2.2.2 P ƣơ á
hiễu xạ tia X XR -X ray ifraction) là thiết ị để khảo sát cấu trúc tinh thể
của vật liệu Xét một ch m tia X có ƣớc són chiếu tới một tinh thể chất rắn
ƣới óc θ o tinh thể có t nh chất tuần hoàn, các mặt tinh thể sẽ cách nhau nhữn khoản đều đặn , đón vai tr nhƣ nhữn cách tử nhiễu xạ và tạo ra hiện tƣợn nhiễu xạ tia X ếu ta quan sát các ch m tia tán xạ th o phƣơn phản xạ ằn óc tới) th hiệu quan tr nh iữa các tia tán xạ trên các mặt là:
∆ = 2 sinθ (2.1)
hƣ vậy, để có cực đại nhiễu xạ th óc tới phải thỏa mãn điều kiện: ∆ = 2 sinθ = nλ (2.2)
Ở đ y, n là các số n uyên nhận các iá trị 1, 2, 3
Đ y là định luật ra m tả hiện tƣợn nhiễu xạ tia X trên các mặt tinh thể h n vào c n thức này ta thấy rằn với một mạn tinh thể có khoản cách iữa các mặt tinh thể là cố định và ch m tia X có ƣớc són kh n đổi, sẽ tồn tại nhiều óc θ thỏa mãn định luật ra ết quả trên ức tranh nhiễu xạ sẽ quan sát thấy có
hiện các đỉnh nhiễu xạ tại các óc θ khác nhau Vị tr của đỉnh nhiễu xạ phụ thuộc vào ƣớc són của tia X và cấu trúc tinh thể T nh chất tinh thể đƣợc xác định từ vị
tr và cƣờn độ của đỉnh nhiễu xạ Từ phƣơn tr nh Bragg, ta nhận thấy đối với một
hệ mặt phẳn tinh thể d xác định) th ứn với iá trị nhất định của ƣớc són tia X
sẽ có iá trị tƣơn ứn thỏa mãn điều kiện nhiễu xạ ói cách khác, ằn thực
n hiệm trên máy nhiễu xạ tia X, chún ta sẽ nhận đƣợc tổ hợp của các iá trị dhkl
đặc trƣn cho các khoản cách mặt mạn th o các hƣớn khác nhau của một cấu trúc tinh thể ằn cách so sánh tổ hợp này với ản tra cứu cấu trúc tron các tệp ữ liệu về cấu trúc tinh thể hoặc của các mẫu chuẩn, ta có thể xác lập cấu trúc tinh thể của mẫu n hiên cứu