1. Trang chủ
  2. » Luận Văn - Báo Cáo

Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học

71 1K 1

Đang tải... (xem toàn văn)

Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống

THÔNG TIN TÀI LIỆU

Thông tin cơ bản

Định dạng
Số trang 71
Dung lượng 32,17 MB

Nội dung

Ngày đăng: 18/03/2015, 15:04

Nguồn tham khảo

Tài liệu tham khảo Loại Chi tiết
[1] A. J. M o u ls o n a n d J. M. H erbert, F erroelectric C e ra m ic s : P rocessing, properties and A p p lica tio n s , C hapm an a n d H all, London, (1990) Sách, tạp chí
Tiêu đề: C hapm an a n d H all, London
[2] M a tth e w J. D i c k e n , et al., Jo u rn a l o f Crystal G row th, Vol. 300, Iss. 2, 330-335, (2007) Sách, tạp chí
Tiêu đề: al., Jo u rn a l o f Crystal G row th
[3] D J . T a y lo r, H a n d b o o k o f thin film devices: F erroelectric film d evices, A cadem ic Press, San D iego, V ol. 5, (2000) Sách, tạp chí
Tiêu đề: A cadem ic Press, San D iego
[4] M . c . C h e u n g v à c ộ n g sự, N anostructured M a teria ls, Vol. 11, Iss. 7, 8 37-844, (1999) Sách, tạp chí
Tiêu đề: N anostructured M a teria ls
[5] S .G u ille m e t- F rits c h và c ộ n g sự, J. Eur. Ceram ic Society, V ol. 25, 2 7 4 9 - 2 7 5 3 , (2005) Sách, tạp chí
Tiêu đề: J. Eur. Ceram ic Society
[7] W u M in g m e i v à c ộ n g sự , Am. Ceram. Soc. 82 (1 1 ), 3 2 5 4 - 3 2 5 6 , (1999) Sách, tạp chí
Tiêu đề: Am. Ceram. Soc
[8] M ic h a e l z . -C. H u và c ộ n g sự, P ow der Technology, Vol. 110, Iss. 1-2, 2-14, (2000) Sách, tạp chí
Tiêu đề: P ow der Technology
[9] N g u y ễ n X u â n H o à n , Tạp chí Phăn tích Hóa, L ý và Sinh h ọ c , T .12, sô 1, 16-20, (2007) Sách, tạp chí
Tiêu đề: Tạp chí Phăn tích Hóa, L ý và Sinh h ọ c
[10] W a n g J o h n v à c ộ n g sự, J. Am . Ceram. Soc. Vol. 82 (4), 8 7 3 -8 8 1 , (1999) Sách, tạp chí
Tiêu đề: J. Am . Ceram. Soc

HÌNH ẢNH LIÊN QUAN

Hình  1-2.  Sự phụ  thuộc  của độ thẩm  điện môi  vào  nhiệt độ của đơn  tinh thể B aTi 0 3  theo các trục ữ v à c   [3,35]. - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
nh 1-2. Sự phụ thuộc của độ thẩm điện môi vào nhiệt độ của đơn tinh thể B aTi 0 3 theo các trục ữ v à c [3,35] (Trang 11)
Bảng  1-1.  Các dạng tồn tại cấu trúc của B a T i0 3   [3,36,37]. - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
ng 1-1. Các dạng tồn tại cấu trúc của B a T i0 3 [3,36,37] (Trang 12)
Hình 4-1.  Ảnh chụp SE M  (di),  T E M (b) và giản  đồ  nhiễu xạ tia X (c) Một  mẫu bột  Ba[Ti 0 (C 204 ) 2 ].xH 20 . - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
Hình 4 1. Ảnh chụp SE M (di), T E M (b) và giản đồ nhiễu xạ tia X (c) Một mẫu bột Ba[Ti 0 (C 204 ) 2 ].xH 20 (Trang 19)
Hình 4-2 giới thiệu kết quả phép phân tích nhiệt sản  phẩm  BTO  trong  khí  quyển  không  khí  với  hàm  lượng  Ba/Ti  ban  đầu  bằng  1.04 - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
Hình 4 2 giới thiệu kết quả phép phân tích nhiệt sản phẩm BTO trong khí quyển không khí với hàm lượng Ba/Ti ban đầu bằng 1.04 (Trang 20)
Hình 4-3. N ghiên cứu sự phân hủy nhiệt BTO bằng nhiễu xạ tia X. - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
Hình 4 3. N ghiên cứu sự phân hủy nhiệt BTO bằng nhiễu xạ tia X (Trang 21)
Hình 4-4.  Giản đồ nhiễu xạ tia X,  ảnh chụp  SEM (b)  của B a T i0 3   (T =  850°C) - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
Hình 4 4. Giản đồ nhiễu xạ tia X, ảnh chụp SEM (b) của B a T i0 3 (T = 850°C) (Trang 23)
Hình 4-5.  Giản đồ nhiễu xạ tiaX của B a T i0 3   (T =  950°C) và ảnh chụp  TEM (b). - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
Hình 4 5. Giản đồ nhiễu xạ tiaX của B a T i0 3 (T = 950°C) và ảnh chụp TEM (b) (Trang 24)
Hình  4-6  giới  thiệu  giản  đồ  nhiễu  xạ  tia  X  của  các  mẫu  B aT i0 3   điều  chế  trong 3  giờ,  7 giờ và 20 giờ ở  150°c  với  tỷ lệ ban đầu Ba/Ti  =  1. - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
nh 4-6 giới thiệu giản đồ nhiễu xạ tia X của các mẫu B aT i0 3 điều chế trong 3 giờ, 7 giờ và 20 giờ ở 150°c với tỷ lệ ban đầu Ba/Ti = 1 (Trang 25)
Bảng 4-1. Ả nh hưởng của tỷ lệ Ba/Ti ban đầu và thời  gian phản ứng  lên sự hình thành sản phẩm B a T i0 3. - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
Bảng 4 1. Ả nh hưởng của tỷ lệ Ba/Ti ban đầu và thời gian phản ứng lên sự hình thành sản phẩm B a T i0 3 (Trang 26)
Hình 4-7.  Ảnh  chụp  TEM  của sản  phẩm thủy nhiệt mẫu  B a T i0 3   với  ty  lệ  đầu  Ba/Ti =  1, thời  gian phản ứng  7  giờ,  nhiệt độ  150°c. - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
Hình 4 7. Ảnh chụp TEM của sản phẩm thủy nhiệt mẫu B a T i0 3 với ty lệ đầu Ba/Ti = 1, thời gian phản ứng 7 giờ, nhiệt độ 150°c (Trang 27)
Hình 4-8.  Ả nh hưởng của quá trình xử lý  sản phẩm  thủy nhiệt  với  axit HC1  đến  cẩu trúc B a T i0 3 : - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
Hình 4 8. Ả nh hưởng của quá trình xử lý sản phẩm thủy nhiệt với axit HC1 đến cẩu trúc B a T i0 3 : (Trang 28)
Hình  4-9.  Ảnh  SEM và TEM  của một mẫu  bột  BaTiƠ 3 . - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
nh 4-9. Ảnh SEM và TEM của một mẫu bột BaTiƠ 3 (Trang 29)
Hình 4-10.  Phân tích phổ  hồng ngoại và phân  tích nhiệt vi  sai  mẫu  B aT i0 3. - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
Hình 4 10. Phân tích phổ hồng ngoại và phân tích nhiệt vi sai mẫu B aT i0 3 (Trang 30)
Bảng 4-3.  Cấu trúc tinh thể cho B a T i0 3   thu  được từ phân tích  cấu trúc Rietveld  cho các giản đồ nhiễu xạ tia X ( R wp/R e =   1.78). - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
Bảng 4 3. Cấu trúc tinh thể cho B a T i0 3 thu được từ phân tích cấu trúc Rietveld cho các giản đồ nhiễu xạ tia X ( R wp/R e = 1.78) (Trang 32)
Hình 4-11.  Giản đồ nhiễu xạ tia X th ự c nghiệm  (hình trên)  và giản đồ phân tích  cấu trúc (hình dưới) của B aT i03  (Rwp/Rex =   1.78). - Tổng hợp BaTiO3 với cỡ hạt và cấu trúc xác định bằng phương pháp hóa học
Hình 4 11. Giản đồ nhiễu xạ tia X th ự c nghiệm (hình trên) và giản đồ phân tích cấu trúc (hình dưới) của B aT i03 (Rwp/Rex = 1.78) (Trang 33)

TRÍCH ĐOẠN

TÀI LIỆU CÙNG NGƯỜI DÙNG

TÀI LIỆU LIÊN QUAN

w