I- BỨC XẠ, TIA PHÓNG XẠ; C1 C6 – CATÔT A– ANÔT.
1.4.2.2. Phương pháp thêm tiêu chuẩn
Trong thực tế phân tích, đặc biệt là xác định lượng vết các kim loại, khi gặp phải các đối tượng phân tích có thành phần phức tạp và không thể chuẩn bị được một dãy mẫu đầu (mẫu chuẩn) phù hợp về thành phần với mẫu phân tích thì tốt nhất là dùng phương pháp thêm tiêu chuẩn. Chỉ như thế mới loại trừ được yếu tố ảnh hưởng về thành phần của mẫu (Matrix effect).
Nguyên tắc của phương pháp này là người ta dùng ngay mẫu phân tích làm nền để chuẩn bị một dãy mẫu đầu bằng cách lấy một lượng mẫu phân tích nhất định và gia thêm vào đó những lượng nhất định của nguyên tố cần xác định theo từng bậc nồng độ (theo cấp số cộng). Ví dụ lượng thêm vào là ∆C1, ∆C2, ... như thế chúng ta sẽ có một dãy mẫu chuẩn là :
Co = CX
CCx Cx
D
C1 = (Cx - ∆C1) C2 = (Cx - ∆C2) C3 = (Cx - ∆C3) C4 = (Cx - ∆C4)
Trong đó CX là nồng độ (hàm lượng) của nguyên tố cần xác định trong mẫu phân tích. Tiếp đó cũng chọn các điều kiện thí nghiệm phù hợp và một vạch phổ của nguyên tố phân tích, tiến hành ghi cường độ hấp thụ của vạch phổ đó theo tất cả dãy mẫu đầu. Ví dụ chúng ta thu được các giá trị tương ứng là Do, D1, D2, D3 và D4. Bây giờ từ các giá trị cường độ này và ứng với các nồng độ thêm vào của nguyên tố phân tích chúng ta dựng một đường chuẩn theo hệ tọa độ D - ∆C. Đó chính là đường chuẩn của phương pháp thêm. Đường chuẩn này cắt trục tung D tại điểm có tọa độ (Do, 0). Sau đó để xác định nồng độ CX chưa biết chúng ta làm như sau :
Cách I : Kéo dài đường chuẩn về phía trái, nó cắt trục hoành tại điểm Co. Đoạn OCo chính bằng giá trị nồng độ CX cần tìm.
Cách II : Cũng có thể xác định CX bằng cách từ gốc tọa độ kẻ một đường song song với đường chuẩn và từ điểm Do kẻ đường song song với trục hoành, hai đường này cắt nhau tại điểm M, từ điểm M hạ đường vuông góc với trục hoành, đường này cắt trục hoành tại điểm ∆Co. Chính đoạn O∆Co là bằng giá trị CX phải tìm (hình 5.3).
Phương pháp này có ưu điểm là quá trình chuẩn bị mẫu dễ dàng, không cần nhiều hóa chất tinh khiết cao để chuẩn bị dãy mẫu đầu nhân tạo. Một khác lại loại trừ được hoàn toàn ảnh hưởng về thành phần của mẫu cũng như cấu trúc vật lý của các chất tạo thành mẫu. Nhưng phải chú ý rằng, nồng độ thêm vào của nguyên tố phân tích phải theo từng bậc và khoảng cách của các bậc đó phải xấp xỉ bằng nồng độ CX phải tìm. Có như thế thì phần nội suy tuyến tính mới có ý nghĩa chính xác.
Phương pháp này được sử dụng rất nhiều trong phân tích lượng vết và lượng cực nhỏ các nguyên tố kim loại trong các loại mẫu khác nhau, đặc biệt là các loại mẫu có thành phần vật lý và hóa học phức tạp, các mẫu quặng đa kim. Đồng thời đây cũng là một phương pháp để xác định độ phát hiện của một phương pháp phân tích.
Võ Anh Khuê 30
D
DCx+C1(x) DCx+C2(x)
Hình 1.11: Đồ thị chuẩn của phương pháp thêm.