1. Trang chủ
  2. » Luận Văn - Báo Cáo

đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x

86 484 1

Đang tải... (xem toàn văn)

Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống

THÔNG TIN TÀI LIỆU

Thông tin cơ bản

Định dạng
Số trang 86
Dung lượng 4,58 MB

Nội dung

ĐẠI HỌC QUỐC GIA THÀNH PHỐ HỒ CHÍ MINH TRƯỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN PHAN TRỌNG PHÚC ĐÁNH GIÁ ỨNG SUẤT TỒN DƯ TRONG KIM LOẠI ĐỒNG BẰNG PHÂN TÍCH ĐỈNH NHIỄU XẠ TIA X Chuyên ngành : Vật lý Hạt nhân, Nguyên tử và Năng lượng cao Mã số: 60 44 05 LUẬN VĂN THẠC SĨ VẬT LÝ NGƯỜI HƯỚNG DẪN KHOA HỌC: TS. NGUYỄN ĐỨC THÀNH Thành phố Hồ Chí Minh -2010 Luận văn Thạc sĩ CBHD: TS. Nguyễn Đức Thành Phan Trọng Phúc LỜI CẢM ƠN Trước hết tôi xin gửi lời cảm ơn chân thành đến người thầy hướng dẫn và cũng là người thủ trưởng đơn vị nơi tôi đang công tác, Tiến sĩ Nguyễn Đức Thành. Trong thời gian làm luận văn thạc sĩ, thầy Thành chính là người dẫn dắt con đường khoa học, khơi nguồn sự sáng tạo cho tôi, hình thành trong tôi một thói quen nghiên cứu khoa học một cách nghiêm túc. Cũng xin cảm ơn phòng Vật lý thuộ c Trung tâm Hạt nhân Thành phố Hồ Chí Minh và anh Lưu Anh Tuyên đã giúp đỡ tôi rất nhiều trong quá trình thực hiện luận văn trên hệ thiết bị nhiễu xạ tia X hiện đại X’pert Pro. Và cuối cùng xin cảm ơn gia đình và bạn bè, những người luôn bên cạnh tạo điều kiện để tôi có thể hoàn thành luận văn thạc sĩ. Luận văn Thạc sĩ CBHD: TS. Nguyễn Đức Thành Phan Trọng Phúc MỤC LỤC Trang LỜI CẢM ƠN MỤC LỤC CÁC TỪ VIẾT TẮT DANH SÁCH HÌNH VẼ VÀ ĐỒ THỊ DANH SÁCH CÁC BIỂU BẢNG MỞ ĐẦU 1 1. Mục đích đề tài 1 2. Đối tượng và phạm vi nghiên cứu 1 3. Ý nghĩa khoa học thực tiễn 1 Chương 1. CẤU TRÚC MẠNG TINH THỂ CỦA VẬT RẮN 2 1.1.Khái niệm mạng tinh thể 2 1.1.1. Mạng tinh thể là gì 2 1.1.2. Ô cơ sở, chỉ số phương, chỉ s ố Miller của mặt tinh thể 3 1.2. Mạng đảo 5 1.2.1. Khái niệm mạng đảo 5 1.2.2. Tính chất và ý nghĩa mạng đảo 6 1.3. Cấu trúc tinh thể điển hình của kim loại 7 1.3.1. Mạng lập phương tâm khối 7 Luận văn Thạc sĩ CBHD: TS. Nguyễn Đức Thành Phan Trọng Phúc 1.3.2. Mạng lập phương tâm mặt 8 1.3.3. Mạng lục giác xếp chặt 8 Chương 2. CƠ SỞ LÝ THUYẾT MỎI 10 2.1. Hiện tượng mỏi của kim loại 10 2.1.1. Hiện tượng mỏi 10 2.1.2. Giới hạn mỏi 11 2.1.3. Đường cong mỏi 11 2.2. Những yếu tố ảnh hưởng tới độ bền mỏi 12 2.2.1. Ảnh hưởng của bản chất vật liệu và xử lý nhiệt 12 2.2.2. Ả nh hưởng của chế độ tải trọng 14 2.2.3. Ảnh hưởng của môi trường 15 2.2.4. Ảnh hưởng của hiện tượng Fretting 15 2.3. Cơ chế lan truyền vết nứt mỏi 16 2.3.1. Các pha trên đường cong mỏi Wohler 16 2.3.2. Nghiên cứu bề mặt phá hủy mỏi của các chi tiết máy thực tế 16 2.3.3. Giải thích cơ chế của sự phá hủy mỏi 17 2.3.4. Các phương trình lan truyền vết nứt mỏi 18 2.3.5. Điề u kiện ngừng lan truyền vết nứt mỏi 19 Chương 3. PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ TIA X 21 3.1. Tia X và sự phát sinh tia X 21 Luận văn Thạc sĩ CBHD: TS. Nguyễn Đức Thành Phan Trọng Phúc 3.2. Tính chất của tia X và sự tương tác của tia X lên vật chất 24 3.3. Nhiễu xạ của tia X trên tinh thể 25 3.3.1. Hiện tượng nhiễu xạ tia X trên tinh thể 25 3.3.2. Phương trình Bragg 26 3.4. Các phương pháp ghi phổ nhiễu xạ tia X 27 3.4.1. Ghi phổ nhiễu xạ bằng phim ảnh 27 3.4.2. Ghi phổ nhiễu xạ bằng ống đếm tia X 29 3.5. Phép phân tích phổ nhiễu xạ tia X 31 3.5.1. Xác định cấu trúc mạng tinh thể 31 3.5.2. Xác định sai hỏng mỏi ở mẫu kh ảo sát 32 3.5.3. Xác định ứng suất bằng mô hình ứng suất phẳng, phương pháp sin 2 (ψ) 35 Chương 4. THIẾT BỊ NHIỄU XẠ TIA X, CHUẨN BỊ MẪU, ĐO ĐẠC MẪU VÀ PHÂN TÍCH PHỔ NHIỄU XẠ 41 4.1.Thiết bị nhiễu xạ tia X X’Pert Pro 41 4.2.Chuẩn bị mẫu, đo đạc mẫu 45 4.2.1. Chuẩn bị mẫu 45 4.2.2. Xử lý mẫu 47 4.2.3.Đo mẫu trên hệ máy nhiễu xạ X’Pert Pro 48 4.3.Phân tích phổ nhiễu xạ 50 4.3.1.Phương pháp giải chập Stokes bằng phân tích Fourier 50 4.3.2.Kỹ thuật làm khớp ph ổ 55 Luận văn Thạc sĩ CBHD: TS. Nguyễn Đức Thành Phan Trọng Phúc Chương 5. KẾT QUẢ VÀ THẢO LUẬN 59 KẾT LUẬN VÀ KIẾN NGHỊ 66 TÀI LIỆU THAM KHẢO 67 PHỤ LỤC 70 Luận văn Thạc sĩ CBHD: TS. Nguyễn Đức Thành CÁC TỪ VIẾT TẮT Từ viết tắt Nghĩa của từ Å Angstrom: đơn vị đo bước sóng CT3 Ký hiệu mẫu thép cacbon Kg Kilôgram mm milimet Hz Hertz (đơn vị tần số) Gaussian Hàm phân bố Gauss Lorentzian Hàm phân bố Lorentz p-Voigt Hàm phân bố Pseudo-Voigt Pearson VII Hàm phân bố Pearson 7 FWHM ( Full Width at hafl Maximum): Độ rộng một nửa đỉnh phổ DC Đối chứng TKV Than Khoáng sản Việt Nam cts Counts: số đếm TP Thành phố NXB Nhà xuất bản ID Identification: nhận dạng UV – vis Ultra Violet vision: vùng tia cực tím Sample Mẫu Fit Làm khớp, làm cho thích hợp Phan Trọng Phúc Luận văn Thạc sĩ CBHD: TS. Nguyễn Đức Thành Phan Trọng Phúc DANH MỤC HÌNH VẼ VÀ ĐỒ THỊ Thứ tự Chỉ số hình Nội dung Trang 1 1.1 Mạng tinh thể của muối ăn 2 2 1.2 Các bậc đối xứng của mạng tinh thể 3 3 1.3 Ô cơ sở, chỉ số phương, chỉ số Miller của tinh thể 4 4 1.4 Ô cơ sở lập phương tâm khối và lỗ hổng 8 5 1.5 Ô cơ sở lập phương tâm mặt và lỗ hổng 8 6 1.6 Ô cơ sở của mạng lục giác xếp chặt và cách xếp các mặt tinh thể {0001} 9 7 2.1 Sự tích lũy phá hủy mỏi ở kim loại 10 8 2.2 Đường cong mỏi hay đường cong Wohler 11 9 2.3 Các pha trên đường cong mỏi Wohler 16 10 2.4 Những giai đoạn lan truyền vết nứt mỏi 17 11 2.5 Đường lan truyền vết nứt mỏi 18 12 3.1 Sơ đồ nguyên lý ống phát tia X 21 13 3.2 Sơ đồ dịch chuyển của các electron từ các mức năng lượng 22 14 3.3 Sơ đồ phổ tia X đặc trưng (anôt là Mo) ở thế 35 kV 23 15 3.4 Vật liệu hấp thụ tia X và đường hấp thụ tia X 23 16 3.5 Sơ đồ tương tác giữa mộ t lượng tử tia X với một điện tử tự do 25 17 3.6 Nhiễu xạ của tia X trên tinh thể 25 18 3.7 Đường đi của tia X trong tinh thể 26 19 3.8 Hình ảnh nhiễu xạ tia X của tinh thể CuSO 4 trên phim 28 20 3.9 Cấu tạo của ống đếm ion 29 Luận văn Thạc sĩ CBHD: TS. Nguyễn Đức Thành Phan Trọng Phúc 21 3.10 Sơ đồ nguyên lý hoạt động của ống đếm nhấp nháy 30 22 3.11 Nguyên lý phương pháp nhiễu xạ bột 31 23 3.12 Mối tương quan giữa phân bố Gaussian và phân bố Lorentzian trong phổ nhiễu xạ tia X 33 24 3.13 Nguyên lý đo ứng suất bằng nhiễu xạ tia X 36 25 3.14 Mô hình ứng suất phẳng đàn hồi. 38 26 4.1 Cấu tạo ống phát tia X 41 27 4.2 Ống phát tia X 42 28 4.3 Hệ giác kế của máy nhiễu xạ tia X X’Pert Pro. 42 29 4.4 Detector tỉ lệ 43 30 4.5 Hệ thống thu nhận 44 31 4.6 Hệ máy nhiễu xạ tia X X’Pert Pro. 44 32 4.7 Hình dạng và kích thước của các mẫu đồng và thép trước khi tạo mỏi 45 33 4.8 Tổ chức tế vi của thép CT3. 46 34 4.9 Quy trình tạo mỏi trên mẫu thép CT3 46 35 4.10 Máy thử mỏi Instron 8801 47 36 4.11 Phổ nhiễu xạ tiêu biểu (của thép CT3) 49 37 4.12 Đỉnh phổ g(x) 52 38 4.13 Đỉnh phổ h(x) 52 39 4.14 Đỉnh phổ f(x) 53 40 4.15 Phổ h(x) đường màu xanh, f(x) đường màu đỏ 53 41 4.16 So sánh phổ h(x) và hàm chập ∑ − )()( yxgyf 54 42 4.17 Đỉnh phổ g(x) tại 2θ = 90 0 của mẫu đồng chuẩn 55 43 4.18 So sánh giữa làm khớp Gaussian (đường màu đỏ), Lorentzian(đường màu xanh) và pseudo-Voigt (đường màu đen) 56 Luận văn Thạc sĩ CBHD: TS. Nguyễn Đức Thành Phan Trọng Phúc 44 4.19 Mẫu cu-5: Phổ f(x) màu đỏ so với phổ gốc h(x) màu xanh 57 45 4.20 Mẫu cu-5: Làm khớp phổ f(x) 57 46 5.1 Đồ thị hệ số biến dạng tế theo góc 2θ=90 o thu được khi xử lý phổ bằng phương pháp giải chập Stokes và fit pseudo- Voigt 60 47 5.2 So sánh độ biến dạng tế vi theo hai phương pháp tại góc 2θ=90 o 60 48 5.3 Biến thiên thông số FWHM thu được từ fit phổ f(x) và h(x) tại góc 2θ=90 0 61 49 5.4 Sự không khớp khi fit hàm Lorentz và p-Voigt cho phổ h(x) mẫu Cu-2 62 50 5.5 So sánh độ biến dạng tế vi theo hai phương pháp tại góc 2θ=74 o 63 51 5.6 Biến thiên thông số FWHM thu được từ fit phổ f(x) và h(x) tại góc 2θ=74 0 64 52 5.7 Dịch chuyển đỉnh phổ tương ứng theo chu kì kéo mỏi tại góc 2θ = 45 o 65 53 5.8 Độ dịch chuyển đỉnh phổ tương ứng theo chu kì kéo mỏi tại góc 2θ = 83 o 65 [...]... được ứng dụng để nghiên cứu khảo sát độ bền kim loại Trong số đó phương pháp nhiễu x tia X đóng vai trò quan trọng Phương pháp phân tích cấu trúc kim loại bằng cách phân tích các phổ nhiễu x tia X trên tinh thể kim loại để khảo sát sự sắp x p các nguyên tử trong tinh thể, nghiên cứu giản đồ trạng thái của các hợp kim, x c định ứng suất tồn dư, nghiên cứu những sai hỏng trong cấu trúc tinh thể kim loại ... 2.9 8 Nhôm 0.5 9 Đồng 1.3 10 Brass 60/40 1.5 11 Titan 1.1 12 Niken 2.9 Những nghiên cứu về mỏi của vật liệu và kim loại thép cacbon nói riêng được thực hiện trên các phương pháp khác nhau Phương pháp sử dụng tia X để khảo sát mỏi của kim loại bằng cách chiếu bức x tia X lên mẫu kim loại, ta ghi nhận phổ nhiễu x Từ đó, ta phân tích đường phổ nhiễu x và đánh giá sự phá hủy mỏi của kim loại Phan Trọng... của tia X giảm đi một nửa: ∆= ln 2 (3.3) µ Tán x , tức là sự thay đổi phương truyền tia X Khi chiếu tia X vào mẫu, các tia X gây ra sự giao động cưỡng bức của các điện tử trong nguyên tử vật tán x , những điện tử đó trở thành các tâm phát tia tán x thứ cấp có cùng bước sóng với tia sơ cấp ban đầu Trường hợp tia X có bước sóng ngắn (λ < 0.3 Å) thì xuất hiện sự tán x không kết hợp Các lượng tử tia X. .. pháp nhiễu x tia X đánh giá sai hỏng mỏi ở giai đoạn sớm của kim loại là một việc làm mới, khó khăn, đòi hỏi các kỹ thuật phức tạp, các thiết bị phân tích hiện đại Nó mang lại những hiểu biết cần thiết về những sai hỏng mỏi ảnh hưởng đến độ bền và các tính năng khác của kim loại 1 Mục đích của đề tài Sử dụng phương pháp nhiễu x tia X để khảo sát ứng suất tồn dư (thông qua độ sai hỏng) của mẫu đồng. .. vài angstrom, tức vào khoảng bước sóng của tia X Khi chiếu một chùm tia X vào bề mặt tinh thể và đi vào bên trong tinh thể thì mạng tinh thể đóng vai trò như một cách tử nhiễu x đặc biệt Khi đó, tập hợp các tia phản x từ các họ mặt nguyên tử song song trong tinh thể đảm bảo giao thoa tăng cường tạo nên phổ nhiễu x tia X [12] Hình 3.6: Nhiễu x của tia X trên tinh thể Phan Trọng Phúc Trang 25 Luận... Kβ và cho ra chùm tia X đơn sắc Hình 3.4:Vật liệu hấp thụ tia X (a) và đường hấp thụ tia X (b) Phan Trọng Phúc Trang 23 Luận văn Thạc sĩ CBHD: TS Nguyễn Đức Thành 3.2 Tính chất của tia X và sự tương tác của tia X lên vật chất Tia X có bước sóng ngắn nên khả năng xuyên thấu lớn Độ xuyên sâu của tia X phụ thuộc bản chất vật liệu mà tia X chiếu vào Đối với một chất, độ xuyên sâu tia X phụ thuộc vào bề... thiết kế thiết bị nhiễu x tia X khác để nghiên cứu bản chất tia X Ông cho chiếu một chùm tia X vào một mẫu khoáng và nhận thấy rằng, khi góc tia tới thay đổi thì góc nhiễu x cũng thay đổi Các nghiên cứu tiếp theo trên các tinh thể NaCl, KCl, ZnS, CaCO3,… cho thấy sự nhiễu x chỉ x y ra ứng với một số hướng nhất định của tia tới so với mặt tinh thể, bước sóng của tia tới cũng phải có giá trị vào khoảng... nhằm đánh giá sự mỏi sớm và độ bền cơ học của kim loại đó 2 Đối tượng và phạm vi nghiên cứu Đề tài nghiên cứu chủ yếu trên mẫu kim loại đồng và thép cacbon CT3 Phạm vi là nghiên cứu đánh giá ứng suất tồn dư trong mẫu kim loại kéo mỏi 3 Ý nghĩa khoa học thực tiễn Khảo sát hiện tượng mỏi của vật liệu nói chung và kim loại nói riêng có ý nghĩa hết sức to lớn trong công nghệ chế tạo, giúp ta hiểu biết về ứng. .. 3 PHƯƠNG PHÁP NHIỄU X TIA X TRÊN TINH THỂ 3.1 Tia X và sự phát sinh tia X Tia X là bức x điện từ được nhà vật lý học người Đức Wilhelm Conrad Röntgen (Trường Đại học tổng hợp Wurzburg – Đức) phát hiện ra vào năm 1895 Hình 3.1: Sơ đồ nguyên lý ống phát tia X - Ống phát tia X thường là bóng thủy tinh hay thạch anh có độ chân không cao Trong bóng có catôt làm bằng sợi wolfram hay bạch kim, khi đốt nóng... giác x p chặt (a, b, c) và cách x p các mặt tinh thể {0 0 0 1} (d).[2] Trong thực tế, các nguyên tử không hoàn toàn nằm đúng ở các vị trí gây nên sự sai lệch mạng trong tinh thể làm ảnh hưởng lớn đến cơ tính của kim loại Từ cấu trúc tinh thể của kim loại, ta có thể sử dụng các tia bức x xuyên vào bên trong kim loại Dựa trên hình ảnh nhiễu x thu nhận được, ta có thể khảo sát những thuộc tính của kim . pháp nhiễu x bột 31 23 3.12 Mối tương quan giữa phân bố Gaussian và phân bố Lorentzian trong phổ nhiễu x tia X 33 24 3.13 Nguyên lý đo ứng suất bằng nhiễu x tia X 36 25 3.14 Mô hình ứng suất. Nhiễu x của tia X trên tinh thể 25 3.3.1. Hiện tượng nhiễu x tia X trên tinh thể 25 3.3.2. Phương trình Bragg 26 3.4. Các phương pháp ghi phổ nhiễu x tia X 27 3.4.1. Ghi phổ nhiễu x bằng. ứng suất bằng mô hình ứng suất phẳng, phương pháp sin 2 (ψ) 35 Chương 4. THIẾT BỊ NHIỄU X TIA X, CHUẨN BỊ MẪU, ĐO ĐẠC MẪU VÀ PHÂN TÍCH PHỔ NHIỄU X 41 4.1.Thiết bị nhiễu x tia X X’Pert Pro

Ngày đăng: 03/10/2014, 22:50

Nguồn tham khảo

Tài liệu tham khảo Loại Chi tiết
[1]. Nguyễn Ngọc Long (2007), Vật lý chất rắn - Cấu trúc và các tính chất của vật rắn, NXB Đại học quốc gia Hà Nội Sách, tạp chí
Tiêu đề: Vật lý chất rắn - Cấu trúc và các tính chất của vật rắn
Tác giả: Nguyễn Ngọc Long
Nhà XB: NXB Đại học quốc gia Hà Nội
Năm: 2007
[2]. Lê Công Dưỡng (1997), Vật liệu học, NXB Khoa học và kỹ thuật, Hà Nội Sách, tạp chí
Tiêu đề: Vật liệu học
Tác giả: Lê Công Dưỡng
Nhà XB: NXB Khoa học và kỹ thuật
Năm: 1997
[3]. Ngô Văn Quyết (2000), Cơ sở lý thuyết mỏi, NXB Giáo dục, Hà Nội Sách, tạp chí
Tiêu đề: Cơ sở lý thuyết mỏi
Tác giả: Ngô Văn Quyết
Nhà XB: NXB Giáo dục
Năm: 2000
[4]. Lê Công Dưỡng (1974), Kỹ thuật phân tích cấu trúc bằng tia Rontgen, NXB Khoa học và kỹ thuật, Hà Nội Sách, tạp chí
Tiêu đề: Kỹ thuật phân tích cấu trúc bằng tia Rontgen
Tác giả: Lê Công Dưỡng
Nhà XB: NXB Khoa học và kỹ thuật
Năm: 1974
[5]. Phan Lương Cầm – W.A. Schultze (1985), Ăn mòn và bảo vệ kim loại, Trường Đại học quốc gia Hà Nội Sách, tạp chí
Tiêu đề: Ăn mòn và bảo vệ kim loại
Tác giả: Phan Lương Cầm – W.A. Schultze
Năm: 1985
[6]. A.A. Ruxacov – Nguyễn Xuân Chánh (1983), Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia Rơngen, NXB Đại học và Trung học chuyên nghiệp Sách, tạp chí
Tiêu đề: Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia Rơngen
Tác giả: A.A. Ruxacov – Nguyễn Xuân Chánh
Nhà XB: NXB Đại học và Trung học chuyên nghiệp
Năm: 1983
[7]. Phạm Ngọc Phúc – Ngô Văn Quyết (1999), “Tính toán độ bền mỏi chi tiết máy có kể tới xác suất phá hủy”, Tuyển tập công trình khoa học Hội nghị Cơ học vật rắn biến dạng toàn quốc lần thứ VI, Hà Nội Sách, tạp chí
Tiêu đề: Tính toán độ bền mỏi chi tiết máy có kể tới xác suất phá hủy”
Tác giả: Phạm Ngọc Phúc – Ngô Văn Quyết
Năm: 1999
[8]. Phan Văn Khôi (1997), Tuổi thọ mỏi của kết cấu thép ngoài biển, NXB Khoa học kỹ thuật Hà Nội Sách, tạp chí
Tiêu đề: Tuổi thọ mỏi của kết cấu thép ngoài biển
Tác giả: Phan Văn Khôi
Nhà XB: NXB Khoa học kỹ thuật Hà Nội
Năm: 1997
[9]. Nghiêm Hùng (1979), Kim loại học và nhiệt luyện, NXB Đại học và Trung học chuyên nghiệp Sách, tạp chí
Tiêu đề: Kim loại học và nhiệt luyện
Tác giả: Nghiêm Hùng
Nhà XB: NXB Đại học và Trung học chuyên nghiệp
Năm: 1979
[10]. Nghiêm Hùng (1997), Sách tra cứu thép gang thông dụng, Trường Đại học quốc gia Hà Nội Sách, tạp chí
Tiêu đề: Sách tra cứu thép gang thông dụng
Tác giả: Nghiêm Hùng
Năm: 1997
[11]. Tống Đình Quỳ (1999), Giáo trình xác suất thống kê, NXB Giáo dục, Hà Nội Sách, tạp chí
Tiêu đề: Giáo trình xác suất thống kê
Tác giả: Tống Đình Quỳ
Nhà XB: NXB Giáo dục
Năm: 1999
[12]. Vũ Đình Cự (1997), Vật lý chất rắn, NXB Khoa học và kỹ thuật, Hà Nội Sách, tạp chí
Tiêu đề: Vật lý chất rắn
Tác giả: Vũ Đình Cự
Nhà XB: NXB Khoa học và kỹ thuật
Năm: 1997
[13]. R.W. Cahn – Nguyễn Xuân Chánh – Vũ Đình Cự (1975), Kim loại học vật lý, NXB Khoa học và kỹ thuật Sách, tạp chí
Tiêu đề: Kim loại học vật lý
Tác giả: R.W. Cahn – Nguyễn Xuân Chánh – Vũ Đình Cự
Nhà XB: NXB Khoa học và kỹ thuật
Năm: 1975
[14]. Nguyễn Hoàng Nghị (2003), Các phương pháp thực nghiệm phân tích cấu trúc, NXB Giáo dục Sách, tạp chí
Tiêu đề: Các phương pháp thực nghiệm phân tích cấu trúc
Tác giả: Nguyễn Hoàng Nghị
Nhà XB: NXB Giáo dục
Năm: 2003
[15]. Đào Trần Cao (2004), Cơ sở vật lý chất rắn, NXB Đại học Quốc gia Hà Nội Sách, tạp chí
Tiêu đề: Cơ sở vật lý chất rắn
Tác giả: Đào Trần Cao
Nhà XB: NXB Đại học Quốc gia Hà Nội
Năm: 2004
[16]. Phạm Văn Chương (2009), Phương pháp nhiễu xạ tia x đánh giá sai hỏng mỏi ở giai đoạn sớm của kim loại, Luận văn thạc sĩ, Đại học Cần Thơ.2. Tiếng Anh Sách, tạp chí
Tiêu đề: Phương pháp nhiễu xạ tia x đánh giá sai hỏng mỏi ở giai đoạn sớm của kim loại
Tác giả: Phạm Văn Chương
Năm: 2009
[17]. Sam Y. Zamrik and Robert N. Pangborn (1988), “Fatigue damage assessment using X-ray diffraction and life prediction methodology”, Nuclear Engineering and Design, North-Holland, Amsterdam Sách, tạp chí
Tiêu đề: Fatigue damage assessment using X-ray diffraction and life prediction methodology”
Tác giả: Sam Y. Zamrik and Robert N. Pangborn
Năm: 1988
[18]. P. Scherrer, “Bestimmung der Grửsse und der inneren Struktur von Kolloidteilchen mittels Rửntgenstrahlen,” Nachr. Ges. Wiss. Gửttingen, 26 (1918) pp 98-100 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Bestimmung der Grửsse und der inneren Struktur von Kolloidteilchen mittels Rửntgenstrahlen
[19]. Paul S. Prevey (1986), “The use of Pearson VII distribution functions in X-ray diffraction residual stress measurement”, Lambda Research, Massachusetts Sách, tạp chí
Tiêu đề: “The use of Pearson VII distribution functions in X-ray diffraction residual stress measurement”
Tác giả: Paul S. Prevey
Năm: 1986
[20]. Antonella Guagliardi (2008), “Powder diffraction pattern: Ogirin of line Broadening and Peak shape functions”, Paul Scherrer Institute, Italy Sách, tạp chí
Tiêu đề: “Powder diffraction pattern: Ogirin of line Broadening and Peak shape functions”
Tác giả: Antonella Guagliardi
Năm: 2008

HÌNH ẢNH LIÊN QUAN

Hình 1.5: Ô cơ sở mạng lập phương tâm mặt (a, b) và các lỗ hổng (c). - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 1.5 Ô cơ sở mạng lập phương tâm mặt (a, b) và các lỗ hổng (c) (Trang 18)
Hình 2.1: Sự tích lũy phá hủy mỏi ở kim loại. [24] - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 2.1 Sự tích lũy phá hủy mỏi ở kim loại. [24] (Trang 20)
Hỡnh 2.2: Đường cong mỏi hay đường cong Wửhler. - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
nh 2.2: Đường cong mỏi hay đường cong Wửhler (Trang 21)
Hình 2.5: Đường lan truyền vết nứt mỏi.[23] - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 2.5 Đường lan truyền vết nứt mỏi.[23] (Trang 28)
Hình 3.1: Sơ đồ nguyên lý ống phát tia X. - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 3.1 Sơ đồ nguyên lý ống phát tia X (Trang 31)
Hình 3.2: Sơ đồ dịch chuyển của các electron từ các mức năng lượng. - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 3.2 Sơ đồ dịch chuyển của các electron từ các mức năng lượng (Trang 32)
Hình 3.3: Sơ đồ phổ tia X đặc trưng (anôt là Mo) ở thế 35 kV. - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 3.3 Sơ đồ phổ tia X đặc trưng (anôt là Mo) ở thế 35 kV (Trang 33)
Hình 3.4:Vật liệu hấp thụ tia X (a) và đường hấp thụ tia X (b). - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 3.4 Vật liệu hấp thụ tia X (a) và đường hấp thụ tia X (b) (Trang 33)
Hình 3.7: Đường đi của tia X trong tinh thể. - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 3.7 Đường đi của tia X trong tinh thể (Trang 36)
Hình 3.9: Cấu tạo của ống đếm ion. - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 3.9 Cấu tạo của ống đếm ion (Trang 39)
Hình 3.10: Sơ đồ nguyên lý hoạt động của ống đếm nhấp nháy. - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 3.10 Sơ đồ nguyên lý hoạt động của ống đếm nhấp nháy (Trang 40)
Hình 3.14: Mô hình ứng suất phẳng đàn hồi . - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 3.14 Mô hình ứng suất phẳng đàn hồi (Trang 48)
Hình 4.1: Cấu tạo ống phát tia X - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.1 Cấu tạo ống phát tia X (Trang 51)
Hình 4.2: Ống phát tia X - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.2 Ống phát tia X (Trang 52)
Hình 4.4: Detector tỉ lệ - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.4 Detector tỉ lệ (Trang 53)
Hình 4.5: Hệ thống thu nhận - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.5 Hệ thống thu nhận (Trang 54)
Hình 4.7: Hình dạng và kích thước của các mẫu đồng và thép trước khi tạo mỏi - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.7 Hình dạng và kích thước của các mẫu đồng và thép trước khi tạo mỏi (Trang 55)
Bảng 4.1 : Số liệu thông số biến dạng  Mẫu Lực kéo - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Bảng 4.1 Số liệu thông số biến dạng Mẫu Lực kéo (Trang 58)
Hình 4.12: Đỉnh phổ g(x) - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.12 Đỉnh phổ g(x) (Trang 62)
Hình 4.15: Phổ  h(x) đường màu xanh, f(x) đường màu đỏ. - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.15 Phổ h(x) đường màu xanh, f(x) đường màu đỏ (Trang 63)
Hình 4.14:  Đỉnh phổ  f(x) - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.14 Đỉnh phổ f(x) (Trang 63)
Hình 4.16: So sánh phổ h(x) và hàm chập  ∑ f ( y ) g ( x − y ) - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.16 So sánh phổ h(x) và hàm chập ∑ f ( y ) g ( x − y ) (Trang 64)
Hình 4.17: Đỉnh phổ g(x) tại 2 θ  = 90 0  của mẫu đồng chuẩn - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.17 Đỉnh phổ g(x) tại 2 θ = 90 0 của mẫu đồng chuẩn (Trang 65)
Hình 4.20: Mẫu cu-5: Làm khớp phổ f(x) - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.20 Mẫu cu-5: Làm khớp phổ f(x) (Trang 67)
Hình 4.19: Mẫu cu-5: Phổ f(x) màu đỏ so với phổ gốc h(x) màu xanh - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 4.19 Mẫu cu-5: Phổ f(x) màu đỏ so với phổ gốc h(x) màu xanh (Trang 67)
Hình 5.2:  So sánh độ biến dạng tế vi theo hai phương pháp tại  góc 2 θ =90 o - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 5.2 So sánh độ biến dạng tế vi theo hai phương pháp tại góc 2 θ =90 o (Trang 70)
Hình 5.3: Biến thiên thông số FWHM thu được từ fit phổ f(x) và h(x) tại góc  2 θ =90 0 - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 5.3 Biến thiên thông số FWHM thu được từ fit phổ f(x) và h(x) tại góc 2 θ =90 0 (Trang 71)
Hình 5.4: Sự không khớp khi fit hàm Lorentz và p-Voigt cho phổ h(x) mẫu Cu-2 - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 5.4 Sự không khớp khi fit hàm Lorentz và p-Voigt cho phổ h(x) mẫu Cu-2 (Trang 72)
Hình 5.6: Biến thiên thông số FWHM thu được từ fit phổ f(x) và h(x) tại góc  2 θ =74 0 - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 5.6 Biến thiên thông số FWHM thu được từ fit phổ f(x) và h(x) tại góc 2 θ =74 0 (Trang 74)
Hình 5.7: Độ dịch chuyển đỉnh phổ tương ứng theo  chu kì kéo mỏi tại góc 2 θ  = 45 o  tương ứng với họ mặt (1 1 0) - đánh giá ứng suất tồn dư trong kim loại đồng bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x
Hình 5.7 Độ dịch chuyển đỉnh phổ tương ứng theo chu kì kéo mỏi tại góc 2 θ = 45 o tương ứng với họ mặt (1 1 0) (Trang 75)

TRÍCH ĐOẠN

TÀI LIỆU CÙNG NGƯỜI DÙNG

TÀI LIỆU LIÊN QUAN

w