quét (SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (SEM) là thiết bị dùng để chụp ảnh vi cấu trúc bề mặt với độ phóng đại lớn gấp nhiều lần so với kính hiển vi quang học, vì b−ớc sóng của chùm tia điện tử nhỏ hơn rất nhiều so với b−ớc sóng của ánh sáng vùng khả kiến.
Ng−ời ta tạo ra một chùm tia điện tử rất mảnh và điều khiển chùm tia này quét theo hàng theo cột trên một diện tích rất nhỏ trên bề mặt mẫu nghiên cứu.
Hoàng Mai Hà
Chùm tia điện tử khi chiếu vào mẫu làm cho từ mẫu thoát ra các điện tử thứ cấp, photon, tia X… Mỗi loại điện tử , tia X thoát ra từ mẫu mang một thông tin phản ánh một tính chất nào đó ở chỗ tia điện tử tới đập vào mẫu. Ví dụ, khi điện tử đó chiếu vào chỗ lồi trên mẫu thì các điện tử thứ cấp thoát ra nhiều hơn khi chiếu vào chỗ lõm. Vậy căn cứ vào điện tử thứ cấp, ta có thể biết đ−ợc chỗ lồi hay chỗ lõm trên mẫu nghiên cứu.
Ng−ời ta tạo ảnh bằng cách dùng một ống tia điện tử, cho tia điện tử từ ống này quét trên màn hình một cách rất đồng bộ với tia điện tử quét trên mẫu. Nếu dùng detector thu điện tử thứ cấp từ mẫu thoát ra, khuếch đại lên để điều khiển độ mạnh yếu của điện tử quét trên màn hình thì kết quả trên màn hình ta thấy đ−ợc chỗ sáng tối ứng với chỗ lồi lõm trên bề mặt mẫu. Kính hiển vi điện tử quét cho ta ảnh bề mặt với độ phóng đại cao, độ sâu rất hữu hiệu trong việc nghiên cứu bề mặt mẫu.
Các hạt nanô bạc tồn tại d−ới dạng hệ keo đ−ợc nhỏ lên một băng đồng và đem sấy khô. Hình thái bề mặt của các hạt nanô bạc đ−ợc xác định trên hệ FE - SEM tại phòng thí nghiệm Trọng điểm - Viện Khoa Học Vật Liệu với Điện thế gia tốc từ 1 ữ 15 KV.