1. Trang chủ
  2. » Kỹ Thuật - Công Nghệ

BÀI GIẢNG CHỈ SỐ NĂNG LỰC CÔNG ĐOẠN CP- CPK

13 15K 29

Đang tải... (xem toàn văn)

Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống

THÔNG TIN TÀI LIỆU

Thông tin cơ bản

Định dạng
Số trang 13
Dung lượng 1,31 MB

Nội dung

Cpk : làcái xem xét độ lệch giữa trung bình dữ liệu đo thực thế vàtrung tâm dung sai ở Cp Cp Cpk SU -SL 6σ 6σ SU -SL-2|μ-T| = = SU:giá trị giới hạn trên dung sai SL:giá trị giới hạn dưới

Trang 1

ĐÀO TẠO

Cp / CpK

VĂN HẠT 1

Trang 2

KHÁI NIỆM

 Khái niệm Cp :

Là đại lượng đánh giá mức độ ổn định của giá trị thu thập ngẫu nhiên Xác định bởi công thức

Cp = (UCL - LCL)/(6sigma) hay Cp = T/(6sigma)

Cp viết tắt của Capacity process Được gọi là độ tinh vi

hay năng lực quá trình

Trong đó :

 UCL là giá trị giới hạn trên, upper control line

LCL là giá trị gh dưới, lower control line

CL là giá trị (trung tâm) mong đợi, center line sigma : Độ sai lệch tiêu chuẩn.(là số đo độ phân tán của các giá trị so với giá trị trung bình) , hàm trong Excell STDEVA(… : ….)

T là miền dung sai, T = UCL - LCL

2

Trang 3

PHƯƠNG PHÁP - ỨNG DỤNG

 Trong kĩ thuật, không kiểm tra 100% được trong đại đa số các trường hợp Việc kiểm tra qua pp lấy mẫu lô để giảm thời gian và kinh phí đo kiểm , nhân lực tóm lại là tăng năng xuất, giảm giá thành.

Lý thuyết Cp áp dụng trên nguyên tắc 6sigma với giả định giá trị khảo sát (kích thước) tuân theo pp Chuẩn Gauss.

(Khi vẽ hàm Gaus, ta biết là nó có tiếp tuyến với trục hoành ở vô cực Tính từ trục đối xứng của đồ thị thì khoảng cách chắn bởi 3sigma mỗi bên sẽ chiếm 99.7% diện tích của miền tạo bởi hàm và trục hoành Phần còn lại là 3 0% được bỏ qua >> coi như hàm Gauss chắn 1 đoạn là 6 sigma Do đó có tên nguyên lý 6sigma) (*)

Ở trên hình minh họa, trục và đồ thị hàm Gauss đã xoay 90 độ cho dễ nhìn Hai điểm cut off giới hạn 1 khoảng 6sigma

Ý nghĩa : Cp phản ánh tỉ lệ giữa miền dung sai y/c và miền phân bố kích thước thực.

3

Trang 4

Cp là tỉ số giưa 2 đoạn thẳng dài T là 6sigma như trên minh họa.

Khi tỉ số này < 1 nghĩa là đoạn T chắn bởi UCL và LCL sẽ ngắn hơn đoạn 6sigma

T 4

Trang 5

Ví dụ về việc xác định Cp/ CpK 5

Trang 6

Cpk :Là Chỉ số năng lực quá trình

Nếu Cp>1 thìquátrình đáp ứng được yêu cầu

Tuy nhiên khi Cp quálớn thìcóthể quátrì nh đã lệch khỏi điểm trung

bì nh Rõràng Cp không tí nh đến giátrị trung bì nh Do đó người ta dùng chỉ số Cpk: Cpk= min(Cpl, Cpu)

Cpu=(UTL-µ)/ 3σ; Cpl=(µ-LPT)/3σ

6

Trang 7

Chỉ số năng lực công đoạn Cpk với dung sai 2 miền

Cpk = (1 – k) * ((SU – SL) / 6σ)

= (1-Độ lệch) * ((Quy cách giới hạn trên) – {(quy cách giới hạn dưới))/(6*(Độ sai lệch tiêu chuẩn)}

k = {ABS((SU + SL) / 2 – xbar)} / ((SU – SL) / 2)

= {ABS(((Độ sai lệch tiêu chuẩn)+(Quy cách giới hạn dưới))/2-(Giátrị trung bình))} /

((Quy cách giới hạn trên) – (quy cách giới hạn dưới)/2)

Hình Trường hợp cóđộ lệch

7

Trang 8

Trường hợp quy cách một phía (dung sai 1 miền)

ta sử dụng Cp để xác định năng lực quá trình

Trường hợp quy cách giới hạn trên (Su)

Trường hợp quy cách giới hạn dưới (SL)

PCI(Cp) = (SU – xbar) / 3σ

= ((giátrị trung bì nh) – (quy cách giới hạn dưới)) / 3*(Độ sai lệch tiêu chuẩn)

PCI(Cp) = (xbar – SL) / 3σ

= ((Quy cách giới hạn trên) – (giátrị trung

bì nh)) / 3*(Độ sai lệch tiêu chuẩn)

Hình Trường hợp quy cách một phía

Để đánh giá năng lực , sự ổn định của quá trình người ta luôn kết hợp đánh giá Cp và CpK

8

Trang 9

Tóm tắt : Cách tính toán chỉ số năng lực công đoạn

1 Cp : cái thể hiện tỷ lệ giữa độ rộng dung sai vàđộ rộng chênh lệch thực tế (6σ).

2 Cpk : làcái xem xét độ lệch giữa trung bình dữ liệu đo thực thế vàtrung tâm dung sai ở Cp

Cp

Cpk

SU -SL 6σ

6σ (SU -SL)-2|μ-T|

SU:giá trị giới hạn trên dung sai SL:giá trị giới hạn dưới dung sai σ:sai lệch tiêu chuẩn của mất cân bằng kích thước

μ :giátrị trung bình của dữ liệu đo thực tế

T :giátrị trung tâm của dung sai 【 (SU - SL) /2 】

※Cpk làđộ rộng giữa trung bình dữ liệu đo thực tế vàquy cách dung sai (phí a gần giới hạn trên hoặc giới hạn dưới)

Tương tự giátrị chia (ở hình vẽ phải) bằng 3σ.

SL SU

SL SU

μ

T

T μ

Trang 10

Quy chuẩn đánh giácóhay không cónăng lực công đoạn (cách nhì n Cp, Cpk)

Cp Cpk

Mối quan hệ giữa quy cách vàphân bố

Đánh giánăng lực công đoạn Xử lý

1.33 < Cp

1.67 ≦ Cpk Năng lực công đoạn quáđầy đủ

Dùchênh lệch của sản phẩm lớn nhưng không phải lo lắng gì Suy nghĩ đến phương pháp giảm bớt chi phívàđơn giản hoáquản lý

1.33 < Cpk < 1.67 Năng lực công đoạn thoả mãn đầy đủ

quy cách

Vìtrạng thái lýtưởng nên tiến hành hoạt động duy trì

1 < Cpk≦ 1.33

Năng lực công đoạn không thể nói là đầy đủ Cần quản đầy đủ về sự chênh lệch của giátrị trung bình

Tiến hành quản lýchắc chắn công đoạn, đảm

bảo tình trạng quản lý Khi Cpk tiến gần đến

1 thìcóthể phát sinh lỗi, phải tiến hành xử lý

Cpk≦ 1 Năng lực công đoạn Cpk không đầy đủ

Cóchênh lệch trong giátrị trung bình

Phát sinh hàng lỗi Cần phân loại toàn bộ, quản lýcông đoạn vàcải tiến Xử lýchênh lệch của giátrị trung bình

1 < Cp≦ 1.33

1 < Cpk≦ 1.33 Năng lực công đoạn thoả mãn quy cáchnhưng cần quản lýđầy đủ.

Tiến hành quản lýchắc chắn công đoạn, đảm

bảo trạng thái quản lý Khi Cpk tiến gần đến 1

thìcóthể phát sinh lỗi, phải tiến hành xử lý

Cpk≦ 1 Thiếu năng lực công đoạn Phát sinh hàng lỗi Cần phân loại toàn bộ,

quản lýcông đoạn vàcải tiến

Cp≦ 1 Cpk≦ 1 Thiếu năng lực công đoạn

Phát sinh hàng lỗi Cần phân loại toàn bộ, quản lýcông đoạn vàcải tiến

10

Trang 11

♦ Cp làkhoảng dao động của quátrình xãy ra bởi những nguyên nhân bình thường, nghĩa làkhi quátrình đang hoạt động ở trạng thái ổn định

♦ Các lýdo để nghiên cứu Cp:

Để cókế hoạch nghiên cứu cải tiến chất lượng

Để xác định khoảng dao động của quátrình

Cung cấp chứng cứ thống kêvề chất lượng cho khách hàng

Để quyết định khi mua máy móc, thiết bị

Để đánh giámột quátrình mới

♦ 6 bước thực hiện khi nghiên cứu Cp Chọn máy/ công đoạn đại diện

Xác định điều kiện của quátrì nh

Chọn người đứng máy đại diện

Cung cấp NVL chuẩn, đủ để không ngắt quảng việc nghiên cứu

Xác định phương pháp đo

Xác định phương pháp ghi số liệu

Thông thường số mẫu nên lấy í t nhất khoảng 30 mẫu

Phương pháp xác định Năng lực quátrình

11

4M

M2

M3 M4

M1

Trang 12

7 CÔNG CỤ QC

12

 「7 công cụ QC」 mới nhất như sau:

(1) Biểu đồ Pareto, (2)Biểu đồ nhân quả, (3) Biểu đồ, (4)Biểu đồ quản lý, (5) Checksheet, (6) Biểu đồ phân bố tần suất(histogram), (7)Biểu đồ tán xạ, (8)Biểu đồ phân tầng

 「Trong JIS Q 9024:2003」(cải tiến tính năng(performance) trong hệ thống quản lý) không cóbiểu đồ「phân tầng」.

 「Biểu đồ phân tầng」 thực ra làcách làm chứ không phải một công cụ (tool).

 Tuy nhiên, 「biểu đồ phân tầng」cũng rất quan trọng nên ,nên biết Còn số thìcó thể không cần quan tâm.

Trang 13

1 Biểu đồ pareto 「Biểu đồ pareto」 được dùng để tì m ra được các điểm vấn đề vàlỗi quan trọng thông qua

việc phân loại từng hiện tượng để lấy dữ liệu

2 Biểu đồ nhân quả

「Biểu đồ nhân quả」được dùng để sàng lọc mối quan hệ giữa nguyên nhân vàkết quả.

Vànóđược gọi là「biểu đồ xương cá」(fishbone chart).

Cóthể sàng lọc các nguyên nhân của vấn đề

3 Biểu đồ 「Biểu đồ」làdạng dễ nhận biết bằng mắt sự so sánh dữ liệu.

Dễ nhận biết được hình ảnh tổng thể của dữ liệu

4 Biểu đồ quản lý

「Biểu đồ quản lý」làdạng cóthể nhì n thấy công đoạn cóổn định hay không ? Cóthể phân loại sự mất cân bằng tự nhiên vàsự mất cân bằng do những nguyên nhân bất thường để quản lý.

5 Checksheet 「Checksheet」được dùng để nắm bắt sự phân loại dữ liệu, phân bố từng hạng mục, tình trạng

xuất hiện

6.Biểu đồ phân bố tần suất (Histogram)

「Biểu đồ phân bố tần suất (histogram)」 làdạng chia dữ liệu trong một số khoảng nào đó sau đó tập hợp dữ liệu trong khoảng đó.

Thể hiện tần suất đó bằng biểu đồ hình cột.

Cóthể nắm bắt được sự mất cân bằng dữ liệu.

7.Biểu đồ tán xạ 「Biểu đồ tán xạ」làdạng biểu đồ cóthể nhì n thấy được mối quan hệ đặc tí nh (quan hệ tương

quan) xem giữa 2 dữ liệu cóquan hệ như thế nào với nhau?

8 Biểu đồ phân tầng 「Biểu đồ phân tầng」làphương pháp chia dữ liệu thành từng nhóm, nắm bắt các điểm vấn

đề

Ngày đăng: 15/04/2016, 15:57

TỪ KHÓA LIÊN QUAN

TÀI LIỆU CÙNG NGƯỜI DÙNG

TÀI LIỆU LIÊN QUAN

w