Chương 8 định hướng dung sai

GVHD: TRƯƠNG QUỐC THANHNHÓM: 7

Nguyễn Trung Hiếu 1812190Ngô Minh Phương 1813620

Võ Quốc Hoàng Sang1813819

Đại học Bách Khoa Tp Hồ Chí MinhDung sai và kỹ thuật đo

Chương 8

Định hướng dung sai

8.1 GIỚI THIỆU

Dung sai định hướng (song song, vuông góc, góc) là kiểm soát, xác định một đối tượng (bề mặt hoặc đặc điểm kích thước) liên quan đến một hoặc nhiều dữ liệu Điều khiển song song xác định độ lệch của một phần tính năng so với song song và nó được sử dụng cho hình học nằm ở góc 180 ° so với hình học khác Kiểm soát độ vuông góc xác định độ lệch của một phần tính năng so với độ vuông góc, và nó được sử dụng cho các hình học ở góc 90 ° so với nhau Một điều khiển góc cạnh xác định độ lệch của một bộ phận đối với một độ nghiêng xác định và nó được sử dụng cho các hình học không phải ở 180 ° hoặc cách nhau 90 °.

Điều khiển song song xác định độ lệch của một phần tính năng so với song song và nó được sử dụng cho các hình học nằm cách nhau 180 Loại lỗi này có thể được áp dụng cho một đường trung tuyến dẫn xuất hoặc một bề mặt và biểu tượng của nó là hai dấu gạch ngang song song nghiêng 60

8.2.1 Tính song song của một đường trung vị liên quan đến một Datum Hệ thống

8.2.1.1 Tính song song của đường trung vị liên quan đến trục dữ liệu

Vì giá trị dung sai trong điều khiển song song trong Hình 8.1 không đứng trước giá trị Ký hiệu Ø, đường trung tuyến được trích xuất từ lỗ trên phải rơi vào giữa hai mặt phẳng cách nhau 0,1 mm, song song với mốc A, và với hướng được chỉ định bởi datum B (Hình 8.2) Trong thực tế trước đây, để thay thế, hướng của các vùng dung sai là được xác định với một dữ liệu thứ cấp (Hình 8.3) Tuy nhiên, một sự song song chặt chẽ hơn kiểm soát thu được, như được chỉ ra trong Hình 8.4, khi giá trị trung bình chiết xuất nằm giữa hai cặp mặt phẳng song song, song song với trục dữ liệu A và có vị trí 0,1 và cách nhau 0,2 Hướng của các mặt phẳng giới hạn vùng dung sai được chỉ định, đối với mặt phẳng dữ liệu B bởi các chỉ báo mặt phẳng định hướng Vùng dung sai trong Hình 8.5 được giới hạn bởi một hình trụ có đường kính 0,3 mm, có trục song song với mốc A, vì giá trị dung sai được đặt trước ký hiệu Ø

8.2 SONG SONG

Hình 8.1 Đặc điểm kỹ thuật song song của đường trung tuyến liên quan đến trục dữ liệu; các mặt phẳng giới hạn vùng dung sai song song với mặt phẳng mốc B, như được chỉ định bởi chỉ báo mặt phẳng định hướng

Hình 8.2 Điều khiển đường trung vị đã trích xuất được thể hiện trong hình trước; trong trường hợp này, trích xuất đường trung tuyến của lỗ trên phải nằm trong hai mặt phẳng cách nhau 0,1 mm, song song với mốc A và với hướng được chỉ định bởi dữ liệu B, như được chỉ định bởi chỉ báo mặt phẳng định hướng

Hình 8.5 Việc sử dụng ký hiệu Ø xác định vùng dung sai hình trụ song song với mốc bên trong mà dòng trung bình được trích xuất sẽ rơ

Hình 8.4 Chỉ báo song song với hai chỉ báo mặt phẳng định hướng

Hình 8.3 Một thực hành trước đây, thay thế cho chỉ thị của mặt phẳng định hướng được thể hiện trong Hình 8.1

8.2.1.2 Tính song song của đường trung vị liên quan đến mặt phẳng dữ liệu

Đặc điểm kỹ thuật về độ song song của đường trung tuyến liên quan đến mặt phẳng dữ liệu, như được hiển thị trong Hình 8.6, trong đó đường trung tuyến chiết xuất sẽ nằm giữa hai mặt phẳng song song Cách nhau 0,01 mm, song song với mặt phẳng mốc B.

Hình 8.6 Nếu dung sai giá trị không đứng trước Ký hiệu Ø, trích xuất đường trung tuyến sẽ giảm giữa hai mặt phẳng song song Cách nhau 0,01 mm, là song song với mặt phẳng mốc B

8.2.2 Tính song song của một tập hợp các đường trên bề mặt có liên quan đến một máy bay dữ liệu

Mỗi dòng được trích xuất trong Hình 8.7, song song với mặt phẳng dữ liệu B, như được chỉ định bởi liên chỉ báo mặt phẳng tiết diện, nên nằm giữa hai đường thẳng song song cách nhau 0,2, là song song với mặt phẳng mốc A Vùng dung sai được giới hạn bởi hai đường thẳng song song 0,2 mm ngoài và có hướng song song với mặt phẳng dữ liệu A, nghĩa là, các đường thẳng nằm trên một mặt phẳng song song đến mặt phẳng dữ liệu B.

Hình 8.7 Đặc điểm kỹ thuật song song của một tập hợp các đường trên bề mặt

Hình 8.8 cho thấy đặc điểm kỹ thuật về độ song song của một bề mặt phẳng liên quan đến một mốc chiếc máy bay; bề mặt chiết phía trên phải nằm giữa hai mặt phẳng song song 0,4 mm ngoài nhau, song song với mặt phẳng dữ liệu A Cần lưu ý rằng sự song song kiểm soát cũng hạn chế độ phẳng của các bề mặt Trong trường hợp này, nguyên tắc độc lập cũng được gọi theo mặc định để định hướng do đó dung sai và các quy tắc sau là hợp lệ (Hình 8.9): (1) dung sai độ song song có thể có giá trị cao hơn giá trị dung sai kích thước; (2) mỗi kích thước cục bộ được đo giữa hai điểm phải nằm trong giới hạn kích thước; (3) độ lệch hình thức phải nằm trong các giá trị dung sai song song.

8.2.3 Tính song song của một bề mặt phẳng liên quan đến một Datum Hệ thống

8.3 Độ vuông góc

Tính năng dung sai được kiểm soát bởi một đặc điểm kỹ thuật vuông góc có thể là một tính năng tích phân hoặc một tính năng dẫn xuất Các góc kích thước chính xác về mặt lý thuyết (TED) bị khóa giữa tính năng được dung nạp danh nghĩa và các mức dữ liệu phải được

Hình 8.8 Đặc điểm kỹ thuật song song của bề mặt phẳng liên quan đến mặt phẳng dữ liệu

Hình 8.9 Giải thích thông số kỹ thuật song song của hình trước Trình quản lý định hướng- Ance được áp dụng cho một đối tượng có kích thước, và nguyên tắc độc lập do đó được gọi theo mặc định Do đó, dung sai song song có thể có giá trị cao hơn dung sai kích thước và dạng sai lệch (độ phẳng trong trường hợp này) phải nằm trong các giá trị dung sai được chỉ định [1] được xác định bằng các TED ngầm định (90 °) Kiểm soát độ vuông góc (ký hiệu- được viết bởi hai dấu gạch ngang trực giao) thường được sử dụng để đủ điều kiện cho một trường trung học hoặc đại học đặc điểm dữ liệu.

8.3.1 Độ vuông góc của một đường trung vị liên quan đến một số liệu Hệ thống

Trong trường hợp thể hiện trong Hình 8.10, đường trung tuyến chiết xuất của hình trụ phải rơi giữa hai cặp mặt phẳng song song, vuông góc với mặt phẳng mốc A, và vị trí lần lượt cách nhau 0,1 mm và 0,2 mm Định hướng của các mặt phẳng giới hạn các vùng dung sai được chỉ định, đối với mặt phẳng mốc B, theo hướng các chỉ số mặt phẳng Tóm lại, định hướng của các mặt phẳng được xác định bởi hai hướng ký hiệu mặt phẳng tion đối với mốc B Một vài mặt phẳng (cách nhau 0,1 mm) vuông góc với điểm B và điểm kia (cách nhau 0,2 mm) song song với điểm B (Hình 8.11).

Hình 8.10 Độ vuông góc đặc điểm kỹ thuật của một đường trung tuyến liên quan đến một hệ thống dữ liệu; đường trung bình được trích xuất của hình trụ sẽ rơi giữa hai cặp song song mặt phẳng, vuông góc với mặt phẳng dữ liệu A, như được chỉ ra bởi mặt phẳng định hướng chỉ số

Hình 8.11 Vùng dung sai được giới hạn bởi hai cặp mặt phẳng song song cách nhau 0,1 mm và 0,2 mm, và vuông góc với nhau Cả hai mặt phẳng đều vuông góc với mặt phẳng A Một cặp của mặt phẳng vuông góc với điểm B và mặt kia song

song với điểm B

Hình 8.12 Đặc tả độ vuông góc của một đường trung tuyến liên quan đến một đường thẳng dữ liệu; NS đường trung tuyến chiết xuất của lỗ có đường kính 25 mm được kiểm soát bởi dung sai vuông góc với đối với trục của lỗ nằm ngang, được coi là một tiêu chuẩn (cần lưu ý rằng, trong hình chiếu bên, hai trục không nằm trên cùng một mặt phẳng thẳng đứng)

8.3.2 Độ vuông góc của một đường trung vị liên quan đến một Datum Đường thẳng

Như thể hiện trong Hình 8.12, đường trung bình chiết xuất của lỗ có đường kính 25 mm là được điều khiển bởi dung sai vuông góc đối với trục của phương ngang lỗ, được lấy làm tiêu chuẩn Vì giá trị dung sai không đứng trước Ø biểu tượng, đường trung tuyến chiết phải nằm giữa hai mặt phẳng song song 0,2 mm ngoài, vuông góc với trục số liệu A (Hình 8.13).

8.3.3 Độ vuông góc của một đường trung vị liên quan đến mặt phẳng số liệu

Vùng dung sai được xác định bởi thông số kỹ thuật trong Hình 8.14 được giới hạn bởi 0,1 mm hình trụ có đường kính, có trục vuông góc với mốc A, vì dung sai trước giá trị của ký hiệu ∅.

Hình 8.13 Vùng chịu đựng không đứng trước Ø, vùng chịu đựng có giới hạn bởi hai mặt phẳng song song Cách nhau 0,2 mm và vuông góc với trục dữ liệu

Hình 8.14 Độ vuông góc dung sai được áp dụng cho một tính năng hình trụ của kích thước sử dụng ký hiệu Ø

8.3.4 Độ vuông góc của một bề mặt đối với mặt phẳng thông số

Bề mặt được thể hiện trong Hình 8.15 nên nằm giữa hai mặt phẳng song song cách nhau 0,1 mm, vuông góc với mặt phẳng A trong trường hợp này, độ phẳng được kiểm soát ngầm Sự quay của

vùng dung sai xung quanh pháp tuyến của mặt phẳng dữ liệu không được xác định và chỉ có hướng được chỉ định Quy trình lắp ráp và điều khiển của phôi cũng được minh họa trong Hình 8.16: chi tiết quay tự do quanh trục nằm ngang và sự không ổn định này có thể ảnh hưởng đến việc xác minh độ lệch vuông góc Để tránh vấn đề này, dung sai vuông góc có thể được quy định với hai mức dữ liệu

Kết quả là, trong trường hợp của Hình 8.17, dung sai vuông góc được áp dụng cho hai mặt phẳng dữ liệu, vì việc lắp ráp phôi ngụ ý sự liên kết với bề mặt B; việc điều khiển diễn ra với việc đặt phôi trên mặt phẳng chính và sau đó đặt trên mặt phẳng thứ cấp (8.18).

Hình 8.17

Hình 8.18

8.3.5 Áp dụng độ vuông gốc vào đặc tính kích thước

Khi dung sai vuông góc được áp dụng khối hình trụ có kích thước và yêu cầu vật liệu amaximum (MMR) được thêm vào, như thể hiện trong Hình 8.19, việc kiểm soát độ lệch hướng không chỉ liên quan đến đường trung tuyến nữa mà là toàn bộ đối tượng được trích xuất ( Ranh giới MMVC), và nó không được vi phạm điều kiện ảo MMVC là 60,1 mm, được tính bằng cách cộng kích thước vật liệu tối đa (60 mm) với dung sai hình học vuông góc (0,1 mm) MMVC đại diện cho điều kiện lắp ráp bất lợi nhất mà nhà thiết kế có thể đảm bảo đầy đủ chức năng và khả năng thay thế tất cả các bộ

8.4.1 Góc của đường trung tuyến đối với một đường thẳng thông số

Trong hình 8.20, đường trung tuyến phải nằm trong một hình trụ có đường kính 0,1, nghiêng một góc 60 ° về mặt lý thuyết so với đường thẳng dữ liệu chung A-B Dòng được xem xét và dòng thông số không ở trên cùng một mặt phẳng

8.4 GÓC

8.4.2 Góc của đường trung tuyến đối với hệ thống dữ liệu

Đây là trường hợp được thể hiện trong Hình 8.21, trong đó đường trung nằm trong vùng dung sai hình trụ có đường kính 0,1 mm song song với mặt phẳng B và nghiêng một góc là 60 ° so với mặt phẳng mốc A Nếu Giá trị dung sai được ký hiệu là Ø, vùng dung sai là một hình trụ có đường kính được chỉ định và có trục nghiêng so với đặc tính và song song với dữ liệu thứ cấp B (Hình 8.22).

Hình 8.21

Hình 8.22

Vùng dung sai trong Hình 8.23 bao gồm hai mặt phẳng cách nhau 0,1 mm và nghiêng 30 ° so với mặt phẳng A Toàn bộ bề mặt nằm trong phạm vi dung sai và độ phẳng 0,1 mm Kiểm soát bằng cách lắp bộ phận lên thiết bị đo, sử dụng tấm hình sin đặt ở góc cơ bản để làm cho bề mặt dung sai song song với tấm bề mặt Một chỉ báo quay số được sử dụng để xác minh rằng các phần tử bề mặt nằm trong vùng dung sai góc (Hình 8.24)

Hình 8.24Hình 8.23

Vùng dung sai này có thể dịch theo bất kỳ

hướng nào, nhưng vẫn phải lệch so với mặt phẳng dữ liệu A một góc 30 °

8.4.3 Góc của một mặt phẳng đối với một mặt phẳng dữ liệu

Hình 8.25 cho thấy phôi tương tự như Hình 8.23, sự khác biệt duy là phương thức điều khiển, để tránh các vấn đề gây mất ổn định, trước tiên phôi được định hướng so với mặt phẳng A và sau đó được căn chỉnh theo mặt phẳng dữ liệu B.

Hình 8.25

8.4.4 Áp dụng Angularity (MMR)vào đặc tính kích thước

Hình 8.26 cho thấy ảnh hưởng của (MMR) đổi với đặc điểm kỹ thuật về góc cạnh Trong trường hợp này, đường trung tuyến không phải là thứ được điều chỉnh, mà là MMVC của lỗ (MMVS = 14,5

mm) Các ranh giới lỗ không được vi phạm MMVC, có trục nghiêng 45 ° so với mặt A B đóng vai trò ổn định quá trình xác minh góc [1]

Hình 8.26

8.5 Định hướng dung sai trong tiêu chuẩn ASME

Trong tiêu chuẩn ASME, trục AME (hình trụ tròn ngoại tiếp nhỏ nhất) được sử dụng để xác thực điều khiển.

Trong tiêu chuẩn ASME, người ta nhấn mạnh rằng dung sai định hướng không kiểm soát vị trí của các đối tượng, và khi chỉ định dung sai định hướng, cần xem xét việc kiểm soát định hướng như đã

được thiết lập thông qua các dung sai khác, chẳng hạn như vị trí, và hồ sơ điều khiển(Hình 8.28)

Hình 28.7

Hình 28.8

ISO 1101 gần đây đã giới thiệu ký hiệu mặt phẳng tiếp tuyến mới, ký hiệu này trước đây đã có trong ASME Y14.5 M năm 1994 Khi ký hiệu mặt phẳng tiếp tuyến được chỉ định với dung sai hình học, mặt phẳng tiếp xúc với các điểm của đối tượng phải nằm trong vùng dung sai được thiết lập bởi

dung sai hình học Trong trường hợp này, đặc trưng dung sai không được kiểm soát bởi dung sai hình học và một số điểm của đặc trưng dung sai có thể nằm ngoài vùng dung sai (Hình 8.29).

Hình 28.9