IEC 61 21 5 1 1 Edition 1 0 201 6 03 INTERNATIONAL STANDARD NORME INTERNATIONALE Terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification and type approval – Part 1 1 Special requirements for test[.]
I E C 61 5-1 -1 ® Edition 201 6-03 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE Terres tri al ph otovol tai c (P V) m od u l es – D es i g n q u al i fi cati on an d type ap proval – P art -1 : S peci al req u i rem en ts for tes ti n g of crys tal l i n e s i l i ph otovol tai c (P V) m od u l es M od u l es ph otovol taïq u es (PV) pou r appl i cati on s terres tres – Qu al i fi cati on d e l a cepti on et h om ol og ati on – P arti e -1 : E xi g en ces parti cu l i ères d ' es s d es m od u l es ph otovol taïq u es (PV) au IEC 61 21 5-1 -1 :201 6-03(en-fr) s i l i ci u m cri s tal l i n Copyright International Electrotechnical Commission TH I S P U B L I C ATI O N I S C O P YRI G H T P RO TE C T E D C o p yri g h t © I E C , G e n e va , S w i tze rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Abo u t th e I E C The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes International Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i c a ti o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I E C C atal og u e - webs tore i ec ch /catal og u e The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad I E C pu bl i cati on s search - www i ec ch /s earch pu b The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications E l ectroped i a - www el ectroped i a org The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing 20 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I E C G l o s sary - s td i ec ch /g l os s ary 65 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I E C J u s t P u bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i s h ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C C u s tom er S ervi ce C en tre - webs tore i ec ch /cs c If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A propos d e l 'I E C La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A propos d es pu bl i cati o n s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié C atal og u e I E C - webs tore i ec ch /catal og u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad Rech erch e d e pu bl i cati on s I E C - www i ec ch /s earch pu b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectroped i a - www el ectroped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient 20 000 termes et dộfinitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes équivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l os s re I E C - std i ec ch /g l os s ary 65 000 entrées terminologiques électrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Définitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I E C J u s t P u bl i s h ed - webstore i ec ch /j u s tpu bl i s h ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email Copyright International Electrotechnical Commission S ervi ce C l i en ts - webs tore i ec ch /cs c Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I E C 61 5-1 -1 ® Edition 201 6-03 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE Terres tri al ph otovol tai c (P V) m od u l es – D es i g n q u al i fi cati on an d type ap proval – P art -1 : Speci al req u i rem en ts for tes ti n g of crys tal l i n e s i l i ph otovol tai c (PV) m od u l es M od u l es ph otovol taïq u es (PV) pou r appl i cati on s terres tres – Qu al i fi cati on d e l a cepti on et h om ol og ati on – P arti e -1 : E xi g en ces parti cu l i ères d ' es s d es m od u l es ph otovol taïq u es (PV) au s i l i ci u m cri s tal l i n INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 27.1 60 ISBN 978-2-8322-31 95-1 Warn i n g ! M ake s u re th at you obtai n ed th i s pu bl i cati on from an au th ori zed d i s tri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s as s u rer q u e vou s avez obten u cette pu bl i cati on vi a u n d i s tri bu teu r ag réé ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission –2– I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 CONTENTS FOREWORD Scope and object Normative references Terms and definitions Test samples 5 Marking and documentation Testing Pass criteria Major visual defects Report Modifications 1 Test flow and procedures 1 Visual inspection (MQT 01 ) 1 Maximum power determination (MQT 02) 1 I nsulation test (MQT 03) 1 Measurement of temperature coefficients (MQT 04) 1 Measurement of nominal module operating temperature (NMOT) (MQT 05) 1 Performance at STC (MQT 06 ) and N MOT (MQT 06 2) 1 Performance at low irradiance (MQT 07) 1 Outdoor exposure test (MQT 08) 1 Hot-spot endurance test (MQT 09) 1 9.1 Purpose 1 9.2 Classification of cell interconnection 1 9.3 Apparatus 1 9.4 Procedure 1 9.5 Final measurements 1 9.6 Requirements 1 U V preconditioning test (MQT 0) 1 1 Thermal cycling test (MQT 1 ) 1 Humidity-freeze test (MQT 2) 1 Damp heat test (MQT 3) 1 Robustness of terminations test (MQT 4) 1 Wet leakage current test (MQT 5) 1 Static mechanical load test (MQT 6) 1 Hail test (MQT 7) 1 Bypass diode thermal test (MQT 8) 1 Stabilization (MQT 9) 1 Other stabilization procedures 1 I nitial stabilization (MQT 9.1 ) 1 Final stabilization (MQT 9.2) Copyright International Electrotechnical Commission I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 –3– I NTERNATI ONAL ELECTROTECHNI CAL COMMISSI ON T E RRE S T RI AL P H O T O VO L T AI C ( P V) M O D U L E S – D E S I G N Q U AL I F I C AT I O N P a rt -1 : AN D T YP E AP P RO VAL – S p e c i a l re q u i re m e n t s fo r t e s t i n g o f c rys t a l l i n e s i l i c o n p h o t o v o l t a i c ( P V) m o d u l e s FOREWORD ) The I n ternati onal El ectrotechnical Commi ssi on (I EC) is a worl d wi d e organizati on for stan dard izati on comprisi ng all nati onal electrotechnical com mi ttees (I EC N ati onal Com mittees) The object of I EC i s to prom ote i nternati onal co-operati on on al l q u esti ons concerni ng stand ard izati on i n the electrical and el ectronic fi el d s To th is end and in ad di ti on to other acti vi ti es, I EC pu blishes I ntern ati onal Stand ards, Technical Speci fi cati ons, Technical Reports, Pu bl icly Avail abl e Specificati ons (PAS) and Gu i d es (hereafter referred to as “I EC Pu blicati on(s)”) Th ei r preparati on is entru sted to technical committees; an y I EC N ati onal Committee i nterested i n th e su bject d eal t wi th may parti ci pate i n thi s preparatory work I n ternati onal , govern mental and nongovernmental organ izati ons l iaisi ng wi th the I EC al so participate i n this preparati on I EC coll aborates cl osely with the I nternati onal Organizati on for Stand ard izati on (I SO) i n accordance with cond i ti ons d etermined by ag reement between the two organizati ons 2) The formal d ecisions or agreements of I EC on technical matters express, as nearl y as possibl e, an i nternati onal consensus of opi ni on on the rel evant su bjects si nce each technical committee h as represen tati on from all i nterested I EC N ati onal Commi ttees 3) I EC Pu blicati ons h ave the form of recommend ati ons for internati onal u se and are accepted by I EC N ati onal Com mittees i n that sense Whi le all reasonabl e efforts are mad e to ensu re that th e technical tent of I EC Pu blicati ons is accu rate, I EC can not be hel d responsi bl e for the way in whi ch they are used or for any misinterpretati on by an y end u ser 4) I n ord er to promote i nternational u ni formi ty, I EC N ati onal Commi ttees und ertake to appl y I EC Publicati ons transparentl y to th e maxim um extent possi bl e i n thei r nati onal an d regi onal pu blicati ons Any d i vergen ce between any I EC Pu bl icati on and th e correspond i ng nati onal or regional publi cation shal l be cl earl y i n di cated in the l atter 5) I EC i tsel f d oes n ot provi d e an y attestation of conformity I nd epend ent certi ficati on bod ies provi d e conformity assessment services and , in some areas, access to I EC m arks of conform i ty I EC i s not responsible for any services carried ou t by i nd epend ent certification bodi es 6) All users should ensu re that they have the l atest edi ti on of this pu blicati on 7) N o li abili ty shal l attach to I EC or i ts di rectors, empl oyees, servants or agen ts incl u di ng i nd ivi d u al experts and m embers of i ts tech ni cal comm ittees and I EC N ati on al Committees for an y personal i nju ry, property d amage or other d amage of any natu re whatsoever, whether di rect or i nd i rect, or for costs (i nclud i n g l egal fees) and expenses arising ou t of th e pu bli cati on , use of, or rel iance u pon, thi s I EC Pu bl ication or any oth er I EC Pu blicati ons 8) Attention is d rawn to the N ormative references ci ted i n this pu bl icati on U se of the referenced pu blicati ons is i nd i spensabl e for th e correct appli cati on of this pu blicati on 9) Attention is d rawn to the possibili ty th at some of the el em ents of thi s I EC Pu bl icati on may be the su bj ect of paten t ri ghts I EC shal l n ot be held responsi bl e for i d enti fyi ng any or all such paten t ri ghts I nternational Standard IEC 61 21 5-1 -1 has been prepared by I EC technical committee 82: Solar photovoltaic energy systems This edition cancels and replaces the second edition of I EC 61 21 5, issued in 2005, and constitutes a technical revision This standard is to be read in conjunction with I EC 61 21 5-1 : 201 and I EC 61 21 5-2: 201 Copyright International Electrotechnical Commission –4– I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 The text of this standard is based on the following documents: FDI S Report on voti ng 82/1 047/FDI S 82/1 075/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table A list of all parts in the I EC 61 21 series, published under the general title Terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification and type approval, can be found on the I EC website This publication has been drafted in accordance with the ISO/I EC Directives, Part The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until the stability date indicated on the I EC web site under "http: //webstore iec.ch" in the data related to the specific publication At this date, the publication will be • • • • reconfirmed, withdrawn, replaced by a revised edition, or amended Copyright International Electrotechnical Commission I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 –5– T E RRE S T RI AL P H O T O VO L T AI C ( P V) M O D U L E S – D E S I G N Q U AL I F I C AT I O N P a rt -1 : AN D T YP E AP P RO VAL – S p e c i a l re q u i re m e n t s fo r t e s t i n g o f c rys t a l l i n e s i l i c o n p h o t o v o l t a i c ( P V) m o d u l e s S cope an d obj e ct This part of I EC 61 21 lays down I EC requirements for the design qualification and type approval of terrestrial photovoltaic modules suitable for long-term operation in general open air climates, as defined in I EC 60721 -2-1 This standard is intended to apply to all crystalline silicon terrestrial flat plate modules This standard does not apply to modules used with concentrated sunlight although it may be utilized for low concentrator modules (1 to suns) For low concentration modules, all tests are performed using the current, voltage and power levels expected at the design concentration The object of this test sequence is to determine the electrical and thermal characteristics of the module and to show, as far as possible within reasonable constraints of cost and time, that the module is capable of withstanding prolonged exposure in climates described in the scope The actual lifetime expectancy of modules so qualified will depend on their design, their environment and the conditions under which they are operated This standard defines PV technology dependent modifications to the testing procedures and requirements per I EC 61 21 5-1 :201 and I EC 61 21 5-2: 201 N o rm a t i v e re fe re n c e s The normative references of I EC 61 21 5-1 : 201 and IEC 61 21 5-2:201 are applicable without modifications T e rm s a n d d e fi n i t i o n s This clause of I EC 61 21 5-1 : 201 is applicable without modifications Tes t s am pl es This clause of I EC 61 21 5-1 : 201 is applicable without modifications M a rk i n g a n d d o c u m e n t a t i o n This clause of I EC 61 21 5-1 : 201 is applicable without modifications Te s ti n g This clause of I EC 61 21 5-1 : 201 is applicable without modifications Copyright International Electrotechnical Commission –6– I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 P a s s c ri t e ri a This clause of I EC 61 21 5-1 : 201 is applicable without modifications The maximum allowable value of reproducibility is set to r = ,0 % M a j o r v i s u a l d e fe c t s This clause of I EC 61 21 5-1 : 201 is applicable without modifications R e p o rt This clause of I EC 61 21 5-1 : 201 is applicable without modifications M o d i fi c a t i o n s This clause of I EC 61 21 5-1 : 201 is applicable without modifications 1 T e s t fl o w a n d p ro c e d u re s The test flow from I EC 61 21 5-1 : 201 is applicable 1 Vi s u a l i n s p e c t i o n ( M Q T ) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 M a x i m u m p o w e r d e t e rm i n a t i o n ( M Q T ) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 I n s u l a ti o n te s t ( M QT ) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 M e a s u re m e n t o f t e m p e t u re c o e ffi c i e n t s ( M Q T ) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 M e a s u re m e n t o f n o m i n a l m o d u l e o p e t i n g t e m p e t u re ( N M O T ) ( M Q T ) This test of I EC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 P e rfo rm a n c e a t S T C ( M Q T ) a n d N M O T ( M Q T ) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 P e rfo rm a n c e a t l o w i rra d i a n c e ( M Q T ) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 O u t d o o r e x p o s u re t e s t ( M Q T ) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications Copyright International Electrotechnical Commission I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 1 –7– Hot-spot endurance test (MQT 09) The relevant subclause of I EC 61 21 5-2: 201 6, test MQT 09, is applicable without modifications 1 9.1 Purpose The relevant subclause of I EC 61 21 5-2: 201 6, test MQT 09, is applicable without modifications 1 9.2 Classification of cell interconnection The relevant subclause of I EC 61 21 5-2: 201 6, test MQT 09, is applicable without modifications 1 9.3 Apparatus The relevant subclause of I EC 61 21 5-2: 201 6, test MQT 09, is applicable without modifications 1 9.4 Procedure MQT 09.1 shall be performed in accordance to IEC 61 21 5-2: 201 1 9.5 Final measurements The relevant subclause of I EC 61 21 5-2: 201 6, test MQT 09, is applicable without modifications 1 9.6 Requirements The relevant subclause of I EC 61 21 5-2: 201 6, test MQT 09, is applicable without modifications 1 UV preconditioning test (MQT 0) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 1 Thermal cycling test (MQT 1 ) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications The technology specific current which needs to be applied according to test MQT 1 of I EC 61 21 5-2: 201 6, shall be equal to the STC peak power current 1 Humidity-freeze test (MQT 2) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 Damp heat test (MQT 3) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 Robustness of terminations test (MQT 4) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 Wet leakage current test (MQT 5) This test of IEC 61 21 5-2: 201 is applicable without modifications Copyright International Electrotechnical Commission –8– 1 S ta ti c m e c h a n i ca l I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 l o a d t e s t ( M QT ) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 H a i l te s t ( M QT ) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 B yp a s s d i o d e t h e rm a l t e s t ( M Q T ) This test of IEC 61 21 5-2:201 is applicable without modifications 1 S ta b i l i za ti o n (M QT ) This test of IEC 61 21 5-2: 201 is applicable with the following modifications: For the definition of stabilization as per test MQT of I EC 61 21 5-2: 201 6, used for crystalline silicon PV modules x = 0, 01 shall be Temperature is a critical parameter For the measurement MQT 06 of I EC 61 21 5-2: 201 it shall be ensured that measurement is performed at (25 ± 2) °C module temperature 1 9.4 O th e r s ta b i l i za ti o n p ro c e d u re s At present no alternative stabilization methods are applicable 1 I n i ti a l s ta b i l i za ti on ( M QT ) I nitial stabilization of c-Si modules shall be obtained by exposing all modules to sunlight (either real or simulated) to an irradiation dose level of ≥ kWh/m After this preconditioning all of the test modules shall be measured for STC power (MQT 06.1 ) To fulfil MQT requirements two intervals of at least kWh/m each are required I f stabilization is performed outdoors no module temperature limits apply After stabilization time is not critical Perform all measurements within a comparable timeframe and state time in report 1 Fi n al s ta b i l i za ti o n ( M QT ) Final stabilization (MQT 9.2) is not required _ Copyright International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission – 10 – I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 SOMMAI RE AVAN T-PROPOS 1 Domaine d'application et objet Références normatives 3 Termes et définitions Echantillons d'essai Marquage et documentation Essais Critères d'acceptation Défauts visuels majeurs Rapport Modifications 1 Série et procédures d'essais 1 Examen visuel (MQT 01 ) 1 Détermination de la puissance maximale (MQT 02) 1 Essai diélectrique (MQT 03) 1 Mesure des coefficients de température (MQT 04) 1 Mesure de la température nominale de fonctionnement du module (N MOT) (MQT 05) 1 Performances dans les STC (MQT 06 ) et la N MOT (MQT 06.2) 1 Performances sous faible éclairement (MQT 07) 1 Essai d'exposition en site naturel (MQT 08) 1 Essai de tenue l'échauffement localisé (MQT 09) 1 9.1 Objet 1 9.2 Classification des interconnexions de cellules 1 9.3 Appareillage 1 9.4 Procédure 1 9.5 Mesures finales 1 9.6 Exigences 1 Essai de préconditionnement aux UV (MQT 0) 1 1 Essai de cycle thermique (MQT 1 ) 1 Essai humidité-gel (MQT 2) 1 Essai de chaleur humide (MQT 3) 1 Essai de robustesse des sorties (MQT 4) 1 Essai de courant de fuite en milieu humide (MQT 5) 1 Essai de charge mécanique statique (MQT 6) 1 Essai la grêle (MQT 7) 1 Essai thermique de la diode de dérivation (MQT 8) 1 Stabilisation (MQT 9) 1 Autres procédures de stabilisation 1 Stabilisation initiale (MQT 9.1 ) 1 Stabilisation finale (MQT 9.2) Copyright International Electrotechnical Commission I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 – 11 – COMMI SSION ÉLECTROTECHNI QUE I NTERNATIONALE M O D U L E S P H O T O VO L T AÏQ U E S ( P V) P O U R AP P L I C AT I O N S T E RRE S T RE S – Q U AL I F I C AT I O N P a rti e - : D E LA C O N C E P TI O N E T H O M O L O G AT I O N – E xi g e n c e s p a rt i c u l i è re s d ' e s s a i d e s m o d u l e s p h o t o v o l t a ïq u e s ( P V) a u s i l i c i u m c ri s t a l l i n AVANT-PROPOS ) La Commi ssi on El ectrotechni q u e I nternationale (I EC) est u ne organi sati on mondi ale d e normalisati on composée d e l 'ensemble d es comi tés électrotechni qu es n ation au x (Comi tés nati onau x d e l 'I EC) L'I EC a pou r obj et d e favoriser l a coopérati on intern ational e pou r toutes l es q u esti ons d e n ormalisati on d ans l es d omai nes d e l 'él ectricité et d e l 'él ectron i q ue A cet effet, l 'I EC – entre au tres activités – pu blie d es N orm es in ternati onal es, d es Spéci ficati ons techni q u es, d es Rapports tech niq u es, d es Spéci ficati ons accessibles au pu blic (PAS) et d es Gui d es (ci -après d énommés "Pu blication(s) d e l'I EC") Leu r él aborati on est confi ée d es comi tés d 'études, au x travaux d esq u el s tout Com i té n ati onal intéressé par l e suj et trai té peu t parti ciper Les org anisati ons in ternational es, gou vern emen tal es et n on gou vernem ental es, en l iaison avec l 'I EC, participent égal em ent au x travau x L'I EC coll abore étroitement avec l'Org anisation I nternati onal e d e N ormali sation (I SO), selon des condi ti ons fi xées par accord entre les deu x org anisati ons 2) Les d éci si ons ou accords officiels d e l 'I EC concernan t l es q u esti ons techn iq u es représentent, d ans l a mesure d u possi ble, un accord international su r l es suj ets étu di és, étant d onné q u e l es Comi tés nati onau x d e l 'I EC i n téressés son t représentés dans chaq u e comi té d 'étud es 3) Les Pu bli cati ons d e l 'I EC se présentent sou s l a forme d e recomm andations i nternati onal es et sont agréées com me tell es par l es Com ités n ati onau x d e l'I EC Tous l es efforts rai sonnabl es sont entrepris afi n q ue l 'I EC s'assu re d e l 'exacti tu d e d u contenu techni q ue d e ses pu blicati ons; l 'I EC n e peu t pas être tenu e respon sabl e d e l 'éven tu ell e mau vai se u tili sation ou i nterprétati on q u i en est fai te par u n q u el conq u e u tilisateu r fi n al 4) Dans l e bu t d 'encou rag er l 'uni formité i nternati on ale, l es Comi tés n ati onau x d e l 'I EC s'en gag ent, d ans tou te l a mesu re possi ble, appli q u er d e faỗon transparente l es Pu bli cations d e l 'I EC d ans l eu rs pu blicati ons nati onal es et régi onales Tou tes di vergen ces entre toutes Pu blicati ons d e l 'I EC et tou tes pu blicati ons nati on al es ou régi onal es correspond antes d oivent être i n diq u ées en termes clai rs dan s ces dernières 5) L'I EC el l e-même ne fou rni t au cu ne attestation de conformi té Des organismes d e certi fi cation ind épend ants fou rn issent d es services d 'éval u ati on d e conformité et, dans certai ns secteu rs, accèden t au x m arq ues d e conform ité de l 'I EC L'I EC n'est responsabl e d'au cu n d es services effectu és par les organism es d e certificati on i nd épend ants 6) Tou s l es utili sateu rs d oi ven t s'assu rer q u 'il s sont en possessi on d e l a dernière éd iti on de cette publicati on 7) Au cune respon sabil ité n e doi t être i mpu tée l 'I EC, ses adm i nistrateu rs, empl oyés, au xil i res ou mand ataires, y compri s ses experts particul iers et l es membres de ses comités d 'étu d es et des Comi tés nationau x d e l 'I EC, pou r tout préj u dice causé en cas d e dommag es corporels et matériels, ou d e tou t au tre d omm age de q u el q ue n atu re q u e ce soit, di recte ou i ndi recte, ou pou r su pporter l es coû ts (y compri s l es frai s d e j ustice) et les d épenses d écoul ant d e l a pu blicati on ou d e l 'u til isati on d e cette Pu bli cati on d e l 'I EC ou d e tou te au tre Pu bl icati on d e l 'I EC, ou au crédi t q u i l ui est accord é 8) L'attenti on est atti rée su r l es références normatives ci tées d ans cette pu bl icati on L'u til isati on d e pu bl icati ons référencées est obli gatoi re pour u n e applicati on correcte d e la présente pu bli cati on 9) L'attenti on est atti rée su r l e fai t q u e certai ns d es él éments d e l a présente Pu bl icati on d e l 'I EC peu vent fai re l 'obj et d e d roi ts d e brevet L'I EC n e sau rai t être tenu e pou r responsabl e d e ne pas avoi r identifié d e tels d roi ts d e brevets et de ne pas avoi r signal é l eu r existence La Norme internationale I EC 61 21 5-1 -1 a été établie par le comité d'études 82 de l'I EC: Systèmes de conversion photovoltaïque de l'énergie solaire Cette édition annule et remplace la deuxième édition de l'IEC 61 21 5, parue en 2005 Cette édition constitue une révision technique La présente norme doit être lue en parallèle avec l'I EC 61 21 5-1 : 201 et l'IEC 61 21 5-2:201 Copyright International Electrotechnical Commission – 12 – I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDI S Rapport de vote 82/1 047/FDI S 82/1 075/RVD Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti l'approbation de cette norme Une liste de toutes les parties de la série I EC 61 21 5, publiées sous le titre général Modules photovoltaïques (PV) pour applications terrestres – Qualification de la conception et homologation, peut être consultée sur le site web de l'I EC Cette publication a été rédigée selon les Directives I SO/I EC, Partie Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de stabilité indiquée sur le site web de l'I EC sous "http: //webstore iec.ch" dans les données relatives la publication recherchée A cette date, la publication sera • • • • reconduite, supprimée, remplacée par une édition révisée, ou amendée Copyright International Electrotechnical Commission I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 – 13 – M O D U L E S P H O T O VO L T AÏQ U E S ( P V) P O U R AP P L I C AT I O N S T E RRE S T RE S – Q U AL I F I C AT I O N P a rti e - : D E LA C O N C E P TI O N E T H O M O L O G AT I O N – E xi g e n c e s p a rt i c u l i è re s d ' e s s a i d e s m o d u l e s P h o t o v o l t a ïq u e s ( P V) a u s i l i c i u m c ri s t a l l i n D o m a i n e d ' a p p l i cati on et obj et La présente partie de l'I EC 61 21 établit les exigences de l'I EC pour la qualification de la conception et l'homologation des modules photovoltaïques (PV) pour applications terrestres et pour une utilisation de longue durée dans les climats généraux l'air libre, définis dans l'I EC 60721 -2-1 La présente norme est destinée s'appliquer tous les modules plaque plane au silicium cristallin pour applications terrestres La présente norme ne s'applique pas aux modules utilisés avec un ensoleillement intense, même si elle peut être utilisée pour les modules faible concentration (ensoleillement 3) Pour les modules faible concentration, tous les essais sont réalisés en utilisant les niveaux de courant, de tension et de puissance prévus la concentration théorique L'objet de cette séquence d'essais est de déterminer les caractéristiques électriques et thermiques du module et de montrer, dans la mesure du possible avec des contraintes de coût et de temps raisonnables, que le module est apte supporter une exposition prolongée aux climats définis dans le domaine d'application La durée de vie réelle des modules ainsi qualifiés dépendra de leur conception, ainsi que de l'environnement et des conditions d'exploitation La présente norme définit les modifications dépendantes de la technologie photovoltaïque, apportées aux exigences et procédures d'essai de l'I EC 61 21 5-1 :201 et de l'I EC 61 21 5-2: 201 R é fé re n c e s n o rm a t i v e s Les références normatives de l'I EC 61 21 5-1 : 201 et de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'appliquent sans modification T e rm e s e t d é fi n i t i o n s Cet article de l'I EC 61 21 5-1 :201 s'applique sans modification E c h a n ti l l o n s d ' e s s a i Cet article de l'I EC 61 21 5-1 :201 s'applique sans modification M a rq u a g e e t d o c u m e n t a t i o n Cet article de l'I EC 61 21 5-1 :201 s'applique sans modification Copyright International Electrotechnical Commission – 14 – I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 Essais Cet article de l'I EC 61 21 5-1 :201 s'applique sans modification Critères d'acceptation Cet article de l'I EC 61 21 5-1 :201 s'applique sans modification La valeur maximale admissible de reproductibilité est r = , % Défauts visuels majeurs Cet article de l'I EC 61 21 5-1 :201 s'applique sans modification Rapport Cet article de l'I EC 61 21 5-1 :201 s'applique sans modification Modifications Cet article de l'I EC 61 21 5-1 :201 s'applique sans modification 1 Série et procédures d'essais La série d'essais de l'I EC 61 21 5-1 : 201 s'applique 1 Examen visuel (MQT 01 ) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Détermination de la puissance maximale (MQT 02) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Essai diélectrique (MQT 03) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Mesure des coefficients de température (MQT 04) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Mesure de la température nominale de fonctionnement du module (NMOT) (MQT 05) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Performances dans les STC (MQT 06.1 ) et la NMOT (MQT 06.2) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Performances sous faible éclairement (MQT 07) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification Copyright International Electrotechnical Commission I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 – 15 – 1 Essai d'exposition en site naturel (MQT 08) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Essai de tenue l'échauffement localisé (MQT 09) Le paragraphe pertinent de l'I EC 61 21 5-2: 201 6, s'applique sans modification 1 9.1 Objet Le paragraphe pertinent de l'I EC 61 21 5-2: 201 6, essai MQT 09, s'applique sans modification 1 9.2 Classification des interconnexions de cellules Le paragraphe pertinent de l'I EC 61 21 5-2: 201 6, essai MQT 09, s'applique sans modification 1 9.3 Appareillage Le paragraphe pertinent de l'I EC 61 21 5-2: 201 6, essai MQT 09, s'applique sans modification 1 9.4 Procédure L'essai MQT 09.1 doit être réalisé conformément l'I EC 61 21 5-2:201 1 9.5 Mesures finales Le paragraphe pertinent de l'I EC 61 21 5-2: 201 6, essai MQT 09, s'applique sans modification 1 9.6 Exigences Le paragraphe pertinent de l'I EC 61 21 5-2: 201 6, essai MQT 09, s'applique sans modification 1 Essai de préconditionnement aux U V (MQT 0) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 1 Essai de cycle thermique (MQT 1 ) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification Le courant spécifique la technologie utilisée qui doit être appliqué selon l’essai MQT 1 de l'I EC 61 21 5-2: 201 6, doit être égal l'intensité la puissance de crête STC 1 Essai humidité-gel (MQT 2) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Essai de chaleur humide (MQT 3) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Essai de robustesse des sorties (MQT 4) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Essai de courant de fuite en milieu humide (MQT 5) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification Copyright International Electrotechnical Commission – 16 – I EC 61 21 5-1 -1 : 201 © I EC 201 1 Essai de charge mécanique statique (MQT 6) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Essai la grêle (MQT 7) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Essai thermique de la diode de dérivation (MQT 8) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique sans modification 1 Stabilisation (MQT 9) Cet essai de l'I EC 61 21 5-2: 201 s'applique avec les modifications suivantes: Pour la définition de la stabilisation conformément l’essai MQT de l'I EC 61 21 5-2: 201 6, la valeur x = 0, 01 doit être utilisée pour les modules photovoltaïques au silicium cristallin La température est un paramètre essentiel Pour l'essai MQT 06.1 de l’IEC 61 21 5-2:201 6, la mesure doit absolument être réalisée la température de module (25 ± 2) °C 1 9.4 Autres procédures de stabilisation A l'heure actuelle, aucune autre méthode de stabilisation n'est applicable 1 9.5 Stabilisation initiale (MQT 9.1 ) La stabilisation initiale des modules c-Si doit être réalisée en exposant tous les modules un ensoleillement (réel ou simulé) un niveau de dose d'irradiation ≥ kWh/m Après ce préconditionnement, la puissance STC de tous les modules d'essai doit être mesurée (MQT 06 ) Pour satisfaire aux exigences de l'essai MQT 9, intervalles d'au moins kWh/m chacun sont exigés Si la stabilisation est réalisée l'extérieur, aucune limite ne s'applique la température du module Après la stabilisation, la durée n'a pas d'importance Procéder toutes les mesures dans un intervalle de temps comparable et indiquer la durée dans le rapport 1 9.6 Stabilisation finale (MQT 9.2) La stabilisation finale (MQT 2) n'est pas exigée _ Copyright International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission I N TE RN ATI O N AL E LE CTRO TE CH N I CAL CO M M I S S I O N , ru e d e Va re m bé P O B ox C H -1 1 G e n e va S wi tze rl a n d Te l : + 41 F a x: + 22 91 02 1 22 91 03 00 i n fo @i e c ch www i e c ch Copyright International Electrotechnical Commission