Thông thường, phương pháp phổ kế đo hủy pô-si-trôn dùng để nghiên cứu hầu hết các vật liệu ngưng tụ như kim loại, hợp kim, chất lỏng, … thường tập trung nghiên cứu vào sự hủy 2γ với thời gian sống tương ứng từ 0,1 ns đến 5 ns. Tuy nhiên vì các vật liệu zê-ô-lit cung cấp các ê-lec-trôn và các lỗ nhỏ ở bên trong tạo điều kiện quyết định để hình thành Ps. Trong zê-ô-lit, o-Ps có thể có thời gian sống lâu (có thể đạt được như ở trong chân không), dẫn đến một phân bố lớn của sự hủy 3γ. Các trạng thái Ps nhạy đối với các thành phần thêm vào, chẳng hạn như các i-ôn liên kết bề mặt, các phân tử khí nhẹ, các lỗ rỗng bề mặt, …. Các tương tác với chúng có thể làm ngắn
thời gian sống của o-Ps và có thể dẫn đến sự hình thành trạng thái pô-si-trôn và Ps khác. Vì vậy, các kiểu hủy trong zê-ô-lit có những khác biệt lớn, với các thời gian sống kéo dài từ 0,1 ns đến 135 ns [30].
Phương pháp hủy pô-si-trôn đã tỏ ra hiệu quả để khảo sát thể tích lỗ rỗng của một số loại vật liệu. Trong vật liệu SBA-15, cũng như các vật liệu ngưng tụ khác, o-Ps sống đủ lâu để tương tác với các ê-lec-trôn của nguyên tử hay phân tử xung quanh. Tương tác này làm ngắn thời gian sống và kéo theo sự hủy phát bức xạ, gọi là sự hủy dập tắt (pick-off). Phép đo thời gian sống bị ngắn đi này của o-Ps có thể cung cấp thông tin về đặc tính vật lí và hóa học của vùng hủy. Cường độ thời gian sống phản ánh tương đối số lượng (nồng độ) các lỗ rỗng trong vật liệu. Cần nhấn mạnh rằng phương pháp hủy pô-si-trôn không chỉ giới hạn đối với trạng thái xốp mở, mà còn ứng dụng cho cả trạng thái xốp đóng.
Một giả thiết được đưa ra, đó là một phần của o-Ps được hình thành trong các lỗ đóng của các thành của SBA-15 [51].
Chuyển đổi giữa thời gian sống và kích thước lỗ rỗng tuân theo mô hình thể tích lỗ rỗng được đề nghị bởi Tao [52]. Theo mô hình này, thành phần thời gian sống dài
i
τ (i=3,4) của o-Ps liên hệ bán kính lỗ rỗng R (nhỏ hơn 1 nm) qua biểu thức:
1 1 22 1 sin 2 1 sin 2 i R R R R R R π τ π = − + + ∆ + ∆