29 - Quy trình tạo hạt nano Ag bằng phương pháp nung trong môi trường chân không: Sau khi màng Ag được bốc bay ở các khoảng thời gian khác nhau sẽ được tiến hành nung ở nhiệt độ cao trong môi trường chân không.
Thông qua một nghiên cứu về cấu trúc nano Ag với kích thước từ 60 -100nm cho thấy sự phụ thuộc của sự tăng cường SERS, hiệu suất SERS được cải thiện với kích thước của các hạt nano từ 60 -100 nm. Vì thế, chúng tơi sẽ thực hiện các thí nghiệm với mục đích khảo sát tìm ra được điều kiện tạo được các hạt nano Ag có kích thước tối ưu nhất có thể, kết quả sẽ được trình bày chi tiết trong chương 3.
2.3. Các phương pháp phân tích 2.3.1. Kính hiển vi quang học 2.3.1. Kính hiển vi quang học
Kính hiển vi quang học, thường được gọi là "kính hiển vi quang học ánh sáng" là một loại kính hiển vi sử dụng ánh sáng nhìn thấy và một hệ thống thấu kính để phóng đại hình ảnh của các mẫu nhỏ. Kính hiển vi quang học là thiết kế lâu đời nhất của kính hiển vi và có thể được thiết kế ở dạng tổng hợp như hiện nay của chúng vào thế kỷ 17. Kính hiển vi quang học cơ bản có thể rất đơn giản, mặc dù có nhiều thiết kế phức tạp nhằm cải thiện độ phân giải và độ tương phản của mẫu. Trong lịch sử, kính hiển vi quang học rất dễ phát triển và phổ biến vì chúng sử dụng ánh sáng nhìn thấy được nên các mẫu có thể được quan sát trực tiếp bằng mắt. Hình ảnh từ kính hiển vi quang học có thể được thu lại bằng các máy ảnh nhạy sáng bình thường để tạo ra hình ảnh hiển vi. Ban đầu, hình ảnh được chụp bằng phim chụp ảnh nhưng sự phát triển hiện đại trong máy ảnh thiết bị bán dẫn và thiết bị tích hợp kim loại-oxit bổ sung (CCD) cho phép chụp được hình ảnh kỹ thuật số [17].
30
Hình 2. 5. Kính hiển vi quang học [17].
Hiện nay trên thị trường có hai loại kính hiển vi quang học mới: kính hiển vi quang học quét đồng tiêu (confocal scanning optical microscope-CSOM) và kính hiển vi giao thoa quang học (optical interference microscope-OIM). Những dụng cụ này khác với kính hiển vi quang học tiêu chuẩn vì chúng có độ sâu tiêu điểm nơng, do đó có khả năng đo chiều cao và độ dày chính xác và thu được hình ảnh mặt cắt ngang. Kính hiển vi quang học quét trường gần (NSOM), có khả năng thu được độ nét thấp hơn rất nhiều so với giới hạn nhiễu xạ bình thường của quang học. Đối với kính hiển vi quang học tiêu chuẩn khi một hình ảnh bị mất nét, các đặc điểm của hình ảnh đó mờ đi do đó các cạnh trở nên kém sắc nét hơn nhưng cường độ ánh sáng trung bình không thay đổi. Mặt khác với CSOM, một số loại OIM và NSOM thì hình ảnh mất nét sẽ biến mất thay vì mờ. Nói cách khác, cường độ hình ảnh giảm khi hình ảnh bị mất nét. Đặc tính này cho phép hình ảnh của các cấu trúc có chiều cao khác nhau chỉ bằng một bước sóng quang học có thể cho ra kết quả rõ nét và có thể thực hiện các phép đo định lượng về chiều cao, cấu hình bề mặt và tái tạo hình ảnh ba chiều. Hình ảnh thu được cũng có xu hướng có độ tương phản cao hơn dẫn đến độ nét cạnh tốt hơn so với hình ảnh thu được bằng kính hiển vi tiêu chuẩn [28].
2.3.2. Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Kính hiển vi điện tử quét có tên tiếng anh là Scanning Electron Microscope và thường được viết tắc là SEM, là một loại kính hiển vi điện tử có thể tạo ra ảnh với độ phân giải cao của bề mặt mẫu vật bằng cách sử dụng một chùm điện tử (chùm các electron) hẹp quét trên bề mặt mẫu cho thơng tin về hình thái bề mặt mẫu. SEM sử
31 dụng các bức xạ phát ra do tương tác giữa chùm điện tử và bề mặt của mẫu để chụp ảnh [5].