Hình 3 .7 Phổ EDS của mẫu Si xốp phủ Au 10nm
Hình 3.10 Giản đồ nhiễu xạ ti aX của lớp Silic xốp phủ Ag
Giản đồ nhiễu xạ tia X (hình 3.10- đường b và c) xuất hiện các đỉnh đặc trưng ở vị trí 38.50, 44.340, 64.50 tương ứng với các mặt phẳng mạng (111), (200), (220) trong cấu trúc tinh thể lập phương tâm mặt của Ag. Dễ thấy, đường a là kết quả nhiễu xạ tia X trên đế Si xốp chứa các hạt nano Au khi chưa phủ Ag xuất hiện đỉnh ở vị trí 38.50, đây là đỉnh phản xạ từ mặt phẳng (111) của Au. Do Au và Ag có cùng cấu trúc tinh thể với hằng số mạng lại rất gần nhau nên khi các vật liệu này có cấu trúc nano thì ta rất khó phân biệt được trên giản đồ nhiễu xạ tia X.
Từ giản đồ nhiễu xạ tia X, sử dụng cơng thức tính kích thước tinh thể Debye – Sherrer, đã tính được kích thước trung bình của các hạt nano Ag. Đối với màng Si xốp phủ Ag với độ dày 5nm (đường b trên hình 3.10), độ bán rộng đỉnh nhiễu xạ từ mặt phẳng (111) là β =0.9o. Sử dụng cơng thức tính kích thước hạt tinh thể Debye – Sherrer
Với λ=1,54056 Ao, góc nhiễu xạ θ ≈ 19o, đã tính được kích thước trung bình của các hạt nano kim loại là D ≈ 9,4 nm. Kích thước này là phù hợp với các hạt nano Ag có đỉnh hấp thụ plasmon ở vị trí 427 nm như đã thấy trên hình 3.9 b.
3.5 Phổ tán xạ Raman
3.5.1 Khảo sát trên đế Si xốp phủ Pt
Đế Si xốp sau khi được phủ các hạt nano Pt 8nm, 15nm, 40nm và 60nm, chúng tôi đã nhận được đế SERS nano Pt.
Loại đế SERS này đã được sử dụng để nhận biết Carbendazim. Để khảo sát khả năng nhận biết Carbendazim của đế SERS, chúng tôi đã tiến hành chuẩn bị pha trộn để tạo ra dung dịch Aceton có pha Carbendazim với nồng độ khác nhau. Khảo sát khả năng nhận biết Carbendazim theo quy trình: lấy đế SERS nano Pt tạo được, nhỏ 3 microlit dung dịch Carbendazim pha trong aceton rồi để khô khoảng 2 phút rồi đem đi đo Raman. Đối với dung dịch có Carbendazim nồng độ 100ppm, chúng tôi nhận được kết quả như hình 3.11 dưới đây: