Để đánh giá về hình thái học, các mẫu GO và G được đo HR-TEM. Ảnh HR- TEM của GO và G được minh hoạ ở Hình 3.8.
Từ ảnh HR-TEM của GO, ta có thể thấy sự có mặt của các lớp (cụm nhiều lớp) màu đen chứng tỏ có trong GO vẫn còn tồn tại một lượng nhỏ có cấu trúc graphit như đã nhận thấy bằng phương pháp XRD. Ngoài ra sự xuất hiện những nếp gãy trên bề mặt của vật liệu GO có thể do bề mặt bị rạn nứt trong quá trình xử lý siêu âm hoặc cũng có thể do bề mặt bị rạn nứt khi đo HR-TEM của GO do sử dụng năng lượng cao.
Hình ảnh HR-TEM của GO khi so sánh với ảnh HR-TEM của G ta nhận thấy các lớp (cụm nhiều lớp) màu đen gần như là biến mất chứng tỏ G tổng hợp được có cấu trúc đơn lớp hoặc vài lớp như trong các tài liệu đã công bố [23]. Đối với vật liệu GOVS chúng ta nhận thấy sự chồng xếp các lớp giảm so với GOSA. Từ Hình 3.8c chúng ta thấy G tổng hợp được có cấu trúc 5-6 lớp, chiều dày mỗi lớp khoảng 0,4 nm, đối với GOSA chiều dày mỗi lớp ước tính khoảng 0,6 nm. Chúng ta thấy có sự khác biệt nhỏ khi so sánh chiều dày giữa các lớp bằng XRD (0,78 nm) và HR-TEM (0,6 nm). Điều này là do quá trình xử lý mẫu của hai phương pháp là khác nhau, đối
với phương pháp nhiễu xạ tia X (XRD) các mẫu được đo trong môi trường không khí, trong khi đó đối với phương pháp HR-TEM các mẫu được xử lý trong môi trường chân không.
Hình 3.8. Ảnh HR-TEM của GOSA (a), GOVS (b) và G (c)
c a a b b c 0,6nm 0,4nm