Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 6611-2:2001 là danh mục các phương pháp thử nghiệm. Tiêu chuẩn này liên quan đến các phương pháp và qui trình thử nghiệm đối với các tấm mạch in được chế tạo bằng công nghệ bất kỳ, khi chúng đã sẵn sàng để lắp đặt các linh kiện.
TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 6611-2 : 2001 IEC 326-2 : 1990 WITH AMENDEMENT : 1992 TẤM MẠCH IN - PHẦN 2: PHƯƠNG PHÁP THỬ Printed boards - Part 2: Test methods Lời nói đầu TCVN 6611-2 : 2001 hoàn toàn tương đương với tiêu chuẩn IEC 326-2 : 1990 Sửa đổi : 1992; TCVN 6611-2 : 2001 Ban kỹ thuật tiêu chuẩn TCVN/TC/E3 Thiết bị điện tử dân dụng biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học Công nghệ Môi trường (nay Bộ Khoa học Công nghệ) ban hành Tiêu chuẩn chuyển đổi năm 2008 từ Tiêu chuẩn Việt Nam số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia theo quy định khoản Điều 69 Luật Tiêu chuẩn Quy chuẩn kỹ thuật điểm a khoản Điều Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 Chính phủ quy định chi tiết thi hành số điều Luật Tiêu chuẩn Quy chuẩn kỹ thuật TẤM MẠCH IN - PHẦN 2: PHƯƠNG PHÁP THỬ Printed boards - Part 2: Test methods Phạm vi áp dụng Tiêu chuẩn danh mục phương pháp thử nghiệm Tiêu chuẩn liên quan đến phương pháp qui trình thử nghiệm mạch in chế tạo công nghệ bất kỳ, chúng sẵn sàng để lắp đặt linh kiện Mục đích Tiêu chuẩn mô tả phương pháp thử nghiệm để đánh giá đặc tính, kích thước tính mạch in Tiêu chuẩn trích dẫn Tiêu chuẩn phải sử dụng kết hợp với tiêu chuẩn: IEC 68 Thử nghiệm môi trường – Qui trình thử nghiệm mơi trường IEC 68-2-3 : 1969 Phần 2: Thử nghiệm - Thử nghiệm Ca: Nóng ẩm, khơng đổi IEC 68-2-20 : 1979 Thử nghiệm T: Hàn IEC 68-2-30 : 1980 Thử nghiệm Db hướng dẫn: Nóng ẩm, chu kỳ (chu kỳ 12 +12 h) IEC 97 : 1970 Hệ thống lưới mạch in IEC 194 : 1988 Thuật ngữ định nghĩa mạch in IEC 249-1 : 1982 Vật liệu dùng cho mạch in – Phần 1: Phương pháp thử TCVN 6611-1 : 2001 (IEC 2326-1 : 1996) Tấm mạch in Phần 1: Qui định kỹ thuật chung TCVN 6611-3 : 2001 (IEC 326-3 : 1991) Tấm mạch in Phần 3: Thiết kế sử dụng mạch in TCVN 6611-4 : 2000 (IEC 326-4 : 1980) Phần 4: Qui định kỹ thuật mạch in mặt hai mặt có lỗ khơng phủ kim loại TCVN 6611-5 : 2000 (IEC 326-5 : 1980) Phần 5: Qui định kỹ thuật mạch in mặt hai mặt có lỗ xuyên phủ kim loại TCVN 6611-6 : 2000 (IEC 326-6 : 1980) Phần 6: Qui định kỹ thuật mạch in nhiều lớp IEC 454 Qui định kỹ thuật băng dán nhạy áp lực dùng cho mục đích điện IEC 454-3-1 : 1976 Phần 3: Qui định kỹ thuật vật liệu riêng Tờ 1: Yêu cầu nhựa polyvinyl clorua có chất kết dính nhựa nhiệt cứng IEC 695-2-1 : 1980 Thử nghiệm rủi ro cháy Phần 2: Phương pháp thử Thử nghiệm sợi dây nóng đỏ hướng dẫn IEC 695-2-2 : 1980 Thử nghiệm lửa hình kim Các tiêu chuẩn khác ISO 1436 : 1982 Lớp phủ kim loại lớp phủ oxit – Phép đo chiều dày lớp phủ – Phương pháp kính hiển vi ISO 3448 : 1975 Chất bôi trơn dạng lỏng dùng công nghiệp – Phân loại độ nhớt theo ISO ISO 6743 Chất bôi trơn, dầu công nghiệp sản phẩm liên quan (cấp L) – Phân loại Qui định chung 4.1 Điều kiện khí tiêu chuẩn thử nghiệm Nếu khơng có qui định khác, tất thử nghiệm phải thực điều kiện khí tiêu chuẩn mơ tả IEC 68 Nhiệt độ môi trường độ ẩm tương đối thực phép đo phải nêu báo cáo thử nghiệm Trong trường hợp có tranh chấp người mua người bán kết thử nghiệm, thử nghiệm phải thực điều kiện trọng tài IEC 68 4.2 Mẫu thử Nếu thực khơng có qui định khác thử nghiệm phải tiến hành mạch in thành phẩm Mẫu thử nghiệm mẫu cần thiết mẫu đề nghị thử nghiệm định Mẫu thử nghiệm nằm panen mạch in thành phẩm chế tạo mẫu thử nghiệm kết hợp riêng nối với mạch in thành phẩm có vật liệu qui trình chế tạo cho đại diện cho mạch in thành phẩm Nếu mẫu thử nghiệm kết hợp riêng chế tạo, chúng phải sản phẩm phân bố theo số lượng cho kết đánh giá khách quan Kiểm tra chung 5.1 Thử nghiệm 1: Kiểm tra mắt Kiểm tra mắt kiểm tra nhận dạng, bề ngoài, chất lượng tay nghề, chất lượng bề mặt, dạng, v.v… mạch in dựa vào qui định kỹ thuật liên quan cách quan sát có dùng khơng dùng kính phóng đại 5.1.1 Thử nghiệm 1a: Phương pháp phóng đại tuyến tính lần Kiểm tra cách quan sát phải thực cách dùng thiết bị quang học có độ phóng đại tuyến tính xấp xỉ ba lần nơi có chiếu sáng 5.1.2 Thử nghiệm 1b: Phương pháp phóng đại tuyến tính 10 lần Khi có qui định, việc kiểm tra cách quan sát phải dùng thiết bị quang học có độ phóng đại tuyến tính xấp xỉ 10 lần nơi có chiếu sáng 5.1.3 Thử nghiệm 1c: Phương pháp phóng đại tuyến tính 250 lần Khi có qui định, việc kiểm tra cách quan sát phải dùng thiết bị quang học có độ phóng đại tuyến tính xấp xỉ 250 lần Điều thường yêu cầu kiểm tra cắt lớp 5.2 Thử nghiệm 2: Kiểm tra kích thước Kiểm tra kích thước phép đo kích thước thực dụng cụ đo thiết bị đo theo qui định kỹ thuật liên quan 5.2.1 Dụng cụ thiết bị đo phải có độ xác khả đọc phù hợp với kích thước dung sai đo 5.2.2 Thử nghiệm 2a: Phương pháp quang học Khi có qui định, phép đo đặc biệt, ví dụ, kích thước lỗ, khuyết tật mép đường dẫn, phải dùng thiết bị quang học có lưới đo khả đọc tin cậy đến 0,025 mm 5.2.3 Khi có qui định, phép đo đặc biệt, ví dụ, độ phẳng mạch in phải thực dưỡng qui định phương pháp thử nghiệm và/hoặc qui định kỹ thuật chi tiết Thử nghiệm điện 6.1 Thử nghiệm 3: Điện trở 6.1.1 Thử nghiệm 3a: Điện trở đường dẫn 6.1.1.1 Mục đích Để xác định điện trở đường dẫn 6.1.1.2 Mẫu Phép đo phải thực đường dẫn qui định Các đường dẫn dài hẹp tốt 6.1.1.3 Phương pháp Điện trở phải đo phương pháp phù hợp hai đường dẫn hai điểm Sai số đo không lớn 5% Dòng điện phải giữ đủ nhỏ để tránh làm nóng mẫu thử cách đáng kể Trong trường hợp có tranh chấp, phải sử dụng phương pháp bốn đầu nối 6.1.1.4 Nội dung cần qui định a) đường dẫn cần đo; b) giá trị điện trở; c) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn 6.1.2 Thử nghiệm 3b: Điện trở mối nối 6.1.2.1 Mục đích Để xác định điện trở mối nối mạch in 6.1.2.2 Mẫu Phép đo phải thực phần qui định mạch in thành phẩm, mẫu thử nghiệm mẫu thử nghiệm kết hợp 6.1.2.3 Phương pháp Điện trở phải đo phương pháp bốn đầu nối phương pháp tương đương hai lỗ qui định Dòng điện đo khơng vượt q 0,1 A Sai số đo tổng phải nhỏ 5% Hai phương pháp nối điển hình phản ánh hình hình Phương pháp nối A Dây dẫn hàn lỗ qui định theo hình Phương pháp nối B Mối nối thực hai cặp tiếp xúc theo hình Chú thích – Đầu thử nghiệm mô tả thử nghiệm 5a phù hợp (xem hình 3) 6.1.2.4 Nội dung cần qui định a) lỗ điểm mối nối cần đo; b) phương pháp nối; c) giá trị điện trở lớn nhất; d) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn 6.1.3 Thử nghiệm 3c: Thay đổi điện trở lỗ xuyên phủ kim loại, chu trình nhiệt 6.1.3.1 Mục đích Để xác định độ tăng điện trở lỗ xuyên phủ kim loại xuất lỗ phải chịu chu trình nhiệt cách kiểm tra liên tục điện trở suốt trình thử nghiệm Độ tăng điện trở phản ánh chất lượng lớp phủ 6.1.3.2 Mẫu Thử nghiệm phải thực mạch in có số lượng thích hợp lỗ xuyên phủ kim loại mắc nối tiếp Nếu thỏa thuận dùng mẫu thử nghiệm qui định TCVN 6611-5 : 2000 (IEC 326-5) TCVN 6611-6 : 2000 (IEC 326-6) thử nghiệm phải tiến hành “mẫu D” Tấm thử nghiệm tốt khơng phủ chì-thiếc Nếu có, lớp phủ phải tẩy hóa chất trước thử nghiệm phải ý để tránh ảnh hưởng có hại đến đồng Chú thích – Thành phần chất tẩy phù hợp: − 330 ml axit nitric 60% (tỷ trọng 1,36 g/cm 20oC); − ml axit floboric 40% (tỷ trọng 1,32 g/cm 20oC); − 670 ml nước khử ion Chú ý: Khi dùng chất để tẩy, cần ý để tránh gây tổn hại cho sức khỏe 6.1.3.3 Phương pháp Điện trở (hoặc điện áp rơi tương ứng) lỗ mắc nối tiếp phải đo dòng điện khơng đổi 100 ± mA dùng phương pháp bốn đầu nối Điện trở phải kiểm tra liên tục trình thử nghiệm Mẫu thử phải nối đến thiết bị ghi, ví dụ, nối mép mạch in phù hợp Chu trình nhiệt phải thực cách dùng hai bể chất lỏng riêng biệt thay phiên nhau: − Bể nhiệt độ môi trường, qui định 9.2.1, thử nghiệm 19a, giữ nhiệt độ 25 ± 2oC; để đảm bảo hiệu suất làm nguội cho bể 25oC, bể cần chứa chất lỏng có độ nhớt thấp − Bể nóng, qui định 9.2.1, thử nghiệm 19a, giữ nhiệt độ 260 0o C Mẫu thử phải nhúng chất lỏng theo phương thẳng đứng đến độ sâu chừa lại vùng nối, ví dụ nối mép mạch in, phải nằm phía bề mặt chất lỏng xấp xỉ 30 mm Để truyền nhiệt tốt trình nhúng chất lỏng nóng, mẫu thử di chuyển nhẹ (theo hướng nằm ngang song song với bề mặt mẫu) Sau nhúng vào lấy khỏi bể có nhiệt độ 25oC, chất lỏng sót lại thử nghiệm phải loại bỏ trước nhúng Mẫu thử phải nhúng luân phiên bể 25oC bể 260oC Chu kỳ bắt đầu kết thúc bể 25oC Mẫu thử phải chuyển từ bể 260 oC sang bể 25oC Tổng số lần nhúng phải qui định Mẫu thử phải lưu bể 25 oC đọc giá trị điện trở ổn định Mẫu thử phải giữ bể 260 oC với thời gian 20 ± s Nếu có u cầu đặc tính vật liệu nền, số lần nhúng khác chút qui định qui định kỹ thuật liên quan theo thỏa thuận người mua người bán Giá trị điện trở (hoặc điện áp rơi tương ứng) vẽ thang thời gian theo số lần nhúng Đồ thị kết quả, ví dụ từ máy vẽ đồ thị có dạng giống hình 6.1.3.4 Nội dung cần qui định a) mẫu cần thử; b) số lần nhúng bể 260oC; c) độ tăng điện trở cho phép lớn nhất, tính phần trăm, lần nhúng lần nhúng cuối bể 25oC; d) độ tăng điện trở cho phép lớn nhất, tính phần trăm, lần nhúng lần nhúng cuối bể 260oC; e) độ tăng điện trở cho phép lớn nhất, tính phần trăm, thời gian lần nhúng bể 260oC; f) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn 6.2 Thử nghiệm 4: Tính tồn vẹn điện Tính tồn vẹn điện phải thiết lập hai qui trình thử nghiệm: Thử nghiệm 4a: Độ cách ly mạch; Thử nghiệm 4b: Độ liền mạch Các thử nghiệm kết hợp để tiến hành thử nghiệm sau thử nghiệm mẫu thử Thường thử nghiệm liền mạch (Thử nghiệm 4b) thực trước Việc áp dụng chung giá trị dòng điện điều kiện giới hạn (ví dụ ranh giới điều kiện cách ly điều kiện liên tục) sử dụng thiết bị thử nghiệm tự động làm cho việc kết hợp thử nghiệm thuận lợi Các thử nghiệm không dùng để thay cho kiểm tra cách quan sát (Thử nghiệm 1a) 6.2.1 Thử nghiệm 4a: Cách ly mạch 6.2.1.1 Mục đích Để kiểm tra độ cách ly phần qui định dạng dẫn mạch in mà dự kiến không nối với nhau, phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan (ví dụ vẽ mạch in, yêu cầu khách hàng, liệu trợ giúp máy tính, v.v…) 6.2.1.2 Mẫu Thử nghiệm phải tiến hành tất phần qui định dạng dẫn lớp sản phẩm 6.2.1.3 Phương pháp Các điểm qui định mạch nối riêng biệt dạng dẫn phải nối tới nguồn thử nghiệm phương tiện phù hợp, ví dụ, đầu thử nghiệm tiếp xúc với đường dẫn qui định vành khun Các mạch lại khơng thử nghiệm, nối với thành nhóm, thử nghiệm riêng rẽ Nếu thích hợp, bố trí nhiều đầu thử nghiệm (ví dụ, đinh cấy đầu đo, đầu đo dạng mạch tích hợp đầu đo dạng mạch lai, v.v…) Nếu mạch in có tiếp điểm mép tấm, sử dụng ổ nối mép đầu thử nghiệm thích hợp Điện áp thử nghiệm qui định phải đặt tới phần dạng dẫn thử nghiệm, cho chịu dòng ngắn mạch Nguồn điện áp thử nghiệm phải kết hợp với phương tiện để kiểm sốt dòng cung cấp giới hạn dòng điện đến giá trị nằm khả mang dòng mạch thử nghiệm để tránh nhiệt Có thể đánh giá nhanh ngắn mạch thị đơn giản, thị đèn thiết bị đo mạch điện biến đổi dòng điện thành tín hiệu đánh giá thiết bị thử nghiệm tự động Để đánh giá ngắn mạch cách kỹ lưỡng, dòng điện phải kiểm sốt cho xác định giá trị điện trở dạng dẫn riêng biệt ứng với độ không đảm bảo phép đo không 100% giá trị nhỏ điện trở cho làm yêu cầu giới hạn độ cách ly mạch Không có ngắn mạch điểm qui định Khi đánh giá yêu cầu qui định, mạch coi cách ly giá trị điện trở lớn MΩ ứng với dòng điện chạy đường dẫn riêng biệt thử nghiệm, theo qui định qui định kỹ thuật chi tiết khách hàng 6.2.1.4 Nội dung cần qui định a) điện áp thử nghiệm; b) điện trở cho phép nhỏ khác với MΩ; c) phần dạng dẫn cần thử nghiệm; d) dòng điện cho phép lớn nhất; e) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn 6.2.2 Thử nghiệm 4b: Liền mạch 6.2.2.1 Mục đích Để kiểm tra liền mạch qua điểm nối qui định dạng dẫn mạch in phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan (ví dụ vẽ mạch in, yêu cầu khách hàng, liệu trợ giúp máy tính, v.v…) 6.2.2.2 Mẫu Thử nghiệm phải tiến hành cho tất cho phần qui định dạng dẫn lớp sản phẩm 6.2.2.3 Phương pháp Các điểm qui định dạng dẫn phải nối tới mạch thử nghiệm phương tiện phù hợp bất kỳ, ví dụ, đầu thử nghiệm tiếp xúc với đường dẫn qui định với vành khun Nếu thích hợp, bố trí nhiều đầu đo thử nghiệm Nếu mạch in chứa tiếp điểm mép tấm, dùng ổ nối mép đầu thử nghiệm thích hợp Đặt điện áp qui định, cho dòng điện qui định chạy qua đường dẫn nối riêng biệt, qua điểm nối mạch nối từ bên ngồi (ví dụ, vành khuyên, nối mép tấm, tiếp điểm) đến điểm nối bên khác dùng để nối Để đánh giá nhanh liền mạch thực thị đơn giản, thị đèn thiết bị đo mạch điện biến đổi dòng điện thành tín hiệu đánh giá thiết bị thử nghiệm tự động Để đánh giá kỹ lưỡng liền mạch, dòng điện chạy phần dẫn phải kiểm soát phép xác định điện trở điểm mạch ứng với độ không đảm bảo phép đo không 100% giá trị điện trở lớn cho yêu cầu giới hạn liền mạch Cần bố trí để giới hạn dòng điện lớn nằm khả mang dòng mạch thử nghiệm Phải đạt liền mạch tất điểm qui định mạch Đối với thiết bị tinh xảo, liền mạch coi đạt điện trở ứng với dòng điện chạy qua điểm mạch nhỏ Ω, giá trị qui định qui định kỹ thuật chi tiết khách hàng 6.2.2.4 Nội dung cần qui định a) điện áp thử nghiệm; b) điện trở cho phép lớn khác Ω; c) phần dạng dẫn cần thử nghiệm; d) dòng điện cho phép lớn nhất; e) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn 6.3 Thử nghiệm 5: Chịu dòng điện 6.3.1 Thử nghiệm 5a: Chịu dòng điện, lỗ xuyên phủ kim loại 6.3.1.1 Mục đích Để đánh giá khả chịu dòng điện thử nghiệm qui định lớp phủ kim loại lỗ xuyên phủ kim loại 6.3.1.2 Mẫu Thử nghiệm phải tiến hành lỗ xuyên phủ kim loại sản phẩm Thử nghiệm tiến hành với lỗ có nghi ngờ kiểm tra cách quan sát 6.3.1.3 Phương pháp Cho dòng điện theo bảng chạy qua lớp phủ kim loại lỗ xuyên phủ kim loại thời gian 30 s phải kiểm sốt liên tục Bảng Đường kính lỗ Dòng điện thử nghiệm mm A 0,6 0,8 1,0 11 1,3 14 1,6 16 2,0 20 Dòng điện tạo nguồn chiều xoay chiều phù hợp giữ khơng đổi Dòng điện phải đặt đầu thử nghiệm Các đầu phù hợp phản ánh hình Lực ép phải đủ để đảm bảo tiếp xúc điện tốt Lực khoảng N thích hợp 6.3.1.4 Nội dung cần qui định a) lỗ cần thử nghiệm; b) yêu cầu phép đo cuối; c) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn 6.3.2 Thử nghiệm 5b: Chịu dòng điện, đường dẫn 6.3.2.1 Mục đích Để đánh giá khả chịu dòng điện qui định đường dẫn điểm nối đường dẫn lớp phủ kim loại lỗ xuyên phủ kim loại 6.3.2.2 Mẫu Thử nghiệm phải tiến hành phần qui định dạng sản phẩm mẫu thử nghiệm mẫu thử nghiệm kết hợp 6.3.2.3 Phương pháp Cho dòng điện chiều xoay chiều qui định chạy qua đường dẫn thử nghiệm thời gian qui định Dòng điện phải kiểm sốt liên tục Dòng điện phải chọn phù hợp với thông tin cho TCVN 6611-3 : 2001 (IEC 326-3) Phải ý để đảm bảo tiếp xúc điện tốt với đường dẫn thử nghiệm 6.3.2.4 Nội dung cần qui định a) đường dẫn cần thử nghiệm, kể điểm nối; b) dòng điện, giá trị khoảng thời gian; c) yêu cầu phép đo cuối; d) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn 6.4 Thử nghiệm 6: Điện trở cách điện 6.4.1 Thử nghiệm 6a: Điện trở cách điện, lớp bề mặt 6.4.1.1 Mục đích Để xác định điện trở cách điện phần qui định dạng dẫn bề mặt mạch in bề mặt lớp mạch in nhiều lớp trước ép Điện trở cách điện phản ánh chất lượng vật liệu chất lượng gia công sản phẩm Quan hệ điện trở cách điện qui định IEC 249 vật liệu phủ kim loại điện trở cách điện qui định thử nghiệm giải thích TCVN 6611-3 : 2001 (IEC 326-3) 6.4.1.2 Mẫu Điện trở cách điện phải đo hai điểm qui định dạng dẫn sản phẩm lớp mạch in nhiều lớp trước ép Mẫu thử phải cầm cẩn thận để tránh làm bẩn, ví dụ in dấu tay, bụi, v.v… 6.4.1.3 Phương pháp Mẫu thử phải ổn định trước, dùng thử nghiệm 18a Điện trở cách điện phải đo thiết bị đo phù hợp Điện áp thử nghiệm điện áp đặt lên điện trở cách điện cần đo, bằng: 10 ± V, 100 ± 15 V, 500 ± 50 V, qui định qui định kỹ thuật liên quan Điện áp thử nghiệm phải đặt với thời gian trước đo Nếu số đo ổn định sớm phép đo thực sớm Nếu số đo không ổn định phải ghi lại báo cáo thử nghiệm Qui định kỹ thuật liên quan cần thiết cho phép đo điện trở cách điện nhiệt độ tăng cao, ví dụ q trình thử nghiệm nóng khơ thử nghiệm ẩm mẫu thử đặt tủ thử Sau áp dụng phương pháp tương tự Trong trường hợp có dây thử nghiệm đưa vào tủ thử, phải ý để giảm thiểu ảnh hưởng đến số đo điện trở cách điện 6.4.1.4 Nội dung cần qui định a) phần dạng hình cần đo; b) điện áp thử nghiệm; c) nhiệt độ và/hoặc độ ẩm khác với điều kiện tiêu chuẩn; d) giá trị nhỏ điện trở cách điện; e) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn 6.4.2 Thử nghiệm 6b: Điện trở cách điện, lớp 6.4.2.1 Mục đích Để xác định điện trở cách điện phần qui định dạng dẫn lớp bên mạch in nhiều lớp Điện trở cách điện phản ánh chất lượng vật liệu chất lượng trình sử dụng cho sản phẩm Vì điện trở cách điện kết hợp điện trở bề mặt điện trở khối, không tương quan với giá trị qui định IEC 249 vật liệu phủ kim loại biết 6.4.2.2 Mẫu Điện trở cách điện phải đo hai điểm qui định dạng dẫn lớp sản phẩm thử nghiệm Khi qui định hai điểm này, phải ý để tránh bị ảnh hưởng lớp khác Mãu thử phải cầm cẩn thận để tránh làm bẩn, ví dụ in dấu tay, bụi, v.v… 6.4.2.3 Phương pháp Phải áp dụng phương pháp qui định cho thử nghiệm 6a 6.4.2.4 Nội dung cần qui định a) phần dạng hình cần đo; b) điện áp thử nghiệm; c) nhiệt độ và/hoặc độ ẩm khác với điều kiện tiêu chuẩn; d) giá trị điện trở cách điện nhỏ nhất; e) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn 6.4.3 Thử nghiệm 6c: Điện trở cách điện lớp 6.4.3.1 Mục đích Để xác định điện trở cách điện phần qui định dạng dẫn lớp sát mạch in Điện trở cách điện phản ánh chất lượng trình chế tạo chất lượng chiều dày không đủ vật liệu lớp kết dính 6.4.3.2 Mẫu Điện trở cách điện phải đo hai điểm qui định dạng dẫn lớp giáp mạch in Mẫu thử phải cầm cẩn thận để tránh làm bẩn, ví dụ in dấu tay, bụi, v.v… 6.4.3.3 Phương pháp Phải áp dụng phương pháp qui định cho thử nghiệm 6a 6.4.3.4 Nội dung cần qui định a) phần cần đo; b) điện áp thử nghiệm; c) nhiệt độ và/hoặc độ ẩm khác với điều kiện tiêu chuẩn; d) giá trị điện trở cách điện nhỏ nhất; e) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn 6.5 Thử nghiệm 7: Chịu điện áp 6.5.1 Thử nghiệm 7a: Chịu điện áp, lớp bề mặt 6.5.1.1 Mục đích Để đánh giá khả chịu điện áp thử nghiệm qui định phần qui định dạng hình bề mặt mạch in mà khơng bị phóng điện gây hư hại phóng điện bề mặt, phóng điện qua khe hở khơng khí, phóng điện đánh thủng Phóng điện nhìn thấy mắt thị thiết bị thử nghiệm theo cách thích hợp Chú thích – Thử nghiệm chịu điện áp khơng thay cho việc đo khoảng cách phần dẫn 6.5.1.2 Mẫu Thử nghiệm phải tiến hành phần qui định dạng hình bề mặt mạch in Khi xác định phần qui định lớp bề mặt mạch in nhiều lớp, phải ý để tránh ảnh hưởng phần lớp khác Mẫu thử phải cầm cẩn thận để tránh làm bẩn, ví dụ in dấu tay, bụi, v.v… 6.5.1.3 Phương pháp Mẫu thử phải ổn định trước thử nghiệm 18a Điện áp thử nghiệm phải điện áp chiều điện áp đỉnh xoay chiều có dạng sóng hình sin có tần số nằm khoảng từ 40 Hz đến 60 Hz Thiết bị thử nghiệm phải có khả cung cấp điện áp cao cần thiết phản ánh khả phóng điện đánh thủng và/hoặc dòng điện rò qui định trường hợp hỏng khơng nhìn thấy Điện áp phải đặt điểm qui định phải điều chỉnh tăng dần thời gian s đến giá trị qui định sau trì 6.5.1.4 Nội dung cần qui định a) điểm đặt; b) điện áp thử nghiệm; c) dòng điện rò lớn nhất; d) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn 6.5.2 Thử nghiệm 7b: Chịu điện áp lớp 6.5.2.1 Mục đích Để đánh giá khả chịu điện áp thử nghiệm qui định phần qui định dạng hình lớp nằm sát mạch in mà khơng bị phóng điện đánh thủng thể thiết bị thử nghiệm Phóng điện đánh thủng cho biết khiếm khuyết trình chế tạo không đủ chiều dày vật liệu lớp kết dính 6.5.2.2 Mẫu Hình 6a – Mẫu nằm ngang Ngọn lửa đặt vào bề mặt Hình 6b – Mẫu nằm ngang Ngọn lửa đặt vào mép Hình 6c – Mẫu thẳng đứng Mép bên nằm ngang Ngọn lửa đặt vào mép Hình 6d – Mẫu thẳng đứng Mép bên nằm ngang Ngọn lửa đặt vào bề mặt Hình 6e – Mẫu đặt nghiêng Mép bên nằm ngang Ngọn lửa đặt vào bề mặt Hình – Thử nghiệm lửa hình kim Phía nhìn thấy thử nghiệm lửa Hình – Bộ định vị để chà xát Nguyên lý làm việc Các phần rắn nhỏ dễ dàng “giả hóa lỏng” luồng khí (khơng khí) phù hợp Sơ đồ mặt cắt ngang bể cát giả hóa lỏng phản ánh Khơng khí khơ có áp suất khơng đổi khoảng N/cm2 từ bơm từ ống dẫn khơng khí cung cấp qua van điều khiển tới khoang đáy khuếch tán (tấm xốp) Tấm xốp đảm bảo lưu lượng khơng khí qua mặt cắt tồn phần thùng chứa đồng hoạt động đỡ lớp cát rắn Nếu van điều khiển mở nhỏ, lớp cát rắn giữ lại khơng xáo trộn khơng khí luồn qua hạt; điều kiện vậy, việc sụt áp suất tỷ lệ với vận tốc dòng khơng khí Khi van mở thêm lớn lực đẩy khơng khí hạt tách chúng khối lượng tồn lớp cát nở Khối cát gần linh động gọi “giả hóa lỏng” Việc mở tiếp van không dẫn đến làm tăng thêm sụt áp mà áp suất giữ không đổi giá trị tương ứng với đoạn đầu cột hạt, lớp cát chuyển động hỗn loạn giống dung dịch sôi Sự truyền nhiệt tốt nhiệt độ đồng đạt bể trạng thái “sơi” Hình – Bể cát giả hóa lỏng Kích thước tính milimét Hình – Ví dụ dụng cụ hàn Hình 10 - Kẹp cố định để thử sốc nhiệt, hàn nhúng Hình 11 – Bố trí sơ đồ thiết bị thử nghiệm lão hóa gia tốc hơi/ơxy Kích thước tính milimét Hình 12 – Ví dụ thử nghiệm điển hình Phụ lục A Danh mục thử nghiệm Thử nghiệm số Thử nghiệm Điều TCVN 6611-2 : 2001 (IEC 326-2) Kiểm tra chung 1a Kiểm tra cách quan sát 5.1 Phương pháp phóng đại lần 5.1.1 1b Phương pháp phóng đại 10 lần 5.1.2 1c Phương pháp phóng đại 250 lần 5.1.3 Kiểm tra kích thước 2a Phương pháp quang học 5.2 5.2.2 Các thử nghiệm điện Điện trở 6.1 3a Điện trở đường dẫn 6.1.1 3b Điện trở mối nối 6.1.2 3c Sự thay đổi điện trở lỗ xuyên phủ kim loại, chu kỳ nhiệt 6.1.3 Sự toàn vẹn điện 6.2 4a Sự cách ly mạch 6.2.1 4b Sự liền mạch 6.2.2 Chịu dòng điện 6.3 5a Chịu dòng điện, lỗ xuyên phủ kim loại 6.3.1 5b Chịu dòng điện, đường dẫn 6.3.2 Điện trở cách điện 6.4 6a Điện trở cách điện, lớp bề mặt 6.4.1 6b Điện trở cách điện, lớp bên 6.4.2 6c Điện trở cách điện lớp 6.4.3 Chịu điện áp 6.5 7a Chịu điện áp, lớp bề mặt 6.5.1 7b Chịu điện áp lớp 6.5.2 8a Trôi tần số 9a Trở kháng mạch 6.6 Các thử nghiệm 6.7 Độ bền bong tróc 7.1 10a Độ bền bong tróc, điều kiện khí tiêu chuẩn 7.1.1 10b Độ bền bong tróc, nhiệt độ tăng cao 7.1.2 10c Độ bền bong tróc, mạch in uốn được, điều kiện khí tiêu chuẩn 7.1.3 Độ bền kéo 7.2 11a Độ bền kéo đứt, vành khun có lỗ khơng phủ kim loại 7.2.1 11b Độ bền kéo rời, lỗ xuyên phủ kim loại khơng có vành khun 7.2.2 12a Độ phẳng 7.3 21a Mỏi uốn (các mạch in uốn được) 7.4 Các thử nghiệm khác Chất lượng lớp phủ kim loại 8.1 13a Khả kết dính lớp phủ kim loại, phương pháp dán băng 8.1.1 13b Khả kết dính lớp phủ kim loại, phương pháp chà xát 8.1.2 13c Độ xốp, bọt khí 8.1.3 13d Độ xốp, thử nghiệm điện đồ, vàng đồng 8.1.4 13e Độ xốp, thử nghiệm điện đồ, vàng niken 8.1.5 13f Độ dày lớp phủ kim loại 8.1.6 14a Khả hàn 8.2 Tách lớp cắt lớp 8.3 15a Tách lớp, sốc nhiệt 8.3.1 15b Cắt lớp 8.3.2 Khả cháy 8.4 16a Các mạch in cứng, phần kim loại tháo rời 8.4.1 16b Thử nghiệm sợi dây nóng đỏ, mạch in cứng 8.4.2 16c Thử nghiệm lửa hình kim, mạch in cứng 8.4.3 17e Khả chịu dung môi chất trợ dung 8.5 Các điều kiện môi trường Ổn định trước 18a 18b 9.1 Ổn định trước, điều kiện khí tiêu chuẩn o Ổn định trước,125 C 9.1.1 9.1.2 Sốc nhiệt 9.2 19a Sốc nhiệt, nhúng, bể dầu 9.2.1 19b Sốc nhiệt, nhúng, bể cát giả hóa lỏng 9.2.2 19c Sốc nhiệt, đặt nổi, bể hàn 9.2.3 19d Sốc nhiệt, hàn thủ công 9.2.4 19e Sốc nhiệt, hàn nhúng 9.2.5 19f Sốc nhiệt, đặt nổi, bể hàn 280oC 9.2.6 20a Ổn định mơi trường khí hậu 9.3 Lão hóa gia tốc, hơi/ơxy 9.4 Phụ lục B (tham khảo) Thử nghiệm khí lỗ xun phủ kim loại (không phá hủy) Chú ý chung: Các thử nghiệm phụ lục để tham khảo B1 Mục đích Sử dụng phương pháp khơng phá hủy để kiểm tra lỗ xuyên phủ kim loại khí qua chân lỗ kiểm tra vết nứt lớp phủ mạch in chịu nhiệt Điều phù hợp với mạch in hai mặt cứng mạch in nhiều lớp, áp dụng cho mạch in uốn Chú thích – Điều khơng dùng để xác định khả chịu thử nghiệm khơng có số chỗ đổi màu tách lớp hỏng lỗ xuyên phủ kim loại nhận lớp cắt v.v mạch in B2 Mẫu Thử nghiệm phải tiến hành lỗ xuyên phủ kim loại sản phẩm mẫu thử nghiệm mẫu thử nghiệm kết hợp Khi yêu cầu thử nghiệm lỗ riêng biệt, kinh nghiệm thử nghiệm giới hạn đến lỗ có đường kính từ 0,6 mm đến 1,2 mm Điều phải thỏa thuận người mua nhà chế tạo xem mạch in đưa đến thử nghiệm chuyển giao điều kiện B3 Chuẩn bị mẫu Các lỗ để thử nghiệm điền đầy cho tạo thành màng dầu có hình lòng chảo (xem hình B3) hoạt động thấu kính cho phép khí quan sát điểm gốc Dầu phải xác định theo tiêu chuẩn ISO 3448 ISO 6743 [ISO 32 (3E 40 oC)] tương đương Một vài phương pháp chuẩn bị chọn Nếu nhiều lỗ thử nghiệm, mạch in đặt giá đỡ khay phù hợp, có chứa cho bề mặt bên mạch in tiếp xúc với dầu Sau s đến s tiếp xúc dầu mạch in đủ, mức dầu ngập xấp xỉ 0,5 lần chiều dày mẫu thử phản ánh hình B1 lấy mạch in khỏi dầu nghiêng góc xấp xỉ 60 o từ đến min, cho dầu thừa rơi hết Mẩu giấy thấm phù hợp phải gấp dài từ 10 mm đến 15 mm so với chiều rộng mạch in Giấy thấm nghiêng góc xấp xỉ 45 o giữ tiếp xúc với bề mặt tấm, bề mặt phải thấm màng dầu có hình lòng chảo Dụng cụ nhỏ dùng để giữ giấy thấm Hai kẹp giấy kẹp cá sấu nối tới tay cầm để đỡ giấy thấm đầu Nếu lỗ chọn để thử nghiệm lỗ khơng nên nối tới khối nhiệt Các lỗ phải điền đầy dầu dụng cụ phù hợp, ví dụ, chốt kim loại có đường kính từ 0,6 mm đến 0,7 mm Trong trường hợp nhiều dầu bề mặt bên lỗ, dầu thừa lấy giấy thấm bút vẽ nhỏ có đường kính xấp xỉ mm Dầu thừa lấy hình thành mặt cong lõm hình lòng chảo Tấm mạch in đặt giá đỡ thể hình B2, với bề mặt bám dầu phía Kính hiển vi lập thể đặt vị trí bên mạch in hình B2 Kính hiển vi có độ phóng đại lần để kiểm tra chung hình thành màng 25 lần việc kiểm tra vùng thành lỗ nơi màng bám vào Chú thích – Nếu dùng độ phóng đại cao phương pháp kiểm tra cung cấp (khơng dùng mỏ hàn) phương pháp hữu ích để kiểm tra thành lỗ xuyên phủ kim loại để phát chất lượng lớp phủ kim loại, chỗ nứt, chỗ trống, v.v… B4 Phương pháp thử Mỏ hàn mô tả thử nghiệm 19d có nhiệt độ 270 ± 10 oC phải đặt vành khuyên xung quanh lỗ 20 s Dầu lỗ kiểm tra đồng thời qua kính hiển vi lập thể để phát hình thành màng Sự khí quan sát dạng dãy bong bóng mà bong bóng thể khuyết tật châm kim, vết nứt chỗ trống thành lỗ xuyên phủ kim loại (xem hình B3) Sau hồn tất thử nghiệm, dầu đọng lại phải tẩy cách dùng dung mơi phù hợp, có thể, dùng phương pháp siêu âm Chú thích – Các mạch in có lớp phủ chì-thiếc mạ điện khơng tái chảy thể hình thành bong bóng (thốt khí) thời điểm đặt nhiệt vào làm kim loại hóa lỏng Loại khí đặc trưng cho chất hữu bịt kín lớp lắng điện phân liên tục s đến s Việc kiểm tra chéo thực diện tích bề mặt giúp phân biệt nguồn gây khí B5 Nội dung cần qui định a) yêu cầu; b) sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn Hình B1 Hình B2 Hình B3 Hình B4 – Lỗ xuyên phủ kim loại quan sát thấy kính hiển vi lập thể, khơng có dầu quan sát vành khuyên sau thử nghiệm với mỏ hàn Hình B5 – Lỗ xun phủ kim loại có dầu Mặt lõm cong Khơng nhìn thấy thành lỗ Hình B6 – Lỗ xuyên phủ kim loại có dầu Mặt lõm cong Nhìn thấy thành lỗ Hình B7 – Lỗ xuyên phủ kim loại có khuyết tật Sự tạo thành bọt dầu MỤC LỤC Phạm vi áp dụng Mục đích Tiêu chuẩn trích dẫn Quy định chung 4.1 Điều kiện khí tiêu chuẩn thử nghiệm 4.2 Mẫu thử Kiểm tra chung 5.1 Thử nghiệm 1: Kiểm tra mắt 5.2 Thử nghiệm 2: Kiểm tra kích thước Thử nghiệm điện 6.1 Thử nghiệm 3: Điện trở 6.2 Thử nghiệm 4: Tính tồn vẹn điện 6.3. Thử nghiệm 5: Chịu dòng điện 6.4 Thử nghiệm 6: Điện trở cách điện 6.5 Thử nghiệm 7: Chịu điện áp 6.6 Thử nghiệm 8a: Trôi tần số 6.7 Thử nghiệm 9a: Trở kháng mạch Thử nghiệm 7.1 Thử nghiệm 10: Độ bền bong tróc 7.2 Thử nghiệm 11: Độ bền kéo 7.3. Thử nghiệm 12a: Độ phẳng 7.4 Thử nghiệm 21a: Mỏi uốn (tấm mạch in uốn được) Các thử nghiệm khác 8.1 Thử nghiệm 13: Chất lượng lớp phủ 8.2 Thử nghiệm 14a: Khả hàn 8.3 Bong lớp cắt lớp 8.4 Thử nghiệm 16: Khả cháy 8.5 Thử nghiệm 17a: Độ bền chịu dung môi chất trợ dung Ổn định môi trường 9.1 Thử nghiệm 18: Ổn định trước 9.2 Thử nghiệm 19: Sốc nhiệt 9.3 Ổn định mơi trường khí hậu 9.4 Thử nghiệm 20a: Lão hóa gia tốc, nước/khí ơxy Các hình vẽ Phụ lục A – Danh mục thử nghiệm Phụ lục B – Thử nghiệm khí lỗ xuyên phủ kim loại (không phá hủy) ... định 6.6.1 IEC 6 8-2 -2 0; b) chất trợ dung hoạt tính (0,2%) qui định 6.6.2 IEC 6 8-2 -2 0 Lão hóa gia tốc Phương pháp ưu tiên: Mẫu thử phải chịu thử nghiệm phù hợp với thử nghiệm Ca IEC 6 8-2 -3 , 10 ngày... nghiệm IEC 249 IEC 326 Nó dùng để trích dẫn qui định kỹ thuật tiêu chuẩn hành khác Về giới hạn nó, nên tham khảo 9.3 TCVN 661 1-3 : 2001 (IEC 32 6-3 ) Hướng dẫn thử nghiệm khả cháy xem TCVN 661 1-3 :... thuận dùng mẫu thử nghiệm qui định TCVN 661 1-5 : 2000 (IEC 32 6-5 ) TCVN 661 1-6 : 2000 (IEC 32 6-6 ) thử nghiệm phải tiến hành “mẫu D” Tấm thử nghiệm tốt khơng phủ chì-thiếc Nếu có, lớp phủ phải tẩy