Ơû thơng tin vơ tuyến điểm đến điểm do anten đặt cao, nên suy hao đường truyền tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng cách R giữa anten thu và phát (R2). Ở thơng tin di động anten MS gần mặt đất (khoảng 1.5 m) nên suy hao tỷ lệ với lũy thừa n khoảng cách R giữa anten thu và phát (Rn), trong đĩ n>2. Để tính các suy hao đường truyền người ta lập các mơ hình truyền sĩng khác nhau. Do đặt điểm truyền sĩng khơng ổn định, nên các mơ hình này đều mang tính thực nghiệm.
Suy hao đường truyền trong mơi trường vơ tuyến di động là do ảnh hưởng của cấu trúc địa lí và sự hiện diện của các đối tượng tán xạ dọc theo đường truyền sĩng. Các cấu trúc phức tạp của bề mặt địa lí và các đối tượng tán xạ gây ra các hiện tượng phản xạ phản chiếu ( Specular reflection), phản xạ lan truyền (diffuse Reflection), và nhiễu xạ ( diffraction).
1. Phản xạ phản chiếu:
Phản xạ phản chiếu xảy ra khi sĩng vơ tuyến gặp một bề mặt bằng phẳng mà khoảng cách giữa hai trạm thu phát lớn hơn rất nhiều so với bước sĩng của tín hiệu vơ tuyến. Đây là loại phản xạ tuân theo định luật Snell, như trong hình 3.2
Ởû đây sĩng tới từ Anten sẽ bị phản xạ tại Q. Tuy nhiên, cĩ thể xem như sĩng phản xạ này được phát ra từ Anten ảo T’, đối xứng với T qua bề mặt.
Hình 3.2 – Aùp dụng định luật Snell
2. Phản xạ lan truyền:
Phản xạ lan truyền xảy ra khi sĩng vơ tuyến gặp một bề mặt ghồ ghề mà sự ghồ ghề của bề mặt này tương ứng với bước sĩng của tín hiệu bức xạ. Phản xạ lan truyền khơng tuân theo định luật Snell. Nĩ bị tán xạ năng lượng và gây ra các hướng sĩng phản xạ khác nhau. Cường độ của sĩng vơ tuyến phản xạ lan truyền thì yếu hơn phản xạ phản chiếu vì năng lượng của nĩ bị tán xạ qua bề mặt phản xạ.
3. Nhiễu xạ:
Nhiễu xạ xảy ra khi trên đường truyền sĩng giữa máy phát và máy thu cĩ sự hiện diện của các đối tượng tán xạ ( như đồi núi, tồ nhà cao tầng). Sự suy hao tín hiệu phụ thuộc vào cấu trúc nằm trên hoặc gần đường truyền line of sight.
Việc dự đốn suy hao đường truyền giúp ích rất nhiều trong việc hiểu biết ảnh hưởng của hiện tượng nhiều đường của tín hiệu vơ tuyến. Tuy nhiên, sự ảnh hưởng này rất phức tạp cho việc tính tốn. Đầu tiên, chúng ta phải tiến hành đo đạc các trạng thái tĩnh, và từ các số này ta tiến hành phân tích lại các trường hợp khác nhau. Nĩ được phân tích và đánh giá trên cơ sở lí thuyết trường điện từ.