quá trình hấp thụ
exciton tự do, đỉnh 3,394 eV do quá trình hấp thụ exciton liên kết với đono trung hoà, còn đỉnh 3,332 eV là
do chuyển dời vùng hoá trị-đono.
10
3.00 3.25 3.50 3.75 4.00 4.25 4.50
3,444
3,394
3,332
e
c
d
b
a
C-êng ®é (®vt®)
N¨ng l-îng (eV)
a 14K
b 84K
c 134K
d 224K
e 304K
Hình 4.48. Phổ kích thích huỳnh quang của các đĩa nano ZnO:In
ở các nhiệt độ khác nhau
Chương 5. Một vài khả năngứngdụng của màng mỏng vàvậtliệucấutrúcnanotrêncơsở ZnO
5.1. Sử dụngmàng mỏng ZnO để chế tạo cảm biến nhạy ánh sáng tử ngoại
Dòng quang dẫn cực đại đạt được ở bước sóng 365 nm (3,40 eV) và ở bước sóng lớn hơn thì cường
độ dòng điện giảm đi khoảng 50%. Điều này có thể được giải thích là khi bức xạ cónăng lượng hν lớn hơn
hoặc bằng độ rộng vùng cấm E
g
thì photon có thể làm bật điện tử từ vùng hóa trị lên vùng dẫn. Mỗi photon
như vậy sẽ sinh ra một cặp điện tử và lỗ trống, do đó mật độ phần tử tải điện tăng lên. Với bước sóng lớn
hơn thì dòng quang dẫn đột ngột giảm. Sự giảm đột ngột này tương ứng với độ rộng vùng cấm của ZnO.
Mặt dù sự giảm này không được sắc nét nhưng dòng quang dẫn cũng đã giảm hơn hai lần khi bước sóng
thay đổi từ 365 đến 405 nm. Điều này cho thấy màng ZnO là đủ nhạy để có thể tạo ra sensor nhận biết tia
UV.
340 360 380 400
3
4
5
6
Dßng quang dÉn
(A)
B-íc sãng kÝch thÝch (nm)
Hình 5.5. Đồ thị dòng quang dẫn của
cấu trúc Al/ZnO/Al
0 200 400 600 800 1000
2
3
4
5
6
7
8
Dßng quang dÉn
(A)
Thêi gian (s)
Hình 5.6. Đồ thị sự suy giảm
cường độ dòng quang dẫn của
mẫu sau khi ngừng chiếu sáng
5.2. Sử dụng lớp chuyển tiếp dị thể n-ZnO:In/p-Si để chế tạo thiết bị tự động đóng ngắt quang điện
Sau khi đã nghiêncứutínhchất quang và điện của lớp chuyển tiếp n-ZnO:In/p-Si, chúng tôi đã sử
dụng chuyển tiếp này để tạo ra mô hình một thiết bị đóng ngắt quang điện. Thiết bị này gồm 3 thành phần
chính như sau: bộ phận cảm biến (detector), bộ so sánh (comparator) và bộ phận thực thi (executor).
[...]... dõy nano ZnO v thanh nano ZnO Hỡnh 5.23 th thi gian ỏp ng ca cỏc mu (a) nano dõy (b) nano thanh Hỡnh 5.21 cho thy rng in tr ca mng cha vt liu nano ca ZnO gim i khi ta tng m tng i ca khụng khớ S bin thiờn ca in tr theo m tng theo qui lut gn nh tuyn tớnh Tc bin thiờn ca in tr theo m i vi mu dõy l 4,8 k/%, i vi mu thanh nano l 3,3 k/% Giỏ tr Ro, ti m RH=0% cú th ngoi suy t th 4.35 i vi mu dõy nano. .. (2001), Roomtemperature ultraviolet nanowire nanolazers, Science, 292, pp.1897-1899 45 Huang Y., Zhang Y., Zhang X., Liu J., He J., Liao Q (2006), Structures, growth mechanism and properties of ZnO nanomaterials fabricated by zinc power evaporation, NanoScience, 11(4), pp.265-275 46 Hughes W L and Wang Z L (2005), Controlled synthesis and manipulation of ZnO nanorings and nanobows, Applied Physics letters,... White T J (2004), Zinc oxide nanowires and nanorods fabricated by vapour-phase transport at low temperature, Nanotechnology, 15, pp.839842 118 Xu C X and Sun X W., Dong Z L., Yu M B (2004), Zinc oxide nanodisk, Applied Physics letters, 85(17), pp.3878-3881 119 Xu C.X., Zhu G.P., Kasim J., Tan S.T., Yang Y., Li X., Shen Z.X., Sun X.W (2009), Spatial distribution of defect in ZnO nanodisks, Current Applied... Core/Shell Nanodisks and Nanotubes, Advanced Functional Material, 16, pp.5362 30 Ghoshal T., Biswas S., Paul M., De S.K (2009), Synthesis of ZnO nanoparticles by solvothermal method and their ammonia sensing properties, Journal of Nanoscience and Nanotechnology, 9(10), pp 5973-5980 31 Gu Y., Kuskovsky I L., Yin M., OBrien S., and Neumark G G (2004), Quantum confinement in ZnO nanorods, Applied Physics... mu dõy nano thỡ Ro = 709,07 k i vi mu thanh nano Ro=595,48 k 11 Thi gian ỏp ng khi thay i m t cao xung thp l 90 s v 120 s i vi mu dõy v thanh nano tng ng Khi m tng t 5% n 70%, thi gian ỏp ng i vi mu dõy nano v thanh nano l 150s v 240 s tng ng 12 KT LUN Lun ỏn ó thu c cỏc kt qu t mc tiờu ra, c th l: ó ch to thnh cụng bia gm ZnO ( =75mm) tinh khit v ZnO pha tp cht In vi cỏc hm lng khỏc nhau bng cụng... trỳc dng a nano ZnO pha tp In cú dng lc giỏc (mt cu trỳc ớt c bit n trờn th gii) nh hng ca cỏc thụng s cụng ngh lờn hỡnh dng, cu trỳc ca sn phm, cng nh c ch hỡnh thnh ca mt s cu trỳc ó c kho sỏt v phõn tớch cn k iu kin ti u, cỏc a nano ZnO:In c to ra cú dy vi chc nm v di ng chộo khong 4 m cũn cỏc dõy nano ZnO cng cú ng kớnh khong 20- 30 nm v chiu di lờn ti vi m ó ch to thnh cụng cỏc cu trỳc nano dng... J M (2006), High performance ZnO nanowire field effect transistor using self-aligned nanogap gate electrodes, Applied Physics Letters, 89, pp 263102-263105 15 Chang Y Q., Wang D B., Luo X H., Xu X Y., Chen X H., Li L., Chen C P., Wang R M., Xu J., Yu D P (2003), Synthesis, optical, and magnetic properties of diluted magnetic semiconductor Zn1xMnxO nanowires via vapor phase growth, Applied Physics Leters,... Directionally Grown ZnO Nanorod Arrays on Si Wafer Room-Temperature Ultraviolet Lazer, Advanced Matter, 15, pp 1911-1914 21 Chu D., Zeng Y., Jiang D (2007), Controlled growth and properties of Pb2+ doped ZnO nanodisks, Materials Research Bulletin, 42, pp 814819 22 Cui J and Gibson U (2007), Low-temperature fabrication of single-crystal ZnO nanopillar photonic bandgap structures, Nanotechnology, 18, pp.155302-155308... Aligned ZnO Nanorod Films, Journal of American Chemistry Society, 126(1), pp 6263 28 Feng W., Tao H., Liu Y and Liu Y (2006), Structure and Optical Behavior of Nanocomposite Hybrid Films of Well Monodispersed ZnO Nanoparticles into Poly (vinylpyrrolidone), Journal of Material Science and Technology, 22(2), pp.173-178 29 Gao P X., Lao C S., Ding Y., and Wang Z L (2006), Metal/Semiconductor Core/Shell Nanodisks... khi s dng dõy nano ZnO v thanh nano ZnO vi in cc Pt cú dng ci rng lc vi nhy tt v bn cao (sai s nh hn 3% sau mt thỏng) 13 Danh mc cụng trỡnh khoa hc ca tỏc gi liờn quan n lun ỏn 1 Nguyen Viet Tuyen, Nguyen Ngoc Long and Ta Dinh Canh (2010), Synthesis and characteristics of single-crystal Ni-doped ZnO nanorods by a microwave irradiation, ó nhn in tp chớ e-Journal of Surface Science and Nanotechnology .
1
Chế tạo, nghiên cứu tính chất của màng mỏng,
vật liệu cấu trúc nano trên cơ sở oxit kẽm pha tạp
và khả năng ứng dụng
Nguyễn Việt.
màng mỏng và vật liệu cấu trúc nano trên cơ sở ZnO
Keywords. Vật liệu bán dẫn; Kẽm oxit; Vật liệu Nano
Content.
A. MỞ ĐẦU
Các cấu trúc nano của kẽm