Phổ tán xạ năng lượng ti aX (Energy Dispersive X-ray

Một phần của tài liệu (LUẬN văn THẠC sĩ) nghiên cứu tổng hợp và khảo sát hoạt tính quang xúc tác của vật liệu sno2 biến tính (Trang 45 - 47)

6. Cấu trúc luận văn

2.2.5. Phổ tán xạ năng lượng ti aX (Energy Dispersive X-ray

EDX hay EDS)

Phổ tán xạ năng lượng tia X (hay Phổ tán sắc năng lượng tia X) là kĩ thuật phân tích thành phần hóa học của vật rắn dựa vào việc ghi lại phổ tia X phát ra từ vật rắn do tương tác với các bức xạ mà chủ yếu là chùm điện tử có năng lượng cao trong các kính hiển vi điện tử.

* Nguyên tắc:

Kỹ thuật EDX chủ yếu được thực hiện trong các kính hiển vi điện tử, ở đó, ảnh vi cấu trúc vật rắn được ghi lại thông qua việc sử dụng chùm điện tử có năng lượng cao tương tác với vật rắn. Khi chùm điện tử có năng lượng lớn được chiếu vào vật rắn, nó sẽ đâm xuyên sâu vào nguyên tử vật rắn và tương tác với các lớp điện tử bên trong của nguyên tử. Tương tác này dẫn đến việc tạo ra các tia X có bước sóng đặc trưng tỉ lệ với nguyên tử số (z) của nguyên tử theo định luật Mosley [47]:

f = ʋ = 𝑚𝑒𝑞𝑒

4 8ℎ3𝜖02(3

4) (𝑍 − 1)2 = (2,48. 1015𝐻𝑧)(𝑍 − 1)2 (2.10)

Hình 2.3. Sơ đồ nguyên lí phổ EDX

Có nghĩa là, tần số tia X phát ra là đặc trưng với nguyên tử của mỗi chất có mặt trong chất rắn. Việc ghi nhận phổ tia X phát ra từ vật rắn sẽ cho thông tin về các nguyên tố hóa học có mặt trong mẫu đồng thời cho các thông tin về tỉ phần các nguyên tố này.

Có nhiều thiết bị phân tích EDX nhưng chủ yếu EDX được phát triển trong các kính hiển vi điện tử, ở đó các phép phân tích được thực hiện nhờ các chùm điện tử có năng lượng cao và được thu hẹp nhờ các hệ có thấu kính điện từ. Phổ tia X phát ra sẽ có tần số (năng lượng photon tia X) trải trong một vùng rộng và được phân tích nhờ phổ kế tán sắc năng lượng đo, ghi nhận thông tin về các nguyên tố cũng như thành phần. Kỹ thuật EDX được phát triển từ những năm 1969 và thiết bị thương phẩm xuất hiện vào đầu những năm 1970 với việc sử dụng detector dịch chuyển Si, Li hoặc Ge.

* Thực nghiệm:

Kỹ thuật chuẩn bị mẫu để phân tích EDX cùng trên một thiết bị đo SEM, bao gồm rửa sạch mẫu bằng etanol, phân tán mẫu và sấy khô. Sau đó phủ một lớp vàng cực mỏng lên bề mặt mẫu đã phân tán.

Mẫu được ghi ảnh trên máy Jeol 5410 tại Khoa Vật lý, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên, Đại học Quốc gia Hà Nội.

Một phần của tài liệu (LUẬN văn THẠC sĩ) nghiên cứu tổng hợp và khảo sát hoạt tính quang xúc tác của vật liệu sno2 biến tính (Trang 45 - 47)

Tải bản đầy đủ (PDF)

(96 trang)