Iec 60424 2 2015

I E C 60 42 4-2 ® Edition 2.0 201 5-1 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE F erri te cores – G u i d el i n e s on th e l i m i ts of s u rface i rre g u l ari ti es – P art : RM -core s N o yau x fe rri te s – Li g n es d i rectri ce s re l ati ves au x l i m i tes d es i rré g u l ari tés d e s u rface – IEC 60424-2:201 5-1 2(en-fr) P arti e : N oyau x RM T H I S P U B L I C AT I O N I S C O P YRI G H T P RO T E C T E D C o p yri g h t © I E C , G e n e v a , S wi tz e rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about I EC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local I EC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Ab ou t th e I E C The I nternational Electrotechnical Commission (I EC) is the leading global organization that prepares and publishes I nternational Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i ca ti o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I E C Catal og u e - webstore i ec ch /catal og u e The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad I E C pu bl i cati on s s earch - www i ec ch /search pu b The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications E l ectroped i a - www el ectroped i a org The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 30 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I E C G l os sary - s td i ec ch /g l oss ary More than 60 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i sh ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C C u stom er S ervi ce C en tre - webstore i ec ch /csc If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A propos d e l 'I E C La Commission Electrotechnique I nternationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A propos d es pu bl i cati on s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié Catal og u e I E C - webstore i ec ch /catal og u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad Rech erch e d e pu bl i cati on s I E C - www i ec ch /search pu b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectroped i a - www el ectroped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient plus de 30 000 termes et dộfinitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes équivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l oss re I E C - s td i ec ch /g l ossary Plus de 60 000 entrées terminologiques ộlectrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Définitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i s h ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email S ervi ce Cl i en ts - webstore i ec ch /csc Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I E C 60 42 4-2 ® Edition 2.0 201 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE F e rri te cores – G u i d el i n es on th e l i m i ts of s u rface i rreg u l ari ti es – P art : RM -core s N oyau x ferri tes – Li g n es d i rectri ce s rel ati ve s au x l i m i tes d es i rrég u l ari tés d e s u rface – P arti e : N oyau x RM INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 29.1 00.1 ISBN 978-2-8322-3031 -2 Warn i n g ! M ake s u re th at you obtai n ed th i s pu bl i ca ti on from an au th ori zed d i s tri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s ass u rer q u e vou s avez obten u cette pu bl i cati on vi a u n d i stri b u teu r ag ré é ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission –2– I EC 60424-2: 201 © I EC 201 CONTENTS FOREWORD Scope Norm ative references Limits of surface irregularities 3.1 Visual inspection and recom mended limits 3.2 Chips and ragged edges 2.1 Chips and ragged edges on mating surfaces 2.2 Chips and ragged edges on other surfaces 3.3 Cracks 3.4 Flash 3.5 Pull-outs 3.6 Crystallites 1 3.7 Pores Bibliography Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure – Chips and ragged edges on mating surfaces – Cracks location – Top view – Cracks location – Bottom view – Dimension W – Flash and pull-out location 1 – Pull-out in clamping recess area 1 – Crystallites location for RM-core 1 – Pores location for RM-core Table Table Table Table Table – Relevant subclauses for given irregularity versus location – Allowable chipping areas – Area and length references for visual inspection – Limits for cracks – W dimensions I EC 60424-2: 201 © I EC 201 –3– INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMI SSION F E RRI T E C O RE S – G U I D E L I N E S O N T H E L I M I T S O F S U RF AC E I RRE G U L ARI T I E S – P a rt : RM -c o re s FOREWORD ) The I nternational Electrotechnical Com m ission (I EC) is a worldwide organization for standardization com prising all national el ectrotechnical com m ittees (I EC National Com m ittees) The object of I EC is to prom ote international co-operation on all questions concerning standardization in the el ectrical and electronic fields To this end and in addition to other activities, I EC publishes I nternational Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “I EC Publication(s)”) Their preparation is entrusted to technical com m ittees; any I EC National Com m ittee interested in the subject dealt with m ay participate in this preparatory work I nternational, governm ental and nongovernm ental organizations liaising with the I EC also participate in this preparation I EC collaborates closely with the I nternational Organization for Standardization (I SO) in accordance with conditions determ ined by agreem ent between the two organizations 2) The form al decisions or agreem ents of I EC on technical m atters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical com m ittee has representation from all interested I EC National Com m ittees 3) I EC Publications have the form of recom m endations for international use and are accepted by I EC National Com m ittees in that sense While all reasonable efforts are m ade to ensure that the technical content of I EC Publications is accurate, I EC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any m isinterpretation by any end user 4) I n order to prom ote international uniform ity, I EC National Com m ittees undertake to apply I EC Publications transparently to the m axim um extent possible in their national and regional publications Any divergence between any I EC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter 5) I EC itself does not provide any attestation of conform ity I ndependent certification bodies provide conform ity assessm ent services and, in som e areas, access to I EC m arks of conform ity I EC is not responsible for any services carried out by independent certification bodies 6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication 7) No liability shall attach to I EC or its directors, em ployees, servants or agents including individual experts and m em bers of its technical com m ittees and I EC National Com m ittees for any personal injury, property dam age or other dam age of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this I EC Publication or any other I EC Publications 8) Attention is drawn to the Norm ative references cited in this publication Use of the referenced publications is indispensable for the correct application of this publication 9) Attention is drawn to the possibility that som e of the elem ents of this I EC Publication m ay be the subject of patent rights I EC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights I nternational Standard I EC 60424-2 has been prepared by technical com mittee 51 : Magnetic com ponents and ferrite m aterials This second edition cancels and replaces the first edition published in 997 This edition constitutes a technical revision This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) addition of crystallites in and of pores in –4– I EC 60424-2: 201 © I EC 201 The text of this standard is based on the following documents: FDI S Report on voting 51 /1 08/FDI S 51 /1 22/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table This publication has been drafted in accordance with the I SO/I EC Directives, Part A list of all parts in the I EC 60424 series, published under the general title Ferrite cores – Guidelines on the limits of surface irregularities , can be found on the I EC website Future standards in this series will carry the new general title as cited above Titles of existing standards in this series will be updated at the time of the next edition The com mittee has decided that the contents of this publication will rem ain unchanged until the stability date indicated on the I EC website under "http: //webstore.iec ch" in the data related to the specific publication At this date, the publication will be • • • • reconfirmed, withdrawn, replaced by a revised edition, or amended I EC 60424-2: 201 © I EC 201 –5– F E RRI T E C O RE S – G U I D E L I N E S O N T H E L I M I T S O F S U RF AC E I RRE G U L ARI T I E S – P a rt : RM -c o re s S cope This part of I EC 60424 provides guidelines on the allowable lim its of surface irregularities applicable to RM-cores in accordance with the relevant generic specification This standard should be considered as a sectional specification useful in the negotiations between ferrite core m anufacturers and custom ers about surface irregularities Norm ative reference N o rm a t i ve re fe re n c e s The following documents, in whole or in part, are normatively referenced in this docum ent and are indispensable for its application For dated references, only the edition cited applies For undated references, the latest edition of the referenced docum ent (including any amendments) applies 3 L i m i t s o f s u rfa c e i rre g u l a ri t i e s Vi s u a l i n s p e c t i o n a n d re c o m m e n d e d l i m i t s To facilitate quick identification of recommended limits for a given irregularity based on its location, the following subclauses are sum marized in Table Tabl e – R e l e v a n t s u b c l a u s e s fo r g i v e n i rre g u l a ri t y v e rs u s l o c a t i o n L o ca ti o n T yp e o f i rre g u l a ri t y F o r l i m i ts , Mating surfaces Chips Ragged edges Cracks 3 3 Centre-post Chips Ragged edges Cracks 2 2 3 Outer walls Chips Cracks 2 3 Back wall Chips Ragged edges Cracks Pull-outs 2 2 3 Wire slot areas Chips Ragged edges Flash 2 2 Wire way areas Chips Ragged edges Flash 2 2 Clam ping recess areas Chips Ragged edges Pull-outs 2 2 see –6– 3.2 I EC 60424-2: 201 © I EC 201 Chips and ragged edges 3.2.1 Chips and ragged edges on mating surfaces The areas of the chips located on the m ating surfaces (C1 , C1 and C1 Figure ) shall not exceed the following lim its: ′ irregularities in ″ – the cumulative area of the chips shall be less than % of the total mating surface; – the total length of the ragged edges shall be less than 25 % of the perim eter of the relevant surface L2 L1 R1 ' C1 ' R1 C1 '' C1 I nner edge of wire slot area IEC Key C1 , C1 , C1 : chip ′ ″ R1 , R1 : ragged edge L , L : length of ragged edge ′ Figure – Chips and ragged edges on mating surfaces Allowable chipping areas for a given core are summ arized in Table Table – Allowable chipping areas Core size Mating surfaces (m m ) RM4/RM5 < RM6/RM7 RM8 < RM1 RM1 < < 4, < RM1 Other surfaces (m m ) 2, < 15 < < < < < < 15 25 30 NOTE These lim its are applicable to cores with and without a hole in the centre-post 3.2.2 Chips and ragged edges on other surfaces The areas of the chips located on the other surfaces shall not exceed the following limits: – The allowable chipping areas are doubled as compared to the lim its for the m ating surface (see Table 2) – The rule for the ragged edges is the sam e as for the mating surface – Chips and ragged edges are not acceptable on the ridge of the clam ping recess area I EC 60424-2: 201 © I EC 201 –7– – Chips and ragged edges are not acceptable on the inner edges of the wire slot area (see Figure ) The area and length references for visual inspection are given in Table –8– I EC 60424-2: 201 © I EC 201 Table – Area and length references for visual inspection IEC – 14 – I EC 60424-2:201 © I EC 201 SOMMAIRE AVANT-PROPOS Domaine d'application Références norm atives Limites des irrégularités de surface 3.1 Contrôle visuel et limites recom mandées 3.2 Éclats et bords ébréchés 2.1 Éclats et bords ébréchés sur les surfaces de contact 2.2 Éclats et bords ébréchés sur les autres surfaces 3.3 Fissures 21 3.4 Bavure 22 3.5 Collages 22 3.6 Cristallites 23 3.7 Pores 24 Bibliographie 25 Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure – Éclats et bords ébréchés sur les surfaces de contact – Emplacement des fissures – Vue de dessus 21 – Emplacement des fissures – Vue de dessous 21 – Dimension W 22 – Emplacement des bavures et des collages 23 – Collage dans la zone d'encoche de clipsage 23 – Emplacement des cristallites pour un noyau RM 23 – Emplacement des pores pour un noyau RM 24 Tableau – Paragraphes applicables pour des irrégularités données en fonction de leur emplacement Tableau – Surfaces admissibles des éclats Tableau – Surfaces et longueurs de référence pour le contrôle visuel 20 Tableau – Limites pour les fissures 22 Tableau – W dim ensions 22 I EC 60424-2: 201 © I EC 201 – 15 – COMMI SSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATI ONALE N O YAU X F E RRI T E S – L I G N E S D I RE C T RI C E S RE L AT I VE S AU X L I M I T E S D E S I RRÉ G U L ARI T É S D E S U RF AC E – P a rti e : N o ya u x RM AVANT-PROPOS ) La Com m ission Electrotechnique I nternationale (I EC) est une organisation m ondiale de norm alisation com posée de l'ensem bl e des com ités électrotechniques nationaux (Com ités nationaux de l’I EC) L’I EC a pour objet de favoriser l a coopération internationale pour toutes les questions de norm alisation dans les dom aines de l'électricité et de l'électronique A cet effet, l’I EC – entre autres activités – publie des Norm es internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-après dénom m és "Publication(s) de l ’I EC") Leur élaboration est confiée des com ités d'études, aux travaux desquels tout Com ité national intéressé par le sujet traité peut participer Les organisations internationales, gouvernem entales et non gouvernem entales, en liaison avec l’I EC, participent égalem ent aux travaux L’I EC collabore étroitem ent avec l'Organisation I nternationale de Norm alisation (I SO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations 2) Les décisions ou accords officiels de l’I EC concernant les questions techniques représentent, dans la m esure du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Com ités nationaux de l’I EC intéressés sont représentés dans chaque com ité d’études 3) Les Publications de l ’I EC se présentent sous la form e de recom m andations internationales et sont agréées com m e telles par les Com ités nationaux de l’I EC Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que l’I EC s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; l’I EC ne peut pas être tenue responsable de l'éventuelle m auvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final 4) Dans le but d'encourager l'uniform ité internationale, les Com ités nationaux de l’I EC s'engagent, dans toute la m esure possible, appliquer de faỗon transparente les Publications de l’I EC dans leurs publications national es et régionales Toutes divergences entre toutes Publications de l’I EC et toutes publications nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en term es clairs dans ces dernières 5) L’I EC elle-m êm e ne fournit aucune attestation de conform ité Des organism es de certification indépendants fournissent des services d'évaluation de conform ité et, dans certains secteurs, accèdent aux m arques de conform ité de l’I EC L’I EC n'est responsable d'aucun des services effectués par les organism es de certification indépendants 6) Tous les util isateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication 7) Aucune responsabilité ne doit être im putée l’I EC, ses adm inistrateurs, em ployés, auxiliaires ou m andataires, y com pris ses experts particuliers et les m em bres de ses com ités d'études et des Com ités nationaux de l’I EC, pour tout préjudice causé en cas de dom m ages corporels et m atériels, ou de tout autre dom m age de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y com pris les frais de justice) et les dépenses découlant de la publ ication ou de l'utilisation de cette Publication de l’I EC ou de toute autre Publication de l’I EC, ou au crédit qui lui est accordé 8) L'attention est attirée sur les références norm atives citées dans cette publication L'utilisation de publications référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication 9) L’attention est attirée sur le fait que certains des élém ents de la présente Publication de l’I EC peuvent faire l’objet de droits de brevet L’I EC ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de brevets et de ne pas avoir signalé leur existence La Norme internationale I EC 60424-2 a été établie par le com ité d’études 51 de l'I EC: Com posants m agnétiques et ferrites Cette deuxièm e édition annule et rem place la prem ière édition parue en 997 dont elle constitue une révision technique Cette édition inclut les modifications techniques m ajeures suivantes par rapport l'édition précédente: a) ajout de cristallites en 3.6 et de pores en 3.7 – 16 – I EC 60424-2:201 © I EC 201 Le texte de cette norm e est issu des docum ents suivants: FDI S Rapport de vote 51 /1 08/FDI S 51 4/1 22/RVD Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti l'approbation de cette norme Cette publication a été rédigée selon les Directives I SO/I EC, Partie Une liste de toutes les parties de la série I EC 60424, publiées sous le titre général Noyaux peut être consultée sur le site web de l'I EC ferrites – Lignes directrices relatives aux limites des irrégularités de surface , Les futures normes de cette série porteront dorénavant le nouveau titre général cité ci -dessus Le titre des normes existant déjà dans cette série sera m is jour lors de la prochaine édition Le com ité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas m odifié avant la date de stabilité indiquée sur le site web de l'I EC sous "http://webstore.iec.ch" dans les données relatives la publication recherchée A cette date, la publication sera • • • • reconduite, supprimée, rem placée par une édition révisée, ou am endée I EC 60424-2: 201 © I EC 201 – 17 – N O YAU X F E RRI T E S – L I G N E S D I RE C T RI C E S RE L AT I VE S AU X L I M I T E S D E S I RRÉ G U L ARI T É S D E S U RF AC E – P a rti e : N o ya u x RM D om a i n e d ' appl i cati on La présente partie de l'I EC 60424 fournit des lignes directrices sur les lim ites adm issibles des irrégularités de surface applicables aux noyaux RM conform ém ent la spécification générique applicable I l convient de considérer la présente norm e com me une spécification interm édiaire utile dans les négociations entre les fabricants de noyaux en ferrite et leurs clients sur les irrégularités de surface Ré fé re n c e s n o rm a t i ve s Les docum ents suivants sont cités en référence de m anière normative, en intégralité ou en partie, dans le présent document et sont indispensables pour son application Pour les références datées, seule l’édition citée s’applique Pour les références non datées, la dernière édition du docum ent de référence s’applique (y com pris les éventuels am endements) L i m i t e s d e s i rré g u l a ri t é s d e s u rfa c e C o n t rô l e v i s u e l e t l i m i t e s re c o m m a n d é e s Le Tableau indique les paragraphes perm ettant d'identifier rapidem ent des lim ites recomm andées pour des irrégularités données en fonction de leur em placement Tabl eau – P a g p h e s a p p l i c a b l e s p o u r d e s i rré g u l a ri t é s d o n n é e s e n fo n c t i o n d e l e u r e m p l a c e m e n t E m p l acem en t T yp e d ' i rré g u l a ri t é Surfaces de contact Éclats Bords ébréchés Fissures Éclats Bords ébréchés Fissures Éclats Fissures Éclats Bords ébréchés Fissures Collages Éclats Bords ébréchés Bavure Éclats Bords ébréchés Bavure Éclats Bords ébréchés Collages Pôle central Parois extérieures Sem ell e Zones d'encoches de passage de fil Zones de passage de fil Zones d'encoches de clipsage P o u r l e s l i m i te s , 3 3 2 2 3 2 3 2 2 3 2 2 2 2 2 2 vo i r – 18 – I EC 60424-2:201 © I EC 201 Écl ats et bord s ébréch és Écl ats et bord s ébréch és su r l es su rfaces d e tact Les surfaces des éclats localisés sur les surfaces de contact (irrégularités C1 , C1 et C1 de la Figure ) ne doivent pas dépasser les lim ites suivantes: ′ ″ – la surface cum ulée des éclats doit être inférieure % de la surface totale de contact; – la longueur totale des bords ébréchés doit être inférieure 25 % du périm ètre de la surface applicable L2 L1 R1 ' C1 ' R1 C1 '' C1 Bord interne de la zone d'encoche de passage de fil IEC Lég en d e C1 , C1 , C1 : éclat ′ ″ R1 , R1 : bord ébréché L , L : longueur du bord ébréché ′ Fi g u re – Écl ats et bord s ébréch és su r l es su rfaces d e tact Les surfaces adm issibles des éclats pour un noyau donné sont résumées dans le Tableau Tabl eau – Su rfaces ad m i ssi bl es d es écl ats Di m en si on s d u n oyau Su rfaces d e tact RM4/RM5 < RM6/RM7 RM8 < RM1 RM1 < < 4, < RM1 (m m ) 2, < 15 Au tres su rfaces < < < < < < (m m ) 15 25 30 NOTE Ces lim ites s'appliquent aux noyaux avec et sans trou dans le pôle central 2 Écl ats et bord s ébréch és su r l es au tres su rfaces Les surfaces des éclats localisés sur les autres surfaces ne doivent pas dépasser les limites suivantes: – Com parées aux lim ites pour la surface de contact, les surfaces adm issibles des éclats sont doublées (voir le Tableau 2) – La règle pour les bords ébréchés est la m ême que pour la surface de contact I EC 60424-2: 201 © I EC 201 – 19 – – Les éclats et les bords ébréchés ne sont pas acceptables sur l'arête de clipsage de la zone d'encoche de clipsage – Les éclats et les bords ébréchés ne sont pas acceptables sur les bords internes de la zone d'encoche de passage de fil (voir Figure ) Les surfaces et les longueurs de référence pour le contrôle visuel sont données dans le Tableau – 20 – I EC 60424-2:201 © I EC 201 Tableau – Surfaces et longueurs de référence pour le contrôle visuel IEC I EC 60424-2: 201 © I EC 201 3.3 – 21 – Fissures Une seule fissure continue qui coupe le périmètre de la surface applicable en deux points n'est pas acceptable (voir les irrégularités S1 , S1 et S1 de la Figure 2) ′ ″ Les limites pour les fissures aux différents em placements représentés sur les Figure et Figure sont données dans le Tableau S1 ' S2 S7 S2' S1 S4' S3 S3' S5 S7' S4 S1 '' IEC Figure – Emplacement des fissures – Vue de dessus S6' S6 Sem elle Paroi extérieure S6'' S8 IEC NOTE La frontière entre la paroi extérieure et la sem elle est représentée par une ligne discontinue sur la Figure Figure – Emplacement des fissures – Vue de dessous – 22 – I EC 60424-2:201 © I EC 201 Tableau – Limites pour les fissures Type S1 , S1 , S1 ′ S2, S2 S3, S3 S4, S4 ″ ′ ′ ′ Emplacement Limites pour fissure unique Limites pour fissures multiples N'im porte où Non acceptable Non acceptable Surface de contact du pôle central 50 % de l'épaisseur du pôle central Épaisseur du pôle central Surface de contact de la paroi extérieure Pôle central Épaisseur de la paroi, W 2W Épaisseur du pôle central Épaisseur du pôle central W 4W S5 Paroi extérieure Épaisseur de la paroi, S6, S6 , S6’’ Surface de fond Épaisseur de la sem elle S7, S7 Coin du pôle central/sem elle et paroi extérieure/sem elle 25 % de la circonférence du pôle central 25 % de la circonférence du pôle central 25 % de l'arc applicable 25 % de l 'arc applicable ′ ′ S8 Partie latérale de la sem elle × l'épaisseur de la sem elle Les fissures de tôles (découpées) au niveau de la sem elle ne sont pas acceptables NOTE Pour les noyaux sans trou dans le pôle central, l'épaisseur du pôle central est rem placée par la m oitié du diam ètre du pôle central, c'est-à-dire, dans le Tableau 4, la lim ite "50 % de l'épaisseur du pôle central" devient "25 % du diam ètre du pôle central " et "épaisseur du pôl e central" devient "la m oitié du diam ètre du pôle central" Le critère d'acceptation pour les dim ensions d'une fissure est basé sur l'épaisseur m inim ale W de la paroi extérieure de la taille de noyau applicable Le Tableau et la Figure donnent toutes les valeurs de W approchées selon ( a – d2 )/2 Tableau – W dimensions W d2 W Dimensions du noyau mm RM 0, 72 RM 0, 82 RM 0, 88 RM 0, 88 RM , 00 RM 1 , 25 RM , 88 RM 2, 55 a W = a –2 d2 IEC Figure – Dimension W 3.4 Bavure La Figure donne des exemples d'emplacements de bavures sur un noyau RM I l ne doit pas y avoir de bavure s'étendant du noyau l'encoche de passage de fil 3.5 Collages La Figure et la Figure donnent des exemples d'emplacements de collages sur un noyau RM La surface cum ulée des collages sur la surface du fond ou sur la zone d'encoche de clipsage du noyau doit être inférieure 25 % de la zone de surface totale respective (comprenant les zones de passage de fil pour la surface de fond) I EC 60424-2: 201 © I EC 201 – 23 – Exem ple de bavure Collage Zone de passage de fil IEC Figure – Emplacement des bavures et des collages Collage Arête IEC Figure – Collage dans la zone d'encoche de clipsage 3.6 Cristallites La Figure donne des exem ples d'emplacements de cristallites sur un noyau RM – Une seule surface de cristallites situées sur n'im porte quelle surface doit être inférieure % de la surface associée – La surface cumulée des cristallites situées sur toute surface doit être inférieure 4% de la surface associée Cristallites IEC Figure – Emplacement des cristallites pour un noyau RM – 24 – 3.7 I EC 60424-2:201 © I EC 201 Pores La Figure donne des exem ples d'em placements de pores sur un noyau RM – Le nom bre de pores situés sur la même surface ne doit pas dépasser Le nombre total de pores situés sur toutes les surfaces ne doit pas dépasser – Un trou dont la surface est supérieure m m sur n'im porte quelle surface n'est pas acceptable Pore IEC Figure – Emplacement des pores pour un noyau RM I EC 60424-2: 201 © I EC 201 – 25 – Bibliographie [1 ] I EC 60424-1 , Noyaux ferrites – Guide relatif aux limites des irrégularités de surface – Partie : Spécification générale [2] I EC 60424-2, Noyaux ferrites – Lignes directrices relatives aux limites des irrégularités de surface – Partie 2: Noyaux RM [3] I EC 60424-3 , Noyaux ferrites – Lignes directrices relatives aux limites des irrégularités de surface – Partie 3: Noyaux ETD, EER, EC et E [4] I EC 60424-4, Noyaux ferrites – Lignes directrices relatives aux limites des irrégularités de surface – Partie 4: Noyaux toriques [5] I EC 60424-5 , Noyaux ferrites – Lignes directrices relatives aux limites des irrégularités de surface – Partie 5: Noyaux planaires _ A l'étude I N TE RN ATI O N AL E LE CTRO TE CH N I CAL CO M M I S S I O N 3, ru e d e Va re m bé P O B ox CH -1 1 G e n e va S wi tze rl a n d Te l : + 41 F a x: + 22 91 02 1 22 91 03 00 i n fo @i e c ch www i e c ch