Iec 62642 2 73 2015

I E C 62 642 -2 -7 ® Edition 201 5-1 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE Al arm s ys tem s – I n tru s i on an d h ol d -u p s ys te m s – P art -73 : I n tru s i on d ete ctors – G l as s break d e tectors (acti ve ) S ys tèm es d ' al arm e – S ys tèm es d ' al arm e tre l ’ i n tru s i on e t l es h ol d -u p – IEC 62642-2-73:201 5-1 0(en-fr) P arti e -7 3: D étecteu rs d ' i n tru s i on – D éte cteu rs d e bri s d e g l ace (acti fs ) Copyright International Electrotechnical Commission T H I S P U B L I C AT I O N I S C O P YRI G H T P RO T E C T E D C o p yri g h t © I E C , G e n e v a , S wi tz e rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about I EC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local I EC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Ab ou t th e I E C The I nternational Electrotechnical Commission (I EC) is the leading global organization that prepares and publishes I nternational Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i ca ti o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I E C Catal og u e - webstore i ec ch /catal og u e The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad I E C pu bl i cati on s s earch - www i ec ch /search pu b The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications E l ectroped i a - www el ectroped i a org The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 30 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I E C G l os sary - s td i ec ch /g l oss ary More than 60 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i sh ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C C u stom er S ervi ce C en tre - webstore i ec ch /csc If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A propos d e l 'I E C La Commission Electrotechnique I nternationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A propos d es pu bl i cati on s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié Catal og u e I E C - webstore i ec ch /catal og u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad Rech erch e d e pu bl i cati on s I E C - www i ec ch /search pu b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectroped i a - www el ectroped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient plus de 30 000 termes et dộfinitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes équivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l oss re I E C - s td i ec ch /g l ossary Plus de 60 000 entrées terminologiques électrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Dộfinitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i s h ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email Copyright International Electrotechnical Commission S ervi ce Cl i en ts - webstore i ec ch /csc Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I E C 62 642 -2 -7 ® Edition 201 5-1 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE Al arm s ys tem s – I n tru s i on an d h ol d -u p s ys te m s – P art -73 : I n tru s i on d ete ctors – G l as s bre ak d ete ctors (acti ve ) S ys tèm es d ' al arm e – S ys tèm es d ' al arm e tre l ’ i n tru s i on e t l es h ol d -u p – P arti e -7 3: D étecteu rs d ' i n tru s i on – D étecte u rs d e bri s d e g l ace (acti fs ) INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 3.320 ISBN 978-2-8322-291 8-7 Warn i n g ! M ake s u re th at you obtai n ed th i s p u bl i ca ti on from an au th ori zed d i stri b u tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s ass u rer q u e vou s avez obten u cette pu bl i cati on vi a u n d i stri b u teu r ag ré é ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical MarqueCommission déposée de la Commission Electrotechnique Internationale –2– I EC 62642-2-73:201 © I EC 201 CONTENTS FOREWORD I NTRODUCTI ON Scope Norm ative references Terms, definitions and abbreviations Terms and definitions Abbreviations Functional requirements Event processing Operational requirem ents 1 Time interval between intrusion signals or m essages 1 2 Switch on delay 1 Self tests Detection Detection performance I ndication of detection 4 I mmunity to false alarm sources 4 General 4 I mm unity to small objects hitting the glass 4 I mm unity to soft obj ects hitting the glass 4 I mm unity to hard objects hitting the glass 4 I mm unity to static pressure 4 I mm unity to d ynamic pressure 4 I mm unity to wide band noise Tamper security General Resistance to and detection of unauthorised access to the inside of the detector through covers and existing holes 4 Detection of removal from the mounting surface 4 Detection of m asking 4 5 I mm unity to magnetic field interference Electrical requirem ents General Detector current consumption Slow input voltage rise and voltage range limits I nput voltage ripple I nput voltage step change Environm ental classification and conditions Environm ental classification I mm unity to environm ental conditions 5 Marking, identification and documentation Marking and/or identification Documentation 6 Testing 6 General 6 General test conditions Copyright International Electrotechnical Commission I EC 62642-2-73: 201 © I EC 201 6 2 6 6 3 6 6 4 6 6 7 7 7 6 7 8 8 –3– Standard laboratory conditions for testing General detection testing environment and procedures Basic detection test General Basic test source Basic detection test m ethod Perform ance tests General Verification of detection performance Hole drilling with a diamond hole saw Glass cutting 20 Switch-on delay, tim e interval between signals, and indication of detection 20 Fault condition signals or messages: self tests 20 Tests of im munity to false alarm sources 21 General 21 I mm unity to small objects hitting the glass 21 I mm unity to soft obj ects hitting the glass 22 I mm unity to hard objects hitting the glass 22 I mm unity to static pressure 23 I mm unity to d ynamic pressure 23 I mm unity to wide band noise based using flat steel rulers 24 I mm unity to wide band noise based using I C’s 24 Tamper security 25 General 25 Prevention of unauthorised access to the inside of the detector through covers and existing holes 25 Detection of removal from the mounting surface 25 Resistance to magnetic field interference 25 Detection of m asking 25 Electrical tests 26 General 26 Detector current consumption 26 Slow input voltage change and input voltage range lim its 26 I nput voltage ripple 27 I nput voltage step change 27 Total loss of power supply 27 Environm ental classification and conditions 27 1 Marking, identification and documentation 29 1 Marking and/or identification 29 1 Docum entation 29 Annex A (normative) Catalogue of standard glass types 30 Annex B (informative) List of small tools suitable for testing immunity of casing to attack 31 Annex C (norm ative) Dimensions and requirements of a standard test m agnet 32 C Reference docum ents 32 C Requirements 32 Annex D (norm ative) I m m unity test: sm all objects hit sensitivity 35 Annex E (normative) I mmunity test: soft obj ects hit sensitivity 36 Annex F (norm ative) I mm unity test: hard objects hit sensitivity 37 Copyright International Electrotechnical Commission –4– I EC 62642-2-73:201 © I EC 201 Annex G (normative) I mm unity test: static pressure sensitivity 38 Annex H (norm ative) I m m unity test: d ynamic pressure sensitivity 39 Annex I (norm ative) General testing m atrix 40 Annex J (norm ative) Perform ance test setup and alternative performance test setup 42 J Perform ance test setup 42 J Alternative perform ance test setup 43 Annex K (normative) Performance sensitivity test 45 Bibliograph y 46 Figure C.1 – Test magnet – Magnet type 33 Figure C.2 – Test magnet – Magnet type 34 Figure D.1 – I mmunity test setup for sm all object hit sensitivity 35 Figure E – I mmunity test setup for soft obj ect hit sensitivity 36 Figure F – I mm unity test setup for hard object hit sensitivity 37 Figure G – I mm unity test setup for static pressure sensitivity 38 Figure H – I mmunity test setup for d ynamic pressure sensitivity 39 Figure J – Performance test setup 42 Figure J – Alternative performance test setup 44 Figure K – Combined sensor elem ent surface mounted glass break detectors test setup 45 Figure K – Sender and receiver pair surface m ounted glass break detectors test setup 45 Table Table Table Table Table Table Table Table Table Table Table – Events to be processed by grade – Generation of I ndication signals or m essages 1 – Performance test requirem ents – Tam per security requirem ents – Electrical requirements – Wide band noise sim ulation based on flat steel rulers 24 – Operational tests 28 – Endurance tests 28 A – Standard glass types 30 J – Performance test matrix 43 J – Alternative performance test m atrix 43 Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 62642-2-73: 201 © I EC 201 –5– INTERNATI ONAL ELECTROTECHNI CAL COMMISSI ON AL ARM S YS T E M S – I N T RU S I O N P a rt -7 : AN D H O L D -U P S YS T E M S – I n t ru s i o n d e te c to rs – G l a s s b re a k d e te c to rs ( a c ti ve ) FOREWORD ) The I nternati on al Electrotechni cal Com m ission (I EC) is a worl d wid e organi zation for stan dardization com prisin g all n ation al el ectrotechnical comm ittees (I EC National Comm ittees) The object of I EC is to prom ote internati onal co-operation on all q uestions concerni ng stand ardi zati on in the el ectrical an d electronic fi elds To this en d an d i n additi on to other acti vities, I EC publish es I nternational Stan dards, Techn ical Specificati ons, Technical Reports, Publicl y Avail abl e Specificati ons (PAS) an d Guides (h ereafter referred to as “I EC Publication(s)”) Th ei r preparation is entrusted to tech nical comm ittees; any I EC National Comm ittee interested in th e subj ect dealt with m ay partici pate in this preparatory work I nternational, governm ental an d n on governm ental organ izations liaising with th e I EC also partici pate i n th is preparation I EC collaborates closel y with the I nternational Org ani zation for Stand ardi zation (I SO) in accordance with conditions determ ined by agreem ent between th e two organi zati ons 2) The form al decisions or agreem ents of I EC on technical m atters express, as n early as possible, an i nternati onal consensus of opi nion on the rel evant subjects since each technical com m ittee has representati on from all interested I EC N ational Com m ittees 3) I EC Publications have the form of recom m endations for intern ational use an d are accepted by I EC Nati onal Com m ittees in that sense While all reasonable efforts are m ade to ensure that th e tech nical content of I EC Publications is accu rate, I EC cann ot be h eld responsi ble for th e way in which th ey are used or for an y m isinterpretation by an y en d u ser 4) I n order to prom ote intern ational u niform ity, I EC National Com m ittees und ertake to apply I EC Publications transparentl y to the m axim u m extent possible i n th eir national an d regi on al publications Any divergence between an y I EC Pu blication and the correspondi ng national or regi on al publicati on sh all be clearl y in dicated in the latter 5) I EC itself d oes not provi de an y attestation of conform ity I n depend ent certificati on bodies provide conform ity assessm ent services and, in som e areas, access to I EC m arks of conform ity I EC is not responsi ble for an y services carri ed out by ind ependent certification bodi es 6) All users shou ld ensure that th ey h ave the l atest editi on of thi s publicati on 7) No liability shall attach to I EC or its directors, em ployees, servants or ag ents inclu din g in divi du al experts an d m em bers of its technical com m ittees and I EC N ation al Com m ittees for any person al i nju ry, property d am age or other dam age of any n atu re whatsoever, wheth er d irect or indirect, or for costs (includ i ng leg al fees) and expenses arisi ng out of the publ ication, use of, or relian ce upon, this I EC Publication or any oth er I EC Publications 8) Attention is drawn to th e N orm ative references cited in this publication Use of the referenced publ ications is indispensable for the correct applicati on of this publication 9) Attention is drawn to the possibility that som e of the elem ents of this I EC Publication m ay be th e subject of patent rig hts I EC shall not be held responsibl e for identifyi ng any or all such patent ri ghts I nternational Standard I EC 62642-2-73 has been prepared by I EC technical com m ittee 79: Alarm and electronic security systems This standard is based on EN 501 31 -2-7-3 (201 2) and its I S1 (201 4) The text of this standard is based on the following documents: FDI S Report on votin g 79/51 3/FDI S 79/529/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table This publication has been drafted in accordance with the I SO/I EC Directives, Part Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –6– I EC 62642-2-73:201 © I EC 201 A list of all parts in the I EC 62642 series, published under the general title Alarm systems – Intrusion and hold-up systems , can be found on the I EC website The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until the stability date indicated on the I EC website under "http: //webstore.iec ch" in the data related to the specific publication At this date, the publication will be • • • • reconfirm ed, withdrawn, replaced by a revised edition, or amended Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 62642-2-73: 201 © I EC 201 –7– INTRODUCTION This part 2-73 of the I EC 62642 series concerns intrusion and hold-up alarm system s (I &H AS) installed in buildings I t includes devices that are installed inside or outside of the supervised premises and mounted in indoor or outdoor environments The other parts of this series of standards are as follows: Part Part 2-2 Part 2-3 Part 2-4 Part 2-5 Part 2-6 Part 2-71 Part 2-72 Part 2-73 Part Part Part 5-3 Part Part Part System requirements I ntrusion detectors – Passive infrared detectors I ntrusion detectors – Microwave detectors I ntrusion detectors – Combined passive infrared / M icrowave detectors I ntrusion detectors – Combined passive infrared / U ltrasonic detectors I ntrusion detectors – Opening contacts (magnetic) I ntrusion detectors – Glass break detectors (acoustic) I ntrusion detectors – Glass break detectors (passive) I ntrusion detectors – Glass break detectors (active) Control and indicating equipm ent Warning devices I nterconnections – Requirements for equipm ent using radio frequency techniques Power supplies Application guidelines Security fog devices/system s Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –8– AL ARM S YS T E M S – I N T RU S I O N P a rt -7 : I EC 62642-2-73:201 © I EC 201 AN D H O L D -U P S YS T E M S – I n t ru s i o n d e te c to rs – G l a s s b re a k d e te c to rs ( a c ti ve ) S cop e This part of I EC 62642 defines active surface m ounted glass break detectors installed in buildings and provides for security grades to (see I EC 62642-1 ), specific or non-specific wired or wire-free detectors, and uses environmental classes I to I V (see I EC 62599-1 ) This International Standard does not include requirements for active surface mounted glass break detectors intended for use outdoors A detector complies with all the requirem ents of the specified grade Functions additional to the m andatory functions specified in this standard may be included in the detector, providing they not adversel y influence the correct operation of the mandatory functions This I nternational Standard does not apply to system interconnections N o rm a t i ve re fe re n c e s The following docum ents, in whole or in part, are normatively referenced in this document and are indispensable for its application For dated references, onl y the edition cited applies For undated references, the latest edition of the referenced document (including an y amendments) applies I EC 60068-2-52: 984, Basic environmental testing procedures – Part 2: Tests – Test Kb: Salt mist, cyclic (sodium, chloride solution) I EC 62599-1 , Alarm systems – Part : Environmental test methods I EC 62599-2, Alarm systems – Part 2: Electromagnetic compatibility – Immunity requirements for components of fire and security alarm systems I EC 62642-1 , Alarm systems – Intrusion and hold-up systems – Part 1: System requirements T e rm s , d e fi n i t i o n s a n d a b b re vi a t i o n s For the purposes of this document, the term s, definitions and abbreviations given in I EC 62642-1 , as well as the following appl y T e rm s a n d d e fi n i t i o n s g l a s s b re a k a g e ph ysical destruction of a glass pane, which allows intrusion to the monitored area, for exam ple in doors, windows or enclosures _ First edition This editi on h as been replaced in 996 by I EC 60068-2-52: 996 , Environmental testing – Part 2: Tests – Test Kb: Salt mist, cyclic (sodium, chloride solution) Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 80 – I EC 62642-2-73:201 © I EC 201 36 15 10 ø5, IEC Légende Pôle nord Pôle sud Pôle nord (h achu ré) Matéri au NdFeB N38 (REFeB 280/1 20 − N um éro d e code R5-1 -7) nickelé Rém anence B r m in 240 m T Prod uit de l'énergie (BH) max 280 kJ /m Polarisation du point d'application Rém anence B r − % Figure C.2 – Aimant d'essai – Aimant de type Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 62642-2-73: 201 © I EC 201 – 81 – Annexe D (normative) Essai d'immunité: sensibilité aux chocs par de petits objets Roulements billes, billes en polyoxyméthylène Mur fi xe Tuyau de déversement Cơté ó les détecteurs de bris de vitre doivent être installés Vitre Mur fixe IEC Figure D.1 – Configuration d'essai d’immunité pour sensibilité aux chocs par de petits objets Le diamètre intérieur du tu yau doit être de 1 mm et le tu yau doit être en PVC L'angle du tu yau correspondant la surface de la vitre doit être de 45° ± 2°, l'extrém ité du tu yau dirigée vers la surface de la vitre doit être coupée comme indiqué la Figure D Le tu yau doit être monté de sorte que la distance entre son extrémité et la vitre soit de 50 mm au stade final où la bille heurte la surface de la vitre et les roulem ents billes heurtent le point central de la surface de la vitre Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 82 – I EC 62642-2-73:201 © I EC 201 Annexe E (normative) Essai d'immunité: sensibilité aux chocs par des objets mous Vitre α 1m 0,1 m A IEC Figure E.1 – Configuration d'essai d’immu nité pour sensibilité aux chocs par des objets mou s Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 62642-2-73: 201 © I EC 201 – 83 – Annexe F (normative) Essai d'immunité: sensibilité aux chocs par des objets durs Vitre α 1m 0,1 m A IEC Figure F.1 – Configuration d'essai d’immunité pour sensibilité aux chocs par des objets durs Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 84 – I EC 62642-2-73:201 © I EC 201 Annexe G (normative) Essai d'immunité: sensibilité la pression statique Vitre F IEC Figu re G.1 – Configu ration d'essai d’immunité pour sensibilité la pression statique Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 62642-2-73: 201 © I EC 201 – 85 – Annexe H (normative) Essai d'immunité: sensibilité la pression dynamique Vitre F IEC Figure H.1 – Configuration d'essai d’immunité pour sensibilité la pression dynamique Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 86 – I EC 62642-2-73:201 © I EC 201 An n e xe I (normative) M a tri c e g é n é l e d e s e s s a i s Veuillez trouver dans le Tableau I ci-dessous la référence et la relation des échantillons d'essai par rapport aux essais individuels Tabl e au I.1 – M a t ri c e d ’ e s s a i Tâ ch e I n ti tu l é d ' e s s a i et d ’ é ch an ti l l on e ffe c t u e r c o n j o i n t e m e n t a v e c É c h a n ti l l o n p ri n c i p a l l 'essai p ri n c i p a l n° a Av a n t P en d an t Ap rè s l 'ess l 'ess l 'ess p ri n c i p a l p ri n c i p a l p ri n c i p a l Essai des perform ances de sensibil ité Aucune 2 Aucune à3 Essai des perform ances de bri s Aucune Aucune 11 E s s a i s d e s p e rfo rm a n c e s Perỗag e du n trou avec u ne poi nte de diam ant Aucune Aucune 12 14 Décou pe d u verre Aucune 4 Aucune 15 17 Aucune Aucune 18 Aucune 6 Aucune 18 I mm unité au x petits obj ets heurtant la vitre 3 3 4à9 I mm unité au x objets m ous heu rtant la vitre 3 3 4à9 I mm unité au x objets d urs h eurtant la vitre 3 3 4à9 I mm unité la pression statiq u e 3 3 4à9 I mm unité la pression d yn am ique 3 6 3 4à9 I mm unité au bruit de l arge ban de prod uit par des règles pl ates en acier 3 7 3 4à9 I mm unité au bruit de l arge ban de prod uit par des circuits intégrés 3 3 4à9 Préventi on d e l'accès non autorisé la partie interne d u d étecteu r vi a les carters et trous existants Aucune Aucune 19 Détection de l ’ arrach em ent du détecteu r d e sa surface de m ontage Aucune Aucune 20 Résistance au x i nterférences d ues au cham p m agnétiqu e Aucune Aucune Détection du m asquage Aucune Aucune 21 b Consom m ation de cou rant du détecteu r Aucune Aucune 22 Variati on l ente d e la tension d’ entrée et lim ites de pl age de tensions d'entrée Aucune Aucune 22 Ondu lation de l a tensi on d’ entrée Aucune Aucune 22 Variati on en éch elon de l a tension d’ entrée Aucune Aucune 22 Perte totale d'alim entation Aucune Aucune 22 Dél de m i se e n t re l e s sou s te n s i o n , i n te rva l l e d e te m p s s i g n a u x e t i n d i c a ti o n S i g n au x ou d e d é te c ti o n m e s s a g e s d e c o n d i ti o n d e d é fa u t : a u to d i a g n o s ti cs E ssai d ' i m m u n i t é a u x fa u s s e s a l a rm e s P ro t e c t i o n E ssai s c o n t r e l a fr a u d e é l e c t ri q u e s C l a s s i fi c a t i o n e t co n d i ti o n s E s s a i s o p é t i o n n e l s Copyright International Electrotechnical Commission d ' e n v i ro n n e m e n t Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 62642-2-73: 201 © I EC 201 – 87 – Tâ ch e I n ti tu l é d ' e s s a i e ffe c t u e r c o n j o i n t e m e n t a v e c É c h a n ti l l o n p ri n c i p a l l 'essai p ri n c i p a l n° Av a n t P en d an t Ap rè s l 'ess l 'ess l 'ess a p ri n c i p a l p ri n c i p a l p ri n c i p a l Chal eu r sèche 3 6 3 23 Froi d 3 6 3 23 Chal eu r hum ide (essai conti nu ) 3 6 3 24 Chal eu r hum ide (cycliq ue) 3 6 3 24 Pénétration d'eau 3 6 3 25 Secousses m écaniques 3 6 3 26 Vibrati on 3 6 3 27 I m pact 3 6 3 26 CEM 3 6 3 28 3 6 3 24 E s s a i s d ’ e n d u n c e Chal eu r hum ide (essai conti nu ) Chal eu r hum ide (cycliq ue) 3 6 3 24 Corrosi on par l e SO 3 6 3 29 Vibrati ons (sin usoïd ales) 3 6 3 27 Marq uag e et/ou id entification Aucune 1 Aucune Docum entation Aucune 1 Aucune a Les nom bres d e cette colon n e ne sont q ue d es sugg estion s et peuvent varier selon l es essais effectués, leurs résultats et l es recom m andati ons du fabricant b Pour l es essais de m asquag e, des échantillons suppl ém entaires peu vent être exig és Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 88 – I EC 62642-2-73:201 © I EC 201 Annexe J (normative) Configuration d'essai des performances et variante de configuration d'essai des performances J.1 Configuration d'essai des performances Bille en acier chromé de 00 mm (±0,2 mm) Poids 4,1 kg Dureté de 60 Rockwell 66 Rockwell Mur fi xe Tuyau de déversement Niveau de chute / verre trempé Niveau de chute / verre simple Cơté ó les détecteurs de bris de vitre doivent être installés Vitre Mur fixe IEC Figure J.1 – Configuration d’essai des performances Le diam ètre intérieur du tu yau doit être de 1 mm et le tu yau doit être en PVC L'angle du tu yau correspondant la surface de la vitre doit être de 45° ± 2°, l'extrém ité du tu yau dirigée vers la surface de la vitre doit être coupée comm e indiqué la Figure J Le tu yau doit être m onté de sorte que la distance entre son extrémité et la vitre soit de 50 mm au stade final où la bille heurte la surface de la vitre en son point central et la brise entièrement La surface de la bille doit être polie et lisse pour chaque essai effectué Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 62642-2-73: 201 © I EC 201 – 89 – Tabl eau J – M atri ce d ’ essai d es perform an ces É pai sseu r m axi m al e H au teu r d e ch u te m i n i m al e mm ,1 m 20 mm (4 mm /1 mm /4 mm ) ,8 m Verre arm é mm ,8 m Verre trem pé mm ,8 m Verre revêtu mm 2, m Verre feui lleté mm 2, m Flottante J oints d'isolati on J.2 Vari ante de confi gurati on d'essai des performances En variante la configuration d'essai des perform ances décrite en J , il est possible d'utiliser un outil susceptible de briser le verre feuilleté ou revêtu de l'épaisseur spécifiée ci-dessous Dans ce cas, il faut que l'outil soit m uni d'un moyen permettant de lâcher un objet volant libre et il faut que l'outil ainsi que l'obj et soient conform es aux caractéristiques suivantes: • • • • il convient que l'objet volant libre soit une sphère; il convient que la masse m inimale de la sphère soit de 0, kg ± %; il convient que la masse maxim ale de la sphère soit de kg ± 2%; il convient que la sphère soit fabriquée en acier trem pé d’une plage de dureté de 60 Rockwell 66 Rockwell L'essai effectué doit respecter les conditions suivantes: • • • • • il convient que la vitesse de la sphère soit comprise entre m ⋅ s –1 et 30 m ⋅ s –1 lors du choc sur la vitre; il convient que la sphère heurte la surface de la vitre en son centre ± 50 m m; il convient que l'énergie m inimale soit de 400 J au point d’im pact sur la vitre; l'angle auquel l'objet heurte la vitre doit être ± 0° de l'axe perpendiculaire la vitre; il convient que la vitre se brise au prem ier choc et il convient qu'elle ne génère pas de bruit supplémentaire dû au rebondissem ent de l'objet, etc Tabl eau J – Vari an te d e m atri ce d ’ essai d es perform an ces Verre n orm al i sé Épai sseu r m axi m al e Verre feui lleté (par exem ple 4/0, 76/4 m m ) mm Verre revêtu (revêtem ent antiin trusion, par exem ple m m plus un film de 0, 36 mm ) mm Un schéma de configuration caractère informatif d'une configuration d'essai potentielle est présenté la Figure J Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 90 – I EC 62642-2-73:201 © I EC 201 Mur fi xe Cơté ó les détecteurs de bris de vitre doivent être installés Mur fi xe IEC Fi g u re J – Vari an te d e fi g u rati on d ’ essai d es perform an ces Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an I EC 62642-2-73: 201 © I EC 201 – 91 – Annexe K (normative) Essai de sensibilité des performances Processeur d’évaluation Bout Vitre Détecteurs Partie distante IEC Figure K.1 – Configuration d'essai des détecteurs de bris de vitre montés en surface et des éléments de capteur combinés Processeur d’évaluation Bout Détecteur UC Émetteur Récepteur Vitre Partie distante IEC Figure K.2 – Configuration d'essai des détecteurs de bris de vitre montés en surface et d'une paire émetteu r-récepteur Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 92 – I EC 62642-2-73:201 © I EC 201 Bibliographie I EC 60068-1 : 201 3, Essais d'environnement – Partie 1: Généralités et lignes directrices I EC 60404-5, Matériaux magnétiques – Partie 5: Aimants permanents (magnétiques durs) – Méthodes de mesure des propriétés magnétiques I EC 60404-8-1 , Matériaux magnétiques – Partie 8-1: Spécifications pour matériaux particuliers – Matériaux magnétiquement durs I EC 60404-1 4, Matériaux magnétiques – Partie 14: Méthode de mesure du moment magnétique coulombien d’une éprouvette de matériau ferromagnétique par la méthode du retrait ou la méthode par rotation IEC 60529 , Degrés de protection procurés par les enveloppes (Code IP) IEC 62642-6, Systèmes d’alarme – Systèmes d’alarme contre l’intrusion et les hold-up – Partie 6: Alimentation ISO 527-1 , Plastiques – Détermination des propriétés en traction – Partie 1: Principes généraux ISO 527-2, Plastiques – Détermination des propriétés en traction – Partie 2: Conditions d'essai des plastiques pour moulage et extrusion ISO 1 83-2, Plastiques – Méthodes de détermination de la masse volumique des plastiques non alvéolaires – Partie 2: Méthode de la colonne gradient de masse volumique ISO 2039-2 , Plastiques – Détermination de la dureté – Partie 2: Dureté Rockwell _ Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Copyright International Electrotechnical Commission C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn