CHƯƠNG 1 TỔNG QUAN
4.1. Nghiên cứu chế tạo BXTct
4.1.4. Đặc tính cấu trúc và hình thái bề mặt của lõi sử dụng xúc tác CuO-MnO
6 Khối lượng kim loại CuO-MnO2 sử dụng 6 g 7 Tỷ lệ mol CuO-MnO2 0,3-0,7 8 Khối lượng kim loại Pt/Rh sử dụng 0,7 g 9 Tỷ lệ khối lượng Pt/Rh 4/2
10 Khối lượng CeO2 sử dụng 4 g
11 Lượng -Al2O3 sử dụng 20 g
12 Lượng ZrO2 sử dụng 1 g
Sau khi nhúng phủ, để kiểm tra chất lượng q trình phủ, cần phải phân tích về cấu trúc và hình thái bề mặt của các lớp vật liệu trong lõi xúc tác. Q trình phân tích này được NCS thực hiện trong thời gian học tập tại phịng thí nghiệm vật liệu của giáo sư Ryoichi Ichino, Đại học Nagoya - Nhật Bản (từ tháng 9 đến tháng 11 năm 2018), chi tiết trang thiết bị kiểm tra, phân tích được trình bày trong Phụ lục 4.
4.1.4. Đặc tính cấu trúc và hình thái bề mặt của lõi sử dụng xúc tác CuO-MnO2 MnO2
4.1.4.1. Xác định diện tích bề mặt bằng phương pháp phân tích bề mặt riêng BET
Bảng 4.3 thể hiện diện tích bề mặt được xác định theo phương pháp phân tích bề mặt riêng BET (Brunauer-Emmett-Teller) của mẫu vật liệu xúc tác và vật liệu nền trên thiết bị ASAP 2010 (phụ lục 4.4). Kết quả cho thấy khi chưa phủ lớp kim loại xúc tác, diện tích bề mặt của lớp vật liệu trung gian là 142 m2g-1, khi phủ thêm vật
89
Bảng 4.3. Diện tích bề mặt của (CuO)0,3- (MnO2)0,7 phủ trên kim loại nền Al2O3-CeO2- ZrO2
Mẫu phủ Diện tích bề mặt (m2g-1)
Al2O3-CeO2-ZrO2/FeCrAl lõi 142
(CuO)0,3(MnO2)0,7/Al2O3-CeO2-ZrO2/ FeCrAl lõi 138
4.1.4.2. Đặc tính cấu trúc và hình thái bề mặt của lớp vật liệu trung gian Al2O3- CeO2-ZrO2
a) Đặc tính cấu trúc lớp vật liệu trung gian Al2O3-CeO2-ZrO2
Hình 4.14 chỉ ra kết quả chụp phổ nhiễu xạ XRD (X-Ray Diffraction) của lõi kim loại trước, sau khi xử lý nhiệt và XRD của lớp vật liệu trung gian Al2O3-CeO2-ZrO2 phủ trên lõi kim loại trên thiết bị RIGAKU RINT-2100CMT (phụ lục 4.1). Kết quả cho thấy, những đỉnh thép FeCrAl của lõi kim loại được quan sát tại lõi kim loại trước khi xử lý nhiệt. Sau khi xử lý nhiệt tại 900oC trong khơng khí sẽ tạo ra lớp ơ xít kim loại trên bề mặt lõi, kết quả thể hiện ở những đỉnh -Al2O3 được nhìn thấy (Hình 4.14a-14b). Sau khi lớp vật liệu trung gian Al2O3-CeO2-ZrO2 được phủ lên lõi kim loại, cường độ những đỉnh FeCrAl giảm trong khi những đỉnh -Al2O3, CeO2 và ZrO2 được quan sát khá rõ (Hình 4.14c), điều này chứng tỏ q trình phủ đã thành cơng, các hạt kim loại kết tủa bám dính tốt trên lõi kim loại.
Hình 4.14. XRD của (a) kim loại nền- FeCrAl; (b) α-Al2O3 washcoat/lõi kim loại; (c) γ- Al2O3-CeO2-ZrO2/lõi kim loại
b) Đặc tính hình học lớp phủ Al2O3-CeO2-ZrO2 trên lõi kim loại
Đặc tính cấu trúc bề mặt lớp phủ được quan sát trên kính hiển vi điện tử SEM (Scanning Electron Microscope) Hitachi, SU6600 EVACSEQ (Phụ lục 4.2). Hình 4.15 thể hiện hình ảnh SEM lớp phủ Al2O3-CeO2-ZrO2 trên lõi kim loại, kết quả cho thấy chiều dầy lớp phủ khoảng 25 m, lớp phủ phân bố đều trên bề mặt lỗ trong lõi xúc tác (Hình 4.15a). Kết quả cũng cho thấy các hạt CeO2-ZrO2 cỡ từ vài chục đến vài trăm nm phân bố đều trên hạt -Al2O3 (Hình 4.15b).
90
Hình 4.15. Ảnh SEM lớp phủ kim loại nền Al2O3-CeO2-ZrO2 trên lõi kim loại (a) mặt cắt
ngang lớp phủ; (b) ảnh chụp bề mặt lớp phủ
Hình 4.16. Ảnh EDS phân bố và tỷ lệ kim loại Al, Ce, Zr trên lõi kim loại
Hình 4.16 thể hiện hình ảnh phân tích bề mặt lớp vật liệu trung gian bằng phương pháp phân tích phổ EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy) trên thiết bị Hitachi SU8230 (phụ lục 4.3). Kết quả cho thấy sự phân bố các nguyên tố Al, Ce, Zr trên bề mặt lớp phủ Al2O3-CeO2-ZrO2 trên lõi kim loại, kết quả cho thấy đỉnh và diện tích đỉnh của kim loại Al nhiều nhất, tiếp đến là đỉnh và diện tích đỉnh của Ce và Zr, điều này phù hợp với tỷ lệ hỗn hợp đã được chuẩn bị ở phần điều chế. Kết quả cũng cho thấy, khi sử dụng phương pháp phủ quay các hạt ơ xít kim loại vẫn được giữ lại và phân bố đều trên bề mặt.
4.1.4.3. Đặc tính cấu trúc và đặc tính hình học của lớp vật liệu xúc tác CuO/MnO2 trên lớp vật liệu trung gian Al2O3-CeO2-ZrO2
a) Đặc tính cấu trúc
Hình 4.17 thể hiện đặc tính cấu trúc của lớp vật liệu xúc tác CuO-MnO2 bằng phương pháp XRD trên thiết bị RIGAKU RINT-2100CMT (phụ lục 4.1). Kết quả cho thấy, khi CuO và MnO2 được phủ trên lớp vật liệu trung gian, những đỉnh CuO, MnO2 và -Al2O3 đều xuất hiện trên hình ảnh được quan sát (Hình 4.17a). Khi CuO được hòa trộn với MnO2, ở những tỷ lệ hịa trộn MnO2 nhỏ (Hình 4.17b) những đỉnh
Thành phần Wt % --------------- O K 30.14 CeM 29.56 ZrL 27.21 AlK 12.17 Tổng 100.00
91
của CuO được quan sát khá rõ, bên cạnh đó những đỉnh nhỏ của MnO2 cũng được quan sát, càng tăng tỷ lệ MnO2 trong hỗn hợp, những đỉnh MnO2 trở lên rõ ràng hơn, bên cạnh đó, khi tăng lượng MnO2 trong hỗn hợp những đỉnh spinel CuxMnyOz được quan sát (Hình 4.17c-d). Đây là cấu trúc tinh thể phức có tác dụng mạnh trong việc khử NOx [76].
Hình 4.17. XRD của a) CuO/Al2O3-CeO2-ZrO2; b)(CuO)0,7(MnO2)0,3/Al2O3-CeO2-ZrO2 c)(CuO)0,5(MnO2)0,5/Al2O3-CeO2-ZrO2; d) (CuO)0,3(MnO2)0,7/Al2O3-CeO2-ZrO2
e) MnO2/Al2O3-CeO2-ZrO2/lõi kim loại
b) Đặc tính hinh hình học lớp phủ CuO0,3-MnO0,7 trên lớp vật liệu trung gian Al2O3-CeO2-ZrO2
Hình 4.18. Ảnh EDS phân bố Cu và Mn trên mẫu kim loại nền Al2O3-CeO2-ZrO2 (a) mẫu chụp EDS; (b) Phân bố hạt Cu, (c)Phân bố hạt Mn
Hình 4.18 thể hiện đặc tính hình học lớp phủ vật liệu xúc tác CuO0,3-MnO0,7 bằng phương pháp EDS trên thiết bị Hitachi SU8230 (phụ lục 4.3). Có thể quan sát thấy sự phân bố và kích thước hạt CuO, MnO2 trên bề mặt mẫu có phủ lớp vật liệu trung
92
gian Al2O3-CeO2-ZrO2. Hình ảnh cho thấy các hạt CuO và MnO2 phân bố đồng đều trên bề mặt mẫu với kích thước hạt có kích thước từ vài chục đến vài trăm nm. Kết quả này khẳng định phương pháp phủ quay nêu trên có thể áp dụng khơng chỉ cho các dung dịch huyền phù mà cịn có thể áp dụng cho dung dịch muối của các kim loại xúc tác. Hình 4.18 cũng cho thấy mật độ hạt MnO2 cao hơn mật độ hạt CuO, kết quả này hoàn toàn phù hợp với tỷ lệ đã pha trộn.
4.1.4.4. Đặc tính cấu trúc lớp xúc tác Pt-Rh trên nền CuO-MnO2 /Al2O3-CeO2- ZrO2
Hình 4.19. XPS của kim loại quý phủ trên lõi kim loại nền (a) Pt 4f và (b) Rh 3d phủ trên CuO-CeO2--Al2O3/FeCrAl
Như hình 4.17 cho thấy, những đỉnh Pt-Rh khơng thể quan sát được bằng phương pháp XRD vì lượng kim loại quý quá nhỏ. Vì vậy cấu trúc lớp xúc tác kim loại quý được quan sát bằng phương pháp phân tích quang phổ XPS (Photoelectron Spectroscopy) trên thiết bị GVL298 (phụ lục 4.5). Hình 4.19 thể hiện phân tích trạng thái hóa học của lớp xúc tác kim loại quý. Với mức năng lượng của Pt 4f là 71,1 và 74,2 eV, với mức năng lượng này có thể gán cho kim loại Pt. Hình 4.19b chỉ ra mức năng lượng của Rh 3p5/2 là 306,0 eV và 308,3 eV, với mức năng lượng này có thể gán cho Rh0 và Rh3+. Kết quả này cũng phù hợp với nghiên cứu của Xiaodong Wu và các cộng sự [83], trạng thái của kim loại quý phụ thuộc vào nhiệt độ nhiệt phân muối, với nhiệt độ nhiệt phân 650oC nêu trên đã quan sát được các ôxit kim loại quý này.
Như vậy có thể thấy BXTct sau q trình chế tạo đáp ứng các yêu cầu về hình thái cấu trúc và đặc tính bề mặt. Bước tiếp theo cần tiến hành thực nghiệm xác định hiệu
quả của BXT đối với các thành phần phát thải.