I E C 60 42 4-8 ® Edition 201 5-08 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE F erri te core s – G u i d el i n e s on th e l i m i ts of s u rface i rre g u l ari ti es – P art 8: P Q-cores N o yau x ferri te s – Li g n e s d i rectri ces re l ati ves au x l i m i tes d es i rré g u l ari tés d e s u rface – IEC 60424-8:201 5-08(en-fr) P arti e : N o yau x P Q T H I S P U B L I C AT I O N I S C O P YRI G H T P RO T E C T E D C o p yri g h t © I E C , G e n e v a , S wi tz e rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about I EC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local I EC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Ab ou t th e I E C The I nternational Electrotechnical Commission (I EC) is the leading global organization that prepares and publishes I nternational Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i ca ti o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I E C Catal og u e - webstore i ec ch /catal og u e The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad I E C pu bl i cati on s s earch - www i ec ch /search pu b The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications E l ectroped i a - www el ectroped i a org The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 30 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I E C G l os sary - s td i ec ch /g l oss ary More than 60 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i sh ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C C u stom er S ervi ce C en tre - webstore i ec ch /csc If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A propos d e l 'I E C La Commission Electrotechnique I nternationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A propos d es pu bl i cati on s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié Catal og u e I E C - webstore i ec ch /catal og u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad Rech erch e d e pu bl i cati on s I E C - www i ec ch /search pu b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectroped i a - www el ectroped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient plus de 30 000 termes et dộfinitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes équivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l oss re I E C - s td i ec ch /g l ossary Plus de 60 000 entrées terminologiques ộlectrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Définitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i s h ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email S ervi ce Cl i en ts - webstore i ec ch /csc Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I E C 60 42 4-8 ® Edition 201 5-08 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE F e rri te cores – G u i d el i n es on th e l i m i ts of s u rface i rreg u l ari ti es – P art 8: P Q-cores N o yau x fe rri tes – Li g n es d i rectri ce s rel ati ve s au x l i m i tes d es i rrég u l ari tés d e s u rface – P arti e : N oyau x P Q INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 29.1 00.1 ISBN 978-2-8322-2803-6 Warn i n g ! M ake s u re th at you obtai n ed th i s pu bl i ca ti on from an au th ori zed d i s tri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s ass u rer q u e vou s avez obten u cette pu bl i cati on vi a u n d i s tri bu teu r ag ré é ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission –2– I EC 60424-8: 201 © I EC 201 CONTENTS FOREWORD Scope Norm ative references Terms and definitions Lim its of surface irregularities Chips and ragged edges Chips and ragged edges located on the m ating surface Chips located on other surfaces Cracks Pull-out 4 Crystallites Flash 1 Pores 1 Bibliograph y Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure – Exam ples of surface irregularities – Chips and ragged edges location – Cracks location – Reference dimensions for PQ-cores – Pull-out location – Crystallites location 1 – Flash location 1 – Pores location Table – Lim its for allowable chipping areas Table – Area and length reference of irregularities for visual inspection Table – Lim its for cracks I EC 60424-8: 201 © I EC 201 –3– INTERNATI ONAL ELECTROTECHNI CAL COMMISSI ON F E R RI T E C O RE S – G U I D E LI N E S O N T H E L I M I T S O F S U RF AC E I RRE G U L AR I T I E S – P a rt : P Q -c o re s FOREWORD ) The I nternati on al Electrotechni cal Comm ission (I EC) is a worl d wid e organization for stan dardization com prisin g all n ation al el ectrotechnical comm ittees (I EC National Comm ittees) The object of I EC is to prom ote internati onal co-operation on all questions concerni ng stand ardi zati on in the el ectrical an d electronic fields To this end and in additi on to other acti vities, I EC publish es I nternational Stan dards, Techn ical Specifications, Technical Reports, Publicl y Avail abl e Specificati ons (PAS) an d Gu ides (h ereafter referred to as “I EC Publication(s)”) Thei r preparation is entrusted to technical comm ittees; any I EC National Comm ittee interested in the subj ect dealt with m ay partici pate in this preparatory work I nternational, governm ental an d n on governm ental organ izations l iaising with th e I EC also participate i n this preparation I EC collaborates closel y with the I ntern ational Organi zation for Stand ardization (I SO) in accordance with conditions determ ined by agreem ent between th e two organi zati ons 2) The form al decisions or ag reem ents of I EC on tech nical m atters express, as n early as possible, an i nternati onal consensus of opi nion on the rel evant subjects since each technical com m ittee has representati on from all interested I EC N ational Com m ittees 3) I EC Publications have the form of recomm endations for intern ational use an d are accepted by I EC National Com m ittees in that sense While all reasonable efforts are m ade to ensure that th e tech nical content of I EC Publications is accu rate, I EC cann ot be h eld responsi ble for th e way in which th ey are used or for an y m isinterpretation by an y en d u ser 4) I n order to prom ote intern ational u niform ity, I EC National Com m ittees und ertake to apply I EC Publications transparentl y to the m axim um extent possible i n their national an d regi on al publicati ons Any d ivergence between an y I EC Publication and the correspondi ng national or regi on al publicati on sh all be clearl y in dicated in the latter 5) I EC itself d oes n ot provi de an y attestation of conform ity I n depend ent certificati on bodies provi de conform ity assessm ent services and, in som e areas, access to I EC m arks of conform ity I EC is not responsi ble for an y services carri ed out by ind ependent certification bodi es 6) All users shou ld ensure that th ey h ave the l atest editi on of thi s publicati on 7) No liability shall attach to I EC or its directors, em ployees, servants or ag ents inclu din g in divi du al experts an d m em bers of its tech nical com m ittees and I EC Nati on al Com m ittees for any person al i nju ry, property d am age or other dam age of any n ature whatsoever, wheth er di rect or indirect, or for costs (includ i ng leg al fees) and expenses arisi ng out of the publ ication, use of, or relian ce upon, this I EC Publicati on or any other I EC Publications 8) Attention is drawn to the N orm ative references cited in th is publ ication Use of the referenced publ ications is indispensable for the correct applicati on of this publication 9) Attention is drawn to the possibility that som e of the elem ents of this I EC Publication m ay be the su bject of patent rig hts I EC shall not be held responsibl e for identifyi ng any or all such patent ri ghts I nternational Standard I EC 60424-8 has been prepared by technical com mittee 51 : Magnetic com ponents and ferrite materials The text of this standard is based on the following documents: CDV Report on votin g 51 /1 078/CDV 51 /1 084/RVC Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table This publication has been drafted in accordance with the I SO/I EC Directives, Part –4– I EC 60424-8: 201 © I EC 201 A list of all parts in the I EC 60424 series, published under the general title Ferrite cores – Guidelines on the limits of surface irregularities , can be found on the I EC website Future standards in this series will carry the new general title as cited above Titles of existing standards in this series will be updated at the time of the next edition The comm ittee has decided that the contents of th is publication will rem ain unchanged until the stability date indicated on the I EC website under "http: //webstore.iec.ch" in the data related to the specific publication At this date, the publication will be • • • • reconfirmed, withdrawn, replaced by a revised edition, or am ended I EC 60424-8: 201 © I EC 201 –5– F E R RI T E C O RE S – G U I D E LI N E S O N T H E L I M I T S O F S U RF AC E I RRE G U L AR I T I E S – P a rt : P Q -c o re s S cop e This part of I EC 60424 gives guidance on allowable lim its of surface irregularities applicable to PQ-cores in accordance with the relevant generic specification This standard is considered as a sectional specification useful in the negotiation between ferrite core m anufacturers and users about surface irregularities N o rm a t i ve re fe re n c e s The following docum ents, in whole or in part, are normativel y referenced in this document and are indispensable for its application For dated references, onl y the edition cited applies For undated references, the latest edition of the referenced docum ent (including an y amendments) applies I EC 60401 -1 , Terms and nomenclature for cores made of magnetically soft ferrites – Part 1: Terms used for physical irregularities I EC 60424-1 , Ferrite cores – Guide on the limits of surface irregularities – Part 1: General specification T e rm s a n d d e fi n i t i o n s For the purposes of this document, the term s and definitions given in I EC 60424-1 and I EC 60401 -1 , as well as the following apply p o re s holes left on the surface of cores after sintering and surface finishing SEE: Figure IEC F i g u re – E x a m p l e s o f s u rfa c e i rre g u l a ri t i e s –6– I EC 60424-8: 201 © I EC 201 Limits of surface irregularities 4.1 4.1 Chips and ragged edges Chips and ragged edges located on the mating surface The areas of the chips located on the m ating surface (see C1 and C1 ’ irregularities in Figure 2) shall not exceed the following lim its: – the cum ulative area of the chips located on the m ating surface shall be less than % of the total mating surface; – the cum ulative area of the chips located on the centre post mating surface shall be less than % of the total m ating surface; – the cum ulative area of the chips located on the mating surface of one outer leg shall be less than % of the total m ating surface; The total length of the ragged edges shall be less than 25 % of the perimeter of the relevant m ating surface 4.1 Chips located on other surfaces The areas of the chips located on the other surfaces (see C2, C2’, C3 and C3’ irregularities in Figure 2) shall not exceed the following lim its: – the allowable chipping areas are doubled as com pared to the lim its for the whole m ating surfaces (see Table ); – the rule for the ragged edges is the same as for the mating surfaces; – chips and ragged edges are not acceptable on the inner edges of the wire slot area IEC Figure – Chips and ragged edges location The limits of allowable chipping areas shall be in accordance with Table I EC 60424-8: 201 © I EC 201 –7– Table – Limits for allowable chipping areas Un it: m m Core size Chipping on mating surface of one outer leg Chipping on mating surface of centre post Overall chipping on mating surface Overall chipping on other surfaces PQ20/1 < ,0 < 2, < 4, < 9, PQ20/20 < ,0 < 2, < 4, < 9, PQ26/20 < 2, < 4, < 9, < 9, PQ26/25 < 2, < 4, < 9, < 9, PQ32/20 < 3, < 6, < 2, < 24, PQ32/30 < 3, < 6, < 2, < 24, PQ35/35 < 3, < 6, < 3, < 26, PQ40/40 < 3, < 7, < 4, < 28, PQ50/50 < 6, < 2, < 25, < 50, NOTE For th e relevant core sizes refer to I EC 6231 7-1 The area and length reference of irregularities for visual inspection are given in Table 2 –8– I EC 60424-8: 201 © I EC 201 Tabl e – Area an d l en g th referen ce of i rreg u l ari ti es for vi su al i n specti on IEC – 14 – I EC 60424-8: 201 © I EC 201 SOMMAIRE AVANT-PROPOS Domaine d'application Références normatives Termes et définitions Lim ites des irrégularités de surface Eclats et angles ébréchés Eclats et angles ébréchés situés sur la surface de contact Eclats situés sur d'autres surfaces Fissures 21 Collage 22 4 Cristallites 22 Bavures 23 Pores 23 Bibliographie 25 Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure – Exem ples d'irrégularités de surface – Emplacem ents des éclats et des angles ébréchés – Emplacem ents des fissures 21 – Dimensions de référence des noyaux PQ 21 – Emplacem ents des collages 22 – Emplacem ents des cristallites 23 – Emplacem ents des bavures 23 – Emplacem ents des pores 24 Tableau – Lim ites des surfaces adm issibles des éclats Tableau – Surfaces et longueurs de référence des irrégularités pour l'inspection visuelle 20 Tableau – Lim ites pour les fissures 22 I EC 60424-8: 201 © I EC 201 – 15 – COMMI SSION ÉLECTROTECHNIQUE I NTERNATIONALE N O Y AU X F E RRI T E S – L I G N E S D I RE C T RI C E S RE L AT I VE S AU X L I M I T E S D E S I RRÉ G U L ARI T É S D E S U RF AC E – P a rti e : N o ya u x P Q AVANT-PROPOS ) La Com m ission Electrotechni que I ntern ational e (I EC) est une organisation m ondial e de norm alisation com posée de l'ensem ble d es com ités électrotechni qu es nati onau x (Com ités nation au x de l ’I EC) L’I EC a pou r objet de favoriser la coopérati on i nternati onale pou r toutes l es qu estions d e n orm alisation dans l es d om aines de l'électricité et d e l'électroniq ue A cet effet, l’I EC – entre au tres activités – publ ie d es N orm es internati onales, des Spécifications techni ques, des Rapports techni ques, d es Spécifications accessibles au publ ic (PAS) et des Guid es (ci-après dén omm és "Publicati on (s) de l’I EC") Leur él aborati on est confiée des com ités d'études, au x travau x d esqu els tout Com ité nati on al intéressé par le sujet traité peut partici per Les organisations internati onales, gouvernem entales et non g ou vernem ental es, en liaison avec l ’I EC, partici pent égal em ent au x travau x L’I EC collabore étroi tem ent avec l'Org anisati on I n ternation al e d e Norm alisation (I SO), selon des conditions fi xées par accord en tre les d eu x organisations 2) Les décisions ou accords officiels de l ’I EC concern ant l es q uestions techni qu es représentent, dans la m esure du possibl e, un accord intern ation al sur les sujets étudiés, étant don né qu e les Com ités nationau x de l ’I EC intéressés sont représentés d ans chaqu e com ité d’études 3) Les Publicati ons de l’I EC se présentent sous la form e de recomm andations internati onal es et sont agréées comm e telles par les Com ités nation au x de l’I EC Tous les efforts raisonn abl es sont entrepris afin qu e l’I EC s'assure de l'exactitu de d u tenu techn iqu e de ses publications; l’I EC ne peut pas être tenue responsabl e de l'éventu elle m au vaise utilisation ou i nterprétation qu i en est faite par u n qu elcon qu e utilisateur fi nal 4) Dans l e but d'encou rager l'uni form ité internati on ale, l es Com ités nationau x de l’I EC s'eng agent, dans toute la m esure possibl e, appli quer d e faỗon transparente l es Publ i cations d e l’I EC dans leurs pu blications nati on al es et régional es Toutes di vergences entre toutes Publication s de l’I EC et toutes pu blicati ons nati on ales ou rég ion ales correspon dantes doivent être ind iqu ées en term es clairs dans ces dernières 5) L’I EC elle-m êm e ne fournit aucune attestati on de conform ité Des organism es de certification ind épend ants fournissent des services d'évaluati on de conform ité et, d ans certai ns secteu rs, accèdent aux m arques de conform ité d e l’I EC L’I EC n'est responsabl e d'aucu n d es services effectu és par les organism es de certification indépendants 6) Tous les util isateurs d oi vent s'assurer qu'ils sont en possession de l a dernière édition de cette publication 7) Aucune responsabilité ne doit être im putée l’I EC, ses adm inistrateurs, em ployés, au xil i aires ou m andataires, y com pris ses experts particul i ers et les m em bres de ses com ités d'études et des Com ités nationau x d e l’I EC, pou r tout préju dice causé en cas de d omm ages corporels et m atériel s, ou de tout autre d omm age de q uel que natu re q ue ce soit, directe ou indi recte, ou pou r supporter les coûts (y com pris les frai s de justice) et les dépenses découlant de la publicati on ou de l'uti lisation de cette Publicati on d e l’I EC ou de toute autre Publication d e l’I EC, ou au crédit qui l ui est accordé 8) L'attenti on est attirée sur les références norm atives citées d ans cette publication L'utilisation de publ ications référencées est obl igatoire pou r un e applicati on correcte de la présente publicati on 9) L’attention est attirée sur le fait que certains des élém ents de la présente Publicati on de l’I EC peuvent faire l’obj et de d roits de brevet L’I EC ne sau rait être ten ue pou r responsable d e ne pas avoir i d entifié de tels droits de brevets et de ne pas avoi r signalé leur existence La N orm e internationale I EC 60424-8 a été établie par le comité d’études 51 de l'I EC: Com posants m agnétiques et ferrites Le texte de cette norm e est issu des documents suivants: CDV Rapport de vote 51 /1 078/CDV 51 /1 084/RVC Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute inform ation sur le vote ayant abouti l'approbation de cette norm e – 16 – I EC 60424-8: 201 © I EC 201 Cette publication a été rédigée selon les Directives I SO/I EC, Partie Une liste de toutes les parties de la série I EC 60424, publiées sous le titre général Noyaux ferrites – Lignes directrices relatives aux limites des irrégularités de surface , peut être consultée sur le site web de l'I EC Les futures norm es de cette série porteront dorénavant le nouveau titre général cité ci -dessus Le titre des normes existant déjà dans cette série sera m is j our lors de la prochaine édition Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas m odifié avant la date de stabilité indiquée sur le site web de l’I EC sous "http: //webstore iec.ch" dans les données relatives la publication recherchée A cette date, la publication sera • • • • reconduite, supprimée, remplacée par une édition révisée, ou amendée I EC 60424-8: 201 © I EC 201 – 17 – N O Y AU X F E RRI T E S – L I G N E S D I RE C T RI C E S RE L AT I VE S AU X L I M I T E S D E S I RRÉ G U L ARI T É S D E S U RF AC E – P a rti e : N o ya u x P Q D o m a i n e d ' a p p l i ca ti o n La présente partie de l'I EC 60424 est un guide relatif aux limites d'irrégularités de surface admissibles des noyaux PQ conform ément la spécification générique applicable La présente norme est considérée comm e une spécification interm édiaire utile en cas de négociation entre les fabricants de noyaux ferrites et les utilisateurs propos des irrégularités de surface Ré fé re n c e s n o rm a t i ve s Les docum ents suivants sont cités en référence de manière norm ative, en intégralité ou en partie, dans le présent docum ent et sont indispensables pour son application Pour les références datées, seule l’édition citée s’applique Pour les références non datées, la dernière édition du docum ent de référence s’applique (y compris les éventuels am endem ents) I EC 60401 -1 , Termes et nomenclature pour noyaux en matériaux ferrites magnétiquement doux – Partie : Termes utilisés pour les irrégularités physiques I EC 60424-1 , Noyaux ferrites – Guide relatif aux limites des irrégularités de surface – Partie : Spécification générale T e rm e s e t d é fi n i t i o n s Pour les besoins du présent document, les termes et définitions de l’I EC 60424-1 et de l’I EC 60401 -1 , ainsi que les suivants s'appliquent p o re s trous laissés la surface des noyaux après frittage et finition de surface VOI R: Figure – 18 – I EC 60424-8: 201 © I EC 201 IEC Figure – Exemples d'irrégularités de surface Limites des irrégularités de surface 4.1 4.1 Eclats et angles ébréchés Eclats et angles ébréchés situ és sur la su rface de contact Les surfaces des éclats situés sur la surface de contact (voir les irrégu larités C1 et C1 ' sur la Figure 2) ne doivent pas dépasser les lim ites suivantes: – la surface cumulée des éclats situés sur la surface de contact doit être inférieure % de la surface de contact totale; – la surface cum ulée des éclats situés sur le pôle central doit être inférieure % de la surface de contact totale; – la surface cum ulée des éclats situés sur la surface de contact d'une branche externe doit être inférieure % de la surface de contact totale La longueur totale des angles ébréchés doit être inférieure 25 % du périmètre de la surface de contact correspondante 4.1 Eclats situés sur d'autres surfaces Les surfaces des éclats situées sur les autres surfaces (voir les irrégularités C2, C2’, C3 et C3’ sur la Figure 2) ne doivent pas dépasser les limites suivantes: – les surfaces adm issibles des éclats sont le double des lim ites pour l'ensemble des surfaces de contact (voir Tableau ); – la règle pour les angles ébréchés est la mêm e que pour les surfaces de contact; – les éclats et les angles ébréchés ne sont pas acceptables sur les angles intérieurs de la zone d'encoche de passage de fil I EC 60424-8: 201 © I EC 201 – 19 – IEC Figure – Emplacements des éclats et des angles ébréchés Les limites des surfaces adm issibles des éclats doivent être conform es au Tableau Tableau – Limites des surfaces admissibles des éclats Un ité : m m Taille d e noyau Eclats sur la surface de tact d'une bran che extern e Eclats sur la surface de tact d'un pôle cen tral Ensemble des éclats su r la surface de tact Ensemble des éclats su r les autres su rfaces PQ20/1 < ,0 < 2, < 4, < 9, PQ20/20 < ,0 < 2, < 4, < 9, PQ26/20 < 2, < 4, < 9, < 9, PQ26/25 < 2, < 4, < 9, < 9, PQ32/20 < 3, < 6, < 2, < 24, PQ32/30 < 3, < 6, < 2, < 24, PQ35/35 < 3, < 6, < 3, < 26, PQ40/40 < 3, < 7, < 4, < 28, PQ50/50 < 6, < 2, < 25, < 50, NOTE Les taill es de n oyau x applicables font référence l'I EC 6231 7-1 Les surfaces et les longueurs de référence des irrégularités pour l'inspection visuelle sont données dans le Tableau – 20 – I EC 60424-8: 201 © I EC 201 Tabl eau – Su rfaces et l on g u eu rs d e référen ce d es i rrég u l ari tés pou r l 'i n specti on vi su el l e IEC I EC 60424-8: 201 © I EC 201 4.2 – 21 – Fissu res La Figure m ontre des exem ples d’em placements de fissures sur les noyaux PQ: – une fissure qui coupe le périmètre de la surface concernée en deux points n'est pas acceptable (voir S1 sur la Figure 3); – une seule surface ne doit pas com porter plus de fissures Les limites des fissures différents endroits représentés sur la Figure sont données dans le Tableau IEC Légende S1 S8 types de fissures (pour l es lim ites pou r les fissures, voir Tabl eau 3) Figure – Emplacements des fissures Les dim ensions de référence pour les noyaux PQ de la Figure correspondent aux noyaux définis dans l'I EC 60401 -2 IEC Légende A Lon gueur totale du fond d e noyau B Lon gueur extéri eure d e la bran che du n oyau C Largeur d u noyau D Lon gueur i ntérieure de l a bran che ou profondeu r d e bobin e di sponible F Diam ètre d u pôle central SFigure – Dimensions de référence des noyaux PQ – 22 – I EC 60424-8: 201 © I EC 201 Tableau – Limites pou r les fissures Type a Emplacement Limites pour une seule fissu re Limites pour plusi eurs fissu res S1 N'im porte où Non acceptable Non acceptable S2 Paroi extern e 20 % × C 40 % × C S3 Surface d e contact d es branches extern es 20 % × C 40 % × C S4 Surface d e contact d u pôl e cen tral 20 % × F 40 % × F S5 Surface i nféri eu re 25 % × (B – D) 50 % × (B – D) S6 Paroi arrière 25 % × (B – D) 50 % × (B – D) S7 Paroi du pơle central 20 % × F 40 % × F S8 Surface arrière 25 % × C 50 % × C S9 Surface arrière 20 % × C 40 % × C Pour B, C, D, F voi r Figu re a 4.3 Voir Fig ure Collage La Figure montre un exem ple de localisation de collage sur le noyau PQ La surface cumulée des collages situés sur la surface arrière doit être inférieure 25 % de la surface respective totale IEC Figure – Emplacements des collages 4.4 Cristallites La Figure m ontre un exemple de localisation de cristallite sur le noyau PQ: – la surface de chaque cristallite située sur n'im porte quelle surface doit être inférieure % de la surface respective; – la surface cumulée des cristallites situées sur n'im porte quelle surface doit être inférieure % de la surface respective I EC 60424-8: 201 © I EC 201 – 23 – IEC Figure – Emplacements des cristallites 4.5 Bavures La Figure m ontre un exemple de localisation de bavure sur le noyau PQ: – lorsque le tour de la surface arrière est chanfreiné, la hauteur des bavures ne doit pas dépasser la surface arrière du noyau; – lorsque le tour de la surface arrière n'est pas chanfreiné, les bavures ne sont pas acceptables IEC Figure – Emplacements des bavu res 4.6 Pores La Figure montre un exem ple de localisation de pore sur le noyau PQ: – une seule surface ne doit pas comporter plus de pores L'ensemble des surfaces ne doit pas com porter plus de pores; – un trou de surface supérieure mm sur n'im porte quelle surface n'est pas acceptable – 24 – I EC 60424-8: 201 © I EC 201 IEC Figure – Emplacements des pores I EC 60424-8: 201 © I EC 201 – 25 – Bibliographie I EC 60401 -2, Termes et nomenclatures pour noyaux en matériaux ferrites magnétiquement doux – Partie 2: Références dimensionnelles I EC 6231 7-1 3, Noyaux ferrites – Dimensions – Partie 3: Noyaux PQ utilisés dans des applications d'alimentation électrique _ I N TE RN ATI O N AL E LE CTRO TE CH N I CAL CO M M I S S I O N 3, ru e d e Va re m bé P O B ox CH -1 1 G e n e va S wi tze rl a n d Te l : + 41 F a x: + 22 91 02 1 22 91 03 00 i n fo @i e c ch www i e c ch