TEM (Tranmision Electronic Microscopy) là phương pháp hiển vi điện tử đầu tiên được phát triển với thiết kế mô phỏng phương pháp hiển vi quang học truyền qua. Phương pháp này sử dụng một chùm điện từ thay thế chùm ánh sáng chiếu xuyên qua mẫu hiển vi quang học. Phương pháp TEM có độ phóng đại rất lớn (400.000 đến 15.000.000). Khi chiếu một chùm điện tử lên mẫu, một phần dòng điện sẽ xuyên qua mẫu rồi được hội tụ tạo hình ảnh, ảnh này được truyền đến bộ phận khuếch đại, sau đó tương tác với màn huỳnh quang tạo ảnh có thể quan sát được. Phương pháp hiển vi điện tử truyền qua cho biết nhiều chi tiết nano của mẫu nghiên cứu: hình dạng, kích thước hạt, biên giới hạt,… nhờ cách tạo ảnh nhiễu xạ, vi nhiễu xạ và nano nhiễu xạ, kính hiển vi điện tử truyền qua còn cho biết nhiều thông tin chính xác về cách sắp xếp các nguyên tử trong mẫu, theo dõi được cách sắp xếp trong chi tiết từng hạt, từng diện tích cỡ μm2 và nhỏ hơn. Ảnh TEM vẫn được tạo theo cơ chế quang học, nhưng tính chất ảnh phụ thuộc vào từng chế độ ghi ảnh. Điểm khác nhau cơ bản của ảnh TEM so với ảnh quang học là độ tương phản khác so với ảnh trong kính hiển vi quang học và các loại kính hiển vi khác. Nếu như ảnh trong kính hiển vi quang học có độ tương phản chủ yếu đem lại do hiệu ứng hấp thụ ánh sáng thì độ tương phản của ánh TEM lại chủ yếu xuất phát từ khả năng tán xạ điện tử.
Trong luận văn mẫu bột vật liệu Cu/TiO2 được ghi nhận trên thiết bị JEM-1400, 100kV tại đại học Bách Khoa Thành phố Hồ Chí Minh.