3.2.1.a Cấu trúc tinh thể của màng Terfecohan
3.2.2. Nhiệt độ ủ 4500C
Để hoàn thiện một cách có hệ thống các nghiên cứu về màng Terfecohan,
luận án đã tiến hành ủ nhiệt màng Terfecohan tại nhiệt độ cao hơn (4500C) và
3.2.2.a. Cấu trúc tinh thể của màng Terfecohan
Ảnh chụp bề mặt màng Terfecohan sau khi được ủ nhiệt tại nhiệt độ
4500C (nhiệt độ ủ: 4500C, thời gian ủ: 1 giờ, áp suất ủ: 10-2 Bar, tốc độ gia nhiệt:
10 độ/phút) được thể hiện trong hình 3.19.
Ảnh chụp cho thấy sự xuất hiện cấu trúc tinh thể với độ đồng đều cao. Các tinh thể đã có sự phát triển về mặt kích thước so với màng Terfecohan được ủ tại
nhiệt độ 3500C. Các kết quả phân tích hình ảnh cho thấy tinh thể có kích thước
trung bình d = 40 nm.
Hình 3.19: Ảnh SEM của màng Terfecohan ủ nhiệt tại 4500C
Kết quả phân tích giản đồ nhiễu xạ tia X (hình 3.20) cũng thu được kết quả tương tự. Trên đồ thị nhiễu xạ tia X, xuất hiện đỉnh nhiễu xạ rất rõ nét ứng
với góc 2θ = 530. Đỉnh nhiễu xạ này cho thấy màng Terfecohan có cấu trúc tinh
thể Fe(Co) tương tự như trên màng này được ủ tại nhiệt độ 3500C. Tuy nhiên
đỉnh nhiễu xạ này rất hẹp chứng tỏ kích thước tinh thể đã có sự phát triển về mặt kích thước. Phân tích giản đồ nhiễu xạ tia X kết hợp với công thức Scherrer cho
phép ước lượng kích thước hạt tinh thể có giá trị d ~ 35 nm.
Các kết quả phân tích hình ảnh bề mặt màng và giản đồ nhiễu xạ tia X cho
kết quả tương đồng cho phép kết luận: tăng nhiệt độ ủ từ 3500C lên 4500C đã làm
Hình 3.20: Giản đồ nhiễu xạ tia X của màng Terfecohan sau khi ủ nhiệt tại 4500C