Hình 2.5. Chế độ xung dịng và chế độ xung siêu âm trong thí nghiệm
chế tạo PbS bằng phương pháp điện hóa siêu âm
2.2. CÁC PHƢƠNG PHÁP KHẢO SÁT
2.2.1. KÍNH HIỂN VI ĐIỆN TỬ TRUYỀN QUA (TEM)
Kính hiển vi điện tử truyền qua (tiếng Anh: Transmission Electron Microscope, viết tắt: TEM) là một thiết bị nghiên cứu vi cấu trúc vật rắn, sử dụng chùm điện tử có năng lượng cao chiếu xuyên qua mẫu vật rắn mỏng và sử dụng các thấu kính từ để tạo ảnh với độ phóng đại lớn (có thể tới hàng triệu lần), ảnh có thể tạo ra trên màn huỳnh quang, hay trên film quang học, hay ghi nhận bằng các máy chụp kỹ thuật số. Kính hiển vi điện tử truyền qua cho ta biết những thơng tin về hình thái học và kích thước
của các vật cấu trúc nano.
Hình 2.6a. Kính hiển vi điện tử truyền qua
JEOL JEM 1010, Nhật bản
Hình 2.6b. Sơ đồ nguyên lý của kính
hiển vi điện tử truyền qua. (1) Súng điện tử, (2) Kính tụ, (3) Mẫu, (4) Vật
kính, (5) Ảnh thứ nhất, (6) Kính phóng, (7) Màn hình hiển thị huỳnh
quang.
2.2.2. KÍNH HIỂN VI ĐIỆN TỬ QT (SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (tiếng Anh: Scanning Electron Microscope, thường viết tắt là SEM), là một loại kính hiển vi điện tử có thể tạo ra ảnh với độ phân giải cao của bề mặt mẫu vật bằng cách sử dụng một chùm điện tử (chùm các electron) hẹp quét trên bề mặt mẫu. Việc tạo ảnh của mẫu vật được thực hiện thơng qua việc ghi nhận và phân tích các bức xạ phát ra từ tương tác của chùm điện tử với bề mặt mẫu vật.
(1) Súng điện tử (2) Kính tụ (3) Cuộn lái tia (4) Vật kính
(5) Điện tử thứ cấp (6) Mẫu
(7) Đầu quét xung điện tử (8) Đầu thu điện tử thứ cấp (9) Màn hiển thị