Phổ ti aX đặc trƣng

Một phần của tài liệu Đánh giá ô nhiễm kim loại nặng trong không khí của Hà Nội sử dụng chỉ thị sinh học rêu bằng phương pháp phân tích PIXE (Trang 40 - 42)

6. BỐ CỤC LUẬN VĂN

2.1. PHƢƠNG PHÁP PHÂN TÍCH PIXE

2.1.2 Phổ ti aX đặc trƣng

Một phổ PIXE sẽ bao gồm hai thành phần chính: các đỉnh tia X đặc trƣng và nền bức xạ hãm. Hình 2.4 là một phổ PIXE điển hình của mẫu đất đá với đƣờng nét liền để chỉ vị trí đỉnh tia X đặc trƣng và đƣờng nét đứt để chỉ nền bức xạ hãm.

Hình 2.4. Phổ PIXE của một mẫu đất [51]

Đối với đỉnh tia X đặc trƣng, giới hạn phát hiện của nguyên tố sẽ phụ thuộc vào nền bức xạ hãm liên tục. Có ba thành phần chính đóng góp vào nền bức xạ hãm đó là bức xạ hãm gây bởi electron thứ cấp (Secondary Electron Bremsstrahlung - SEB), bức xạ hãm gây bởi chùm proton và bức xạ nền gây bởi gamma phát ra trong phản ứng hạt nhân nhƣng bị tán xạ Compton nhiều lần trong vật chất của detector [18].

Bức xạ hãm gây bởi eletron thứ cấp có đóng góp lớn nhất vào nền bức xạ hãm liên tục, phần này đƣợc sinh ra khi electron thốt khỏi trạng thái liên kết (q trình ion hóa) sẽ mất dần năng lƣợng thơng qua va chạm và bị làm chậm bởi electron và hạt nhân trong bia, đồng thời giải phóng năng lƣợng dƣới dạng bức xạ hãm.

Thành phần thứ hai đóng góp vào nền bức xạ hãm liên tục là bức xạ hãm gây bởi chùm proton. Khi chùm proton đi vào trong bia sẽ tƣơng tác và bị làm chậm bởi các electron và hạt nhân bia, đồng thời cũng tạo ra bức xạ hãm. Theo vật lý cổ điển, cƣờng độ bức xạ hãm sinh ra bởi một hạt tích điện sẽ tỷ lệ nghịch với độ giảm tốc của nó. Do đó, năng lƣợng của chùm proton

càng bị suy giảm bao nhiêu thì cƣờng độ bức xạ hãm sẽ càng tăng bấy nhiêu. Tia gamma đƣợc sinh ra bởi quá trình tƣơng tác phản ứng hạt nhân giữa chùm proton tới với hạt nhân bia sẽ tham gia hết vào tán xạ Coulomb ở trong detector và đóng góp vào nền bức xạ hãm.

Cƣờng độ của bức xạ hãm phụ thuộc vào góc tán xạ của electron, cƣờng độ này nhỏ nhất tại góc tán xạ ngƣợc. Ngồi ra nó cũng tỷ lệ nghịch với bình phƣơng khối lƣợng của hạt mang điện tích bắn vào bia (hạt tới). Do đó cƣờng độ bức xạ hãm tạo bởi các hạt nặng nhƣ proton sẽ yếu hơn so với trƣờng hợp tạo bởi các hạt nhẹ nhƣ electron. Vì vậy trong phổ PIXE, phần đóng góp của phơng bức xạ hãm do electron thứ cấp lớn hơn rất nhiều so với bức xạ hãm sinh ra do chùm hạt tích điện tới bị hãm trong bia. Mặt khác, cƣờng độ của bức xạ hãm tỷ lệ với bình phƣơng số hiệu nguyên tử của hạt nhân bia nên để giảm phông bức xạ hãm đối với các ứng dụng PIXE với mẫu mỏng ta có thể sử dụng các vật liệu nhẹ làm chất nền và đế. Vật liệu chủ yếu đƣợc sử dụng là vật liệu hữu cơ làm chất nền và graphit làm đế và các bộ phận che chắn trong buồng chiếu.

Một phần của tài liệu Đánh giá ô nhiễm kim loại nặng trong không khí của Hà Nội sử dụng chỉ thị sinh học rêu bằng phương pháp phân tích PIXE (Trang 40 - 42)

Tải bản đầy đủ (PDF)

(77 trang)