CHƯƠNG II : ĐỐI TƯỢNG VÀ PHƯƠNG PHÁP NGHIÊN CỨU
2.3.4.Phương pháp nhiễu xạ Rơnghen XRD
2.3. Phương pháp nghiên cứu
2.3.4.Phương pháp nhiễu xạ Rơnghen XRD
Phương pháp XRD được sử dụng để nghiên cứu cấu trúc tinh thể của vật liệu. Phương pháp có thể xác định nhanh, chính xác các pha tinh thể với độ tin cậy cao. Nguyên lý của phương pháp là xác định cấu trúc tinh thể dựa vào hình ảnh khác nhau của kích thước tinh thể lên phổ nhiễu xạ. Mạng tinh thể nguyên tử hay ion phân bố đều đặn trong không gian theo một trật tự nhất định. Khoảng cách giữa các nút mạng vào khoảng vài ăngstron (Å ) xấp xỉ với bước sóng của tia Rơnghen.
Giao thoa là hiện tượng tăng cường biên độ giao động ở những điểm này trong không gian và làm giảm cường độ giao động ở những điểm khác trong không gian do sự chồng chất của hai hay nhiều sóng kết hợp cùng lan truyền đến điểm đó.
Xét hai mặt phẳng song song có khoảng cách d, chiếu chùm tia Rơnghen tạo với mặt phẳng trên một góc θ. Để các tia phản xạ có thể giao thoa thì hiệu quang trình phải bằng một số nguyên lần bước sóng λ. Khoảng cách giữa các mặt mạng là d, điều kiện để vân giao thoa có biên độ lớn nhất là 2dsinθ = nλ [41]. Đây chính là phương trình Bragg. Để xác định sự có mặt hay không của chất cần xác định ta cần so sánh giá trị d và tỷ lệ cường độ phổ ghi được với phổ chuẩn. Để tăng độ chính xác, một lượng nhỏ chất chuẩn thường được trộn vào sau đó đưa vạch chuẩn tới đúng vị trí của nó. Từ phổ nhiễu xạ tia X, có thể thu được các thông tin cơ bản về cấu trúc vật liệu như: cấu trúc tinh thể, kích thước tinh thể, có hay khơng pha vơ định hình, tính đối xứng.
Vật liệu nanosilica SiO2 sau khi tổng hợp từ vỏ trấu được xác định cấu trúc bằng đo phổ XRD trên thiết bị nhiễu xạ Rơnghen XRD, D8 Advance, Bruker, Đức tại bộ mơn Hóa học vơ cơ, Khoa Hóa học, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên Hà Nội.