Chương 1 TỔNG QUAN LÝ THUYẾT
2.3. Các phương pháp đặc trưng vật liệu
2.3.3. Phương pháp hiển vi điện tử quét (SEM)
Trong đó, A là mật độ quang; T là độ truyền quang; l là chiều dày cuvet (cm); C là nồng độ chất phân tích (mol/L); là hệ số hấp thụ phân tử; Io và I lần lượt là cườngđộ ánh sáng trước và sau khi ra khỏi chất tích.
Đường cong biểu diễn sự phụ thuộc độ truyền quang (hoặc mật độ quang) vào số sóng là phổ hấp thụ hồng ngoại. Mỗi nhóm chức hoặc liên kết có một tần số (bước sóng) đặc trưng bằng các pic (đỉnh hấp thụ cực đại) trên phổ hồng ngoại.
* Thực nghiệm:
Phổ hồng ngoại của mẫu xúc tác được ghi trên máy GX – PerkinElmer ở nhiệt độ
phòng trong vùng 400 cm-1– 4000 cm-1. Mẫu được đo tại khoa Hóa học, trường Đại học Khoa học Tự nhiên – Đại học Quốc gia Hà Nội và trên máy IRAffinity-1S
(Shimazdu) trường Đại học Quy Nhơn.
2.3.3. Phương pháp hiển vi điện tử quét (SEM)
* Nguyên tắc:
Phương pháp hiển vi điện tửquét dùng chùm tia điện tửđể tạo ảnh mẫu nghiên cứu, ảnh đó khi đến màn huỳnh quang có thểđạt độ phóng đại theo yêu cầu. Chùm
45
Khi chùm tia điện tửđập vào mẫu, trên bề mặt mẫu phát ra các chùm tia điện tử thứ
cấp. Mỗi điện tử phát xạ này qua điện thế gia tốc vào phần thu sẽ biến đổi thành một tín hiệu ánh sáng, tín hiệu được khuếch đại, đưa vào mạng lưới điều khiển tạo
độ sáng trên màn hình dạng bề mặt mẫu nghiên cứu [123].
* Thực nghiệm:
Phương pháp chụp ảnh qua kính hiển vi điện tử quét được thực hiện trên máy SEM-JEOL-JSM 5410 LV (Nhật), với độ phóng đại 200 000 lần. Mẫu được đo tại phòng thí nghiệm vật lý chất rắn, trường Đại học Khoa học Tự nhiên – Đại học Quốc gia Hà Nội và ở Viện Hàn lâm và Khoa học Công nghệ Việt Nam.