d. Rửa và sấy dầu
2.4.2 Phương pháp hiển vi ựiện tử quét (SEM)
đây là phương pháp phân tắch hiện ựại, dùng ựể nghiên cứu bề mặt của xúc tác. Nó cho phép xác ựịnh kắch thước và hình dạng của vật liệu xúc tác.
+ Nguyên tắc:
Phương pháp hiển vi ựiện tử quét (SEM) ựược thực hiện bằng cách quét một chùm tia ựiện tử hẹp, có bước sóng khoảng vài Angstrom (Ao) lên bề mặt vật mẫu. Khi chùm tia ựiện tử ựập vào mẫu, trên bề mặt mẫu phát ra các tia ựiện tử thứ cấp. Mỗi ựiện tử phát xạ này qua ựiện thế gia tốc, phần thu sẽ biến ựổi thành một tắn hiệu ánh sáng. Chúng ựược khuếch ựại ựưa vào mạng lưới ựiều khiển tạo ựộ sáng trên màn ảnh. Mỗi ựiểm trên mẫu cho một ựiểm tương ứng trên màn ảnh. độ sáng tối trên màn ảnh phụ thuộc vào lượng ựiện tử thứ cấp phát ra tới bộ thu, và phụ thuộc vào bề mặt mẫu nghiên cứu.
+ Thực nghiệm:
Hình ảnh hiển vi ựiện tử quét ựược chụp trên máy Jeol JSM Ờ 6360LV của Nhật, tại Trung tâm nghiên cứu vật liệu polyme, trường đại học Bách Khoa Hà Nội.
2.4.3 Phương pháp xác ựịnh ựộ bền cơ (bền nén)
+ Cách xác ựịnh: mẫu thử ựược lèn ép chặt trong khuôn ép mẫu hình lăng trụ kắch thước 10x10x15 mm (nhờ sử dụng máy dằn ép). Mẫu ựược lưu giữ trong khuôn 4 giờ, sau ựó tháo khuôn ra và thửựộ bền.
4
1
2
5 3
đặt mẫu thử trên mặt, cho máy chạy từ từ ựể mặt ép trên tiếp xúc toàn bộ mẫu thử, sau ựó tăng tải trọng ép ựều, liên tục cho ựến khi mẫu thử bị phá hủy hoàn toàn.
+ Tắnh kết quả:độ bền nén ựược tắnh theo công thức: Rn = P/F, với P là lực ép ghi ựược khi toàn mẫu thử bị phá hủy (Pa); F là diện tắch mặt cắt ngang mẫu thử (cm2).