Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống
1
/ 40 trang
THÔNG TIN TÀI LIỆU
Thông tin cơ bản
Định dạng
Số trang
40
Dung lượng
1,51 MB
Nội dung
[...]... thể, hiện tượng nhiễu x trong tinh thể…vv Mạng đảo x c định một khoảng cách vị trí mạng có khả năng dẫn đến sự nhiễu x Mỗi cấu trúc tinh thể có hai mạng liên hợp với nó, mạng tinh thể và mạng đảo và ảnh nhiễu x của tinh thể là một bức tranh mạng đảo của tinh thể 1.3 Nhiễu x tia X 1.3.1 Hiện tƣợng nhiễu x tia X Nhiễu x tia X là hiện tượng các chùm tia X nhiễu x trên các mặt tinh thể của chất rắn... hoàn của cấu trúc tinh thể tạo nên các cực đại và cực tiểu nhiễu x Kỹ thuật nhiễu x tia X (thường viết gọn là nhiễu x tia X) được sử dụng để phân tích cấu trúc chất rắn, vật liệu X t về bản chất vật lý, nhiễu x tia X cũng gần giống với nhiễu x electron, sự khác nhau trong tính chất phổ nhiễu x là do sự khác nhau về tương tác giữa tia X với nguyên tử và sự tương tác giữa electron với nguyên tử Nhiễu. .. Cƣờng độ nhiễu x Có thể tính toán được cường độ nhiễu x bằng cách cộng sóng hình sin với pha và biên độ khác nhau Hướng của tia nhiễu x không bị ảnh hưởng bởi loại nguyên tử ở từng vị trí riêng biệt và hai ô mạng đơn vị có cùng kích thước nhưng với sự sắp x p nguyên tử khác nhau sẽ nhiễu x tia X trên cùng một hướng Tuy nhiên cường độ của các tia nhiễu x này khác nhau Để x c định cường độ nhiễu x thường... 3 cách sau: - Nhiễu x tia X bởi điện tử tự do - Nhiễu x tia X bởi nguyên tử - Nhiễu x bởi ô mạng cơ bản a Nhiễu x bởi điện tử tự do Thomson đã chứng minh được công thức x c định cường độ nhiễu x tia X bởi một điện tử có điện tích e và khối lượng me tại khoảng cách r - khoảng cách giữa tán x điện tử đến đầu dò detector là: e4 I Io 2 2 4 sin(2) e me c Trong đó: Io là cường độ tia tới; c là... cho phép quan sát dễ dàng hoạt động của hệ thống 2.2 Tìm hiểu cấu tạo của nhiễu x kế tia X Thiết bị cho nghiễu x bột tia X: gồm 3 phần cơ bản sau: - Nguồn bức x có ống tia X và máy phát cao thế - Nhiễu x kế - Detector và thiết bị đếm xung Dụng cụ thí nghiệm gồm: 22 Bộ X- ray basic, 35kV 09058.99 1 Giác kế cho bộ X- ray, 35kV 09058.10 1 Module plug-in với ống X- ray Mo 09058.60 1 Ống đếm, loại B 09005.00... yếu để phân tích cấu trúc tinh thể đó là: Nhiễu x đơn tinh thể Nhiễu x đa tinh thể bằng phương pháp nhiễu x bột 1.5.1 Nhiễu x đơn tinh thể Hai phương pháp chính để thực hiện nhiễu x đơn tinh thể là phương pháp ảnh Laue và phương pháp xoay đơn tinh thể Để thỏa mãn điều kiện nhiễu x Bragg: nλ = 2dhkl.sinθ, trong phương pháp xoay đơn tinh thể chùm tia X đơn sắc 16 (λ không đổi) được chiếu lên... pháp nhiễu x bột Kỹ thuật nhiễu x tia X được sử dụng phổ biến nhất là phương pháp bột hay phương pháp Debye Trong kỹ thuật này, mẫu được tạo thành bột với mục đích có nhiều tinh thể có tính định hướng ngẫu nhiên để chắc chắn rằng có một số lớn hạt có định hướng thỏa mãn điều kiện nhiễu x Bragg Bộ phận chính của nhiễu x kế tia X là: Nguồn tia X, mẫu, detector tia X Chúng được đặt nằm trên chu vi của. .. công thức: Fg (g )2 (Fg )2 Với ψg là hàm sóng của chùm nhiễu x , còn Fg là thừa số cấu trúc (hay còn gọi là x c suất phản x tia X) , được cho bởi: Fg fie2 igri , ở đây g là vectơ i tán x của chùm nhiễu x , ri là vị trí của nguyên tử thứ i trong ô đơn vị, còn fi là khả năng tán x của nguyên tử Tổng được lấy trên toàn ô đơn vị Cường độ nhiễu x không chỉ phụ thuộc vào thừa số cấu trúc mà còn... thể một chùm tia Rơnghen, mỗi nút mạng trở thành tâm nhiễu x và mạng tinh thể đóng vai trò như cách tử nhiễu x Nếu tia X chiếu vào nguyên tử làm các electron dao động xung quanh vị trí cân bằng của chúng và khi electron bị hãm thì phát x tia X Quá trình hấp thụ và tái phát bức x electron này được gọi là tán x , hay nói cách khác photon của tia X bị hấp thụ bởi nguyên tử và photon khác có cùng năng... khuếch đại, chuẩn hoá và đưa vào bộ phân tích Cường độ, vị trí của phổ tia X được hiển thị trên đồ thị của màn hình - Bằng cách thay đổi vị trí của ống đếm có thể ghi nhận sự thay đổi cường độ nhiễu x theo góc nhiễu x θ tức là ghi biểu đồ nhiễu x của mẫu nghiên cứu Như vậy biểu đồ nhiễu x tia X nhận được từ các giá trị cường độ (mật độ xung) ở những vị trí góc khác nhau tại những thời điểm khác nhau