β: độ bán rộng tính theo radian
λ: là bước sóng của chùm tia X sử dụng θ: góc nhiễu xạ
Trong luận văn này, các phép đo được thực hiện trên máy nhiễu xạ D2 PHASER (Bruker) tại Khoa Khoa học và Kĩ thuật Vật liệu, Đại học Giao thông Quốc gia Đài Loan.
2.2.2. Phương pháp phổ tán xạ Raman
Khi chiếu ánh sáng laser đơn sắc có tần số νo vào mẫu thì ánh sáng bị tán xạ trở lại, ngoài tần số νo còn có các tần số , với νm là tần số dao động của phân tử (có cường độ yếu hơn cỡ 10-5 lần so với cường độ chùm tia tới). Vạch νo-νm gọi là vạch Stockes và vạch νo+νm gọi là vạch phản Stockes. Do đó, trong quang phổ Raman, chúng ta đo tần số dao động (νm) như là sự dịch chuyển so với tần số chùm tia tới (νo). Khác với phổ hồng ngoại, phổ Raman được đo trong vùng tử ngoại - khả kiến mà ở đó các vạch kích thích (laser) cũng như các vạch Raman cùng xuất hiện. Từ việc xác định νm người ta xác định được các mode dao động của phân tử, xác định được kiểu liên kết phân tử, suy ra được cấu trúc phân tử.
Cấu trúc phân tử các mẫu trong nghiên cứu này được tiến hành đo trên máy LabRam HR Evolution (dùng laser 532 nm) của hãng Jobin - Yvon (Pháp) đặt tại Bộ môn Vật Lí Chất rắn - Điện tử - Khoa Vật Lí - Trường Đại học Sư Phạm Hà Nội.
2.2.3. Phương pháp chụp hiển vi điện tử quét (SEM)
Nguyên tắc của phương pháp hiển vi điện tử quét là dùng chùm điện tử quét lên bề mặt mẫu vật và thu lại chùm tia phản xạ. Qua việc xử lý chùm tia phản xạ này, có thể thu được những thông tin về hình ảnh bề mặt mẫu để tạo ảnh
của mẫu nghiên cứu. Ưu điểm của phương pháp SEM là có thể thu được ảnh bề mặt mẫu rõ nét mà không làm phá hủy mẫu và không đòi hỏi khâu chuẩn bị mẫu quá phức tạp.
Trong luận văn này, hình thái học của mẫu được khảo sát sử dụng kính hiển vi điện tử quét FESEM (S-4800, Hitachi) tại Viện Khoa học Vật liệu, Viện Hàn lâm và Khoa học Công nghệ Việt Nam.