THÔNG TIN TÀI LIỆU
Thông tin cơ bản
| Định dạng | |
|---|---|
| Số trang | 32 |
| Dung lượng | 0,93 MB |
Nội dung
Ngày đăng: 22/04/2018, 10:11
Nguồn tham khảo
| Tài liệu tham khảo | Loại | Chi tiết | ||
|---|---|---|---|---|
| [4]. Franz J. Giessibl, Advances in atomic force microscopy, Rev. Mod | Sách, tạp chí |
|
||
| [6]. Toyoko Arrai, Development of bias-voltage noncontact atomic force spectroscopy for the characterization of chemical bonding, JAPAN NANONET BULLETIN - 84th Issue - November 23, 2006 | Sách, tạp chí |
|
||
| [7]. Binnig, C. F. Quate and Ch. Gerber, Atomic Force Microscope, Phys | Sách, tạp chí |
|
||
| [3]. Bách khoa tri thức mở_http://vi.wikipedia.org | Link | |||
| [1]. Cảm biến, Phạm Quốc Phô – Nguyễn Đức Chiến, NXB Khoa học và kỹ thuật, 2000 | Khác | |||
| [2]. Tạp chí Vật lí & tuổi trẻ, Hội Vật Lí Việt Nam, số 52 năm 2007, số 54 năm 2008 | Khác |
TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TÀI LIỆU CÙNG NGƯỜI DÙNG
TÀI LIỆU LIÊN QUAN