Từ sơ đồ có thể thấy cấu tạo của thiết bị quang phổ hồng ngoại FT – IR thường gồm các bộ phận sau:
- Laze - Nguồn
- Gương chuyển động và lăng kính tách màu - Giá quang học
- Bộ cảm biến - Bộ giao thoa
- Bộ máy tính kèm phần mềm để điều khiển, thu nhận, phân tích và xử lý dữ liệu.
2.4.2.3 Ưu và nhược điểm của phương pháp
Máy quang phổ hồng ngoại FT – IR có một số ưu điểm sau: - Lượng mẫu sử dụng rất nhỏ.
- Đo được phổ cường độ yếu, độ nhạy và độ chính xác cao. - Tốn ít thời gian.
Tuy nhiên, máy quang phổ hồng ngoại FI – IR yêu cầu mẫu đo phải khô tuyệt đối do nước là một chất hấp thụ mạnh trong hồng ngoại. Quang phổ hồng ngoại không thể phát hiện được các nguyên tử hoặc các ion đơn ngun tử khơng chứa liên kết hóa học, khơng thể phát hiện các phân tử bao gồm hai nguyên tử giống nhau đối xứng như N2 hoặc O2.
2.4.3 Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Phương pháp kính hiển vi điện tử quét được sử dụng để đánh giá hình thái bề mặt của vật liệu. Tác giả đã sử dụng thiết bị JEOL JSM-6010PLUS/LV của phịng thí nghiệm Dầu khí thuộc Đại học Bách khoa Đà Nẵng được thể hiện trong Hình 2.12 để tiến hành đánh giá hình thái của vật liệu sau q trình tổng hợp.
Hình 2.12. Kính hiển vi điện tử qt JEOL 6010-FEG của phịng thí nghiệm Dầu khí, trường Đại học Bách Khoa Đà Nẵng
2.4.3.1 Nguyên lý hoạt động
SEM quét bề mặt mẫu bằng một chùm tia điện tử hẹp, hội tụ cao trong chân không gồm điện tử thứ cấp, điện tử tán xạ ngược, tia X,… (Hình 2.13). Sau đó, thu thập thơng tin từ mẫu phát ra, tái tạo thành một hình ảnh lớn hơn của bề mặt mẫu và hiển thị lên màn hình.